JP2006332614A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8049208B2 (en) 2005-04-22 2011-11-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Organic semiconductor device having composite electrode
KR101381365B1 (ko) 2006-01-26 2014-04-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 유기 전계효과 트랜지스터 및 반도체장치
JP2007250715A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Konica Minolta Holdings Inc 半導体デバイスの製造方法
GB2455096B (en) * 2007-11-27 2011-11-02 Cambridge Display Tech Ltd Organic thin film transistors and methods of making the same
JP5477841B2 (ja) * 2009-05-11 2014-04-23 健一 中山 トランジスタ素子
KR101587097B1 (ko) * 2009-09-30 2016-01-21 엘지디스플레이 주식회사 유기전계발광소자의 제조방법
WO2011077946A1 (en) 2009-12-25 2011-06-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2011165778A (ja) * 2010-02-08 2011-08-25 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> p型有機薄膜トランジスタ、p型有機薄膜トランジスタの製造方法、および、塗布溶液
KR101830170B1 (ko) 2011-05-17 2018-02-21 삼성디스플레이 주식회사 산화물 반도체 소자, 산화물 반도체 소자의 제조 방법, 산화물 반도체소자를 포함하는 표시 장치 및 산화물 반도체 소자를 포함하는 표시 장치의 제조 방법
WO2020121875A1 (ja) * 2018-12-12 2020-06-18 シャープ株式会社 走査アンテナおよび走査アンテナの製造方法
JP7206887B2 (ja) * 2018-12-19 2023-01-18 凸版印刷株式会社 有機薄膜トランジスタおよび電子装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06338492A (ja) * 1993-05-31 1994-12-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 絶縁膜の形成方法、および薄膜トランジスタ用ゲート絶縁膜の製造方法
JP4184686B2 (ja) * 2001-03-28 2008-11-19 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JP2003133550A (ja) * 2001-07-18 2003-05-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
WO2003015151A1 (fr) * 2001-08-02 2003-02-20 Tokyo Electron Limited Procede de traitement d'un materiau de base et materiau d'utlisation de dispositif electronique
JP3823312B2 (ja) * 2001-10-18 2006-09-20 日本電気株式会社 有機薄膜トランジスタ
JP2004107651A (ja) * 2002-08-26 2004-04-08 Sharp Corp デンドリック高分子及びこれを用いた電子デバイス素子
JP4471571B2 (ja) * 2003-01-28 2010-06-02 大日本印刷株式会社 有機半導体素子、有機半導体装置、有機エレクトロルミネッセンス素子および有機エレクトロルミネッセンス装置
JP3742906B2 (ja) * 2003-05-08 2006-02-08 シャープ株式会社 半導体装置の製造方法
JP4358563B2 (ja) * 2003-07-02 2009-11-04 東京エレクトロン株式会社 半導体装置の低誘電率絶縁膜形成方法
JP4586345B2 (ja) * 2003-09-17 2010-11-24 ソニー株式会社 電界効果型トランジスタ

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