JP2006278162A - 導体ペースト及びそれを用いた電子部品 - Google Patents
導体ペースト及びそれを用いた電子部品 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006278162A JP2006278162A JP2005096339A JP2005096339A JP2006278162A JP 2006278162 A JP2006278162 A JP 2006278162A JP 2005096339 A JP2005096339 A JP 2005096339A JP 2005096339 A JP2005096339 A JP 2005096339A JP 2006278162 A JP2006278162 A JP 2006278162A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- electronic component
- paste
- acrylic resin
- conductor paste
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
Abstract
【課題】乾燥初期の粘度が高くなるようにして凹凸を生じにくくした導体ペースト及びそれを用いた電子部品を提供する。
【解決手段】
導電性粉末と樹脂と溶剤とから成る導体ペーストにおいて、樹脂がアクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものから成る導体ペーストである。また電子部品は、この導体ペーストを用いて端子電極を形成する。
【選択図】図2
【解決手段】
導電性粉末と樹脂と溶剤とから成る導体ペーストにおいて、樹脂がアクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものから成る導体ペーストである。また電子部品は、この導体ペーストを用いて端子電極を形成する。
【選択図】図2
Description
本発明は、電子部品の端面電極形成に使用される導体ペーストに関するものである。
導体ペーストは、例えば、溶剤に導電粒子と樹脂を分散させて成るものである。このような導体ペーストを用いる電子部品に、チップ型の電子部品がある。その一例を図4に示す。1は電子部品基体であり、電子部品基体1はセラミックスなどからなり、電極等が形成されて、コンデンサ、インダクタ、フィルター等の素子の役割を果たすようになっている。3は端子電極であり、前記導体ペーストにより形成され、電子部品基体1に固着しており、電子部品を基板等に接続するのに使用される。
図4(a)は、電子部品10の両端に端子電極3を含む断面図である。電子部品基体1には内部電極2が形成されており、端子電極3と内部電極2は接続されている。
前記電子部品に端面電極を形成する方法としては、前記導体ペーストに電子部品の一端をつけて導体ペーストをチップに付着させるディップ法が知られている。(例えば、特許文献1参照)その後、導体ペーストは、溶剤が乾燥され、更に必要に応じて焼成等が行われて、端子電極3となる。
特開平7−29773号公報
しかしながら、従来の電極の形成方法では、例えば粘度が低い導体ペーストを用いた場合、端子電極の形状に凹凸が生じるという問題があり、基板等に実装する際に不具合があった。
粘度が低い導体ペーストを用いる場合、導体ペーストは印刷された直後に表面張力によってレベリングし、塗布された導体ペーストは凹凸のない形状になる。しかし、導体ペーストの溶剤を乾燥する際に、ペーストの流動が起こって、乾燥が終了した段階では、端子電極の形状に凹凸が生じてしまう問題があった。例えば、図4(a)では、A部と比較してB部の導体ペーストの乾燥が早く、粘度の低いA部のペーストが溶剤の少なくなったB部に流動して、A部の膜厚が薄く、B部の膜厚が厚くなってしまう。以下、この様に乾燥によりペーストが流動して端面電極形状が変わることを端面電極の乾燥変形と呼ぶ。
他方、粘度が高い導体ペーストを用いた場合には、導体ペーストがほとんどレベルリングをしないので、塗布された状態のままで乾燥されることになり、端子電極の形状が凹凸のあるものになるという問題があった。例えば、図4(b)では、端子電極に塗布時に生じた角(つの)状の突起Cが残った。
本発明は、上述の問題点に鑑みて案出されたものであり、その目的は、乾燥初期の粘度が高くなるようにして凹凸を生じにくくした導体ペースト及びそれを用いた電子部品を提供することにある。
本発明の導体ペーストは、導電性粉末と樹脂と溶剤とから成り、樹脂がアクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものから成ることを特徴とするものである。
また、本発明の導体ペーストは、前記アクリル樹脂のエステル結合側鎖部のアルキル基の炭素数が4以下であることを特徴とするものである。
更に、本発明の導体ペーストは、前記アクリル樹脂のエステル化率が95モル%以上であることを特徴とするものである。
また更に、本発明の導体ペーストは、前記ブチラール樹脂のブチラール化率が40〜75モル%であることを特徴とするものである。
更にまた、本発明の導体ペーストは、前記ブチラール樹脂の酢酸ビニル基の結合率が2モル%以下であることを特徴とするものである。
また更に、本発明の導体ペーストは、前記溶剤が高級アルコールであることを特徴とするものである。
更にまた、本発明の電子部品は、前記導体ペーストで端子電極を形成したことを特徴とするものである。
本発明の導体ペーストは、導電性粉末と樹脂と溶剤とから成り、樹脂がアクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものから成る。アクリル樹脂は極性基の多い高極性の樹脂であり、ブチラール樹脂は低極性の樹脂であるので、極性の差が大きく混ざりにくいものである。従って、レベリング後の乾燥初期に溶剤が少量減った段階でペーストの粘度が全体的に高くなるので、導体ペーストの形状に凹凸が生じにくい。
また、本発明の導体ペーストによれば、前記アクリル樹脂のエステル結合側鎖部のアルキル基の炭素数が4以下であることにから、アクリル樹脂に含まれる極性基の割合が増えて、乾燥時の粘度増加の効果が高くなり、導体ペーストの形状に凹凸が生じにくい。
更に、本発明の導体ペーストよれば、前記アクリル樹脂のエステル化率が95モル%以上であることから、ブチラール樹脂との極性の差が大きくなりすぎないので、ブチラール樹脂と混合してペースト化することができる。
また更に、本発明の導体ペーストは、前記ブチラール樹脂のブチラール化率が40〜75モル%である。ブチラール樹脂は、ブチラール化率が高いほど低極性になる。したがって、ブチラール樹脂のブチラール化率が40%以上であることから、アクリル樹脂との極性の差を大きくできるので、乾燥により溶剤が少量減っただけでペーストの粘度が増大し、導体ペーストの形状に凹凸が生じない。また、ブチラール樹脂のブチラール化率が70%以下であることにより、アクリル樹脂との極性の差が大きくなりすぎないので、アクリル樹脂と混合してペースト化することができる。
更にまた、本発明の導体ペーストによれば、前記ブチラール樹脂の酢酸ビニル基の結合率が2モル%以下であることから、アクリル樹脂と極性の差を大きくできるので、乾燥により溶剤が少量減っただけでペーストの粘度が増大し、導体ペーストの形状に凹凸が生じない。
また更に、本発明の導体ペーストによれは、前記溶剤が高級アルコールであることから、アクリル樹脂とブチラール樹脂の双方を溶解し、ペースト化することが出来る。
更にまた、本発明の電子部品によれば、前記導体ペーストで端子電極を形成したことから、端子電極の凹凸が生じず、実装性が良くなる。
以下、本発明について詳細に説明する。
電子部品に使用される、本発明の実施形態に係る導体ペーストは、溶剤に少なくとも導電粒子と樹脂を分散させたものである。導体ペーストは電子部品に塗布され、溶剤が乾燥され、必要に応じて焼成等が行われて、電子部品に固着される。
導体ペーストに使用される導電粒子としては、パラジウム、ニッケル、鉄等の卑金属のもの、金、銀、銅等の貴金属のもの、カーボンブラック等の有機物のものが例示できる。また、導電粒子は前記金属の合金を用いてもよい。さらに、表面の酸化により導電性を低下させない為にガラスやシリケート等の無機酸化物や、パラジウム、金、銀、白金等の耐酸化性のある金属で被覆してもよい。さらにまた、前記金属の酸化物、レジネート物など、塗布後に酸化、還元、熱分解等の作用により導電性を持つものでもよい。さらにまた、導体ペーストを焼成して固着させるのであれば、粒径1μm以下導電粒子を使用すると焼結性を高められるため好ましい。また、導電粒子のもっとも長い径ともっとも短い径の比率が2倍以上であるスペクト比の高い粒子を使用すると焼結後の被覆性が高められるため好ましい。
導電ペーストに用いられる樹脂は、アクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものが用いられる。ここでアクリル樹脂は、メタクリル樹脂、エタクリル樹脂を含めたものを指している。これらの中では分解温度が低く、焼成時にブリスタ等の起き難いメタクリル樹脂が好ましいアクリル樹脂である。また、アクリル樹脂の重量平均分子量は5万〜100万が好ましい。5万以下では乾燥後の端子電極の膜強度が低く、膜の欠落が生じる。100万以上ではペースト化するのに多量の溶剤を必要となり、導体ペーストの乾燥収縮が大きくなる。さらに、乾燥温度とアクリル樹脂の軟化点(JIS K7206準拠)が近いと熱によりアクリル樹脂そのものの粘度が変化し、乾燥炉中の温度バラツキがあるため、乾燥炉内の位置によりアクリル樹脂そのものの粘度に差が生じ、端子電極の形状にバラツキがでることがある。アクリル樹脂の軟化点は、乾燥温度に対して−20〜0℃の範囲以外であることが好ましい。乾燥温度に対して、アクリル樹脂の軟化点が−20℃以下であれば、アクリル樹脂の粘度に変化が生じないのでより好ましい。
導体ペーストに用いられる溶剤は、ノナノール、デカノール、ドデカノール、テルピネオール、ベンジルアルコール、ナフタノール、カルビトール、ブチルカルビトール等の高級アルコールが用いられる。ここで、高級アルコールとは、炭素数が4以上のものを指しており、エーテル結合が含まれているものでもよい。炭素数が3以下ではアルコール基の影響が大きくなり、アクリル樹脂を溶解することが出来なくなる。炭素数4以上の高級アルコールであれば、アクリル樹脂とブチラール樹脂の双方を溶解し、ペースト化することが出来る。炭素数が8以上であれば、アクリル樹脂の溶解性が良くなり、溶剤量が少なく出来るのでより好ましい。
本実施形態の導体ペーストは、次のように製造される。先ず、上述した導電粒子の粉末、樹脂及び溶剤を、所定の分量加え、プラネタリーミキサー等を用いて混合する。このとき、必要に応じてこれに分散剤等を加えても良い。そして、混合を終えたものを三本ロールミルに20回程度通すことにより、ペースト化される。
このようにして得られた導電ペーストは、後述するような電子部品基体に塗布・乾燥・焼き付けすることにより、例えば、電子部品の端子電極を構成することとなる。尚、導体ペーストを塗布したあとの乾燥では、溶剤がなくなることにより、導体ペーストは乾燥収縮する。溶剤量の量が多いと収縮量が大きくなり、クラックが生じるため、溶剤の含有量はペースト中の80vol%以下が良い。75vol%以下であればさらにクラックが生じにくいためより好ましい。また、溶剤を乾燥させる温度は130〜200℃が好ましい。乾燥温度130℃以下で乾燥できる溶剤では、室温での揮発分が多く、作業環境でペースト粘度を一定に保つのが難しい。乾燥温度が200℃より高いと、乾燥時に使用する電子部品を固定する治具に劣化を起こし、さらに、高温のために作業性が劣る。尚、乾燥温度を200℃以下にするためには、高級アルコールの炭素数は12以下が好ましい。
本実施形態の導体ペーストにおいて特徴的なところは、樹脂がアクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものから成る点にある。アクリル樹脂は極性基の多い高極性の樹脂であり、ブチラール樹脂は低極性の樹脂であるので、極性の差が大きく混ざりにくいものである。従って、導体ペーストを塗布した直後は、低粘度であるためレベリングされて表面が平滑になり、その後の乾燥初期には溶剤が少量減った段階でペーストの粘度が全体的に高くなって乾燥変形が生じにくくなるので、導体ペーストの形状に凹凸が生じにくい。
アクリル樹脂あるいはブチラール樹脂を単独で用いる場合、乾燥前の粘度に対して半乾燥状態までの粘度の増加は2倍程度であるが、アクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したもの用いた場合、4〜10倍、あるいは、それ以上に粘度増加する。なお、塗布後の導体ペーストには、外部から強い応力が加わっているわけではないので、ペーストの流動性の評価は10−1s−1の低せん断速度で粘度を測定することが有効である(JIS K7206準拠)。また、乾燥は導体ペーストの固形分(導電粒子等の固体の物質)が導体ペーストに占める体積比率の変化で評価できる。具体的には、乾燥前の導体ペーストでは固形分比率は20〜45vol%であるのに対し、乾燥した端子電極の固形分比率は55〜65vol%である。乾燥変形が起こるのは溶剤の乾燥量の少ない状態であるから、乾燥前の粘度と乾燥により固形分比率が50vol%となった半乾燥状態の粘度を比較することにより、導体ペーストが乾燥変形するかが評価できる。
本実施形態の導体ペーストに用いたアクリル樹脂は、エステル結合側鎖部のアルキル基の炭素数を4以下にしている。これは、側鎖部のエステル結合している部分の元のアルコールの炭素数が4以下ということである。アクリル樹脂のエステル結合部に使用されるアルコールとしては、メタノール、エタノール、プロパノール、イソプロパノール、ブタノール、エタンジオール、プロパンジオール、ベンジルアルコール等がある。さらに、それらの共重合したものでもよい。これらのなかで炭素数が4以下のものを使用すれば、アクリル樹脂中に含まれるエステル結合の量が増えて、ブチラール樹脂との極性の差が大きくなり、乾燥による粘度増加が大きくなり、導体ペーストの形状に凹凸が生じない。エチルヘキシルアクリル樹脂、あるいは、エチルヘキシルメタクリル樹脂では粘度増加が4倍程度であるのに対し、炭素数4以下のアルコールのアクリル樹脂では10倍程度と粘度増加が大きくなる。それら中でも分解温度が低く、焼成時にブリスタ等の起き難い、エステル結合部にイソブチルアルコールが結合したイソブチルアクリル樹脂、イソブチルメタクリル樹脂、イソブチルエタクリル樹脂が好ましいアクリル樹脂である。
また、アクリル樹脂のエステル化率は95モル%以上が好ましい。エステル化率が低く、カルボキシル基が多く残っていると、ブチラール樹脂との極性の差が大きくすぎ、多量の溶剤を用いなければペースト化できなくなる。エステル化率が95モル%以上であれば、少ない溶剤量でペースト化でき、乾燥収縮により端子電極にクラックが生じる事がない。エステル化率が98モル%以上であれば、さらに溶剤量が少なくなり、乾燥収縮が少なくなるのでより好ましい。
本実施形態の導体ペーストに用いたブチラール樹脂は、ブチラール化率を40〜75モル%に設定した。ブチラール樹脂は、ブチラール化率が高いほど低極性になる。したがって、ブチラール樹脂のブチラール化率が40%以上であることから、アクリル樹脂との極性の差を大きくできるので、アクリル樹脂と混ざりにくく、乾燥により溶剤が少量減っただけでペーストの粘度が増大し導体ペーストの形状に凹凸が生じない。また、ブチラール樹脂のブチラール化率が70%以下であることにより、アクリル樹脂との極性の差が大きくなりすぎないので、アクリル樹脂と混合してペースト化することができる。
また、本実施形態のブチラール樹脂の酢酸ビニル基の結合率が2モル%以下である。これは酢酸ビニル基が結合いしたモノマーの割合が2モル%以下ということである。製法上、ブチラール樹脂には酢酸ビニル基が残されることが多く、この残存割合が多いブチラール樹脂は、高級アルコールに溶にくく、溶剤量を増やしてもペーストの粘度が低くならず、導体ペーストのレベリング性が悪くなる。レベリング性を浴するためには酢酸ビニル基の結合率が1.5%以下であることが好ましい。
そして、アクリル樹脂とブチラール樹脂の質量比率は、アクリル樹脂1に対してブチラール樹脂0.003〜0.2である。ブチラール樹脂の比率が0.003より少ないと乾燥により溶剤が減った時のペーストの粘度の増加が少なく、乾燥変形によるペーストの形状に凹凸が生じる。ブチラール樹脂の比率が多いと熱分解性が悪く、焼成時にブリスタが生じる。乾燥による粘度の増加を大きくし、ペーストの形状の凹凸を少なくするにはブチラール樹脂の比率は0.005以上であることが好ましい。熱分解性を良くして、焼成時にブリスタが生させないためにはブチラール樹脂の比率は0.1以下が好ましい。
続いて、本発明の実施形態にかかる電子部品について図を用いて説明する。
図1は本発明の一実施形態による電子部品10の斜視図である。1は電子部品基体であり、電子部品基体1はセラミックスなどからなり、電極等が形成されて、コンデンサ、インダクタ、フィルター等の素子の役割を果たすようになっている。3は端子電極であり、電子部品本体1に固着されている。端子電極3は電子部品10を外部の基板等に接続するのに使用される。
図2は、図1の電子部品10の両端の端子電極3を含む断面図である。電子部品基体1には内部電極2が形成されており、端子電極3と内部電極2は接続されている。
電子部品基体1は、例えば、セラミック粉末を含んだグリーンシートと導体層を複数積層し、切断、焼成する事により得られる。その寸法は、例えば0.4mmm×0.2mm×0.2mm〜45mm×32mm×32mmの範囲である。
端子電極3は電子部品に、上述した本実施形態の導体ペーストを塗布・乾燥・焼き付けすることにより形成される。導体ペーストを、電子部品基体1に塗布する方法は、導体ペーストに電子部品基体1の一端をつけて導体ペーストをチップに付着させるディップ法、スクリーン印刷や凹版印刷による印刷法がある。塗布された導体ペーストは、溶剤が乾燥され、必要に応じて焼成等が行われて、電子部品本体1に固着される。なお、電子部品基体1を得るための焼成と端子電極の焼成とを同時に行ってもよい。
本実施形態の電子部品においては、電子部品基体としては、BaTiO3を主成分とするセラミック粉末を含んだグリーンシートとニッケルを主成分とする導体層を複数積層し、切断、焼成する事により作成した、積層セラミックコンデンサとしての電子部品基体1を用いた。
電子部品基体1の端面に、表1に示すような配合とした導体ペーストをディップ法により塗布し、これを150℃10分間加熱し溶剤を乾燥させた。続いて、900℃の窒素雰囲気で焼成を行い、電子部品基体1に端面電極2を焼き付けることにより電子部品10を作成し、端面電極の形状を評価した。サンプル1〜5に示す導電ペーストを用いた端子電極2の形状は、端面形成時の角状突起、乾燥変形による凹凸がないものであった。
なお、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更、改良等が可能である。
例えば凹版印刷により導体を塗布することにより、図3に示すような、多連型のチップコンデンサを作成してもよい。
Claims (7)
- 導電性粉末と樹脂と溶剤とから成る導体ペーストにおいて、前記樹脂がアクリル樹脂とブチラール樹脂とを混合したものから成る導体ペースト。
- 前記アクリル樹脂のエステル結合側鎖部のアルキル基の炭素数が4以下であることを特徴とする請求項1記載の導体ペースト。
- 前記アクリル樹脂のエステル化率が95モル%以上であることを特徴とする請求項1記載の導体ペースト。
- 前記ブチラール樹脂のブチラール化率が40〜75モル%であることを特徴とする請求項1記載の導体ペースト。
- 前記ブチラール樹脂の酢酸ビニル基の結合率が2モル%以下であることを特徴とする請求項1記載の導体ペースト。
- 前記溶剤が高級アルコールであることを特徴とする請求項1記載の導体ペースト。
- 請求項1記載の導体ペーストで端子電極を形成したことを特徴とする電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005096339A JP2006278162A (ja) | 2005-03-29 | 2005-03-29 | 導体ペースト及びそれを用いた電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005096339A JP2006278162A (ja) | 2005-03-29 | 2005-03-29 | 導体ペースト及びそれを用いた電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006278162A true JP2006278162A (ja) | 2006-10-12 |
Family
ID=37212708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005096339A Withdrawn JP2006278162A (ja) | 2005-03-29 | 2005-03-29 | 導体ペースト及びそれを用いた電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006278162A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013012561A (ja) * | 2011-06-29 | 2013-01-17 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
JP2017059820A (ja) * | 2015-09-15 | 2017-03-23 | Tdk株式会社 | 積層電子部品 |
JPWO2016166948A1 (ja) * | 2015-04-17 | 2017-04-27 | バンドー化学株式会社 | 銀微粒子組成物 |
JP2019046913A (ja) * | 2017-08-31 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
JP2019046914A (ja) * | 2017-08-31 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
JP2021128987A (ja) * | 2020-02-12 | 2021-09-02 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、電子部品の製造方法、及び、実装構造体の製造方法 |
US20230207204A1 (en) * | 2021-12-29 | 2023-06-29 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
-
2005
- 2005-03-29 JP JP2005096339A patent/JP2006278162A/ja not_active Withdrawn
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013012561A (ja) * | 2011-06-29 | 2013-01-17 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
JPWO2016166948A1 (ja) * | 2015-04-17 | 2017-04-27 | バンドー化学株式会社 | 銀微粒子組成物 |
JP2017059820A (ja) * | 2015-09-15 | 2017-03-23 | Tdk株式会社 | 積層電子部品 |
JP2019046913A (ja) * | 2017-08-31 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
JP2019046914A (ja) * | 2017-08-31 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
JP7052259B2 (ja) | 2017-08-31 | 2022-04-12 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
JP2021128987A (ja) * | 2020-02-12 | 2021-09-02 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、電子部品の製造方法、及び、実装構造体の製造方法 |
JP7238825B2 (ja) | 2020-02-12 | 2023-03-14 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、電子部品の製造方法、及び、実装構造体の製造方法 |
US20230207204A1 (en) * | 2021-12-29 | 2023-06-29 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
US11817268B2 (en) * | 2021-12-29 | 2023-11-14 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4212035B2 (ja) | 銀粉末を主体とする導体ペースト及びその製造方法 | |
JP2006278162A (ja) | 導体ペースト及びそれを用いた電子部品 | |
JP5379609B2 (ja) | スルーホール充填用銅導体ペースト、銅導体スルーホール充填基板の製造方法、銅導体スルーホール充填基板、回路基板、電子部品、半導体パッケージ | |
JP2013251256A (ja) | 低銀含有量ペースト組成物およびその低銀含有量ペースト組成物から導電性膜を製造する方法 | |
JP2011138704A (ja) | 導電性ペーストおよびセラミックコンデンサ | |
JP5767435B2 (ja) | 穴埋め用導体ペースト、導体穴埋め基板、導体穴埋め基板の製造方法、回路基板、電子部品、半導体パッケージ | |
JP4096661B2 (ja) | セラミック電子部品、およびセラミック電子部品の製造方法 | |
JP6968524B2 (ja) | 厚膜導電ペーストおよびセラミック多層積層電子部品の製造方法 | |
JP2004228094A (ja) | 多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物 | |
JP2012004189A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2002056716A (ja) | 導電性ペーストおよび積層セラミック電子部品 | |
JP3698032B2 (ja) | 積層セラミック電子部品用端子電極ペースト | |
JP5503132B2 (ja) | 抵抗体ペースト及び抵抗器 | |
JP2009146732A (ja) | セラミック電子部品用導電性ペーストおよびセラミック電子部品 | |
JP2004228093A (ja) | 多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物 | |
JP5215914B2 (ja) | 抵抗体膜の製造方法、抵抗体膜、及び抵抗器 | |
JP2005216987A (ja) | セラミック電子部品用導電性ペーストおよびセラミック電子部品 | |
JP7159549B2 (ja) | 導電ペーストの作製方法 | |
JP2007246706A (ja) | 導電性ペースト、導電性ペーストの製造方法およびセラミック電子部品 | |
JP2003297146A (ja) | 導電性ペースト、およびそれを用いた積層セラミック電子部品 | |
JP2015133186A (ja) | 導電ペースト | |
JP7092103B2 (ja) | 導電性ペーストおよび積層型電子部品 | |
JP2004055557A (ja) | 銅ペーストとそれを用いた配線基板及び配線基板の製造方法 | |
JP2010129896A (ja) | 抵抗体ペースト、抵抗体膜及び抵抗器 | |
JP2024061856A (ja) | 積層セラミック電子部品の端子電極形成方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071217 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20100115 |