CN104682145A - 同轴转接连接器及l-smp插座测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种同轴转接连接器,包括:连接器本体,设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口,及设置在连接器本体另一端的SMA接口。本发明还公开了一种L-SMP插座测试装置,包括:L-SMP/SMP-KK射频转接柱,其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座,其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口;所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。本发明安装简便,使用过程中无任何损坏,只需更换射频转接柱即可,转接柱成本低,维护、更换简单;测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案相同,适用性更强。
Description
技术领域
本发明涉及一种同轴转接连接器,特别是涉及一种SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置。
背景技术
SMP_L-SMP(SMP、L-SMP为射频同轴连接器的型号)板对板配对解决方案是射频电路板间的一种连接方式,广泛应用于各种产品中,其射频电路板的连接结构见图1所示,上述连接结构中连接器共有三个,分别是SMP插座1、L-SMP/SMP-KK(L-SMP/SMP-KK为射频同轴连接器的型号)射频转接柱3、L-SMP插座2;L-SMP/SMP-KK射频转接柱3一端插在SMP插座1上,两者之间卡扣连接,L-SMP/SMP-KK射频转接柱3另一端连接L-SMP插座2,两者之间非卡扣连接,SMP插座1和L-SMP插座2分别连接第一电路板10和第二电路板20。对于SMP插座1与L-SMP/SMP-KK射频转接柱3的组合件这一接口,业内有成熟的测试同轴转接连接器,而对于L-SMP插座2,在进行接口测试时,使用专门的测试同轴转接连接器,或者采用转接板方式。
L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图如图2所示,该同轴转接连接器的一端为内导体端5,另一端为SMA(Small A Type,一种典型的微波高频连接器)接口41,在进行L-SMP插座测试时,内导体端5与L-SMP插座配合连接,通过同轴转接连接器,转为SMA接口,与测试线缆连接。
L-SMP插座测试用转接板的结构示意图如图3所示,图中标示Tx1_Rx1、Tx2_Rx2、DPD_RDP为SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的组合件6,用于测试被测板上的L-SMP插座,通过转接板的内部走线,转为SMA连接器7,与测试线缆连接。
上述L-SMP插座测试用同轴转接连接器,实际使用中内导体端很容易张开、损坏,从而不能使用,而且此同轴转接连接器价格较贵,使得L-SMP插座测试成本提高;而转接板方式,不同的板卡需要针对性的设计,设计、加工周期长,在测试夹具上还需要考虑固定、配合的送进分离机构及导向方式,测试夹具上此部分设计、安装、调试较复杂。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明的目的是提供一种适用于SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置,实现测试安装稳定、操作简单、成本低。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题,本发明提供一种同轴转接连接器,其包括:连接器本体,设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口,以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。
其中,所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰。
其中,所述法兰为长方形、正方形或圆形。
本发明还提供了一种基于上述任一项所述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置,其包括:
L-SMP/SMP-KK射频转接柱,其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座,其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口;
所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
其中,所述连接器本体中部设置法兰,所述法兰安装在测试安装板上。
其中,所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口穿过所述测试安装板。
(三)有益效果
上述技术方案具有如下优点:通过保留原SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构,实现与L-SMP/SMP-KK射频转接柱组合后用于电路板上L-SMP插座的测试,并与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案一致;通过SMA接口实现测试转接的目的;通过增加安装法兰实现安装简便。测试装置安装简单,使用过程中无任何损坏,只需更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱即可,转接柱成本低,维护、更换简单;测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案相同,适用性更强。
附图说明
图1是现有技术中SMP_L-SMP板对板配对解决方案中射频电路板的连接结构示意图;
图2是现有技术中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图;
图3是现有技术中L-SMP插座测试用转接板的结构示意图;
图4和图5分别是本发明实施例中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的立体图和主视图;
图6是使用本发明实施例的L-SMP插座测试装置的示意图。
其中,1:SMP插座;2:L-SMP插座;3:L-SMP/SMP-KK射频转接柱;41、42:SMA接口;5:内导体端;6:SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的组合件;7:SMA连接器;8:法兰;9:L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口;10:第一电路板;11:测试安装板;20:第二电路板。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
本发明的同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置,在保留原SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构的基础上,增加了SMA接口,提供了同轴转接连接器,其具体包括:连接器本体,设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口,以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。进一步地,还提供了一种基于上述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置,其具体包括:L-SMP/SMP-KK射频转接柱,其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座,其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口;所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
通过采用本发明的同轴转接连接器,能够实现与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的配合连接,用于电路板上L-SMP插座(接口)的测试,并通过更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱,实现了维护、更换简单,使用中损耗低廉。
实施例1
图4和图5是本发明实施例1的SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图,参照图示,所述同轴转接连接器包括连接器本体,设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9,以及设置在连接器本体另一端的SMA接口42。L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9优选现有技术中SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构,简化同轴转接连接器的结构设计的同时,能够方便将该同轴转接连接器应用于SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试。SMA接口可以连接测试线缆,实现测试转接的目的。
进一步地,所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰8,法兰8用于在进行L-SMP插座测试时对同轴转接连接器的固定。法兰8的形式不局限于图示中的长方形,也可以是正方形或圆形等法兰,可以采取穿墙式(螺母锁紧)的安装方式,以实现对同轴转接连接器的固定,稳定L-SMP插座测试装置。
使用本实施例的同轴转接连接器,借助于L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9,连接现有的L-SMP/SMP-KK射频转接柱的SMP插座接口端,L-SMP/SMP-KK射频转接柱的L-SMP插座接口端连接被测试的L-SMP插座,进一步利用SMA接口42连接测试线缆,即可实现L-SMP插座的测试,该连接方式简单、稳定,同轴转接连接器的结构设计简单,加上L-SMP/SMP-KK射频转接柱,总成本低廉,维护、更换简单。
实施例2
图6是本发明实施例2中L-SMP插座测试装置的示意图,参照图示,该测试装置包括L-SMP/SMP-KK射频转接柱3,其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座2,其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9;所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。所述连接器本体中部设置的法兰8安装在测试安装板11上;所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9穿过所述测试安装板11。
本实施例L-SMP插座测试装置中,使用L-SMP/SMP-KK射频转接柱,结合实施例1中的同轴转接连接器,将同轴转接连接器一端穿过测试安装板11,通过法兰8将同轴转接连接器固定在测试安装板11上,同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9连接L-SMP/SMP-KK射频转接柱3用于连接SMP插座的接口端,同轴转接连接器的SMA接口42连接测试线缆,L-SMP/SMP-KK射频转接柱3的另一端口,也即SMP_L-SMP板对板配对解决方案中用于连接L-SMP插座的端口,连接第二电路板20上的被测L-SMP插座2,由此就能够实现L-SMP插座的测试。
与现有的L-SMP插座的测试转接同轴连接器相比,本实施例在使用过程中没有损耗(损耗件为L-SMP/SMP-KK射频转接柱),测试中的损耗成本低;测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案一致;测试过程中更换、维护简单(只需更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱即可);
与现有的测试转接板相比,本实施例针对L-SMP插座(接口)的测试具有通用性(测试转接板需要针对不同的板卡设计且有一定的加工周期),测试夹具上的相关机构设计、安装、调试简单。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和替换,这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种同轴转接连接器,其特征在于,包括:连接器本体,设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口,以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。
2.如权利要求1所述的同轴转接连接器,其特征在于,所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰。
3.如权利要求1所述的同轴转接连接器,其特征在于,所述法兰为长方形、正方形或圆形。
4.基于权利要求1-3中任一项所述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置,其特征在于,包括:
L-SMP/SMP-KK射频转接柱,其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座,其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口;
所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
5.如权利要求4所述的L-SMP插座测试装置,其特征在于,所述连接器本体中部设置法兰,所述法兰安装在测试安装板上。
6.如权利要求5所述的L-SMP插座测试装置,其特征在于,所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口穿过所述测试安装板。
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