JP2004228093A - 多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物 - Google Patents

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Abstract

【課題】 本発明は、固形物含有量が減少されているが、適切なペースト粘度を維持し、有機バインダーの十分な熱分解性を保証できるペースト組成物を提供すること。
【解決手段】 本発明は、多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物に関する。より具体的には、銅ベースの粉末、有機バインダーから作製される多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物であって、窒素雰囲気中において低温で焼成できるものに関する。
【選択図】 なし

Description

本発明は多層セラミックキャパシタ用端子電極厚膜組成物に関する。より詳細には、多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物(MLC)に関し、その組成物は不活性液体有機媒質に分散された金属ベースの粉末で作製され、中性または還元性雰囲気中低温で焼成することができる。
溶媒に分散された無機バインダーおよび有機バインダーで分散された銅またはニッケルのような卑金属から構成される導電性ペーストは、多層セラミックキャパシタ用端子電極組成物として広く使用されている。これらの導電性ペースト組成物は、典型的には、構成成分金属および内部電極の酸化を抑制するために、(窒素のような)中性または還元性雰囲気中で焼成される。従って、ペーストに含まれる成分のうち、有機バインダーは、焼成ステップで焼き尽くされなければならず、このタイプの雰囲気中で十分な熱分解性を有している必要がある。種々のタイプのアクリル性ポリマーがこの目的によく適している。例えば、特許文献1には、メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチルおよびメタクリル酸ブチルのような化合物を使用した例が記載されている。
特開2001−307549号公報
しかし、従来技術の導電性ペーストは、以下の欠点を有している。焼成されたフィルムは、チップの仕様を満たし、取り付けの間の良好な信頼性を達成するために、十分に薄い厚さを有していなければならない。例えば、1.2mm(幅)×1.2mm(厚さ)×2.0mm(長さ)のチップ寸法では、端子膜厚は90ミクロンを超えないことが適切である。この範囲内に膜厚を制御するために通常使用される方法は、「ブロッティング」と呼ばれるステップである。この方法では、過剰のペーストをコーティングの後に取り除く。しかし、これは、それによってもたらされる製造実時間の増加によりコストを増加させ、除去されるペーストのリサイクルに要する工数を増加させる。
ブロッティングを排除するために試みられているアプローチは、ペーストの特性を最適化してより薄い膜の塗布を可能にすることである。このような方法の1つには、MLCの要素のアセンブリに堆積されるペーストの量を少なくするようにペーストの粘度を低下させることが含まれる。しかし、低粘度ではペーストが側壁へ垂れ、形状を維持することができない。
さらに、膜厚を減少させる効果からは、ペースト内の無機固形物含量を低くするための方法の使用が予想されるが、有機バインダーおよび希釈成分を対応して増加させることになり、これは粘度を低下させる。有機バインダーの量を増加させ、この粘度の低下を食い止めることで確実に適切な粘度とすることができるであろうが、単位体積あたりの有機バインダーの量を過剰に増加させることは、中性または還元性雰囲気中で焼成される有機バインダーの熱分解性に悪影響を与える。
従って、本発明の目的は、端子電極用の厚膜ペースト組成物を提供することにあり、この組成物では、固形物含有量が減少されているが、それでもなお適切なペースト粘度を維持し、有機バインダーの十分な熱分解性が保証できる。
本発明は、中性または還元性雰囲気中で焼成可能な導電性ペーストであり、(a)銅粉末、ニッケル粉末および銅−ニッケル合金粉末よりなる群から選択される導電性粉末30から71wt%、および(b)無機バインダーを含み、(a)および(b)の両方が不活性有機媒質に分散されており、該有機媒質が、溶媒に溶解された、少なくとも1つのメタクリル酸メチル(MMA)ポリマーを含み、前記メタクリル酸メチルポリマーが少なくとも100,000の数平均分子量および少なくとも1,000,000の重量平均分子量を有し、メタクリル酸メチルポリマーがペーストの2.0から9.0wt%の割合になるように溶解されていることを特徴とする。
本発明の導電性ペーストは、無機バインダーの量が5から15wt%の範囲であり、導電性粉末と無機バインダーが、合わせて45.0wt%から76wt%の範囲である。
また、本発明の導電性ペーストは、有機媒質が、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、アクリレート化合物のコポリマー、またはこれらの混合物をさらに含むことを特徴とする。
また、本発明の導電性ペーストは、無機バインダーが、Si−B−Baガラス、Si−B−Pbガラス、Si−B−Znガラスまたはこれらの混合物から選択されることを特徴とする。
さらに本発明は、多層キャパシタ用端子電極組成物として本発明の導電性ペーストを使用することを含む。
さらに本発明は端子電極を形成する方法を包含し、この方法は(a)先の本発明の導電性ペースト組成物を形成する工程と、(b)(a)の組成物を多層キャパシタの端子電極形成部位にコーティングする工程と、(c)(b)の多層キャパシタを焼成し、完成した端子電極を形成する工程を含む。
さらに本発明は多層キャパシタを包含し、この多層キャパシタには本発明の導電性ペーストが使用される。
本発明の導電性ペーストは、十分な乾燥被膜強度を有し、固形物含量が低くても端部表面にペーストが垂れることもなく、中性または還元性雰囲気中で焼成された場合に有機成分の十分な熱分解性を有し、焼き尽くされていない有機材料による焼結の際の悪影響もない。
本発明の導電性厚膜ペースト組成物は、適切な分子量を有するメタクリル酸メチルの特定量を含み、該ペースト組成物内の固形物が75wt%未満(例えば70wt%)まで低下され、膜厚を低下させることができ、従って所望の端子電極を形成することができる。以下により詳細に本発明を説明する。
有機媒質は、好ましくは、適切な溶媒内にアクリル性ポリマーを溶解することによって調製されるものである。ポリマーは中性または還元性雰囲気内で高い熱分解性を有する。
本発明で使用されるポリマーは、メタクリル酸メチルであるが、メタクリル酸メチルを、メタクリル酸エチルおよびメタクリル酸ブチル、およびアクリレート化合物のコポリマー、および上記のもののブレンドから選択されるポリマーと組み合わせてもよい。
組成物中の固形物に対する不活性媒質の比は、かなり変化し、固形物の媒質分散物が塗布される様式に依存する。分散物は45から76wt%の固形物と24から55wt%の媒質を含む。
従って、本発明は多層キャパシタ用端子電極組成物を提供する。その組成物は、銅粉末、ニッケル粉末および銅−ニッケル合金粉末から選択される導電性粉末であって、CARBITOL(登録商標)アセテートおよびブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(CARBITOL(登録商標)はユニオン・カーバイド・ケミカルズ&プラスチックス・テクノロジー・コーポレーションの登録商標である。)のような溶媒中の有機バインダーに分散されたものを30から71wt%含む。なお、有機バインダーは、1または複数のタイプの、有機溶媒に溶解されたメタクリル酸メチル(MMA)ポリマーから構成され、少なくとも1つのメタクリル酸メチルポリマーが少なくとも100,000の数平均分子量および少なくとも1,000,000の重量平均分子量を有し、メタクリル酸メチルポリマーが組成物の総量に基づいてペーストの2.0から9.0wt%を占めるように構成される。
有機媒質を取り除くために、通常、窒素焼成炉中での適切な酸素注入が150から450℃の熱分解温度の範囲内で行われる。十分な熱分解を達成するためのメタクリル酸メチルの含有量は、ペーストの総量に基づいて9.0wt%以下、好ましくは7.0wt%以下である。メタクリル酸メチルの含量が9.0wt%を超えると単位体積あたりのポリマー含量が供給される酸素の量に対して高くなる。結果として、焼けずに残った有機残分のレベルが増し、焼結の欠陥の原因となる。
有機媒質は、ペーストを適切な形で基材上に堆積させることができる粘度を付与し、乾燥された被膜の強度も維持する。メタクリル酸メチルポリマーを使用することは、このポリマーを少量使用した場合であっても、十分な乾燥被膜強度を実現するために、特に好ましい。2.0wt%未満の使用で粘度の過度の低下が起こり、十分な乾燥薄膜強度が妨げられる。
本発明の実施では、卑金属粒子は銅粉末、ニッケル粉末または銅−ニッケル合金粉末から選択される。銅粉末が好ましい。銅粉末粒子は、球形または不定形で、0.5から30μmの平均粒径を有するもの、0.1から30μmの粒径を有するフレーク様銅粒子、およびこれらの混合物から選択される。卑金属粒子が大きすぎると、これから製造される端子電極の密度が損なわれる。一方、粒径が小さすぎると、分散特性が有機媒質のそれと異なり、レオロジーの変化を生じ、理想的な被覆形状を実現することが困難となる。
ペースト内の卑金属粒子の含有量は、10から71wt%である。この範囲未満では、稠密な焼結膜が得られず、一方この範囲を超えると、所望のペースト粘度が実現されない。
本発明で使用されるガラスフリットの、例示的な好ましい非制限的な例には、Si−B−Baガラス、Si−B−PbガラスおよびSi−B−Znガラスから構成されるものが含まれる。無機バインダーとしてのガラスフリットの軟化点は、焼成温度と密接に関係している。軟化点が高すぎると焼結が阻害され、一方、軟化点が低いと焼結が促進される。本発明に従ったペーストの焼成温度は約700から950℃である。従って、例えば組成物が過剰に焼結されないようにし、それでもなお適切な程度の密度を実現させるために、焼成を約750℃で行った場合、ガラス軟化点は500から650℃の範囲に設定することが好ましい。
ペースト組成物のガラスフリット含量は、組成物の全量に基づいて、5から15wt%、好ましくは8から12wt%である。少量すぎるガラスフリットが添加された場合、十分な密度を有し、メッキ溶液に対するバリアとして機能する焼成膜を得ることができず、キャパシタアセンブリへの接着が不十分となる。一方、ガラスフリットの添加が多すぎると焼成膜の表面にガラス成分が浮き出し、メッキの接着を大きく損なう原因となる。ガラスフリットは、0.5から20μm、特に1から10μmの粒径を有する微粉砕粉末であることが好ましい。粒径が大きすぎると低密度となり、一方、粒径が小さすぎると、有機バインダーと異なる分散特性となり、レオロジーが変化し、理想的な被膜形状を実現することが困難になる。
本発明の実施では、上記卑金属粒子とガラスフリットを有機媒質中に分散し、ペースト組成物を形成する。この組成物を多層セラミックキャパシタの端子電極形成部位にコーティングする。次いでこれを700から950℃の温度で焼成し、端子電極を形成する。次に、端子電極を焼成した後、はんだ表面として、端子電極にニッケルまたははんだメッキを施し、完成した端子電極を得る。
2.0から9.0wt%の、少なくとも1,000,000の重量平均分子量を有する少なくとも1種のタイプのメタクリル酸メチルポリマーをペースト内に含ませることによって、導電性ペーストを得ることができ、この導電性ペーストは、十分な乾燥被膜強度を有し、固形物含量が低くても端部表面にペーストが垂れることもなく、中性または還元性雰囲気中で焼成された場合に有機成分の十分な熱分解性を有し、焼き尽くされていない有機材料による焼結の際の悪影響もない。
本発明の実施例と比較例を以下に記載する。全てのパーセンテージは組成物の全量に基づく。
(実施例1)
1,200,000の重量平均分子量(以下Mwとも記す。)および120,000の数平均分子量(以下Mnとも記す。)を有するメタクリル酸メチルポリマー(22wt%)をブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解し、有機媒質を形成した。上記有機媒質30wt%、3μmの平均粒径を有する球形銅粉末63wt%、およびSi−B−Baガラスフリット7wt%を、示した量で各々秤量し、三本ロールミルでブレンドすることによって均一に分散し、ペーストを形成した。
Si−B−Baガラスフリットは、重量で以下の組成を有する。
35.0%BaO
23.1%B
13.5%SrO
12.5%SiO
4.5%ZnO
3.7%MgO
2.4%Al
2.3%Na
1.2%SnO
1.0%TiO
0.4%K
0.4%LiO
(実施例2)
1,200,000の重量平均分子量(Mw)および120,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸メチルポリマー(22wt%)をブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解したもの15wt%、200,000の重量平均分子量(Mw)および60,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸メチルをブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解し、有機ビヒクルを形成したもの10.5wt%、3μmの平均粒径を有する球形銅粉末67wt%、および実施例1のSi−B−Baガラスフリット7.5wt%を、示した量で各々秤量し、三本ロールミルでブレンドすることによって均一に分散し、ペーストを形成した。
(実施例3)
1,200,000の重量平均分子量(Mw)および120,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸メチルポリマー(22wt%)をブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解したもの15wt%、150,000の重量平均分子量(Mw)および30,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸メチル−メタクリル酸ブチルコポリマーをブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解し、有機ビヒクルを形成したもの10.5wt%、3μmの平均粒径を有する球形銅粉末67wt%、および実施例1のSi−B−Baガラスフリット7.5wt%を、示した量で各々秤量し、三本ロールミルでブレンドすることによって均一に分散し、ペーストを形成した。
(比較例1)
680,000の重量平均分子量(Mw)および100,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸ブチルポリマー(22wt%)をブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解し、有機ビヒクルを形成し、前記有機ビヒクルの30wt%、3μmの平均粒径を有する球形銅粉末63wt%、および実施例1のSi−B−Baガラスフリット7wt%を、示した量で各々秤量し、三本ロールミルでブレンドすることによって均一に分散し、ペーストを形成した。
(比較例2)
200,000の重量平均分子量(Mw)および60,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸メチルポリマー(22wt%)をブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解し、有機ビヒクルを形成したもの30wt%、3μmの平均粒径を有する球形銅粉末63wt%、および実施例1のSi−B−Baガラスフリット7wt%を、示した量で各々秤量し、三本ロールミルでブレンドすることによって均一に分散し、ペーストを形成した。
(比較例3)
200,000の重量平均分子量(Mw)および60,000の数平均分子量(Mn)を有するメタクリル酸メチルポリマー(22wt%)をブチルCARBITOL(登録商標)アセテート(78wt%)に溶解し、有機ビヒクルを形成したもの16.7wt%、3μmの平均粒径を有する球形銅粉末75wt%、および実施例1のSi−B−Baガラスフリット8.3wt%を、示した量で各々秤量し、三本ロールミルでブレンドすることによって均一に分散し、ペーストを形成した。
試験方法
評価試験
上記のように処方されたペーストを、1.2mm(幅)×1.2mm(厚さ)×2.0mm(長さ)の寸法を有する多層セラッミクキャパシタチップ上にコーティングし、窒素雰囲気中、750℃の温度で焼成し試験片を調製し、端部での膜厚を測定した。加えて、被膜されたチップの端部表面を垂下について試験し、許容(OK)または許容できず(NG)として評価した。ペースト組成物と評価結果を以下の表1に示した。
Figure 2004228093
表1の結果から、本発明に従った実施例1から3では、その各々が請求項1に記載の条件を満たすメタクリル酸メチルのタイプと量を含んでおり、ペーストの垂れを端部表面で観測せず(OK)、膜厚は90ミクロン未満であった。これに対して、比較例1から3は、膜厚が90ミクロンを超えているか、またはペーストの垂れが被膜されたチップの端部表面で観測された(NG)。

Claims (7)

  1. (a)銅粉末、ニッケル粉末および銅−ニッケル合金粉末よりなる群から選択される導電性粉末30から71wt%、および(b)無機バインダーを含み、(a)および(b)の両方が不活性有機媒質に分散されており、
    該有機媒質が、溶媒に溶解された、少なくとも1つのメタクリル酸メチル(MMA)ポリマーを含み、前記メタクリル酸メチルポリマーが少なくとも100,000の数平均分子量および少なくとも1,000,000の重量平均分子量を有し、メタクリル酸メチルポリマーがペーストの2.0から9.0wt%の割合になるように溶解されていることを特徴とする、中性または還元性雰囲気中で焼成可能な導電性ペースト。
  2. 無機バインダーの量が5から15wt%の範囲であり、導電性粉末と無機バインダーが、合わせて45.0wt%から76wt%の範囲であることを特徴とする請求項1に記載の導電性ペースト。
  3. 有機媒質が、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、アクリレート化合物のコポリマー、またはこれらの混合物をさらに含むことを特徴とする請求項1または2のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
  4. 無機バインダーが、Si−B−Baガラス、Si−B−Pbガラス、Si−B−Znガラスまたはこれらの混合物から選択されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
  5. 多層キャパシタ用端子電極組成物としての請求項1から4のいずれか1項に記載の導電性ペーストの使用。
  6. (a)請求項1から4のいずれか1項に記載の導電性ペーストを形成する工程と、
    (b)(a)の組成物を多層キャパシタの端子電極形成部位にコーティングする工程と、
    (c)(b)の多層キャパシタを焼成し、完成した端子電極を形成する工程
    を含むことを特徴とする端子電極を形成する方法。
  7. 請求項1から4のいずれか1項に記載の導電性ペーストを使用する多層キャパシタ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010006702A (ja) * 2009-10-14 2010-01-14 Shoei Chem Ind Co 導体ペースト
KR101420517B1 (ko) * 2012-10-31 2014-07-16 삼성전기주식회사 적층 세라믹 캐패시터 및 이를 포함하는 인쇄회로기판

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0307547D0 (en) * 2003-04-01 2003-05-07 Du Pont Conductor composition V
US20060231802A1 (en) * 2005-04-14 2006-10-19 Takuya Konno Electroconductive thick film composition, electrode, and solar cell formed therefrom
EP2065165B1 (de) * 2007-11-30 2009-11-04 Eckart GmbH Verwendung einer Mischung mit sphärischen Metallpartikeln und Metallflakes als Lasermarkierungs- oder Laserschweissbarkeitsmittel sowie lasermarkierbarer und/oder laserschweissbarer Kunststoff
CN102064020B (zh) * 2010-10-28 2012-04-25 吴浩 微波高频电容器端电极的制作方法
JP5904305B2 (ja) * 2013-04-25 2016-04-13 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法
CN107250075A (zh) * 2015-02-04 2017-10-13 E.I.内穆尔杜邦公司 导电糊料组合物和用其制成的半导体装置
JP7171171B2 (ja) * 2017-07-25 2022-11-15 太陽誘電株式会社 セラミック電子部品及びセラミック電子部品の製造方法
CN109346322A (zh) * 2018-10-17 2019-02-15 成都宏明电子科大新材料有限公司 一种脉冲功率陶瓷电容器、端电极及制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06326433A (ja) * 1993-05-10 1994-11-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 導体ペ−スト組成物
JP2001307548A (ja) * 2000-04-19 2001-11-02 Murata Mfg Co Ltd 導電性ペーストおよびセラミック電子部品
JP2002080675A (ja) * 2000-09-08 2002-03-19 Mitsubishi Rayon Co Ltd 焼成型ペースト用アクリル系バインダー樹脂組成物

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3516949A (en) * 1966-10-10 1970-06-23 Du Pont Copper/vanadium oxide compositions
US3922387A (en) * 1973-08-28 1975-11-25 Du Pont Metallizations comprising nickel oxide
JPS59184511A (ja) * 1983-04-04 1984-10-19 株式会社村田製作所 セラミツク積層コンデンサ
JPS6011223A (ja) 1983-06-27 1985-01-21 Kyowa Chem Ind Co Ltd 繊維状酸化マグネシウム及びその製法
US4880567A (en) * 1987-08-20 1989-11-14 General Electric Company Thick film copper conductor inks
US5047313A (en) * 1989-08-21 1991-09-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Photosensitive semi-aqueous developable copper conductor composition
JPH08180731A (ja) * 1994-12-26 1996-07-12 Murata Mfg Co Ltd 導電性厚膜組成物、厚膜電極、セラミック電子部品、および積層セラミックコンデンサ
JP3209089B2 (ja) * 1996-05-09 2001-09-17 昭栄化学工業株式会社 導電性ペースト
JP3510761B2 (ja) * 1997-03-26 2004-03-29 太陽インキ製造株式会社 アルカリ現像型光硬化性導電性ペースト組成物及びそれを用いて電極形成したプラズマディスプレイパネル
JP2002012445A (ja) 2000-01-18 2002-01-15 Central Glass Co Ltd 低融点ガラス
JP2001307549A (ja) 2000-04-21 2001-11-02 Furuya Kinzoku:Kk 銀ペースト及びその製造方法
CN1186391C (zh) * 2001-04-26 2005-01-26 三星Sdi株式会社 聚合物凝胶电解质及采用该电解质的锂电池

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06326433A (ja) * 1993-05-10 1994-11-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 導体ペ−スト組成物
JP2001307548A (ja) * 2000-04-19 2001-11-02 Murata Mfg Co Ltd 導電性ペーストおよびセラミック電子部品
JP2002080675A (ja) * 2000-09-08 2002-03-19 Mitsubishi Rayon Co Ltd 焼成型ペースト用アクリル系バインダー樹脂組成物

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010006702A (ja) * 2009-10-14 2010-01-14 Shoei Chem Ind Co 導体ペースト
KR101420517B1 (ko) * 2012-10-31 2014-07-16 삼성전기주식회사 적층 세라믹 캐패시터 및 이를 포함하는 인쇄회로기판
US9345141B2 (en) 2012-10-31 2016-05-17 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Multilayer ceramic capacitor and printed circuit board including the same

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