CN102486745A - 硬盘模拟装置 - Google Patents

硬盘模拟装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102486745A
CN102486745A CN2010105669235A CN201010566923A CN102486745A CN 102486745 A CN102486745 A CN 102486745A CN 2010105669235 A CN2010105669235 A CN 2010105669235A CN 201010566923 A CN201010566923 A CN 201010566923A CN 102486745 A CN102486745 A CN 102486745A
Authority
CN
China
Prior art keywords
hard disk
connector
analogue means
base plate
hard
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2010105669235A
Other languages
English (en)
Inventor
梁志春
田方
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2010105669235A priority Critical patent/CN102486745A/zh
Priority to US12/965,831 priority patent/US20120140411A1/en
Publication of CN102486745A publication Critical patent/CN102486745A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/16—Constructional details or arrangements
    • G06F1/18—Packaging or power distribution
    • G06F1/183—Internal mounting support structures, e.g. for printed circuit boards, internal connecting means
    • G06F1/187—Mounting of fixed and removable disk drives

Abstract

一种硬盘模拟装置，包括一与硬盘大小相当的本体部及设于本体部上的连接部，该本体部的侧壁设有可将该本体部固定在一硬盘固定架上的固定件，该连接部两端分别设有露在该本体部外侧的第一及第二硬盘连接器，该第一及第二硬盘连接器对应电性连接，当安装有该本体部的硬盘固定架插入一待测服务器时，该第二硬盘连接器对应插接至该服务器的背板的硬盘接口上。该硬盘模拟装置可代替硬盘进行服务器产品的相关测试，十分方便。

Description

硬盘模拟装置
技术领域
本发明涉及一种硬盘模拟装置。
背景技术
在服务器的制造或研发过程中，需要对服务器进行相应的测试，例如，在对服务器机箱背板上的硬盘接口进行测试。通常的测试方法是将硬盘线缆的一端直接插入服务器机箱背板上待测的硬盘接口内，再将硬盘线缆的另一端插在外部的测试设备上，但是，应用此种方法时，由于待测的硬盘接口一般位于服务器机箱的内侧，故插接硬盘线缆时不是十分方便，并且通常需要专业测试人员进行安装，以避免安装错误。另外在测试过程中，还可能由于硬盘线缆与背板上的硬盘接口未插紧而导致测试失败的情况。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种可简单、方便对服务器机箱背板上的硬盘接口进行测试的硬盘模拟装置。
一种硬盘模拟装置，包括一与硬盘大小相当的本体部及设于本体部上的连接部，该本体部的侧壁设有可将该本体部固定在一硬盘固定架上的固定件，该连接部两端分别设有露在该本体部外侧的第一及第二硬盘连接器，该第一及第二硬盘连接器对应电性连接，当安装有该本体部的硬盘固定架插入一待测服务器时，该第二硬盘连接器对应插接至该服务器的背板的硬盘接口上。
上述硬盘模拟装置通过设置与硬盘大小相当的本体部及设置在本体部上的连接部，可使该硬盘模拟装置通过硬盘固定架插接至该服务器的背板的硬盘接口上，插接十分方便，并且不会出现插接松动的现象，大大提高了测试效率。
附图说明
下面参照附图结合较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1为本发明硬盘模拟装置较佳实施方式的分解图。
图2为图1的组装图。
图3为应用本发明硬盘模拟装置对一服务器机箱背板上的硬盘接口进行测试的示意图。
主要元件符号说明
硬盘模拟装置    100
本体部          10
连接部          20
底板            12
前臂            11
后壁            13
侧壁            14、42
第一开孔        112
第二开孔        132
突出部          142
螺孔            144、122
电路板          22
通孔            222、44
第一硬盘连接器  24
第二硬盘连接器  26
螺丝            30、50
硬盘固定架      40
背板            60
硬盘接口    62
具体实施方式
请参考图1，本发明硬盘模拟装置100的较佳实施方式包括一本体部10及一连接部20。
该本体部10的整体形状与一现有的硬盘整体形状相当，包括一底板12及沿该底板12四边垂直向上延伸的一前臂11、一后壁13及两侧壁14。该前臂11与该底板12的交接部分开设有一第一开孔112，该后壁13与该底板12的交接部分开设有一第二开孔132。每一侧壁14上均凸设两突出部142，且每一突出部142均开设一螺孔144。该底板12上开设若干螺孔122，本实施方式为三个。其他实施方式，该突出部142及其上的螺孔144也可根据实际需要设计为其他结构的固定件。
该连接部20包括一与该底板12大致相当的电路板22，该电路板22上对应该螺孔122开设若干通孔222，该电路板22的两端对应该第一开孔112及第二开孔132分别设有一第一硬盘连接器24及一第二硬盘连接器26。该第一硬盘连接器24与该第二硬盘连接器26对应电性相连。
请参考图2，组装该硬盘模拟装置100时，将该连接部20直接放置于该本体部10上，通过螺丝30穿过通孔222螺锁进螺孔122内，以将连接部20固定在本体部10上，此时，该第一硬盘连接器24及第二硬盘连接器26也分别通过第一开孔112及第二开孔132露在该本体部10的外面。
请参考图3，当应用该硬盘模拟装置100对一服务器背板60上的硬盘接口62进行测试时(图中未示出服务器的其他部分)，先通过螺丝50穿过一硬盘固定架40两侧壁42的通孔44后螺锁进该本体部10的螺孔144，以将该硬盘模拟装置100固定在该硬盘固定架40上，由于硬盘固定架40为现有技术，故这里不再对其具体结构进行详细描述。此时，该硬盘模拟装置100相当于一硬盘固定在了该硬盘固定架40上，如此通过硬盘固定架40可方便、快捷地将该硬盘模拟装置100的第二硬盘连接器26对应插接在一待测的硬盘接口62上，然后再通过外部的测试设备(未示出)连接至该第一硬盘连接器24上即可对该硬盘接口62进行相应的测试。由于该硬盘模拟装置100是按照一般的硬盘大小进行设计，并通过该硬盘固定架40插接至该硬盘接口62上，故插接方便，并且不会出现插接松动的现象，提高了测试效率。

Claims (4)

1.一种硬盘模拟装置，包括一与硬盘大小相当的本体部及设于本体部上的连接部，该本体部的侧壁设有可将该本体部固定在一硬盘固定架上的固定件，该连接部两端分别设有露在该本体部外侧的第一及第二硬盘连接器，该第一及第二硬盘连接器对应电性连接，当安装有该本体部的硬盘固定架插入一待测服务器时，该第二硬盘连接器对应插接至该服务器的背板的硬盘接口上。
2.如权利要求1所述的硬盘模拟装置，其特征在于：该本体部包括一底板及沿该底板四边垂直向上延伸的一前臂、一后壁及两侧壁，该前臂与该底板的交接部分开设有一对应该第一硬盘连接器的第一开孔，该后壁与该底板的交接部分开设有一对应该第二硬盘连接器的第二开孔。
3.如权利要求2所述的硬盘模拟装置，其特征在于：该本体部的每一侧壁上均凸设两突出部，且每一突出部均开设一螺孔。
4.如权利要求1所述的硬盘模拟装置，其特征在于：该连接部包括一电路板，该电路板上开设若干通孔，该第一及第二硬盘连接器分别设在该电路板的两端，该底板上开设对应上述通孔开设若干螺孔。
CN2010105669235A 2010-12-01 2010-12-01 硬盘模拟装置 Pending CN102486745A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105669235A CN102486745A (zh) 2010-12-01 2010-12-01 硬盘模拟装置
US12/965,831 US20120140411A1 (en) 2010-12-01 2010-12-11 Hard disk drive simulating apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010105669235A CN102486745A (zh) 2010-12-01 2010-12-01 硬盘模拟装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102486745A true CN102486745A (zh) 2012-06-06

Family

ID=46152242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010105669235A Pending CN102486745A (zh) 2010-12-01 2010-12-01 硬盘模拟装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20120140411A1 (zh)
CN (1) CN102486745A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021259332A1 (zh) * 2020-06-24 2021-12-30 华为技术有限公司 硬盘安装机构、硬盘组件及电子设备
CN113963742A (zh) * 2021-09-29 2022-01-21 苏州浪潮智能科技有限公司 硬盘背板的测试装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9383784B2 (en) * 2013-01-29 2016-07-05 Netgear, Inc. Method and apparatus housing a hard-disk drive using a tray with anchoring strips

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100209017B1 (ko) * 1996-09-16 1999-07-15 윤종용 보조기억장치 테스트장치
US6421236B1 (en) * 2000-08-07 2002-07-16 Intel Corporation Hot swap disk drive carrier and disk drive bay
US6876547B2 (en) * 2002-11-14 2005-04-05 Dell Products L.P. Hard drive carrier
US7145765B2 (en) * 2004-02-27 2006-12-05 Finisar Corporation Support device and extender assemblies for interposers
TWI237542B (en) * 2004-07-16 2005-08-01 First Int Computer Inc Electronic apparatus installing base
JP2008539501A (ja) * 2005-04-26 2008-11-13 イノヴェイティヴ ポリマーズ ピーティーイー リミテッド 記憶デバイスのためのテストキャリア
US7495906B2 (en) * 2006-04-21 2009-02-24 International Business Machines Corporation Multiple hard disk drive assembly cooling

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021259332A1 (zh) * 2020-06-24 2021-12-30 华为技术有限公司 硬盘安装机构、硬盘组件及电子设备
CN113963742A (zh) * 2021-09-29 2022-01-21 苏州浪潮智能科技有限公司 硬盘背板的测试装置
CN113963742B (zh) * 2021-09-29 2023-11-10 苏州浪潮智能科技有限公司 硬盘背板的测试装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20120140411A1 (en) 2012-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6447339B1 (en) Adapter for a multi-channel signal probe
CN104422863B (zh) 半导体测试装置
US6781391B2 (en) Multi-channel, low input capacitance signal probe and probe head
US8081009B2 (en) Printed circuit board testing fixture
KR100648014B1 (ko) 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브장치의 ｐｃｂ 접속용지그
CN104682145B (zh) 同轴转接连接器及l‑smp插座测试装置
CN102486745A (zh) 硬盘模拟装置
KR100524292B1 (ko) 반도체 테스트 인터페이스
JP2007093279A (ja) パフォーマンスボード、試験装置、試験方法、診断用ボード及び診断方法
US20030107389A1 (en) Adapter for a multi-channel, low input capacitacne signal probe
KR101913274B1 (ko) 프로브 카드의 전기적 특성 측정장치
CN202110251U (zh) 双面带顶针的pcba测试装置
CN115148276A (zh) 一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法
CN203365488U (zh) 探针式连接器检测装置
WO2008116098A3 (en) Right angle connection system for ate interface
CN113252264A (zh) 试验工装
JP4962786B2 (ja) 半導体試験装置
CN104390757B (zh) 动物行为跟踪器外壳冲击检验装置
JP6276536B2 (ja) テスト装置と、それを構成するコンタクト装置
TW201135242A (en) Connecting device
CN215415824U (zh) 一种线序检测仪
TWI409479B (zh) Test unit for testing electronic parts, test heads and electronic parts test equipment
TWI429927B (zh) A transfer unit, an additional member for the transport unit, and a test device
US20150168456A1 (en) Probe card and method for producing a probe card
KR101665332B1 (ko) 프로브 카드 검사용 테스트 헤드

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20120606