JP2006329993A - 差動測定プローブ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】差動測定プローブ10の2つの差動プロービング・チップ18及び20夫々の外部シールド導体14及び16を互いに電気的に接続するグラウンド・クリップ・システム12を設ける。1つの実現例では、2つのプロービング・チップ18及び20の外部シールド導体14及び16の夫々にグラウンド・クリップ・システム12が保持された状態で、2つのプロービング・チップ18及び20が同軸方向に夫々独立に移動する。
【選択図】図1
Description
12 グラウンド・クリップ・システム
14 外部シールド導体
16 外部シールド導体
18 プロービング・チップ
20 プロービング・チップ
22 プロービング・コンタクト
24 プロービング・コンタクト
26 筐体
28 第1プロービング・チップ構体
30 第2プロービング・チップ構体
32 第1筐体部材
34 第2筐体部材
36 半剛性同軸ケーブル
38 半剛性同軸ケーブル
40 絶縁部材
44 半剛性同軸ケーブル
46 半剛性同軸ケーブル
50 第1圧縮ばね
52 第1圧縮ばね
54 保持板
56 横断壁
58 横断壁
60 第2圧縮ばね
62 第2圧縮ばね
64 圧力板
66 開口
68 横断壁
70 横断壁
72 アクチュエータ
74 アクチュエータの突起部
76 開口
80 編組銅
100 差動TDR測定プローブ
102 グラウンド・クリップ・システム
104 筐体
106 プロービング・チップ
108 プロービング・チップ
110 同軸ねじ式コネクタ
112 同軸ねじ式コネクタ
114 第1筐体部材
116 第2筐体部材
118 溝(チャンネル)
120 溝(チャンネル)
122 第1同軸プローブ構体
124 第2同軸プローブ構体
126 半剛性同軸ケーブル
128 中心信号導体
130 外部シールド導体
132 湾曲部分
134 取付板
136 回転防止ブロック
138 回転防止ブロック
140 回転防止ブロックの溝
146 第1圧縮要素
148 第1圧縮要素
150 圧縮ばね
152 圧縮ばね保持部材
156 後方端部壁
158 後方端部壁
160 第2圧縮要素
162 第2圧縮要素
164 ホッピング・ピン
166 ホッピング・ピン
168 ホッピング・ピン
170 可動電気コンタクト
172 可動電気コンタクト
174 可動電気コンタクト
180 第1圧力センサ
182 第1電気導電性コンタクト
184 第2電気導電性コンタクト
186 保持ブロック
188 湾曲溝
190 第2圧力センサ
192 第1電気導電性コンタクト
194 第2電気導電性コンタクト
196 保持ブロック
198 湾曲溝
200 電気的絶縁部材
210 調整機構
212 キャリア
214 押さえねじ
216 押さえヘッド
218 ねじ軸部
220 筐体部材114の穴
222 溝118の凹部
224 押さえ板
230 溝118の凹部
232 隙間
248 測定プローブ前面と垂直な共通平面
250 ワイヤ部材
252 穴
254 突起部
260 横長部分
262 略垂直部分
264 傾斜部分
266 共通平面
268 突き出し部分
270 扁平部分
272 接続部
280 横長部分と傾斜部分を含む共通平面
282 横長部分と略垂直部分を含む共通平面
Claims (6)
- 筐体内に配置され、プローブ・グラウンドに接続される外部シールド導体及びプロービング・コンタクトを有する上記筐体の一端部から延びた第1及び第2プロービング・チップを夫々有する第1及び第2プロービング・チップ構体と、
上記第1及び第2プロービング・チップ構体の上記第1及び第2プロービング・チップの上記プロービング・コンタクトに近接する上記第1及び第2プロービング・チップの上記外部シールド導体の間を接続するグラウンド・クリップと
を具える差動測定プローブ。 - 上記第1及び第2プロービング・チップ構体の夫々が、上記第1及び第2プロービング・チップ構体の同軸方向への独立な移動を可能にするために、少なくとも1つの第1圧縮要素を上記筐体内に有することを特徴とする請求項1記載の差動測定プローブ。
- 上記第1及び第2プロービング・チップ構体の上記第1及び第2プロービング・チップ間の距離を変更するために、上記第1及び第2プロービング・チップ構体の一方に少なくとも1つの第1調整機構を取り付けることを特徴とする請求項1又は2記載の差動測定プローブ。
- 第1及び第2測定プロービング・チップ並びに該第1及び第2測定プロービング・チップのシールド導体の間を電気的に接続するグラウンド・クリップ・システムとを有する差動測定プローブであって、上記第1及び第2測定プロービング・チップは上記差動測定プローブの一端部から延び、共通の垂直平面内に置かれ、互いに同軸方向及び横方向に移動可能であって、上記差動測定プローブが、
横長部分、略垂直部分、傾斜部分、突き出し部分及び扁平部分を有する円形スプリング・ワイヤであって、上記横長部分の一端部が上記略垂直部分に他端部が上記傾斜部分につながり、上記傾斜部分は上記略垂直部分と反対方向に延びると共に上記横長部分に対して傾斜し、上記円形スプリング・ワイヤの上記横長部分、上記垂直部分及び上記傾斜部分は共通平面内にあり、上記突き出し部分は上記共通平面に対して鋭角を有して上記傾斜部分の一端部から延び、上記扁平部分は上記円形スプリング・ワイヤの上記横長部分に対しては鈍角を有し、上記共通平面に対して鋭角を有して上記共通平面の方向へと上記突き出し部分の端部から延びている上記円形スプリング・ワイヤと、
上記差動測定プローブの上記一端部に形成され、上記第1及び第2測定プロービング・チップの一方の方向に伸び、上記円形スプリング・ワイヤの上記略垂直部分を受ける傾斜した穴と、
側面を有し、上記差動測定プローブの上記一端部から上記測定プロービング・チップに近接して上へ延びる突起部であって、上記円形スプリング・ワイヤの上記傾斜部分に近接する上記横長部分の端部が上記測定プロービング・チップに面する上記突起部の上記側面に接し、上記円形スプリング・ワイヤの上記傾斜部分及び上記突き出し部分の接続部が上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記シールド導体の一方と接触し、上記円形スプリング・ワイヤの上記扁平部分が上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記シールド導体の他方と接触する上記突起部と
を具える差動測定プローブ。 - 第1及び第2測定プロービング・チップ並びに該第1及び第2測定プロービング・チップのシールド導体の間を電気的に接続するグラウンド・クリップ・システムを有する差動測定プローブであって、上記第1及び第2測定プロービング・チップは上記差動測定プローブの一端部から延び、共通垂直平面内に置かれ、同軸方向及び横方向に互いに移動可能であって、上記差動測定プローブが、
横長部分、略垂直部分、傾斜部分、突き出し部分及び扁平部分を有する円形スプリング・ワイヤであって、上記横長部分の一端部が上記略垂直部分に他端部が上記傾斜部分につながり、上記傾斜部分は上記略垂直部分と反対方向に延びると共に上記横長部分に対して傾斜し、上記円形スプリング・ワイヤの上記横長部分及び上記傾斜部分は共通平面内にあり、上記略垂直部分は上記共通平面に対して鋭角を有し、上記突き出し部分は上記共通の平面に対して鋭角を有して上記傾斜部分の一端部から延び、上記扁平部分は上記円形スプリング・ワイヤの上記横長部分に対しては鈍角を有し、上記横長部分の平面に対しては鋭角を有して上記共通の平面の方向へと上記突き出し部分の端部から延びている上記円形スプリング・ワイヤと、
上記差動測定プローブの上記一端部に上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記共通垂直平面と平行に形成され、上記円形スプリング・ワイヤの上記略垂直部分を受ける穴と、
側面を有し、上記差動測定プローブの上記一端部から上記測定プロービング・チップに近接して上へ延びる突起部であって、上記円形スプリング・ワイヤの上記傾斜部分に近接する上記横長部分の端部が上記測定プロービング・チップに面する上記突起部の上記側面に接し、上記円形スプリング・ワイヤの上記傾斜部分及び上記突き出し部分の接続部が上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記シールド導体の一方と接触し、上記円形スプリング・ワイヤの上記扁平部分が上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記シールド導体の他方と接触する上記突起部と
を具える差動測定プローブ。 - 第1及び第2測定プロービング・チップ並びに該第1及び第2測定プロービング・チップのシールド導体の間を電気的に接続するグラウンド・クリップ・システムを有する差動測定プローブであって、上記第1及び第2測定プロービング・チップは上記差動測定プローブの一端部から延び、共通垂直平面内に置かれ、同軸方向及び横方向に互いに移動可能であって、上記差動測定プローブが、
横長部分、略垂直部分、傾斜部分、突き出し部分及び扁平部分を有する円形スプリング・ワイヤであって、上記横長部分の一端部が上記略垂直部分に他端部が上記傾斜部分につながり、上記傾斜部分は上記略垂直部分と反対方向に延びると共に上記横長部分に対して傾斜し、上記円形スプリング・ワイヤの上記横長部分及び上記略垂直部分は共通平面内にあり、上記傾斜部分は上記共通平面に対して鋭角を有し、上記突き出し部分は上記共通平面に対して鋭角を有して上記傾斜部分の一端部から延び、上記扁平部分は上記円形スプリング・ワイヤの上記横長部分に対しては鈍角を有し、上記横長部分の平面に対しては鋭角を有して上記共通の平面の方向へと上記突き出し部分の端部から延びている上記円形スプリング・ワイヤと、
上記差動測定プローブの上記一端部に上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記共通垂直平面と平行に形成され、上記円形スプリング・ワイヤの上記略垂直部分を受ける穴と、
側面を有し、上記差動測定プローブの上記一端部から上記測定プロービング・チップに近接して上へ延びる突起部であって、上記円形スプリング・ワイヤの上記傾斜部分に近接する上記横長部分の端部が上記測定プロービング・チップに面する上記突起部の上記側面に接し、上記円形スプリング・ワイヤの上記傾斜部分及び上記突き出し部分の接続部が上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記シールド導体の一方と接触し、上記円形スプリング・ワイヤの上記扁平部分が上記第1及び第2測定プロービング・チップの上記シールド導体の他方と接触する上記突起部と
を具える差動測定プローブ。
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