JP2006221839A - 有機エレクトロルミネッセンス装置、その製造方法および電子機器 - Google Patents

有機エレクトロルミネッセンス装置、その製造方法および電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】 正孔輸送層70を液相プロセスで形成した場合でも正孔輸送層70の表面を略平坦に形成することが可能であり、さらに発光層60の膜厚を均一に形成することが可能な、有機エレクトロルミネッセンス装置を提供する。
【解決手段】 画素領域26における画素電極23の上方に、正孔輸送層70が液相プロセスにより形成された有機エレクトロルミネッセンス装置であって、画素領域26の周縁部における画素電極23の表面が、画素領域26の中央部における画素電極23の表面より下方に位置するように、画素領域26の周縁部に画素電極23の凹部28が形成されている構成とした。
【選択図】 図2

Description

本発明は、有機エレクトロルミネッセンス装置、その製造方法および電子機器に関するものである。
次世代の表示装置として、有機エレクトロルミネッセンス装置(有機EL装置)が期待されている。有機EL装置は、上下の電極間に発光層を挟持した有機EL素子を基体上に配設して構成されており、典型的には、ガラス等の基板の上に、陽極となる画素電極と、有機機能層(正孔輸送層や発光層、電子輸送層等)と、陰極とを順次積層した構造が採られる。そして、陽極および陰極によって有機機能層に電流を供給することにより、有機機能層の発光層を発光させるようになっている。
近時では、上述した有機機能層を液相プロセスによって形成する方法が検討されている(例えば、特許文献1参照)。これは、各層の形成材料を含む液状体をインクジェット法やスピンコート法等によって塗布し、その液状体を乾燥させて有機機能層を形成するものである。このような液相プロセスを採用することにより、気相プロセスと比べてエネルギー消費量を低減することができる。また、比較的低温での成膜が可能になり、下地となる有機機能膜や基板等へのダメージを低減することができる。
特開2003−249375号公報
しかしながら、液相プロセスによって機能膜を形成すると、その機能膜の表面に凹凸が形成されるという問題がある。
図5(a)は、従来技術に係る有機EL装置の側面断面図である。この有機EL装置では、正孔輸送層170が液相プロセスによって形成されている。この正孔輸送層170の膜厚は、周縁部において厚く中央部において薄くなっており、正孔輸送層170の表面には凹凸が形成されている。これは、正孔輸送層170の形成材料を含む液状体が乾燥する際に、周縁部の溶媒が先に蒸発して形成材料が析出するからであると考えられる。なお、液状体の組成や乾燥条件等を最適化しても、上述した膜厚分布を完全には解消することができない。
そして、正孔輸送層170の表面の凹凸に倣って、発光層160が波打つように形成されている。その結果、有機EL素子における発光輝度分布や発光スペクトル等の発光特性が不均一になり、表示品質が低下することになる。また、発光層160の膜厚の均一性が低下し、膜厚の薄い領域に発光が集中して、有機EL素子の寿命が短くなる。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、液相プロセスを採用した場合でも機能膜の表面を略平坦に形成することが可能であり、さらにその上層の膜厚を均一に形成することが可能な、有機エレクトロルミネッセンス装置およびその製造方法の提供を目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の有機エレクトロルミネッセンス装置は、画素領域における画素電極の上方に、機能膜が液相プロセスにより形成された有機エレクトロルミネッセンス装置であって、前記画素領域の周縁部における前記画素電極の表面が、前記画素領域の中央部における前記画素電極の表面より下方に位置するように、前記画素領域の周縁部に前記画素電極の凹部が形成されていることを特徴とする。
この構成によれば、液相プロセスにより機能膜の周縁部が厚く形成されても、その機能膜の厚さを画素電極の凹部によって吸収することができる。したがって、機能膜の表面を略平坦に形成することができる。
また、前記画素領域の中心軸を含む断面における前記凹部の幅は、前記断面における前記画素領域の幅の20%以上30%以下であることが望ましい。
また、前記凹部の深さは、前記画素領域の中央部における前記画素電極の表面に形成された前記機能膜の厚さの10%以上20%以下であることが望ましい。
これらの構成によれば、機能膜の膜厚分布に対応した凹部を備えているので、機能膜の表面をより平坦に形成することができる。
また前記機能膜は、PEDOT/PSSからなる正孔輸送層であってもよい。
さらに前記画素領域は、平面視略円形状であってもよい。
加えて前記画素領域の直径は、50μm以上100μm以下であってもよい。
これらの構成によれば、機能膜の膜厚分布が顕著になるが、それでも機能膜の表面を略平坦に形成することができる。
一方、本発明の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法は、前記画素領域の周縁部における前記画素電極の表面が、前記画素領域の中央部における前記画素電極の表面より下方に位置するように、前記画素領域の周縁部に前記画素電極の凹部を形成する工程と、前記画素電極の上方に、機能膜を液相プロセスにより形成する工程と、を有することを特徴とする。
この構成によれば、液相プロセスの採用により機能膜の周縁部が厚く形成されても、その機能膜の厚さを画素電極の凹部によって吸収することが可能になる。したがって、機能膜の表面を略平坦に形成することができる。
一方、本発明の電子機器は、上述した有機エレクトロルミネッセンス装置を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、機能膜の表面が略平坦に形成された有機エレクトロルミネッセンス装置を備えているので、均一な発光特性により表示品質に優れた電子機器を提供することができる。さらに、その上層の膜厚の均一性が向上し、膜厚の薄い領域に発光が集中することが無くなるため、寿命の長い有機エレクトロルミネッセンス装置を提供することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、以下で参照する各図面においては、図面を見易くするために、各構成要素の寸法等を適宜変更して表示している。
(第1実施形態)
最初に、本発明の第1実施形態に係る有機エレクトロルミネッセンス装置(以下「有機EL装置」という。)について説明する。
(有機EL装置)
図1は、一般的な有機EL装置の側面断面の部分拡大図である。有機EL装置は、素子基板2と、素子基板2の表面に配設された回路部11と、回路部11の表面にマトリクス状に配設された複数の有機EL素子3と、有機EL素子3を封止する封止基板30とを備えている。なお第1実施形態では、有機EL素子3において発光した光を素子基板2側から取り出す、いわゆるボトムエミッション型の有機EL装置を例にして説明する。
ボトムエミッション型の有機EL装置では、素子基板2側から発光光を取り出すので、素子基板2としては透明あるいは半透明のものが採用される。例えば、ガラスや石英、樹脂(プラスチック、プラスチックフィルム)等を用いることが可能であり、特にガラス基板が好適に用いられる。
素子基板2上には、有機EL素子3の駆動用TFT123(駆動素子4)などを含む回路部11が形成されている。すなわち、素子基板2の表面に絶縁材料からなる下地保護層281が形成され、その上に半導体材料であるシリコン層241が形成されている。このシリコン層241の表面には、SiO及び/又はSiNを主体とするゲート絶縁層282が形成されている。
また、前記シリコン層241のうち、ゲート絶縁層282を挟んでゲート電極242と重なる領域がチャネル領域241aとされている。このゲート電極242は、図示しない走査線の一部である。一方、シリコン層241を覆い、ゲート電極242を形成したゲート絶縁層282の表面には、SiOを主体とする第1層間絶縁層283が形成されている。
また、シリコン層241のうち、チャネル領域241aのソース側には、低濃度ソース領域241bおよび高濃度ソース領域241Sが設けられる一方、チャネル領域241aのドレイン側には低濃度ドレイン領域241cおよび高濃度ドレイン領域241Dが設けられて、いわゆるLDD(Light Doped Drain )構造となっている。これらのうち、高濃度ソース領域241Sは、ゲート絶縁層282と第1層間絶縁層283とにわたって開孔するコンタクトホール243aを介して、ソース電極243に接続されている。このソース電極243は、電源線(図示せず)の一部として構成されている。一方、高濃度ドレイン領域241Dは、ゲート絶縁層282と第1層間絶縁層283とにわたって開孔するコンタクトホール244aを介して、ソース電極243と同一層からなるドレイン電極244に接続されている。
ソース電極243およびドレイン電極244が形成された第1層間絶縁層283の上層には、例えばアクリル系の樹脂成分を主体とする平坦化膜284が形成されている。この平坦化膜284は、アクリル系やポリイミド系等の耐熱性絶縁性樹脂などによって形成されたもので、駆動用TFT123(駆動素子4)やソース電極243、ドレイン電極244などによる表面の凹凸をなくすために形成されたものである。
そして、この平坦化膜284の表面に、複数の画素電極23が形成されている。この画素電極23は、ITO等の透明導電性材料からなり、平坦化膜284の表面にマトリクス状に配設されている。画素電極23は、該平坦化膜284に設けられたコンタクトホール23aを介して、ドレイン電極244に接続されている。すなわち画素電極23は、ドレイン電極244を介して、シリコン層241の高濃度ドレイン領域241Dに接続されている。
また平坦化膜284の表面には、SiO等の絶縁材料からなる無機隔壁25が形成されている。さらに無機隔壁25上には、ポリイミド等の絶縁材料からなる有機隔壁221が形成されている。そして、画素電極23の上方には、無機隔壁25の開口25aと、有機隔壁221の開口221aとが形成されている。
そして、無機隔壁25の開口25aおよび有機隔壁221の開口221aの内側に、複数の機能膜が積層形成されて、有機EL素子3が構成されている。有機EL素子3は、陽極として機能する画素電極23と、この画素電極23からの正孔を注入/輸送する正孔輸送層70と、有機EL物質からなる発光層60と、陰極50とを積層して構成されている。なお、無機隔壁25は絶縁材料で構成されているので、無機隔壁25の開口25aの内側のみに電流が流れて発光層60が発光する。そのため、無機隔壁25の開口25aの内側が、有機EL素子3の画素領域26となっている。
ボトムエミッション型の有機EL装置では、陽極として機能する画素電極23は、ITO等の透明導電材料によって形成されている。
正孔輸送層70の形成材料としては、特に3,4−ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルフォン酸(PEDOT/PSS)の分散液、すなわち、分散媒としてのポリスチレンスルフォン酸に3,4−ポリエチレンジオキシチオフェンを分散させ、さらにこれを水に分散させた分散液が好適に用いられる。
なお、正孔輸送層70の形成材料としては、前記のものに限定されることなく種々のものが使用可能である。例えば、ポリスチレン、ポリピロール、ポリアニリン、ポリアセチレンやその誘導体などを、適宜な分散媒、例えば前記のポリスチレンスルフォン酸に分散させたものなどが使用可能である。
発光層60を形成するための材料としては、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公知の発光材料が用いられる。具体的には、(ポリ)フルオレン誘導体(PF)、(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体(PPV)、ポリフェニレン誘導体(PP)、ポリパラフェニレン誘導体(PPP)、ポリビニルカルバゾール(PVK)、ポリチオフェン誘導体、ポリメチルフェニルシラン(PMPS)などのポリシラン系などが好適に用いられる。また、これらの高分子材料に、ペリレン系色素、クマリン系色素、ローダミン系色素などの高分子系材料や、ルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等の低分子材料をドープして用いることもできる。
陰極50は、前記発光層60を覆って形成されたもので、例えば厚さ20nm程度のCa層で構成されている。また、その上にAl層51を厚さ200nm程度に形成して積層構造の電極とし、そのAl層51を反射層としても機能させることが望ましい。
また、この陰極50上には接着層40を介して、封止基板30が貼り合わされている。
(画素電極の表面形状の調整層)
図2は第1実施形態に係る有機EL装置の説明図であり、図2(a)は有機EL素子の平面図であり、図2(b)は図2(a)のA−A線における側面断面図である。
図2(b)に示すように、平坦化膜284の表面であって画素電極23の下面中央部には、形状調整層90が形成されている。この形状調整層90は、画素電極23の表面形状を調整して、正孔輸送層70の表面を平坦化するためのものである。形状調整層90は、絶縁材料または導電材料のいずれによって構成することも可能である。ただし、ボトムエミッション型の有機EL装置においては、SiOやITO等の光透過性材料で構成する必要がある。なお、導電材料からなる形状調整層90は、画素電極23の上面に形成してもよい。
図2(a)に示すように、本実施形態の有機EL素子3では、画素領域26が略円形状に設定されている。その画素領域26の直径は、例えば50μm以上100μm以下とされている。これに伴って、形状調整層90も略円形状に形成されている。
図2(b)に戻り、形状調整層90に起因して、画素電極23の表面に凹凸が形成されている。すなわち、画素領域26の中央部に形状調整層90が配置されているので、画素領域26の周縁部における画素電極23の表面が、画素領域26の中央部における画素電極23の表面より下方に位置している。これにより、画素領域26の周縁部に画素電極23の凹部28が形成され、中央部に画素電極23の凸部27が形成されている。
(ラインヘッドの製造方法)
次に、上述した有機EL装置の製造方法について説明する。
まず図1に示すように、素子基板2の表面に、下地保護層281やシリコン層241、平坦化膜284などを含む回路部11を形成する。
図3は、有機EL装置の製造方法の工程図である。図3(a)に示すように、平坦化膜284の表面に、光透過性材料からなる形状調整層90を形成する。具体的には、まず素子基板の全面を覆うようにCVD法等により光透過性材料の被膜を形成する。次に、形成すべき有機EL素子の画素領域26の中央部に被膜を残して、他の部分の被膜を除去する。ここでは、公知のホトリソグラフィー技術やエッチング技術等を利用して被膜のパターニングを行うことにより、形状調整層90が形成される。
次に、形状調整層90を覆うように画素電極23を形成する。画素電極23は、形成すべき有機EL素子の画素領域26より広い範囲に形成する。これにより、画素電極23の下面中央部に形状調整層90が配置されるので、画素領域26の周縁部における画素電極23の表面が、画素領域26の中央部における画素電極23の表面より下方に配置される。その結果、画素領域26の周縁部に画素電極23の凹部28が形成され、中央部に画素電極23の凸部27が形成される。
次に、無機隔壁25を形成する。具体的には、まず素子基板の全面を覆うように、SiO等の絶縁材料からなる隔壁層を形成する。続いて、形成すべき有機EL素子の画素領域26に開口25aをパターニングし、無機隔壁25を形成する。
次に、無機隔壁25の所定位置、詳しくは開口25aを囲む位置に、樹脂材料等によって有機隔壁221を形成する。その際、有機EL素子の形成領域には、有機隔壁221の開口221aを形成する。
次に、素子基板の表面に親液性を示す領域および撥液性を示す領域を形成する。具体的には、まず素子基板を70〜80℃程度に予備加熱する。次に、大気圧下で酸素を反応ガスとするプラズマ処理(O2プラズマ処理)を行い、画素電極23の上面、無機隔壁25の表面、並びに有機隔壁221の開口221aの壁面および上面をそれぞれ親液化処理する。さらに、大気圧下で4フッ化メタンを反応ガスとするプラズマ処理(CFプラズマ処理)を行い、有機隔壁221の開口221aの壁面および上面を撥液化処理する。最後に、素子基板を室温まで冷却する。
なお、画素電極23の上面および無機隔壁25の表面も、CFプラズマ処理の影響を受ける。しかしながら、画素電極23の材料であるITOや、無機隔壁25の構成材料であるSiOなどは、フッ素に対する親和性に乏しいため、親液化工程で付与された水酸基がフッ素基で置換されることはない。したがって、画素電極23の上面および無機隔壁25の表面に付与された親液性は維持される。以上により、図3(a)に示す状態となる。
次に図3(b)に示すように、PEDOT/PSS等からなる正孔輸送層を形成する。この正孔輸送層は、液相プロセスによって形成する。液相プロセスは、機能膜の形成材料を含む液状体を塗布し、その液状体を乾燥させて機能膜を形成するものである。この液相プロセスでは、蒸着法等の気相プロセスに比べて、真空条件を必要としないので、エネルギー消費量を低減することが可能になり、製造コストを低減することができる。また、基板サイズの制限がなくなるので、大画面ディスプレイの製造に有効となる。さらに、蒸着マスクが不要となるので、高精細なディスプレイの製造に有効となる。加えて、比較的低温での成膜が可能になり、耐熱性の低いプラスチック基板を用いたフレキシブルなディスプレイの開発に有効となる。
液相プロセスとして、具体的にはインクジェット法を採用することが望ましい。インクジェット法は、機能膜の形成材料を含む液状体をインク室内に充填し、そのインク室内に圧力変化を生じさせ、インク室に連通するノズルから液滴を吐出して、機能膜を形成すべき所定位置に着弾させるものである。そのため、少なくとも塗布すべき液状体を充填するインク室と、インク室内に圧力変化を生じさせるピエゾ素子等の駆動素子と、インク室に連通するノズルとを備えたインクジェットヘッドを使用する。このインクジェット法を採用することにより、所定量の液状体を所定位置に正確に塗布することが可能になり、寸法精度に優れた機能膜を形成することができる。また、液状体を効率的に使用することが可能になり、製造コストを低減することができる。
具体的には、まずPEDOT/PSSを極性溶媒に溶解させた液状体をインクジェットヘッドのインク室内に充填する。極性溶媒としては、例えば、イソプロピルアルコール(IPA)、ノルマルブタノール、γ−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン(NMP)、1,3−ジメチル−2イミダゾリジノン(DMI)及びその誘導体、カルビトールアセテート、ブチルカルビトールアセテートなどのグルコールエーテル類などを用いることができる。次に、インクジェットヘッドと素子基板とを相対移動させながら、インクジェットヘッドのノズルを素子基板の画素領域26に対向させる。そして、駆動素子によりインク室内に圧力変化を生じさせ、ノズルから画素領域26に向かって液滴を吐出する。
このとき、ノズルから吐出された液滴は、親液性が付与された画素電極23の上面および無機隔壁25の表面に濡れ広がり、無機隔壁25の開口25aの内側に充填される。その一方で、有機隔壁221の開口221aの壁面および上面に向かって飛散した液滴は、撥液性が付与された上記部分に付着せず、開口25aの内側に流れ込む。これにより、図3(b)に示すように、有機隔壁221の開口221aの底部ないし無機隔壁25の開口25aの内側のみに液状体72を塗布することができる。
次に図3(c)に示すように、塗布された液状体を乾燥させる。液状体の乾燥は、液状体を塗布した素子基板を機密容器中に配置し、その中を減圧するいわゆる減圧乾燥を用いて行う。減圧は大気圧から100Paまでを数分から10分程度となるように排気速度を調整して行う。100Paまで到達後、10Pa程度の圧力まで数分から10分程度の乾燥を行う。乾燥時の基板温度は室温としているが、ホットプレートなどで100℃程度までの加熱を行っても良い。
ところで、塗布された液滴の縁と中央では、単位底面積当たりの蒸発するであろう溶媒の量が大きく異なる。これにより、蒸発が完了し溶媒が無くなるまでの時間に差ができる。この現象を要因として、液滴はもっとも蒸発の早い縁から膜化する。そして液滴は縮むことが許されなくなり、変形し、結果として縁側へと溶媒および溶質のフローが起こる。その結果、溶質は液滴が初期に乾燥し始める縁に集中し、相対的に中央が薄く端が厚い膜が形成される。そのため、図5(a)に示すように、従来の正孔輸送層170の表面には、周縁部に突起172が形成され、中央部に陥没174が形成されていた。
これに対して、図3(c)に示すように、本実施形態では画素領域の周縁部における画素電極の表面に凹部28を形成したので、正孔輸送層70の周縁部の厚さを吸収することができる。したがって、正孔輸送層70の表面を平坦化することができる。
このように、本実施形態における画素領域の周縁部の凹部28は、図5(a)に示す従来の正孔輸送層170の突起172を吸収するものである。したがって、凹部28の体積は、従来の正孔輸送層170の突起172の体積に一致させることが望ましい。逆に、本実施形態における画素領域26の中央部の凸部27は、従来の正孔輸送層170の陥没174を埋めるものである。したがって、凸部27の体積は、その陥没174の体積に一致させることが望ましい。いずれの場合にも、正孔輸送層70の表面をより平坦に形成することができる。
図5(b)は、本実施形態の正孔輸送層70および従来の正孔輸送層170の形状説明図である。なお図5(b)では、高さ方向および幅方向の寸法を個別に規格化して示している。凹部28の深さは、画素領域26の中央部における正孔輸送層70の厚さの10%以上20%以下とすることが望ましい。一例を挙げれば、画素領域26の中央部における正孔輸送層70の厚さが50nmの場合に、凹部28の深さを5〜10nmとする。この場合、形状調整層90の厚さを5〜10nmとすればよい。一方、画素領域26の中心軸を含む断面における凹部28の幅は、その断面における画素領域26の幅の20%以上30%以下とすることが望ましい。一例を挙げれば、画素領域26の直径が100μmの場合に、凹部28の幅を20〜30μmとする。
以上により、図3(c)に示す状態となる。なお、正孔輸送層70の形成工程以降の工程は、各種の形成材料や形成した要素等の酸化・吸湿を防止すべく、窒素雰囲気やアルゴン雰囲気などの不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。
次に図3(d)に示すように、正孔輸送層70の表面に発光層60を形成する。発光層60の形成工程でも、正孔輸送層70の形成工程と同様に、液相プロセスであるインクジェット法を採用することが望ましい。すなわち、発光層60の形成材料を含む液状体を吐出し、乾燥処理および熱処理を行うことにより、有機隔壁221の開口221aの内側における画素領域26の上方に発光層60を形成する。その際、正孔輸送層70の表面にある程度以上の大きさの凹凸があると、吐出により配置された液状体の形状、乾燥等が影響を受け、均一な膜厚の発光層60を形成することが難しい。本実施形態では、画素電極23上に凹部28を設けることにより、正孔注入層70の表面を略平坦に形成している。このため、配置された液状態の形状、乾燥が下地の凹凸の影響を受けることは無く、発光層60を平坦に、また均一な膜厚に形成することができる。
次に図1に示すように、陰極50を形成する。この陰極50は、蒸着法やスパッタ法等により、素子基板2のほぼ全面に形成する。
次に、封止基板30を接着する。この封止工程では、素子基板2の表面に透明な接着層40を塗布し、気泡が入らないようにして封止基板30を貼り合わせる。
以上により、本実施形態に係る有機EL装置が形成される。
以上に詳述したように、本実施形態に係る有機EL装置では、画素領域の周縁部に画素電極の凹部が形成されている構成とした。この構成によれば、液相プロセスの採用により機能膜の周縁部が厚く形成されても、その機能膜の厚さを画素電極の凹部によって吸収することができる。したがって、機能膜の表面を略平坦に形成することができる。具体的には、正孔注入層の表面を略平坦に形成することが可能になり、これに伴って発光層を平坦に形成することができる。その結果、有機EL素子における発光輝度分布や発光スペクトル等の発光特性を均一化することが可能になり、表示品質を向上させることができる。また、発光層の膜厚の均一性が向上し、膜厚の薄い領域に発光が集中することが無くなるため、有機EL素子の寿命が長くなる。
(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態に係る有機EL装置について説明する。
図4は第2実施形態に係る有機EL装置の説明図であり、図4(a)は有機EL素子の平面図であり、図4(b)は図4(a)のB−B線における側面断面図である。第2実施形態に係る有機EL装置は、画素領域26が略長円形状である点で、略円形状である第1実施形態と相違している。また第2実施形態に係る有機EL装置は、有機EL素子3における発光光を陰極側から取り出すトップエミッション型である点で、ボトムエミッション型である第1実施形態と相違している。なお第1実施形態と同様の構成となる部分については、その詳細な説明を省略する。
図1に示す有機EL装置がトップエミッション型の場合には、素子基板2として透明基板または不透明基板のいずれを用いてもよい。不透明基板としては、例えば、アルミナ等のセラミックスや、ステンレススチール等の金属シートに表面酸化などの絶縁処理を施したものの他に、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂などが挙げられる。
また、画素電極23を不透明導電膜で構成することも可能である。不透明導電膜として、例えばAlやCu等の金属膜を採用することができる。特にAl等の高反射率の金属膜を採用すれば、発光光を陰極50側に反射することができるので、光の取り出し効率を向上させることができる。
またトップエミッション型の有機EL装置では、発光光が回路部11に入射しないので、駆動用TFT123や各種配線の形成領域を広く確保することができる。これにより、各種配線の抵抗率を低下させることが可能になり、信号伝達速度を向上させることができる。また、画素領域を広く確保することが可能になり、開口率を向上させることができる。
一方、トップエミッション型の有機EL装置では、陰極50をITO等の透明導電膜で構成する必要がある。また、封止基板30およびその接着層40も透明材料で構成する必要がある。
図4(b)に示すように、第2実施形態においても、画素電極23の表面形状を調整して正孔輸送層70の表面を平坦化するため、画素電極23の下面中央部に形状調整層90が形成されている。第2実施形態では、画素電極23と同様に、形状調整層90を不透明材料で構成することも可能である。また第1実施形態と同様に、形状調整層90を絶縁材料または導電材料のいずれで構成してもよく、導電材料で構成した場合には画素電極23の上面に配置してもよい。
図4(a)に示すように、第2実施形態の有機EL装置では、画素領域26が略長円形状に形成されている。すなわち、略長円形状に形成された画素電極の上面に、無機隔壁の開口25aが略長円形状に形成されて、画素領域26が構成されている。これに伴って、形状調整層90も略長円形状に形成されている。
図4(b)に戻り、形状調整層90の形成に起因して、画素電極23の表面に凹凸が形成されている。具体的には、第1実施形態と同様に、画素領域26の周縁部に画素電極23の凹部28が形成され、画素領域26の中央部に画素電極23の凸部27が形成されている。そして、画素領域26の中心軸を含む断面における凹部28の幅は、その断面における画素領域26の幅の20%以上30%以下とされている。そのため、図4(a)に示すように、略長円形状の画素領域26の長軸方向における凹部の幅は、短軸方向における凹部の幅より広くなっている。
そして図4(b)に示すように、第1実施形態と同様に、液相プロセスであるインクジェット法により正孔輸送層70が形成されている。具体的には、インクジェットヘッドからPEDOT/PSSを含む液状体を吐出し、その液状体を乾燥させて正孔輸送層70を形成する。
第2実施形態のように画素領域26が略長円形状の場合でも、正孔輸送層70は周縁部が厚く形成され中央部が薄く形成される。これに対して、画素領域の周縁部における画素電極の表面に凹部28を形成したので、正孔輸送層70の周縁部の厚さを吸収することができる。したがって、正孔輸送層70の表面を平坦化することができる。
上述した第2実施形態の有機EL装置では、第1実施形態と同様に、画素領域の周縁部に画素電極の凹部が形成されている構成としたので、液相プロセスを採用した場合でも、機能膜の表面を略平坦に形成することができる。具体的には、正孔注入層の表面を略平坦に形成することが可能になり、これに伴って発光層を平坦に形成することができる。その結果、有機EL装置の発光特性を均一化して、表示品質を向上させることができる。
(電子機器)
図6は、上記各実施形態の有機EL装置を備えた電子機器の一例を示す斜視構成図である。同図に示す携帯電話機1300は、複数の操作ボタン1302と、受話口1303と、送話口1304と、先の実施形態の有機EL装置からなる表示部1301とを備えて構成されている。そして、この携帯電話機1300によれば、表示部に備えられた有機EL装置による高画質表示が可能になっている。
なお、本発明における有機EL装置を備えた電子機器としては、上記のものに限らず、他に例えば、デジタルカメラ、パーソナルコンピュータ、テレビ、携帯用テレビ、ビューファインダ型・モニタ直視型のビデオテープレコーダ、PDA、携帯用ゲーム機、ページャ、電子手帳、電卓、時計、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器などを挙げることができる。また、本発明における有機EL装置を備えた電子機器として、車載用オーディオ機器や自動車用計器、カーナビゲーション装置等の車載用ディスプレイを挙げることもできる。
有機EL装置の側面断面の部分拡大図である。 第1実施形態に係る有機EL装置の説明図である。 有機EL装置の製造方法の工程図である。 第2実施形態に係る有機EL装置の説明図である。 従来技術に係る有機EL装置の説明図である。 携帯電話の斜視図である。
符号の説明
23‥画素電極 26‥画素領域 28‥凹部 70‥正孔輸送層

Claims (8)

  1. 画素領域における画素電極の上方に、機能膜が液相プロセスにより形成された有機エレクトロルミネッセンス装置であって、
    前記画素領域の周縁部における前記画素電極の表面が、前記画素領域の中央部における前記画素電極の表面より下方に位置するように、前記画素領域の周縁部に前記画素電極の凹部が形成されていることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス装置。
  2. 前記画素領域の中心軸を含む断面における前記凹部の幅は、前記断面における前記画素領域の幅の20%以上30%以下であることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  3. 前記凹部の深さは、前記画素領域の中央部における前記画素電極の表面に形成された前記機能膜の厚さの10%以上20%以下であることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  4. 前記機能膜は、PEDOT/PSSからなる正孔輸送層であることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  5. 前記画素領域は、平面視略円形状であることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  6. 前記画素領域の直径は、50μm以上100μm以下であることを特徴とする請求項5に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置。
  7. 前記画素領域の周縁部における前記画素電極の表面が、前記画素領域の中央部における前記画素電極の表面より下方に位置するように、前記画素領域の周縁部に前記画素電極の凹部を形成する工程と、
    前記画素電極の上方に、機能膜を液相プロセスにより形成する工程と、
    を有することを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  8. 請求項1ないし請求項6に記載の有機エレクトロルミネッセンス装置を備えたことを特徴とする電子機器。
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