CN106771409A - 一种高频测试插座 - Google Patents

一种高频测试插座 Download PDF

Info

Publication number
CN106771409A
CN106771409A CN201710083872.2A CN201710083872A CN106771409A CN 106771409 A CN106771409 A CN 106771409A CN 201710083872 A CN201710083872 A CN 201710083872A CN 106771409 A CN106771409 A CN 106771409A
Authority
CN
China
Prior art keywords
high frequency
probe
main body
frequency probe
test bench
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710083872.2A
Other languages
English (en)
Inventor
蒋卫兵
王坚
刘育璋
戴云
刘健康
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Zhen Micro Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Zhen Micro Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Zhen Micro Electronic Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Zhen Micro Electronic Technology Co Ltd
Priority to CN201710083872.2A priority Critical patent/CN106771409A/zh
Publication of CN106771409A publication Critical patent/CN106771409A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors

Abstract

本发明公开了一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触，高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗。

Description

一种高频测试插座
技术领域
本发明涉及一种测试插座，尤其是涉及一种高频测试插座。
背景技术
随着芯片信号传递速度越来越快，对芯片测试用的测试插座要求也越来越高；传统测试插座用的探针结构已经不能满足更高频率的传输要求；需要一种特殊结构的测试插座来实现更高频率的传输要求。
现在有探针插座在信号传输过程中，由于探针自身的感抗，容抗比较高，无法实现对高频信号的传输要求。
发明内容
本发明的目的是解决上述提出的问题，提供一种结构简单、提高对高频信号的输送的一种高频测试插座。
本发明的目的是以如下方式实现的：一种高频测试插座，具有测试座主体，所述测试座主体内设有高频探针，所述高频探针为两头具有弯曲结构，所述高频探针的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。
上述的一种高频测试插座，所述高频探针由弹簧丝绕成。
上述的一种高频测试插座，所述测试座主体通过销子定位和螺丝固定在导向框。
上述的一种高频测试插座，所述测试座主体的背面固定在PCB板上。
本发明的优点：高频探针组装在测试座主体里，高频探针经过变形组装到测试座主体里，高频探针的一段与芯片接触，另一端与PCB接触，从而实现高频信号的传递；由于这种高频探针的结构有别于传统的探针，这种高频探针传输是通过弹簧丝传递的，与其它传统探针相比，减少了传输环节，因此具有稳定的容抗和感抗。
附图说明
为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
图1是本发明的结构示意图；
图2是实际运用示意图。
具体实施方式：
见图1所示，一种高频测试插座，具有测试座主体2，所述测试座主体2内设有高频探针3，所述高频探针3为两头具有弯曲结构，所述高频探针3的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。所述高频探针3由弹簧丝绕成。所述测试座主体2通过销子定位和螺丝固定在导向框1。所述测试座主体2的背面固定在PCB板上。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种高频测试插座，其特征在于：具有测试座主体(2)，所述测试座主体(2)内设有高频探针(3)，所述高频探针(3)为两头具有弯曲结构，所述高频探针(3)的一端与芯片接触，其另一端与PCB板接触。
2.根据权利要求2所述的一种高频测试插座，其特征在于：所述高频探针(3)由弹簧丝绕成。
3.根据权利要求2所述的一种高频测试插座，其特征在于：所述测试座主体(2)通过销子定位和螺丝固定在导向框(1)。
4.根据权利要求3所述的一种高频测试插座，其特征在于：所述测试座主体(2)的背面固定在PCB板上。
CN201710083872.2A 2017-02-16 2017-02-16 一种高频测试插座 Pending CN106771409A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710083872.2A CN106771409A (zh) 2017-02-16 2017-02-16 一种高频测试插座

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710083872.2A CN106771409A (zh) 2017-02-16 2017-02-16 一种高频测试插座

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106771409A true CN106771409A (zh) 2017-05-31

Family

ID=58958790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710083872.2A Pending CN106771409A (zh) 2017-02-16 2017-02-16 一种高频测试插座

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106771409A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109884507A (zh) * 2019-03-20 2019-06-14 苏州和林微纳科技有限公司 Qfn芯片用高频测试座

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1352746A (zh) * 2000-06-12 2002-06-05 菲康姆株式会社 可适探针装置
CN1869712A (zh) * 2005-05-27 2006-11-29 特克特朗尼克公司 具有用于探测尖端的接地夹系统的差动测量探测器
CN103439542A (zh) * 2013-08-30 2013-12-11 渭南高新区木王科技有限公司 一种pcb测试专用机用弹簧连线
CN204302321U (zh) * 2014-12-02 2015-04-29 上海韬盛电子科技有限公司 适用于高频测试的芯片测试插座
CN205139319U (zh) * 2015-11-27 2016-04-06 法特迪精密科技（苏州）有限公司 大电流半导体测试座
CN205301367U (zh) * 2015-11-27 2016-06-08 法特迪精密科技（苏州）有限公司 新型连接测试座
CN205799195U (zh) * 2016-07-25 2016-12-14 宇骏(潍坊)新能源科技有限公司 一种具有防护功能的硅锭抛光机探测装置
CN206601409U (zh) * 2017-02-16 2017-10-31 苏州微缜电子科技有限公司 一种高频测试插座

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1352746A (zh) * 2000-06-12 2002-06-05 菲康姆株式会社 可适探针装置
CN1869712A (zh) * 2005-05-27 2006-11-29 特克特朗尼克公司 具有用于探测尖端的接地夹系统的差动测量探测器
CN103439542A (zh) * 2013-08-30 2013-12-11 渭南高新区木王科技有限公司 一种pcb测试专用机用弹簧连线
CN204302321U (zh) * 2014-12-02 2015-04-29 上海韬盛电子科技有限公司 适用于高频测试的芯片测试插座
CN205139319U (zh) * 2015-11-27 2016-04-06 法特迪精密科技（苏州）有限公司 大电流半导体测试座
CN205301367U (zh) * 2015-11-27 2016-06-08 法特迪精密科技（苏州）有限公司 新型连接测试座
CN205799195U (zh) * 2016-07-25 2016-12-14 宇骏(潍坊)新能源科技有限公司 一种具有防护功能的硅锭抛光机探测装置
CN206601409U (zh) * 2017-02-16 2017-10-31 苏州微缜电子科技有限公司 一种高频测试插座

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109884507A (zh) * 2019-03-20 2019-06-14 苏州和林微纳科技有限公司 Qfn芯片用高频测试座

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7791359B2 (en) Probe for high frequency signal transmission and probe card using the same
CN106199385A (zh) 一种用于芯片的测试插座及其测试电路
US20140159761A1 (en) Test device for computer interfaces
US9470716B2 (en) Probe module
CN101221194B (zh) 高频探针
CN206601409U (zh) 一种高频测试插座
CN104682145A (zh) 同轴转接连接器及l-smp插座测试装置
CN106771409A (zh) 一种高频测试插座
KR100524292B1 (ko) 반도체 테스트 인터페이스
CN201242552Y (zh) 射频同轴连接器信号测试连接装置
CN202694326U (zh) 一种测试装置
US20120217977A1 (en) Test apparatus for pci-e signals
CN203535082U (zh) 悬臂探针装置
CN101676733A (zh) 集成电路测试探针卡的结构
CN207265326U (zh) 一种可伸缩接触式连接器
CN202333379U (zh) 微带线或smd线路板微波测试转接头
CN102141952B (zh) 系统管理总线测试装置
US9261534B2 (en) Shield pin arrangement
TWI410637B (zh) 陣列式探針卡
CN104865423B (zh) 用于逻辑分析仪的主动式探棒
US7772861B2 (en) Probe card
CN107942157B (zh) 无源互调测试夹具及装置
CN107728039B (zh) 一种损耗测试探头
CN206313260U (zh) 一种优化pcie信号的互连器
CN201662582U (zh) 一种电抗可控芯片测试插座

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination