CN115148276A - 一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法 - Google Patents
一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115148276A CN115148276A CN202210909143.9A CN202210909143A CN115148276A CN 115148276 A CN115148276 A CN 115148276A CN 202210909143 A CN202210909143 A CN 202210909143A CN 115148276 A CN115148276 A CN 115148276A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- hard disk
- weight
- test
- disk cartridge
- box
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
Landscapes
- Feeding And Guiding Record Carriers (AREA)
Abstract
本发明涉及一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法,该配重可调节的硬盘测试治具,包括硬盘盒,可更换的IO板及若干配重块;所述硬盘盒内设有若干用于放置所述配重块的安装位,所述可更换的IO板与所述硬盘盒固定连接,所述配重块用于仿真硬盘盒内部的部件的重量。本发明通过适配不同重量的配重块仿真硬盘盒内部的部件,对等真实硬盘,可替代真实硬盘做力学破坏性试验测试,测试结果可保证与使用真实硬盘测试一致,减少了因硬盘损坏造成的损失,且该硬盘盒不易损坏,可以多次测试,降低了研发成本。
Description
技术领域
本发明涉及硬盘测试技术领域,尤其是指一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法。
背景技术
在服务器产品整机研发阶段,需要进行大量机械可靠性类破坏性测试,比如振动、冲击、跌落等动力学测试。在研发阶段所有部件的结构可靠性测试均需要采用满配进行验证,硬盘满配测试是基础,重复的机械破坏性测试,会导致硬盘损坏,这样就会导致测试成本剧增。
目前现有技术方案为在产品研发阶段使用项目购买的硬盘测试。研发阶段针对各种部件(主板,小卡,结构件等)结构设计需要做多次可靠性测试验证后才能确定最终方案,尤其在前期,各部件结构未达到最优设计,需要满配硬盘进行重复机械可靠性测试,存在很大破坏性概率,会导致硬盘性能下降,更甚者造成硬盘损坏,无法识别。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法。
为了解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
一种配重可调节的硬盘测试治具,包括硬盘盒,可更换的IO板及若干配重块;所述硬盘盒内设有若干用于放置所述配重块的安装位,所述可更换的IO板与所述硬盘盒固定连接,所述配重块用于仿真硬盘盒内部的部件的重量。
其进一步技术方案为:所述配重块包括第一类型配重块,第二类型配重块,第三类型配重块及第四类型配重块。
其进一步技术方案为:所述第一类型配重块的重量为10g,第二类型配重块的重量为20g,第三类型配重块的重量为50g,第四类型配重块的重量为100g。
其进一步技术方案为:所述配重块通过螺丝固定于所述安装位。
其进一步技术方案为:所述可更换的IO板通过螺丝与所述硬盘盒固定连接。
其进一步技术方案为:所述硬盘盒包括2.5寸或3.5寸。
一种配重可调节的硬盘的测试方法,基于上述的配重可调节的硬盘测试治具,包括以下步骤:
获取硬盘盒内部的部件的基础信息;
根据硬盘盒内部的部件的基础信息,配置相对应的配重块,并将配重块固定于硬盘盒内,以得到硬盘测试治具;
对硬盘测试治具执行测试,以得到测试结果。
其进一步技术方案为:所述硬盘盒内部的部件的基础信息包括硬盘盒内部的部件的重量信息和安装位置信息。
其进一步技术方案为:所述根据硬盘盒内部的部件的基础信息,配置相对应的配重块,并将配重块固定于硬盘盒内,以得到硬盘测试治具步骤之后,还包括:将若干台硬盘测试治具固定于测试机柜。
其进一步技术方案为:所述对硬盘测试治具执行测试,以得到测试结果步骤中,对硬盘测试治具执行测试包括振动测试、冲击测试及跌落测试。
本发明与现有技术相比的有益效果是:通过适配不同重量的配重块仿真硬盘盒内部的部件,对等真实硬盘,可替代真实硬盘做力学破坏性试验测试,测试结果可保证与使用真实硬盘测试一致,减少了因硬盘损坏造成的损失,且该硬盘盒不易损坏,可以多次测试,降低了研发成本。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的配重可调节的硬盘测试治具的应用场景示意图一;
图2为本发明实施例提供的配重可调节的硬盘测试治具的应用场景示意图二;
图3为本发明实施例提供的配重可调节的硬盘的测试方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不应理解为必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。
如图1至图2所示,本发明公开了一种配重可调节的硬盘测试治具,包括硬盘盒10,可更换的IO板20及若干配重块30;所述硬盘盒10内设有若干用于放置所述配重块30的安装位(图中未示出),所述可更换的IO板10与所述硬盘盒10固定连接,所述配重块30用于仿真硬盘盒10内部的部件的重量。
具体地,在本实施例中,所述配重块30包括第一类型配重块,第二类型配重块,第三类型配重块及第四类型配重块。
具体地,针对不同硬盘盒10内部的部件的重量不同,通过设置不同类型的配重块30来配对,可快速有效地实现配重块30代替硬盘盒10内部的部件做动力学测试。
其中,所述第一类型配重块的重量为10g,第二类型配重块的重量为20g,第三类型配重块的重量为50g,第四类型配重块的重量为100g。
具体地,通过不同重量的配重块30来配对不同重量的硬盘盒10内部的部件,例如:某硬盘盒10内部的部件的重量为60g,可通过3个第二类型配重块叠加实现配对,也可通过1个第一类型配重块+1个第三类型配重块叠加实现配对。
具体地,在本实施例中,所述配重块30通过螺丝固定于所述安装位,方便配重块20拆装及组合。
具体地,在本实施例中,所述可更换的IO板20通过螺丝与所述硬盘盒10固定连接,方便拆装且连接牢固,不易松动。
具体地,可更换的IO板20支持SAS/SATA/NVME接口,与真实硬盘金手指连接器位置一致。
具体地,在本实施例中,所述硬盘盒10的内部的部件包括主板,小卡或结构件等。
如图1所示,硬盘盒10为2.5寸,将2.5寸硬盘盒10内放入若干个配重块30,通过调节配重块30重量,使2.5寸硬盘盒10与真实2.5寸硬盘重量一致,来代替真实2.5寸硬盘进行振动,冲击等结构可靠性测试验证,通过可更换的IO板20来覆盖真实硬盘接口。
如图2所示,硬盘盒为3.5寸,将可调节配重块30放入2.5寸硬盘盒10内,再把2.5寸硬盘盒10与可调节配重块30放入3.5寸硬盘盒10内,通过调节配重块30重量,使3.5寸硬盘盒10重量与真实3.5寸硬盘一致,代替真实3.5寸硬盘进行振动,冲击等结构可靠性测试验证,通过可更换的IO板20来覆盖真实硬盘接口。
该配重可调节的硬盘测试治具可替代各型号硬盘进行各个部件结构可靠性测试验证,且简单易操作,大大减少了模具及硬盘成本。
如图3所示,本发明还公开了一种配重可调节的硬盘的测试方法,基于上述的配重可调节的硬盘测试治具,包括以下步骤:
S1,获取硬盘盒内部的部件的基础信息;
具体地,通过设备扫描或人工操作获取硬盘盒内部的部件的基础信息,硬盘盒内部的部件的基础信息包括硬盘盒内部的部件的重量信息和安装位置信息。
其中,硬盘盒内部的部件的基础信息还可以包括硬盘盒内部的部件的种类信息,比如:主板,小卡或结构件等。
S2,根据硬盘盒内部的部件的基础信息,配置相对应的配重块,并将配重块固定于硬盘盒内,以得到硬盘测试治具;
具体地,通过硬盘盒内部的部件的基础信息,配置相对应的配重块,比如:某硬盘盒内部的部件的重量为60g,可通过3个20g的配重块叠加实现配对,也可通过1个10g的配重块+1个50g的配重块叠加实现配对。然后将配对后的配重块通过螺丝固定于硬盘盒内,以得到硬盘测试治具。
具体地,在S2步骤之后,还包括:将若干台硬盘测试治具固定于测试机柜。
具体地,通过上述配对的方式得到若干台不同的硬盘测试治具,比如:硬盘盒内部的部件的重量不同,硬盘盒内部的部件的安装位置不同等。通过在测试机柜固定若干台不同的硬盘测试治具,再执行动力学测试,可同时实现测试若干台硬盘测试治具,有效地提高了测试效率。
S3,对硬盘测试治具执行测试,以得到测试结果。
具体地,在S3步骤中,对硬盘测试治具执行测试包括振动测试、冲击测试及跌落测试等动力学测试。测试结果包括:测试合格或不合格,通过执行动力学测试,可验证测试机柜的机械可靠性,及硬盘测试治具的机械可靠性。
本发明通过适配不同重量的配重块仿真硬盘盒内部的部件,对等真实硬盘,可替代真实硬盘做力学破坏性试验测试,测试结果可保证与使用真实硬盘测试一致,减少了因硬盘损坏造成的损失,且该硬盘盒不易损坏,可以多次测试,降低了研发成本。
上述实施例为本发明较佳的实现方案,除此之外,本发明还可以其它方式实现,在不脱离本技术方案构思的前提下任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种配重可调节的硬盘测试治具,其特征在于,包括硬盘盒,可更换的IO板及若干配重块;所述硬盘盒内设有若干用于放置所述配重块的安装位,所述可更换的IO板与所述硬盘盒固定连接,所述配重块用于仿真硬盘盒内部的部件的重量。
2.根据权利要求1所述的一种配重可调节的硬盘测试治具,其特征在于,所述配重块包括第一类型配重块,第二类型配重块,第三类型配重块及第四类型配重块。
3.根据权利要求2所述的一种配重可调节的硬盘测试治具,其特征在于,所述第一类型配重块的重量为10g,第二类型配重块的重量为20g,第三类型配重块的重量为50g,第四类型配重块的重量为100g。
4.根据权利要求1所述的一种配重可调节的硬盘测试治具,其特征在于,所述配重块通过螺丝固定于所述安装位。
5.根据权利要求1所述的一种配重可调节的硬盘测试治具,其特征在于,所述可更换的IO板通过螺丝与所述硬盘盒固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种配重可调节的硬盘测试治具,其特征在于,所述硬盘盒包括2.5寸或3.5寸。
7.一种配重可调节的硬盘的测试方法,其特征在于,基于权利要求1至6任一项所述的配重可调节的硬盘测试治具,包括以下步骤:
获取硬盘盒内部的部件的基础信息;
根据硬盘盒内部的部件的基础信息,配置相对应的配重块,并将配重块固定于硬盘盒内,以得到硬盘测试治具;
对硬盘测试治具执行测试,以得到测试结果。
8.根据权利要求7所述的一种配重可调节的硬盘的测试方法,其特征在于,所述硬盘盒内部的部件的基础信息包括硬盘盒内部的部件的重量信息和安装位置信息。
9.根据权利要求7所述的一种配重可调节的硬盘的测试方法,其特征在于,所述根据硬盘盒内部的部件的基础信息,配置相对应的配重块,并将配重块固定于硬盘盒内,以得到硬盘测试治具步骤之后,还包括:将若干台硬盘测试治具固定于测试机柜。
10.根据权利要求7所述的一种配重可调节的硬盘的测试方法,其特征在于,所述对硬盘测试治具执行测试,以得到测试结果步骤中,对硬盘测试治具执行测试包括振动测试、冲击测试及跌落测试。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210909143.9A CN115148276A (zh) | 2022-07-29 | 2022-07-29 | 一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210909143.9A CN115148276A (zh) | 2022-07-29 | 2022-07-29 | 一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115148276A true CN115148276A (zh) | 2022-10-04 |
Family
ID=83414256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210909143.9A Pending CN115148276A (zh) | 2022-07-29 | 2022-07-29 | 一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115148276A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117076217A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-11-17 | 合芯科技(苏州)有限公司 | 一种模拟硬盘测试的治具及使用方法 |
-
2022
- 2022-07-29 CN CN202210909143.9A patent/CN115148276A/zh active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117076217A (zh) * | 2023-08-17 | 2023-11-17 | 合芯科技(苏州)有限公司 | 一种模拟硬盘测试的治具及使用方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1934620A2 (en) | Apparatus and method of testing singulated dies | |
CN115148276A (zh) | 一种配重可调节的硬盘测试治具及测试方法 | |
JP2002357643A (ja) | 半導体メモリ素子用の並列実装検査基板 | |
JP2006173613A (ja) | プローブ位置決めの自動化およびビードプローブ技術を使用する改良されたプリント回路基板の開発方法および装置 | |
KR101798440B1 (ko) | 반도체 장치의 검사 장치 및 반도체 장치의 검사 방법 | |
JP2016042088A (ja) | プローブカード構造、および、その組み立て方法と交換方法 | |
US20110095766A1 (en) | Testing flex and apfa assemblies for hard disk drives | |
US7268571B1 (en) | Method for validating and monitoring automatic test equipment contactor | |
US6894523B2 (en) | System and method for testing semiconductor devices | |
CN210222195U (zh) | Ict测试治具 | |
US8069727B2 (en) | Invariant multi-dimensional vibration-resilience-signature generation system | |
JP2940601B2 (ja) | 印刷配線板テスタ用のトランスレータ固定装置 | |
US8051715B2 (en) | Resonant inspection using reconfigurable nest | |
CN107831580B (zh) | 球透镜管帽夹具 | |
US9091722B2 (en) | Dual stage vacuum chamber with full circuit board support | |
CN215116630U (zh) | 一种电路板性能检测装置 | |
CN212082760U (zh) | 电机抗震性能检测装置 | |
CN115265981A (zh) | 一种配重可调节的机架式服务器的测试治具及测试方法 | |
CN102486745A (zh) | 硬盘模拟装置 | |
CN212391187U (zh) | 可靠性试验夹具与可靠性试验装置 | |
CN106969893A (zh) | 非接触式构件刚度检测设备及方法 | |
US6685498B1 (en) | Logic analyzer testing method and configuration and interface assembly for use therewith | |
Ma et al. | On the JEDEC board level drop test simulation of array of BGA packages | |
CN211178913U (zh) | 一种笔记本模组机械性能测试治具 | |
US20040068700A1 (en) | Method to test power distribution system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |