JP2006519377A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2006519377A5
JP2006519377A5 JP2006502537A JP2006502537A JP2006519377A5 JP 2006519377 A5 JP2006519377 A5 JP 2006519377A5 JP 2006502537 A JP2006502537 A JP 2006502537A JP 2006502537 A JP2006502537 A JP 2006502537A JP 2006519377 A5 JP2006519377 A5 JP 2006519377A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
ray detector
detector according
scintillator
microlens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006502537A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006519377A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/IB2004/050046 external-priority patent/WO2004068168A1/en
Publication of JP2006519377A publication Critical patent/JP2006519377A/ja
Publication of JP2006519377A5 publication Critical patent/JP2006519377A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (14)

  1. 少なくとも1つの検出器素子を有するフォトセンサ装置及び
    シンチレータ素子
    をもつX線検出器であって、
    前記フォトセンサ装置と前記シンチレータ素子との間に、マイクロレンズが配置され、
    前記検出器素子の少なくとも1つが、前記検出器素子の中央に配置される少なくとも1つのフォトダイオードを有し、
    前記マイクロレンズが、前記シンチレータ素子から放出される光を、前記フォトダイオード上に集束させるとともに、前記マイクロレンズに横から入射する光を、前記フォトダイオードの外側の前記検出器素子の領域上に偏向させるように設計される、X線検出器。
  2. 前記フォトセンサ装置が、個別の検出器素子のマトリックスを有することを特徴とする、請求項1に記載のX線検出器。
  3. 他の電子部品が、前記フォトダイオードの領域の外側の前記検出器素子に位置することを特徴とする、請求項に記載のX線検出器。
  4. 前記マイクロレンズは、前記検出器素子の領域の入射光が、前記検出器素子の前記フォトダイオードの表面の上に集束されるように、前記検出器素子からの距離及び焦点長をもつことを特徴とする、請求項乃至の何れか一項に記載のX線検出器。
  5. 一つのマイクロレンズが、各検出器素子に割り当てられることを特徴とする、請求項乃至の何れか一項に記載のX線検出器。
  6. 前記マイクロレンズが、正方形のベース領域をもつことを特徴とする、請求項1乃至の何れか一項に記載のX線検出器。
  7. 前記マイクロレンズが、前記シンチレータ素子と直接隣り合うことを特徴とする、請求項1乃至の何れか一項に記載のX線検出器。
  8. 前記マイクロレンズの、前記シンチレータ素子に対向する側の表面が、前記シンチレータ素子の表面に合わせられることを特徴とする、請求項に記載のX線検出器。
  9. 前記マイクロレンズの、前記シンチレータ素子に対向する側の前記表面が、平坦であり、前記シンチレータ素子に対して平らに置かれることを特徴とする、請求項に記載のX線検出器。
  10. 前記マイクロレンズの、前記シンチレータ素子に対向する側の前記表面が、凸状であり、前記シンチレータ素子の対応する凹形状に合わせられることを特徴とする、請求項に記載のX線検出器。
  11. 中央に配置された前記フォトダイオードに加えて、前記検出器素子が、前記偏向された光を検出する他のダイオードを有することを特徴とする、請求項乃至10の何れか一項に記載のX線検出器。
  12. 当該X線検出器が、光学フィルタを有することを特徴とする、請求項1乃至11の何れか一項に記載のX線検出器。
  13. 前記検出器素子が、CMOSチップの構成要素であることを特徴とする、請求項乃至12の何れか一項に記載のX線検出器。
  14. 請求項1乃至13の何れか一項に記載のX線検出器をもつコンピュータ断層撮影装置
JP2006502537A 2003-01-28 2004-01-22 X線検出器 Pending JP2006519377A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP03100166 2003-01-28
PCT/IB2004/050046 WO2004068168A1 (en) 2003-01-28 2004-01-22 X-ray detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006519377A JP2006519377A (ja) 2006-08-24
JP2006519377A5 true JP2006519377A5 (ja) 2009-05-28

Family

ID=32798979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006502537A Pending JP2006519377A (ja) 2003-01-28 2004-01-22 X線検出器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7435966B2 (ja)
EP (1) EP1590688A1 (ja)
JP (1) JP2006519377A (ja)
CN (1) CN100350270C (ja)
WO (1) WO2004068168A1 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007025485A1 (fr) * 2005-09-01 2007-03-08 Dezheng Tang Detecteur de rayons x et procede de fabrication du detecteur
US7679061B2 (en) * 2005-11-22 2010-03-16 Carestream Health, Inc. Radiographic image sensing system
DE102006042053A1 (de) * 2006-09-05 2007-10-18 Siemens Ag Strahlungsdetektor
DE102006042484A1 (de) * 2006-09-07 2007-10-18 Siemens Ag Strahlungsdetektor
KR101497498B1 (ko) * 2008-12-19 2015-03-03 삼성전자주식회사 방사선 신호의 투과 영상을 획득하는 방법 및 장치
US8130904B2 (en) 2009-01-29 2012-03-06 The Invention Science Fund I, Llc Diagnostic delivery service
US8111809B2 (en) 2009-01-29 2012-02-07 The Invention Science Fund I, Llc Diagnostic delivery service
US9031195B2 (en) * 2011-05-20 2015-05-12 General Electric Company Imaging detector and methods for image detection
JP5749675B2 (ja) * 2012-03-21 2015-07-15 株式会社東芝 放射線検出装置及びct装置
CN102890284B (zh) * 2012-10-10 2015-04-08 中国科学院高能物理研究所 一种核探测装置
TWI500926B (zh) * 2012-11-23 2015-09-21 Innocom Tech Shenzhen Co Ltd X光平板偵測裝置
CN103091700A (zh) * 2013-01-09 2013-05-08 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种星载脉冲星x射线能谱仪
US9606244B2 (en) * 2013-03-14 2017-03-28 Varex Imaging Corporation X-ray imager with lens array and transparent non-structured scintillator
CN103462627A (zh) * 2013-09-22 2013-12-25 江苏美伦影像系统有限公司 一种高灵敏度影像链系统
CN103900562B (zh) * 2014-04-04 2016-06-15 中国科学院空间科学与应用研究中心 一种脉冲星导航x射线计时探测器
CN104241436B (zh) * 2014-06-25 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 一种x射线探测基板及其制备方法、x射线探测设备
US9526468B2 (en) 2014-09-09 2016-12-27 General Electric Company Multiple frame acquisition for exposure control in X-ray medical imagers
JP6558676B2 (ja) * 2015-02-20 2019-08-14 国立大学法人岩手大学 放射線検出素子及び放射線検出装置
JP6122903B2 (ja) * 2015-04-30 2017-04-26 株式会社東芝 放射線検出装置
CN104991267B (zh) * 2015-07-28 2018-08-10 济南中威仪器有限公司 一种用于搜寻遗失放射源的定位仪
CN105321975A (zh) * 2015-11-16 2016-02-10 上海瑞艾立光电技术有限公司 图像传感器和图像探测器
CN106725588B (zh) * 2017-01-18 2021-02-05 佛山市邦宁电子科技有限公司 一种便携式牙科x光传感器及牙科x光成像方法
JP2019152670A (ja) * 2019-03-28 2019-09-12 国立大学法人岩手大学 放射線検出素子及び放射線検出装置
CN111246137B (zh) * 2020-03-19 2022-06-28 上海集成电路研发中心有限公司 一种用于探测非可见光的图像传感器及成像装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4180737A (en) * 1978-02-06 1979-12-25 General Electric Company X-ray detector
JPS61226677A (ja) * 1985-03-30 1986-10-08 Shimadzu Corp 2次元放射線検出装置
JPH0328185U (ja) * 1989-07-28 1991-03-20
DE4101645A1 (de) * 1990-01-29 1991-08-01 Gen Electric Zweidimensionaler mosaikartiger szintillationsdetektor
JPH04276587A (ja) * 1991-03-05 1992-10-01 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出装置
EP0583844B1 (en) * 1992-08-18 1999-07-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus with light concentration means and plural image sensors
JPH06205768A (ja) * 1992-08-18 1994-07-26 Philips Electron Nv X線検査装置
DE19505729C1 (de) * 1995-02-20 1996-10-31 Siemens Ag Röntgendiagnostikeinrichtung
JPH08248139A (ja) * 1995-03-15 1996-09-27 Toshiba Corp 放射線検出器
US5587611A (en) * 1995-05-08 1996-12-24 Analogic Corporation Coplanar X-ray photodiode assemblies
JP3120778B2 (ja) * 1998-04-20 2000-12-25 日本電気株式会社 固体撮像装置およびその検査方法および製造方法
JP2002517007A (ja) * 1998-05-22 2002-06-11 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線フィルタを含むx線検査装置
US6215844B1 (en) * 1998-08-06 2001-04-10 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray computed tomography apparatus
US6472665B1 (en) * 1999-02-12 2002-10-29 Konica Corporation Radiation image detector and radiation image forming system
JP2001074847A (ja) * 1999-07-08 2001-03-23 Canon Inc 放射線撮像装置および放射線撮像システム
US6307243B1 (en) 1999-07-19 2001-10-23 Micron Technology, Inc. Microlens array with improved fill factor
US6221687B1 (en) 1999-12-23 2001-04-24 Tower Semiconductor Ltd. Color image sensor with embedded microlens array
US6474665B1 (en) 2000-10-16 2002-11-05 Steelcase Development Corporation Mobile pedestal with storable handle
JP4681774B2 (ja) * 2001-08-30 2011-05-11 キヤノン株式会社 撮像素子、その撮像素子を用いた撮像装置、及びその撮像装置を用いた撮像システム
US6895077B2 (en) * 2001-11-21 2005-05-17 University Of Massachusetts Medical Center System and method for x-ray fluoroscopic imaging

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006519377A5 (ja)
US11126305B2 (en) Compact optical sensor for fingerprint detection
US7435966B2 (en) X-ray detector
TW201523912A (zh) 小型光電模組
CA2611916A1 (en) Imaging apparatus and method of manufacturing the same
TWI591813B (zh) 具有黃色濾光單元之影像感測器
JP2009164385A5 (ja)
US9356185B2 (en) Compact light sensing modules including reflective surfaces to enhance light collection and/or emission, and methods of fabricating such modules
JP2011216896A (ja) マイクロレンズ付き固体イメージセンサ及び非テレセントリック撮像レンズを備えた光学系
JP2012186434A5 (ja)
DE602005004544D1 (de) Multifunktioneller optischer Sensor mit einer an Mikrolinsen gekoppelten Matrix von Photodetektoren
JP2001237404A5 (ja)
WO2010047247A1 (ja) 発光装置、受光システム及び撮像システム
US8541856B2 (en) Optical touch-screen imager
JP2005340811A (ja) 光フィルタリングイメージセンサ
JP2017531310A (ja) シリコン基板を有する光電子モジュールおよびそのようなモジュールの作製方法
JP2009065098A5 (ja)
JP2007335723A (ja) 固体撮像素子用マイクロレンズ及びその製造方法
JP2004032059A (ja) 固体撮像装置
CN110785678B (zh) 用于间接检测电磁辐射的半导体器件及制造方法
TWI539584B (zh) 具增進的收光效率的前感光式半導體結構及其製作方法
KR101078694B1 (ko) 엑스선 디지털 이미지 센서 장치, 엑스선 디지털 이미지 장치 및 엑스선 디지털 이미지 센서 제조 방법
CN105321975A (zh) 图像传感器和图像探测器
CN113167912A (zh) 混合x射线和光学探测器
JP2018056517A5 (ja) 撮像素子および焦点検出装置