CN104682145B - 同轴转接连接器及l‑smp插座测试装置 - Google Patents

同轴转接连接器及l‑smp插座测试装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种同轴转接连接器，包括：连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L‑SMP/SMP‑KK射频转接柱连接口，及设置在连接器本体另一端的SMA接口。本发明还公开了一种L‑SMP插座测试装置，包括：L‑SMP/SMP‑KK射频转接柱，其L‑SMP接口端连接被测L‑SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L‑SMP/SMP‑KK射频转接柱连接口；所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。本发明安装简便，使用过程中无任何损坏，只需更换射频转接柱即可，转接柱成本低，维护、更换简单；测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L‑SMP板对板配对解决方案相同，适用性更强。

Description

同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置
技术领域
本发明涉及一种同轴转接连接器，特别是涉及一种SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置。
背景技术
SMP_L-SMP（SMP、L-SMP为射频同轴连接器的型号）板对板配对解决方案是射频电路板间的一种连接方式，广泛应用于各种产品中，其射频电路板的连接结构见图1所示，上述连接结构中连接器共有三个，分别是SMP插座1、L-SMP/SMP-KK（L-SMP/SMP-KK为射频同轴连接器的型号）射频转接柱3、L-SMP插座2；L-SMP/SMP-KK射频转接柱3一端插在SMP插座1上，两者之间卡扣连接，L-SMP/SMP-KK射频转接柱3另一端连接L-SMP插座2，两者之间非卡扣连接，SMP插座1和L-SMP插座2分别连接第一电路板10和第二电路板20。对于SMP插座1与L-SMP/SMP-KK射频转接柱3的组合件这一接口，业内有成熟的测试同轴转接连接器，而对于L-SMP插座2，在进行接口测试时，使用专门的测试同轴转接连接器，或者采用转接板方式。
L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图如图2所示，该同轴转接连接器的一端为内导体端5，另一端为SMA（Small A Type,一种典型的微波高频连接器）接口41，在进行L-SMP插座测试时，内导体端5与L-SMP插座配合连接，通过同轴转接连接器，转为SMA接口，与测试线缆连接。
L-SMP插座测试用转接板的结构示意图如图3所示，图中标示Tx1_Rx1、Tx2_Rx2、DPD_RDP为SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的组合件6，用于测试被测板上的L-SMP插座，通过转接板的内部走线，转为SMA连接器7，与测试线缆连接。
上述L-SMP插座测试用同轴转接连接器，实际使用中内导体端很容易张开、损坏，从而不能使用，而且此同轴转接连接器价格较贵，使得L-SMP插座测试成本提高；而转接板方式，不同的板卡需要针对性的设计，设计、加工周期长，在测试夹具上还需要考虑固定、配合的送进分离机构及导向方式，测试夹具上此部分设计、安装、调试较复杂。
发明内容
（一）要解决的技术问题
本发明的目的是提供一种适用于SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置，实现测试安装稳定、操作简单、成本低。
（二）技术方案
为了解决上述技术问题，本发明提供一种同轴转接连接器，其包括：连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口，以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。
其中，所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰。
其中，所述法兰为长方形、正方形或圆形。
本发明还提供了一种基于上述任一项所述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置，其包括：
L-SMP/SMP-KK射频转接柱，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口；
所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
其中，所述连接器本体中部设置法兰，所述法兰安装在测试安装板上。
其中，所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口穿过所述测试安装板。
（三）有益效果
上述技术方案具有如下优点：通过保留原SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构，实现与L-SMP/SMP-KK射频转接柱组合后用于电路板上L-SMP插座的测试，并与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案一致；通过SMA接口实现测试转接的目的；通过增加安装法兰实现安装简便。测试装置安装简单，使用过程中无任何损坏，只需更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱即可，转接柱成本低，维护、更换简单；测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案相同，适用性更强。
附图说明
图1是现有技术中SMP_L-SMP板对板配对解决方案中射频电路板的连接结构示意图；
图2是现有技术中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图；
图3是现有技术中L-SMP插座测试用转接板的结构示意图；
图4和图5分别是本发明实施例中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的立体图和主视图；
图6是使用本发明实施例的L-SMP插座测试装置的示意图。
其中，1：SMP插座；2：L-SMP插座；3：L-SMP/SMP-KK射频转接柱；41、42：SMA接口；5：内导体端；6：SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的组合件；7：SMA连接器；8：法兰；9：L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口；10：第一电路板；11：测试安装板；20：第二电路板。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
本发明的同轴转接连接器及L-SMP插座测试装置，在保留原SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构的基础上，增加了SMA接口，提供了同轴转接连接器，其具体包括：连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口，以及设置在连接器本体另一端的SMA接口。进一步地，还提供了一种基于上述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置，其具体包括：L-SMP/SMP-KK射频转接柱，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口；所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
通过采用本发明的同轴转接连接器，能够实现与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的配合连接，用于电路板上L-SMP插座（接口）的测试，并通过更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱，实现了维护、更换简单，使用中损耗低廉。
实施例1
图4和图5是本发明实施例1的SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试用同轴转接连接器的结构示意图，参照图示，所述同轴转接连接器包括连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9，以及设置在连接器本体另一端的SMA接口42。L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9优选现有技术中SMP插座与L-SMP/SMP-KK射频转接柱的连接相关结构，简化同轴转接连接器的结构设计的同时，能够方便将该同轴转接连接器应用于SMP_L-SMP板对板配对解决方案中L-SMP插座测试。SMA接口可以连接测试线缆，实现测试转接的目的。
进一步地，所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰8，法兰8用于在进行L-SMP插座测试时对同轴转接连接器的固定。法兰8的形式不局限于图示中的长方形，也可以是正方形或圆形等法兰，可以采取穿墙式（螺母锁紧）的安装方式，以实现对同轴转接连接器的固定，稳定L-SMP插座测试装置。
使用本实施例的同轴转接连接器，借助于L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9，连接现有的L-SMP/SMP-KK射频转接柱的SMP插座接口端，L-SMP/SMP-KK射频转接柱的L-SMP插座接口端连接被测试的L-SMP插座，进一步利用SMA接口42连接测试线缆，即可实现L-SMP插座的测试，该连接方式简单、稳定，同轴转接连接器的结构设计简单，加上L-SMP/SMP-KK射频转接柱，总成本低廉，维护、更换简单。
实施例2
图6是本发明实施例2中L-SMP插座测试装置的示意图，参照图示，该测试装置包括L-SMP/SMP-KK射频转接柱3，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座2，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9；所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。所述连接器本体中部设置的法兰8安装在测试安装板11上；所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9穿过所述测试安装板11。
本实施例L-SMP插座测试装置中，使用L-SMP/SMP-KK射频转接柱，结合实施例1中的同轴转接连接器，将同轴转接连接器一端穿过测试安装板11，通过法兰8将同轴转接连接器固定在测试安装板11上，同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口9连接L-SMP/SMP-KK射频转接柱3用于连接SMP插座的接口端，同轴转接连接器的SMA接口42连接测试线缆，L-SMP/SMP-KK射频转接柱3的另一端口，也即SMP_L-SMP板对板配对解决方案中用于连接L-SMP插座的端口，连接第二电路板20上的被测L-SMP插座2，由此就能够实现L-SMP插座的测试。
与现有的L-SMP插座的测试转接同轴连接器相比，本实施例在使用过程中没有损耗（损耗件为L-SMP/SMP-KK射频转接柱），测试中的损耗成本低；测试的连接方式与电路板在整机产品中的连接形式即SMP_L-SMP板对板配对解决方案一致；测试过程中更换、维护简单（只需更换L-SMP/SMP-KK射频转接柱即可）；
与现有的测试转接板相比，本实施例针对L-SMP插座（接口）的测试具有通用性（测试转接板需要针对不同的板卡设计且有一定的加工周期），测试夹具上的相关机构设计、安装、调试简单。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

Claims (6)

1.一种同轴转接连接器，其特征在于，包括：连接器本体，设置在连接器本体一端可连接SMP插座的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口，以及设置在连接器本体另一端的SMA接口；
L-SMP/SMP-KK射频转接柱，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口；
所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆，从而实现L-SMP插座的测试，简化了所述同轴转接连接器的连接方式，使得L-SMP插座的测试更稳定。
2.如权利要求1所述的同轴转接连接器，其特征在于，所述同轴转接连接器还包括设置在连接器本体中部的法兰。
3.如权利要求2所述的同轴转接连接器，其特征在于，所述法兰为长方形、正方形或圆形。
4.基于权利要求1-3中任一项所述同轴转接连接器的L-SMP插座测试装置，其特征在于，包括：
L-SMP/SMP-KK射频转接柱，其L-SMP接口端连接被测L-SMP插座，其SMP接口端连接所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口；
所述同轴转接连接器的SMA接口连接测试线缆。
5.如权利要求4所述的L-SMP插座测试装置，其特征在于，所述连接器本体中部设置法兰，所述法兰安装在测试安装板上。
6.如权利要求5所述的L-SMP插座测试装置，其特征在于，所述同轴转接连接器的L-SMP/SMP-KK射频转接柱连接口穿过所述测试安装板。
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