CN202110251U - 双面带顶针的pcba测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开一种双面带顶针的PCBA测试装置,其包括:下测试架;设置在下测试架正上方的上测试架;在上测试架的下侧面上设置若干个第一顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第一定位块;在下测试架的上侧面上设置若干个第二顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第二定位块;且第一定位块与第二定位块之间形成一个固定PCBA的测试空间。本实用新型的测试装置具有结构简单、测试简便的特点,有利于提高PCBA的测试效率。

Description

双面带顶针的PCBA测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置,尤其是涉及一种双面带顶针的印刷电路板装配(PCBA,Printed Circuit Board Assembly)测试装置。
背景技术
印刷电路板装配(PCBA,Printed Circuit Board Assembly)是指PCB空板经过SMT上件,再经过DIP插件的整个制程。由于PCBA上插接了若干电子元器件,因此,需要对各个电子元器件进行测试,以确保产品质量。
目前,对PCBA测试要求PCB板装上所有连接插座,测试时先将所有外接部分如:手柄、喇叭、外线和按键板等直接插到对应插座,测试PCBA功能,测试完毕,将这些外界件拆开,然后重复上述动作测下一块PCBA。虽然这样功能是可以测试,但生产效率低,要很多测试人员才能满足需要。
发明内容
为解决现有PCBA测试时存在测试效率低的技术问题,本实用新型提出一种双面带顶针的PCBA测试装置,利用顶针直接接触PCBA上进行测试。
本实用新型采用如下技术方案实现:一种双面带顶针的PCBA测试装置,其包括:下测试架;设置在下测试架正上方的上测试架;在上测试架的下侧面上设置若干个第一顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第一定位块;在下测试架的上侧面上设置若干个第二顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第二定位块;且第一定位块与第二定位块之间形成一个固定PCBA的测试空间。
在一个优选实施例中,在上测试架的下侧面上设置若干个连接在其中一个或多个第一顶针与外部测试设备之间的外接测试部。
在另一个优选实施例中,在下测试架的上侧面上设置若干个连接在其中一个或多个第二顶针与外部测试设备之间的外接测试部。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型的测试装置具有结构简单、测试简便的特点,有利于提高PCBA的测试效率。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型提出的PCBA测试装置包括:上测试架1;下测试架2,所述上测试架1设置在下测试架2的正上方;在上测试架1的下侧面上设置对测试PCBA固定位置进行限位的第一定位块11;以及设置在上测试架1的下侧面上的若干个第一顶针12,该第一顶针12的一末端点通过导线电连接外部的测试设备;在下测试架2的上侧面上设置第二定位块21,该第一定位块11与第二定位块21之间形成一个恰好能够容纳测试PCBA的测试空间;同样的,在在下测试架2的上侧面上设置若干个第二顶针22。
其中,根据不同PCBA测试的实际需要,其中一个或多个第一顶针12或/和第二顶针22可以通过导线与外部的测试设备电连接,也可以连接分别设置在上测试架1的下侧面上或下测试架2的上侧面上设置的外接测试部连接。比如,在下测试架2的上侧面上设置一个或多个外接测试部23,该外接测试部23可以为喇叭、外线或按键板等,从而将之前分别需要操作员手工方式一一连接至待测试PCBA的各个外接测试部固定设置在上测试架1或/和下测试架2之上,只需要将待测试的PCBA放置在第一定位块11与第二定位块之间,通过第一顶针12与第二顶针22分别电连接PCBA两侧面上的各个测试点(测试点为插接在电路板上的元件针脚或焊盘),即可以快速的对PCBA进行测试。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (3)

1. 一种双面带顶针的PCBA测试装置,其特征在于,包括:下测试架;设置在下测试架正上方的上测试架;在上测试架的下侧面上设置若干个第一顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第一定位块;在下测试架的上侧面上设置若干个第二顶针以及用于对PCBA的测试位置进行限位的第二定位块;且第一定位块与第二定位块之间形成一个固定PCBA的测试空间。
2.根据权利要求1所述双面带顶针的PCBA测试装置,其特征在于,在上测试架的下侧面上设置若干个连接在其中一个或多个第一顶针与外部测试设备之间的外接测试部。
3.根据权利要求1所述双面带顶针的PCBA测试装置,其特征在于,在下测试架的上侧面上设置若干个连接在其中一个或多个第二顶针与外部测试设备之间的外接测试部。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103048576A (zh) * 2013-01-24 2013-04-17 昆山尼赛拉电子器材有限公司 端子检测治具
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