JP2006300818A - 信号発生装置及びパラメータ編集画面層表示方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】表示画面14上に複数のタブ38、40及び42を表示して、文字、波形及びチャンネルの異なる組み合わせの複数のパラメータ編集画面層の存在を示し、複数のタブから1つを選択すると、対応するパラメータ編集画面に切り替わる。タブ38、40及び42上には、設定に応じてチャンネル及び波形が示され、しかも、設定変更に応じてこれら文字及び波形はダイナミックに変わるので、各チャンネルの現在の設定を一目で確認できる。
【選択図】図2
Description
12 メモリ
14 表示画面
16 インターフェース
22 システム・バス
24 第1チャンネル出力端子
26 第2チャンネル出力端子
28 第1チャンネル・オンオフ・ボタン
30 第2チャンネル・オンオフ・ボタン
32 第1表示領域
34 第2表示領域
36 メニュー表示領域
38 第1タブ
40 第2タブ
42 第3タブ
44 タブ選択ボタン
45 チャンネル選択ボタン
46〜54 出力信号データ読み出しボタン
56 テンキー
58 回転ノブ
Claims (5)
- 文字、波形及びチャンネルの組み合わせが異なる複数のパラメータ編集画面層を切替表示可能な表示画面を具える信号発生装置において、
対応する上記パラメータ編集画面層の文字、波形及びチャンネルの組み合わせを夫々示す複数の画面層標識手段を上記表示画面上に表示することによって、表示可能な複数の上記パラメータ編集画面層の存在を示すと共に、上記画面層標識手段を選択することにより、複数の上記パラメータ編集画面層の1つを選択的に表示することを特徴とする信号発生装置。 - 上記画面層標識手段上に標識文字又は標識波形を示すことによって、上記画面層標識手段は対応する上記パラメータ編集画面層の文字、波形及びチャンネルの組み合わせを示し、チャンネル又は波形の設定に応じて、上記標識文字又は上記標識波形の表示が変更されることを特徴とする請求項1記載の信号発生装置。
- 文字、波形及びチャンネルの組み合わせが異なる複数のパラメータ編集画面層を切替表示可能なパラメータ編集画面切替方法であって、
対応する上記パラメータ編集画面層の文字、波形及びチャンネルの組み合わせを夫々示す複数の画面層標識手段を上記表示画面上に表示することによって、表示可能な複数の上記パラメータ編集画面層の存在を示すと共に、上記画面層標識手段を選択することにより、複数の上記パラメータ編集画面層の1つを選択的に表示することを特徴とするパラメータ編集画面層表示方法。 - 上記画面層標識手段上に標識文字又は標識波形を示すことによって、上記画面層標識手段は対応する上記パラメータ編集画面層の上記文字、波形及びチャンネルの組み合わせを示し、チャンネル又は波形の設定に応じて、上記標識文字又は上記標識波形の表示が変更されることを特徴とする請求項3記載のパラメータ編集画面層表示方法。
- 上記画面層標識手段を対応する上記パラメータ編集画面層と連続した形で表示することにより、上記画面層標識手段の夫々にどの上記パラメータ編集画面層が対応しているかを示すことを特徴とする請求項3又は4記載のパラメータ編集画面層表示方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009085748A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Tektronix Internatl Sales Gmbh | 信号発生装置 |
JP2010019772A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Yokogawa Electric Corp | Lsiテスタ |
JP2011048758A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Iwatsu Test Instruments Corp | パルス波形データの作成方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012094111A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-05-17 | Sony Corp | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
US9020796B2 (en) * | 2010-11-22 | 2015-04-28 | Certon Software Inc. | Model based verification using intelligent connectors |
JP2012215516A (ja) * | 2011-04-01 | 2012-11-08 | Japan Radio Co Ltd | 波形出力装置 |
EP2662737A1 (de) | 2012-05-08 | 2013-11-13 | Prognost Systems GmbH | Simulationseinrichtung, Verfahren zum Betrieb einer Simulationseinrichtung sowie Verwendung einer Simulationseinrichtung und eines Verfahrens zum Betrieb einer Simulationseinrichtung |
JP5574192B2 (ja) * | 2012-08-08 | 2014-08-20 | 横河電機株式会社 | 波形表示装置 |
US11231444B1 (en) * | 2018-06-06 | 2022-01-25 | Tektronix, Inc. | Acquiring and displaying multiple waveforms in a test and measurement instrument |
US11360645B2 (en) | 2019-11-29 | 2022-06-14 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method and device for displaying measurement results in tab windows |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05160641A (ja) * | 1991-12-06 | 1993-06-25 | Sony Tektronix Corp | 任意波形編集方法 |
JPH05324229A (ja) * | 1992-05-26 | 1993-12-07 | Sony Tektronix Corp | 任意波形発生器の表示方法 |
JPH06139009A (ja) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Graphtec Corp | 任意波形発生器 |
JPH0862253A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Sony Tektronix Corp | 波形表示装置の設定キー |
JPH1144711A (ja) * | 1997-05-27 | 1999-02-16 | Hewlett Packard Co <Hp> | 信号測定システム内で測定を呼び出すための図形システム及び方法 |
JP2000310653A (ja) * | 1999-03-01 | 2000-11-07 | Agilent Technol Inc | 信号測定システムにおけるトリガ定義の自動記憶システム |
JP2001153892A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-06-08 | Agilent Technol Inc | 波形表示方法 |
WO2002065544A1 (en) * | 2001-02-16 | 2002-08-22 | Syuji Miyazaki | User interface of semiconductor evaluator |
WO2003050651A2 (en) * | 2001-12-11 | 2003-06-19 | Lecroy Corporation | Measurement icons for digital oscilloscopes |
JP2003194855A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-07-09 | Tektronix Japan Ltd | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5475851A (en) * | 1986-04-14 | 1995-12-12 | National Instruments Corporation | Method and apparatus for improved local and global variable capabilities in a graphical data flow program |
US6320577B1 (en) * | 1998-11-03 | 2001-11-20 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for graphically annotating a waveform display in a signal-measurement system |
US6515484B1 (en) * | 2000-10-31 | 2003-02-04 | Associated Research, Inc. | Electrical test instrument having an improved operator interface |
US7073127B2 (en) * | 2002-07-01 | 2006-07-04 | Arcsoft, Inc. | Video editing GUI with layer view |
JP4247517B2 (ja) * | 2002-11-15 | 2009-04-02 | 富士通テン株式会社 | 波形編集用プログラム、波形編集装置、及び波形編集方法 |
-
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05160641A (ja) * | 1991-12-06 | 1993-06-25 | Sony Tektronix Corp | 任意波形編集方法 |
JPH05324229A (ja) * | 1992-05-26 | 1993-12-07 | Sony Tektronix Corp | 任意波形発生器の表示方法 |
JPH06139009A (ja) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Graphtec Corp | 任意波形発生器 |
JPH0862253A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Sony Tektronix Corp | 波形表示装置の設定キー |
JPH1144711A (ja) * | 1997-05-27 | 1999-02-16 | Hewlett Packard Co <Hp> | 信号測定システム内で測定を呼び出すための図形システム及び方法 |
JP2000310653A (ja) * | 1999-03-01 | 2000-11-07 | Agilent Technol Inc | 信号測定システムにおけるトリガ定義の自動記憶システム |
JP2001153892A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-06-08 | Agilent Technol Inc | 波形表示方法 |
WO2002065544A1 (en) * | 2001-02-16 | 2002-08-22 | Syuji Miyazaki | User interface of semiconductor evaluator |
JP2003194855A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-07-09 | Tektronix Japan Ltd | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
WO2003050651A2 (en) * | 2001-12-11 | 2003-06-19 | Lecroy Corporation | Measurement icons for digital oscilloscopes |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009085748A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Tektronix Internatl Sales Gmbh | 信号発生装置 |
JP2010019772A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Yokogawa Electric Corp | Lsiテスタ |
JP2011048758A (ja) * | 2009-08-28 | 2011-03-10 | Iwatsu Test Instruments Corp | パルス波形データの作成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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