JP2006242867A - 共焦点光学系を有した測定装置 - Google Patents
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Abstract
従来の測定装置では、被検部位の高さ測定を行う場合、各Z軸上の所定ステップ間隔ごとの走査画像を全て取り込こむことなる。これは、高さ測定を高精度に行えば行うほど、Z軸方向の走査画像の取り込み間隔が狭まり、走査画像のデータが膨大な量となってしまう。その結果、測定装置に搭載する画像データ用のメモリも大規模となり、高さ測定や形状測定などの演算処理もそれに応じて遅くなってしまうという課題がある。
【解決手段】
本発明の測定装置は、共焦点光学系と、前記共焦点光学系の焦点面を被検物に対してその高さ方向に相対移動させながら異なる高さ位置ごとに、共焦点位置にある前記被検物の被検部位の画像データを取得する画像取得手段と、前記画像データを記憶する画像記憶手段とを備えたことを特徴とする。
【選択図】 図5
Description
以下、図1及び図2を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。図1は本発明の実施形態に係る高さ測定装置1の共焦点光学系の構成図を示している。図2は測定装置1の制御系のブロック図を示している。
(形状、高さ測定を行う被検物40の構造の説明)
本実施形態に係る被検物40(ここではICチップ)の構造を説明する。図3は、被検物40であるICパッケージの断面図を示す。図4は、ICパッケージのワイヤ144の一部箇所の高さ測定の例を示し、縦軸にZ軸方向の変位を、横軸に受光光量Iの変化を示す。
(被検物の形状測定処理の説明)
以下、本実施形態に係る高さ測定装置によりICパッケージである被検物40の形状測定を行う具体的な手順について図5及び図6を用いて説明する。 図5は、測定装置の形状測定処理(画像処理)の概念図を示す。図6は、測定装置の形状測定処理(画像処理)のフローチャート図を示す。
次に、本測定装置の演算制御装置31の処理手順を図6に基づき説明する。
エラー処理部31dでは既に説明したように順次送られてきた画像データから欠陥画素を特定する。特定された欠陥画素は、そのアドレスデータがエラー画像記憶部32dに記憶される。
すなわち、図4に示すワイヤ144のA点の部位に相当する撮像装置19の画素に着目して説明すると、A点の画像データとしてはZ1〜Z15の15枚の画像データが存在することになる。しかし、本実施形態の装置ではA点の部位に相当する撮像装置19の画素の15枚の画像データ全てを記憶装置32に記憶することはなく、Z3〜Z5の3枚の画像データのみを記憶することなる。このように、本実施形態では、画像データの記憶容量を抑制でき、ワイヤ144の形状測定処理を高速に実行可能である。撮像装置19の各画素に関連して、上記と同様な処理を行こなっていることで、画像データの記憶容量を大幅に削減することが可能となっている。
すなわち、図4に示すワイヤ144のA点の部位に相当する撮像装置19の画素に着目して説明すると、A点の画像データとしてはZ1〜Z15の15枚の画像データが存在することになる。しかし、本実施形態の装置ではA点の部位に相当する撮像装置19の画素の15枚の画像データ全てを記憶装置32に記憶することはなく、Z3〜Z5の3枚の画像データのみを記憶することなる。このように、本実施形態では、画像データの記憶容量を抑制でき、ワイヤ144の形状測定処理を高速に実行可能である。撮像装置19の各画素に関連して、上記と同様な処理を行こなっていることで、画像データの記憶容量を大幅に削減することが可能となっている。
10 共焦点光学系
11 光源
17 対物レンズ
19 撮像素子
26 コーナーキューブ駆動部
30 ステージ
31 演算制御装置
32 記憶装置
34 キーボード
40 被検物
A1 共焦点光学系の光軸
FS 共焦点光学系の焦点面
Claims (9)
- 共焦点光学系と、
前記共焦点光学系の焦点面を被検物に対してその高さ方向に相対移動させながら異なる高さ位置ごとに、順次、前記被検物の画像データを取得する画像取得手段と、
前記相対移動により取得した前記画像データ同士を前記被検物の部位毎に比較して所望の前記画像データを抽出する画像データ比較手段と、
前記画像データ比較手段により得られた前記画像データを記憶する画像データ記憶手段と
を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項1の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記画像取得手段により初期に取得された画像データを一次記憶し、前記画像データ比較手段により抽出された前記画像データを前記一次記憶された画像データと置き代えて記憶する前記画像データ記憶手段と、
前記画像データ記憶手段に記憶された前記画像データから前記被検物の形状を生成する画像生成手段と
を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項1の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記画像データ記憶手段は、前記記憶した画像データの取得時の焦点面位置情報を記憶することを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項1の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記画像データ比較手段は、前記被検物の部位における前記画像データの輝度レベルがピーク値を示したものを抽出し、前記画像データ記憶手段は、前記ピーク値を示す前記画像データを記憶することを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。 - 請求項4の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記ピーク値を示す前記画像データと、その前後の画像データとを記憶する前記画像データ記憶手段と、
前記画像データ記憶手段から前記ピーク値を示す前記画像データと、その前後の前記画像データとを読み出し、それら前記画像データを画像合成して前記被検物の形状を生成する画像生成手段と
を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項4の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記ピーク値を示す前記画像データと、その前後の画像データとを記憶すると共に、前記記憶されたそれら画像データの焦点面位置を記憶する前記画像データ記憶手段と、
前記画像データ記憶手段から前記画像データの焦点面位置を読み出し、前記焦点面位置に基づき内挿処理して前記被検部位の高さを算出する高さ算出手段と、
を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項1乃至請求項6の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記画像取得手段は、複数の画素を有する二次元撮像素子であり、
前記画像データ比較手段は、前記画素毎の画像データの比較が行われることを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項2の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記画像取得手段により取得された画像データに基づき前記画像取得手段の画素の欠陥を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレス情報を記憶する記憶手段と、
を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
- 請求項8の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記画像生成手段は、前記欠陥画素の画像データを使用して画像生成を実行するか否かを選択できる選択手段を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置
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