JP2006313712A - 真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ケース11と、ケース11の内部に配置される腔室12と、ケース11内部を分割する隔離板14と、腔室12の外部に形成される蒸気室16と、蒸気室16の外部に形成される緩衝室18とを備える。腔室12は、加圧装置13と連接している。腔室12は、頂面と底面に別々に蒸気室16と繋がる蒸気孔121を有する。隔離板14が内孔141を二つ有することで、蒸気室16と緩衝室18は互いに繋ぎ合う。ケース11は頂面と底面に外界と繋がる外孔111を有し、ケース11は蒸気室16に対応する送気孔162と緩衝室18に対応する抽気孔182を少なくとも一つ有する。
【選択図】 図1
Description
また、Cai P.L.の設計は、顕微鏡の本体を分解する必要がある。顕微鏡を分解しないと、これらの部品を装着できないため、量産の可能性が低い。
前述の諸技術では、真空状態下で常圧またはそれ以上比較的高い圧力の液体環境を保持し、かつ操作と観察ができる方法を得ることができない。
図1は、本発明の第一実施例の部分的な断面を示す斜視図である。
図3は、本発明の第一実施例の実施状態を示す模式図である。
図4は、本発明の第二実施例の部分的な断面を示す斜視図である。
図6は、本発明の第三実施例を示す断面図である。
図7は、本発明の第三実施例の部分的な断面を示す斜視図である。
図9は、本発明の第四実施例を示す断面図である。
図10は、図9の一部分を拡大した図である。
図12は、本発明の第六実施例を示す断面図である。
図13は、図12の一部分を拡大した図である。
ステップa)は、ケース11を用意し、ケース11内部に腔室12を配置し、隔離板14によりケース11内部を分割し、腔室12の外部に蒸気室16を形成し、蒸気室16の外部に緩衝室18を形成する。蒸気室16は腔室12の外に位置し、緩衝室18は蒸気室16の外に位置する。続いて、腔室12に水などの液体試料100(液体試料100の液体の厚さは30μm以下である)を注入し、かつ腔室12と加圧装置13を連接させることで、加圧装置13により腔室12内の液体試料100に所定の圧力を供給するか、液体試料または分析用の物質を補充する。続いて、腔室12の頂面と底面に別々に蒸気室16と繋がる蒸気孔121(直径が5μm〜100μmの間である)を設けて、隔離板14において二つの内孔141を蒸気孔121の上方と下方に位置させるように設けることで、蒸気室16と緩衝室18を互いに繋ぎ合わせ、ケース11の頂面と底面に別々に外孔111(直径が20μm〜800μmの間である)を設けることで、緩衝室18と外界を繋げ、かつ外孔111と内孔141と蒸気孔121とを同軸に位置させる。外孔111の直径は、内孔141の直径より大きい。続いて、ケース11に蒸気室16に対応する二つの送気孔162と緩衝室18に対応する二つの抽気孔182とを設ける。
ステップd)は、所定の速度で抽気孔から緩衝室18の気体を抽出することで、緩衝室内18の気体と蒸気を外孔111からケース11の外へ拡散させないように抽出する。
ケース51は内部が少なくとも一枚の隔離板54により分割され、ケース51内部に緩衝室58を有し、緩衝室58の外部に外緩衝室58’を有し、緩衝室58と外緩衝室58’との間の隔離板54において緩衝室58の頂面と底面に位置する緩衝孔581を少なくとも二つ有し、また、ケース51の頂面と底面に外界と繋がる外孔511を有し、また、ケース51は緩衝室58と繋がる設置孔583と、緩衝室58に対応する二つの抽気孔585と、外緩衝室58’に対応する抽気孔585’とを有する。
一、真空または低圧環境下で安定している液体環境を提供することで、凝固点から沸点の間の温度範囲において液体試料を常圧(大気圧)または大気圧以上の圧力環境に保持し、観察と分析をすることが可能である。かつ外孔と緩衝孔と内孔と蒸気孔とは同軸であるため、電子顕微鏡の電子ビームまたは他の装置のイオンビーム、原子ビーム、中性子ビーム、光束またはX線などの干渉性の高い光束(beams)を透過させて、腔室内の流体の観察または分析を進行させることが可能である。
Claims (31)
- ケースを用意し、ケース内部に腔室を配置し、少なくとも一枚の隔離板によりケース内部を分割し、腔室の外部に少なくとも一つの蒸気室を形成し、蒸気室の外部に少なくとも一つの緩衝室を形成し、腔室に液体試料を注入し、腔室と加圧装置を連接させることにより、腔室内の液体試料に所定の圧力を供給し、腔室の頂面と底面に別々に蒸気室と繋がる蒸気孔を設けて、蒸気室と緩衝室との間の隔離板に二つの内孔を設けることにより、蒸気室と緩衝室を互いに繋ぎ合わせ、二つの内孔を蒸気孔の上方と下方に位置させ、ケースの頂面と底面に別々に外界と繋がる外孔を設け、外孔と内孔と蒸気孔を同軸に位置させ、ケースに蒸気室に対応する送気孔と緩衝室に対応する抽気孔を設けるステップa)と、
ケースを真空または低圧環境に配置して腔室、蒸気室及び緩衝室の温度を同じ温度に制御するステップb)と、
加圧装置により腔室内の液体試料にケース外の環境圧力よりも大きい所定の圧力を持続的に加えると同時に蒸気室に気体を注入し、蒸気室と腔室との間の圧力差を液体が蒸気孔から流出する臨界圧力以下に制御することで、腔室内の液体試料を蒸気孔から流出させないように蒸気形態で蒸気孔から蒸気室へ徐々に揮発させ、蒸気室中の気体と蒸気を内孔から緩衝室へ拡散させるステップc)と、
所定の速度で抽気孔から緩衝室の気体を抽出することで、緩衝室内の気体と蒸気を外孔からケースの外部へ拡散させないように抽出するステップd)と、
を含むことにより、真空または低圧環境下で高圧腔室を提供し、外孔と内孔と蒸気孔により液体試料の観察を進行させることが可能となることを特徴とする真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。 - 外孔の直径は、内孔の直径より大きいことを特徴とする請求項1に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- ステップc)では、腔室内の液体試料の温度は腔室の温度と同じであり、蒸気室に注入される気体温度は蒸気室の温度と腔室の温度に等しいか、それらより低いことを特徴とする請求項1に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- ステップc)では、気体は腔室内の液体試料の蒸気、特定気体または液体試料の蒸気と特定気体の混合物のいずれか一つであることを特徴とする請求項1に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- 特定気体の温度は、液体試料の蒸気の温度に等しいか、それより高いことを特徴とする請求項4に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- 特定気体は、窒素(N2)、酸素(O2)、二酸化炭素(CO2)、不活性気体またはその混合物のいずれか一つであることを特徴とする請求項4に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- ステップc)では、加圧装置により腔室内の液体試料に加える所定の圧力は、50トル(torr)以上であることを特徴とする請求項1に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- ステップa)では、加圧装置により腔室に液体試料を補充することが可能であることを特徴とする請求項1に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- ステップc)では、送気孔により蒸気室の気体を抽出して蒸気室の温度と腔室の温度とを一致させるように維持し、加圧装置により腔室に液体試料または液体に加えたい物質を注入し、蒸気室と腔室との間の圧力差または濃度差により腔室に進入させ、続いて、液体試料が腔室に充満すると、蒸気室に気体を注入し、前記過程では、緩衝室の気体を持続的に抽出することが必要であり、続いて、送気孔により蒸気室に気体を注入して所定の温度と圧力に達するまで制御することで、蒸気室との間の圧力差が原因で腔室内の液体試料を蒸気孔から溢れさせることなく、腔室内の液体試料を蒸気孔から徐々に揮発させて蒸気を形成し、蒸気室に拡散させ、加圧装置により拡散している微量水蒸気を持続的に補充することを特徴とする請求項1に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする方法。
- ケースと、ケースの内部に配置される腔室と、ケース内部を分割する隔離板と、腔室の外部に形成される少なくとも一つの蒸気室と、蒸気室の外部に形成される少なくとも一つの緩衝室とを備え、
腔室は流体により充填され、腔室内の液体試料に所定の圧力を持続的に供給する加圧装置と連接し、腔室の頂面と底面に別々に蒸気室と繋がる蒸気孔を有し、蒸気室と緩衝室との間の隔離板は内孔を二つ有することで、蒸気室と緩衝室を互いに繋ぎ合わせ、そのうちの二つの内孔が別々に蒸気孔の上方と下方に位置し、ケースは頂面と底面に外界と繋がる外孔を有し、外孔が内孔と蒸気孔とともに同軸に位置し、ケースは蒸気室に対応する送気孔と緩衝室に対応する抽気孔を少なくとも一つ有することを特徴とする真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。 - 蒸気孔の直径は、5μm〜100μmで、内孔の直径は10μm〜200μmで、外孔の直径は20μm〜800μmであり、内孔の直径は外孔の直径より小さいことを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 腔室内の液体試料の厚さは、30μm以下であることを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- ケース全体の高さは、1センチ(cm)以下であることを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 腔室は、一側へ延びて注入管を形成し、加圧装置は注入管に連接する液体加圧ポンプであることを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 緩衝室内の二つの内孔の上方と下方に別々に斜面隔離板を有することで、緩衝室内部を分割して二つの副緩衝室が形成され、斜面隔離板は内孔と外孔とともに同軸に位置する緩衝孔を有し、副緩衝室はケース上の抽気孔に対応することを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 外側に位置する副緩衝室の抽気速度は、内側に位置する副緩衝室の抽気速度より大きいことを特徴とする請求項15に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 蒸気室に注入される気体は、蒸気室内の気圧を760トル(torr)以上に保持し、内側に位置する副緩衝室に対する抽気速度は160リットル/秒(L/sec)以上で、外側に位置する副緩衝室に対する抽気速度は240リットル/秒(L/sec)以上であることを特徴とする請求項15に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 緩衝孔の直径は、10μm〜400μmであり、緩衝孔の直径は内孔と外孔の直径の間であることを特徴とする請求項15に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- ケースは、一側に扁平部を有し、内孔と外孔は扁平部に位置付けられることを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- ケースは、内部が複数の隔離板により分割され、蒸気室は上下方に上緩衝室と下緩衝室を有することを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 隔離板は、上緩衝室の上方に上部外緩衝室を有し、下緩衝室の下方に下部外緩衝室を有し、上緩衝室と上部外緩衝室との間の隔離板には緩衝孔を有し、下緩衝室と下部外緩衝室との間の隔離板には緩衝孔を有し、緩衝孔は内孔と蒸気孔と外孔とともに同軸に位置することを特徴とする請求項20に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 蒸気孔の厚さは、周縁から中央へ漸減することを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- さらに内部に注入管を有する試料治具を有し、ケースは蒸気室と繋がる設置孔を有し、試料治具は設置孔を貫通して蒸気室内に置かれ、腔室は一端に開口部を有する箱体であり、腔室は一部分が試料治具内に置かれ、開口部により注入管と繋がり、加圧装置は注入管に連接することを特徴とする請求項10に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 腔室と試料治具との間には、接着剤を有することを特徴とする請求項23に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 試料治具は、腔室の周囲において縦壁を有することを特徴とする請求項23に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 試料治具は、一側に注入管と繋がる注入口を有し、注入口はキャップにより塞がれることを特徴とする請求項23に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- ケースは、内部が少なくとも一枚の隔離板により分割され、ケースの内部に緩衝室を有し、緩衝室の外部に外緩衝室を有し、緩衝室と外緩衝室との間の隔離板において緩衝室の頂面と底面に位置する緩衝孔を有し、ケースの頂面と底面に外界と繋がる外孔を有し、ケースは緩衝室と繋がる設置孔と、別々に緩衝室と外緩衝室に対応する抽気孔とを有し、
試料治具は設置孔から緩衝室内に置かれ、試料治具の内部に送気管と、一端に開口部を有する蒸気ボックスとを有し、蒸気ボックスは一部分が試料治具の前端に置かれ、開口部により送気管と繋がり、試料治具は送気管と繋がる送気孔を有し、
腔室は若干の隔離板により蒸気ボックス内に形成され、内部が流体により充填され、
加圧装置は注入管により腔室と連接し、蒸気ボックス内の腔室の外には蒸気室を有し、腔室の頂面と底面には別々に蒸気室と繋がる蒸気孔を有し、蒸気ボックスの頂面と底面には別々に緩衝室と繋がる内孔を有し、蒸気孔と内孔と緩衝孔と外孔とは同軸であることを特徴とする真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。 - 蒸気ボックスと試料治具との間には、接着剤を有することを特徴とする請求項27に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 試料治具は、蒸気ボックスの周囲において縦壁を有することを特徴とする請求項27に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 加圧装置は、腔室に気体、液体または液体と気体の混合物を注入することを特徴とする請求項27に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
- 箱体内の蒸気室は、箱体の内部の緩衝室として送気孔の気体を抽出することが可能であることを特徴とする請求項30に記載の真空または低圧環境下で高圧腔室の操作及び観察を可能にする装置。
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Cited By (1)
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Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (5)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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