CN205301367U - 新型连接测试座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种新型连接测试座，包括探针保持板、芯片插座主体、测试探针，所述探针保持板的下端面设置有探针头部卡槽，所述测试探针的头部卡设在探针头部卡槽内，所述测试探针呈“十”字型，所述芯片插座主体上设置有上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述测试探针卡设在阶梯状通孔内，且所述测试探针的头部上套设有弹簧，所述测试探针的下端面设置有PIN测试插槽。本实用新型改探针与PIN的外部接触为探针与PIN内部接触以及PAD外部接触，用探针的内部与在芯片的PIN外部接触，在弹簧的下压下，将探针的外部与PAD接触。从而实现由一探针内外分别与PIN和PAD同时接触，减少了接触回路，增加接触可靠性，从而减少了回路损耗。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体测试座，尤其涉及一种新型连接测试座。
背景技术
现有的半导体测试座是用于测试一种PGA,BGA,LGA等测试产品。现有的测试座一般只能测试其中的一种引脚形式，只能通过探针与芯片上的PIN，BALL，PAD接触来传递信号和能量。随着半导体科技的突飞猛劲的发展，芯片的封装越来越多样化，因而对芯片的测试要求越来越高，因此对测试座的测试功能要求多样性，基于目前市场上的一种要求。将芯片PIN(管脚/引脚)上与PAD(焊垫/焊盘)上的信号连接起来的组合测试，现在的测试座的方案需要经过将PIN与一种探针连接，一种探针与导体连接，导体与另一种探针连接，另一种探针与PAD连接，从而最终实现PIN与PAD的连接，这种连接方式不仅结构复杂，成本高，且可靠性差。
实用新型内容
为克服上述缺点，本实用新型的目的在于提供一种结构简单、成本低、可靠性好的新型连接测试座。
为了达到以上目的，本实用新型采用的技术方案是：一种新型连接测试座，包括探针保持板、芯片插座主体、测试探针，所述探针保持板的下端面设置有探针头部卡槽，所述测试探针的头部卡设在探针头部卡槽内，所述测试探针呈“十”字型，所述芯片插座主体上设置有上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述测试探针卡设在阶梯状通孔内，且所述测试探针的头部上套设有弹簧，所述测试探针的下端面设置有PIN测试插槽。本实用新型是改探针外部接触为探针内部接触加外部接触，用探针的内部与在芯片的PIN外部接触，在弹簧的下压下，将探针的外部与PAD接触，从而实现由一探针内外分别与PIN和PAD同时接触，其结构简单，在满足客户功能的要求的同时，又节约了生产成品。在测试过程中，由于其连接方式与传统的结构不同，因此，产生的损耗少，信号连接稳定，减少了接触回路，增加接触可靠性，从而减少了回路损耗。解决传统的测试座结构复杂，成本高，且可靠性差的问题，从而简化测试座的结构，提高产品的可靠性，降低生产成本。
优选地，所述探针保持板与芯片插座主体通过螺丝固定连接。拆卸、安装方便、快捷。
附图说明
图1为本实施例未组装时的立体图；
图2为本实施例未组装时的剖视图；
图3为本实施例组装后测试时的剖视图；
图4为图3中A处的局部放大图；
图5为本实施例中待测芯片的立体图。
图中：
1-探针保持板；11-探针头部卡槽；2-弹簧；3-测试探针；31-PIN测试插槽；4-芯片插座主体；41-阶梯状通孔；5-测芯片；51-PIN；52-PAD。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参见附图1-5所示，本实施例中的一种新型连接测试座，针对目前半导体测试行业新要求而发明的一种新型测试座，它主要针对半导体产品测试过程中，该新型连接测试座包括探针保持板1、芯片插座主体4、测试探针3，探针保持板1的下端面设置有探针头部卡槽11，测试探针3的头部卡设在探针头部卡槽11内，测试探针3呈“十”字型，芯片插座主体4上设置有上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔41，测试探针3卡设在阶梯状通孔41内，且测试探针3的头部上套设有弹簧2，测试探针3的下端面设置有PIN测试插槽31。将测试探针3装在芯片插座主体4中，并装上弹簧2，然后盖上探针保持板1，测试探针3的头部位于探针保持板1的探针头部卡槽11内，并用螺丝锁住，这样测试探针3就在芯片插座主体4的卡设在阶梯状通孔41内掉不出来。同时也保证了测试探针3在芯片插座主体4中的正常的位置。这样就完成了一个测试座。将测试座与待测芯片5上的PIN51对准测试探针3的PIN测试插槽31并插入。使测试探针3的PIN测试插槽31与待测芯片5上的PIN51牢牢接触，同时，测试探针3的下端面在弹簧2的压力下与待测芯片5上的PAD52紧紧的接触，从而完成待测芯片5上的PIN51和PAD52信号之间的连接。在测试结束后，将测试座与待测芯片5分离，从而完成测试过程。
以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
Claims (2)
1.一种新型连接测试座，包括探针保持板、芯片插座主体、测试探针，所述探针保持板的下端面设置有探针头部卡槽，所述测试探针的头部卡设在探针头部卡槽内，其特征在于：所述测试探针呈“十”字型，所述芯片插座主体上设置有上端孔径大于下端孔径的阶梯状通孔，所述测试探针卡设在阶梯状通孔内，且所述测试探针的头部上套设有弹簧，所述测试探针的下端面设置有PIN测试插槽。
2.根据权利要求1所述的新型连接测试座，其特征在于：所述探针保持板与芯片插座主体通过螺丝固定连接。
Priority Applications (1)
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106771409A (zh) * | 2017-02-16 | 2017-05-31 | 苏州微缜电子科技有限公司 | 一种高频测试插座 |
| CN108957052A (zh) * | 2018-04-26 | 2018-12-07 | 深圳市泰欣能源科技有限公司 | 一种精密材料电学参数的测试装置及其测试方法 |
| CN117214484A (zh) * | 2023-11-09 | 2023-12-12 | 上海泽丰半导体科技有限公司 | 一种芯片测试插座 |
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2015
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