JP4650107B2 - 共焦点光学系を有した測定装置 - Google Patents
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Description
以下、図1及び図2を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。図1は本発明の実施形態に係る高さ測定装置1の共焦点光学系の構成図を示している。図2は測定装置1の処理装置18のブロック図を示している。
図1は本発明に係る測定装置1を示しており、一度のスキャンで広視野の高さ測定を行う高さ測定光学系2と、ズーミングにより求めたい位置の2次元測定を高精度で行う2次元測定光学系3とから構成される。
本実施形態に係る被検物40(ここではICチップ)の構造を説明する。図3は、被検物40であるICパッケージの断面図を示す。図4は、ICパッケージのワイヤ144の一部箇所の高さ測定の例を示し、縦軸にZ軸方向の変位を、横軸に受光光量Iの変化を示す。
以下、本実施形態に係る高さ測定装置によりICパッケージである被検物40の形状測定を行う具体的な手順について図5〜図11を用いて説明する。 図5は、測定装置の形状測定処理(画像処理)の概念図を示す。図6は、測定装置の形状測定処理(画像処理)のフローチャート図を示す。図7及び図10は、表示装置33が測定装置1の所定撮影倍率で被検物40を表示した表示例を示す。図8は、表示装置33に表示された被検物40の断面を概略説明するための図である。図9及び図11は、表示装置33に表示される被検物40の画像データの光量分布データのグラフを示す。
次に、本測定装置の演算制御装置31の処理手順を図6〜図11に基づき説明する。
エラー処理部31dでは既に説明したように順次送られてきた画像データから欠陥画素を特定する。特定された欠陥画素は、そのアドレスデータがエラー画像記憶部32dに記憶される。
すなわち、図4に示すワイヤ144のA点の部位に相当する撮像装置19の画素に着目して説明すると、A点の画像データとしてはZ1〜Z15の15枚の画像データが存在することになる。しかし、本実施形態の装置ではA点の部位に相当する撮像装置19の画素の15枚の画像データ全てを記憶装置32に記憶することはなく、Z3〜Z5の3枚の画像データのみを記憶することなる。このように、本実施形態では、画像データの記憶容量を抑制でき、ワイヤ144の形状測定処理を高速に実行可能である。撮像装置19の各画素に関連して、上記と同様な処理を行こなっていることで、画像データの記憶容量を大幅に削減することが可能となっている。
すなわち、図4に示すワイヤ144のA点の部位に相当する撮像装置19の画素に着目して説明すると、A点の画像データとしてはZ1〜Z15の15枚の画像データが存在することになる。しかし、本実施形態の装置ではA点の部位に相当する撮像装置19の画素の15枚の画像データ全てを記憶装置32に記憶することはなく、Z3〜Z5の3枚の画像データのみを記憶することなる。このように、本実施形態では、画像データの記憶容量を抑制でき、ワイヤ144の形状測定処理を高速に実行可能である。撮像装置19の各画素に関連して、上記と同様な処理を行こなっていることで、画像データの記憶容量を大幅に削減することが可能となっている。
ステップ10のティーチング処理では、後述するように、ステップ9で設定されたオペレータの所望する被検物の被検部位を記憶するとともに、その高さ/段差の情報の取得方法を記憶装置32に記憶する。
図7に示すように、オペレータは、表示装置33に表示された被検物40の一部拡大像(測定装置1の撮影倍率による画像)に基づき、所望する被検物40の高さ測定箇所を表示装置33上でポインティング(指定マーク50で指定)する。その指定マーク50で指定された箇所(被検物40の所望する箇所)の高さ測定が行われる。この高さ測定処理は、既に述べたように、演算制御装置31により積算画像すなわち光量ピークデータに基づき座標Zを内挿或いは非内挿処理して求めたり、また3D画像の画像データに基づき座標Zを内挿或いは非内挿処理して求めることができる。
オペレータが(マウスによって)ポインティングした箇所(指定マーク50)上の画素Bに相当する画像データは、記憶装置32から読み出される。読み出された画像データの輝度に関連する光量データ分布は、図9に示すように表示装置33に表示される。表示装置33には、図7の被検物40の積算画像(或いは3D画像或いはCCDカメラ25で取得された明視野画像)による表示と、図9の指定マーク50上の光量データ分布のグラフ表示とが分割表示されても良い。
図7に示すように、オペレータは表示装置33に表示された画像に対して、所望する測定箇所(被検物の被検部位)を指定マーク50で指定する。指定マーク50で指定された箇所の光量データ分布グラフが図9(A)に示すように表示される。オペレータは、図9(A)の光量データ分布グラフを見ながら所望の高さ、段差などの計測したい高さ方向の測定箇所を計測ライン51Aにより指定する。
図7に示すように、オペレータは表示装置33に表示された画像に対して、所望する測定箇所(被検物の被検部位)を指定マーク50で指定する。指定マーク50で指定された箇所の光量データ分布グラフが図9(B)に示すように表示される。図9(B)に示すように、オペレータは、光量データ分布グラフを見ながら所望の高さ、段差などの計測したい測定演算範囲を計測ライン51Aと計測ライン51Bとを使い設定できる。この一対の計測ライン51Aと51Bは、図9(B)の表示画面において自由にZ方向に移動ができ、一対の計測ラインによって挟まれた領域が高さ/段差測定演算される範囲となる。ティーチングデータとして、この計測ラインを設定することで、無駄な測定演算処理をすることない。
オペレータが設定した指定マーク50及び計測ライン51A,51Bは、不図示の記憶スイッチを操作することで既に説明したように記憶装置32にティーチングデータとして記憶され、以降の自動測定動作がこのティーチングデータに基づき処理できるようになる。
図10に示すように、オペレータが所望する被検物40の高さ測定箇所を表示装置33上でポインティング(指定マーク60A〜60Cで指定)することで、被検物40の所望する3か箇所の高さ測定が行われる。そして、オペレータが層厚さ算出(段差算出)を行う選択していたら、高さ測定と同様に、被検物の検出部位の厚さをXYZ座標データから算出する。
2 共焦点光学系
7 対物レンズ
16 光源
14、15、25 CCDカメラ
19 駆動部
30 ステージ
31 演算制御装置
32 記憶装置
34 キーボード
40 被検物
Claims (6)
- 共焦点光学系と、
前記共焦点光学系の焦点面と被検物とをその高さ方向に相対移動させる駆動手段と、
前記共焦点光学系を介して前記被検物の像を受光し、前記駆動手段により相対移動された前記共焦点光学系の焦点面の高さ位置ごとに、順次、前記被検物の光量データを取得する光電変換手段とを備えた共焦点光学系を有した測定装置において、
前記被検物の形状を表示する表示手段と、
前記表示手段により表示された被検物画像上において、測定したい所望の被検部位の位置を指定する第一指定手段と、
前記第一指定手段で指定された前記被検部位における、前記光電変換手段で取得した前記高さ方向の前記光量データの分布グラフを表示するグラフ表示手段と、
前記グラフ表示手段により表示された前記光量データの分布グラフ上において、測定したい所望の前記高さ方向の位置を指定する第二指定手段と、
前記第二指定手段により指定された前記高さ方向の位置の前記光量データに基づき、前記被検物の形状を測定する測定演算手段と、
前記第一及び第二指定手段により指定した指定情報をティーチングデータとして記憶するティーチングデータ記憶手段と
を備えたことを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。 - 請求項1に記載の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記第二指定手段は、前記グラフ表示手段の前記分布グラフ上を前記高さ方向に移動する1つの計測ラインを表示し、前記計測ラインにより前記分布グラフの所望の箇所を指定し、
前記測定演算手段は、前記計測ラインと前記分布グラフとの交点における前記高さ方向の高さを演算することを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。 - 請求項1に記載の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記二指定手段は、前記グラフ表示手段により表示された前記分布グラフ上に、所望の測定範囲を設定するための一対の計測ラインを表示し、前記一対の計測ラインにより前記分布グラフを挟むことで指定し、
前記測定演算手段は、前記一対の計測ラインで挟まれた前記分布グラフに相当する前記光量データに基づき前記高さ方向の高さを演算することを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記ティーチングデータ記憶手段により記憶された前記第二指定手段により設定された測定範囲は、前記駆動手段によるスキャン範囲であり、かつ前記測定演算手段による演算範囲であることを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記測定演算手段は、前記光量データの分布グラフからピーク光量位置を検出し、前記測定範囲のうち前記ピーク光量位置を含む所定範囲を演算範囲に再設定し、
前記駆動手段は、前記測定範囲をスキャン範囲に設定し、
前記ティーチングデータ記憶手段は、前記測定演算手段の前記演算範囲と前記駆動手段の前記スキャン範囲とをティーチングデータとして記憶することを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。 - 請求項5に記載の共焦点光学系を有した測定装置において、
前記演算範囲が複数個存在する際に、隣同士の前記演算範囲が所定距離以内であればそれら前記演算範囲を全て包含する1つの前記スキャン範囲を設定し、逆に前記演算範囲が所定距離以上離れている場合には前記スキャン範囲を分割して設定することを特徴とする共焦点光学系を有した測定装置。
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