JP2006163449A - Rfidタグおよびその製造方法 - Google Patents

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俊二 馬場
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秀彦 吉良
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Abstract

【課題】本発明は、非接触で外部機器と情報のやり取りを行うRFID(Radio_Frequency_IDentification)タグ等に関し、アンテナの材料としてペーストを採用し、バンプの沈み込みを防止する。
【解決手段】回路チップ11あるいはベース13の、バンプ16に隣接した位置に、バンプ16付きの回路チップ11がアンテナ122に接続される際の押圧力によるバンプ16の沈み込みを押えるストッパ21を有する。
【選択図】 図3

Description

本発明は、非接触で外部機器との間で情報のやり取りを行うRFID(Radio_Frequency_IDentification)タグおよびそのRFIDタグを製造するRFIDタグ製造方法に関する。なお、本願技術分野における当業者間では、本願明細書で使用する「RFIDタグ」のことを、「RFIDタグ」用の内部構成部材(インレイ;inlay)であるとして「RFIDタグ用インレイ」と称する場合もある。あるいは、この「RFIDタグ」のことを「無線ICタグ」と称する場合もある。また、この「RFIDタグ」には、非接触型ICカードも含まれる。
近年、リーダライタに代表される外部機器との間で、電波によって非接触で情報のやり取りを行う種々のタイプのRFIDタグが提案されている。このRFIDタグの一種として、プラスチックや紙からなるベースシート上に電波通信用のアンテナパターンとICチップが搭載された構成のものが提案されており、このようなタイプのRFIDタグについては、物品などに貼り付けられ、その物品に関する情報を外部機器とやり取りすることで物品の識別などを行うという利用形態が考えられている。
図1は、RFIDタグの一例を示す正面図(A)および側面断面図(B)である。
この図1に示すRFIDタグ1は、シート状のPETフィルム等からなるベース13上に設けられたアンテナ12と、そのアンテナ12にバンプ16を介して接続されたICチップ11と、それらアンテナ12およびICチップ11を覆ってベース13に接着剤15で接着されたカバーシート14で構成されている。
このRFIDタグ1を構成するICチップ11は、アンテナ12を介して外部機器と無線通信を行ない情報をやりとりすることができる。
このようなRFIDタグについては、上述のような利用形態を含む広範な利用形態が考えられているが、このようなRFIDタグを様々な形態で利用するにあたってはその製造コストが大きな問題の1つとなっており、製造コスト低減のための様々な努力が払われている。
製造コスト低減を図る努力の1つとして、エポキシ等の樹脂材料に金属フィラー(一般にはAg)を配合して導電性を付与したペースト材料を用いてアンテナを形成することが考えられている(特許文献1)。従来、アンテナを形成する材料としては、厚さの薄い、Cu、Al、Au等の金属材料が採用されているところ、そのようなペースト材料を用いることができれば、RFIDタグのコスト低減に大きく寄与することができる。
特開2000−311226号公報(段落[0066])
図1に示すように、RFIDタグの製造にあたっては、シート状のPET材等からなるベース13表面に形成したアンテナ12上に、ICチップ11を、そのICチップ11の電極上に形成したバンプ(金属突起)16を介して接続を行なうが、アンテナ12がペースト材を印刷して形成されたものである場合、その接続の際に以下の問題が生じるおそれがある。
図2は、アンテナの材料として金属を用いた場合(A)とペーストを用いた場合(B)とを比較して示した図である。
PET材のベース13上には、厚さの薄い金属からなるアンテナ121(図2(A))、あるいはペースト材からなるアンテナ122(図2(B))が形成されている。一方、図2(A),(B)のいずれの場合もICチップ11に形成された電極111には、バンプ16が形成されている。
図2(A),(B)は、いずれもアンテナ121,122が形成されたベース13上に、バンプ16付きのICチップ11を、バンプ16をベース13側に向けて配置し、バンプ16を介してICチップ11とアンテナ121,122が接続されて状態を示している。
この図2では、図1(B)に示す接着剤15およびカバーシート14は図示省略されている。この接続の際には、ICチップ11が図の上方から治具(図示せず)により押され、したがってバンプ16がアンテナ121,122に押圧力を与えることになる。このとき、図2(A)に示すように金属材料からなるアンテナ121の場合はそのアンテナ121の硬度が高いため問題はないが、図2(B)に示すようにペースト材からなるアンテナ122の場合は、そのアンテナ122がバンプ16から受ける押圧力により、ペースト材がバンプ16の形状に添って変形してしまい、そのためアンテナ122とバンプ16との接続部においてペースト材の圧縮屈曲が生じ、屈曲部でのパターン破断および沈み込みが発生し、ICチップ11とアンテナ122との間に必要な絶縁距離が確保されずに、無線通信の特性などRFIDタグとしての特性(以下「タグ特性」と称する)が変化し、RFIDタグを多数個製造したときのタグ特性のばらつきの原因となるという問題がある。
RFIDタグから離れて様々な種類のICチップを回路基板上に搭載することが広く行なわれているが、通常はICチップに多数のバンプが形成されており、回路基板上の配線材料としてペースト材を採用しても1つのバンプあたりの押圧力は低くペースト材の盛り上がりはほとんど問題にはならない。
これに対し、RFIDタグの場合は、ICチップとアンテナとを接続するバンプは1つのICチップにつき2個あるいは4個程度であり、1つのバンプあたりの押圧力が極めて大きくなり、上述のような沈み込みという問題が生じる。この押圧力を下げるには、ICチップをベース上に配置するための装置の、ICチップを配置するときの押圧力を、多数のバンプが形成された通常のICチップを配置するときと比べ極端に下げる必要があるが、ベースとICチップとの間には接着剤もあり、押圧力を極端に下げかつ高速に信頼性の高い接続を行なうことは困難である。
本発明は、上記事情に鑑み、アンテナの材料としてペーストを採用し、しかもバンプの沈み込みにより生じるタグ特性の変化の問題が回避されたRFIDタグおよびその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明のRFIDタグのうちの第1のRFIDタグは、
ベースと、
ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
アンテナ上にバンプを介して接続された、そのアンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
上記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
バンプに隣接した位置に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを押えるストッパを有することを特徴とする。
本発明の第1のRFIDタグは、上記のストッパが設けられているため、図2(B)を参照して説明した沈み込みが抑えられ、タグ特性変化の問題が回避される。
ここで、上記第1のRFIDタグにおいて、上記ストッパは、回路チップ上あるいはベース上に形成された、バンプが接合される部分に穴を有する膜からなるものであってもよく、あるいは、上記ストッパは、ベース上の、バンプが接続される部分に隣接した部分に設けられた突起からなるものであってもよい。
さらに、上記第1のRFIDタグにおいて、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続されるにあたりベースと回路チップとの間にフィラーを配合した接着剤が充填されて回路チップとベースとが固定されたものであって、上記フィラーがストッパを構成するものであってもよい。
また、上記目的を達成する本発明のRFIDタグのうちの第2のRFIDタグは、
ベースと、
ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
アンテナ上にバンプを介して接続された、そのアンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
上記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
ベースとアンテナとの間の、少なくともバンプ直下の部分に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑える硬質層を有することを特徴とする。
本発明の第2のRFIDタグは、上記の硬質層を有するため、上述の第1のRFIDタグと同様、図2(B)を参照して説明した沈み込みが抑えられ、タグ特性変化の問題が回避される。
また本発明のRFIDタグのうちの第3のRFIDタグは、
ベースと、
ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
アンテナ上にバンプを介して接続された、そのアンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
上記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
アンテナとバンプとの間に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑える導電性の支持台を有することを特徴とする。
本発明の第3のRFIDタグは、上記の支持台を有するため、上述の第1、第2のRFIDタグと同様、バンプの沈み込みが抑えられ、したがってタグ特性の安定したRFIDタグとなる。
また、本発明のRFIDタグのうちの第4のRFIDタグは、
ベースと、
ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
アンテナ上にバンプを介して接続された、そのアンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
上記アンテナが、樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであり、さらに上記アンテナは、バンプ直下の部分については、その直下の部分を除く部分と比べ上記金属フィラーの配合率が変更されたペーストで形成されることにより、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みが抑えられたものであることを特徴とする。
本発明の第4のRFIDタグは、アンテナのバンプ直下の部分について金属フィラーの配合率を異ならせて沈み込みを抑制するものであり、上記の第1〜第3のRFIDタグと同様、タグ特性を安定化させることができる。
さらに、本発明のRFIDタグのうちの第5のRFIDタグは、
ベースと、
ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
アンテナ上にバンプを介して接続された、そのアンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
上記アンテナが、樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するための金属フィラーが配合されるとともに、さらに、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑えるための硬質フィラーが配合されたペーストで形成されたものであることを特徴とする。
本発明の第5のRFIDタグは、そのRFIDタグを構成するアンテナが、上記の金属フィラー(例えばAg)に加え、さらに上記の硬質フィラー(例えばCu,Pd,Ni等)が配合されたペーストで形成されたものであるため、沈み込みが抑えられ、タグ特性の安定化が図られる。
また、上記目的を達成する本発明のRFIDタグ製造方法のうちの第1のRFIDタグ製造方法は、
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、そのバンプを介して回路チップとアンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
上記バンプに隣接した位置に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑えるストッパを形成するストッパ形成工程を含むことを特徴とする。
また、上記目的を達成する本発明のRFIDタグ製造方法のうちの第2のRFIDタグ製造方法は、
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、そのバンプを介して回路チップとアンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
ベースとアンテナとの間の、少なくともバンプ直下の部分に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑える硬質層を形成する硬質層形成工程を含むことを特徴とする。
さらに、上記目的を達成する本発明のRFIDタグ製造方法のうちの第3のRFIDタグ製造方法は、
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、そのバンプを介して回路チップとアンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
アンテナとバンプとの間に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑える導電性の支持台を形成する支持台形成工程を含むことを特徴とする。
また、上記目的を達成する本発明のRFIDタグ製造方法のうちの第4のRFIDタグ製造方法は、
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、そのバンプを介して回路チップとアンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
上記アンテナ印刷工程が、樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、アンテナの、バンプが接続される部分を除く部分を印刷する第1印刷工程と、上記ペーストと比べ上記金属フィラーの配合率が変更されたペーストを用いて、アンテナの、バンプが接続される部分を印刷することにより、バンプが接続される部分に、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑える硬質導電膜を形成する第2印刷工程とを有することを特徴とする。
さらに、上記目的を達成する本発明のRFIDタグ製造方法のうちの第5のRFIDタグ製造方法は、
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、そのバンプを介して回路チップとアンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
上記アンテナ印刷工程が、樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するための金属フィラーが配合されるとともに、さらに、バンプ付きの回路チップがアンテナに接続される際の押圧力によるバンプの沈み込みを抑えるための硬質フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷する工程であることを特徴とする。
以上のように、本発明によれば、アンテナの材料としてペーストを採用し、しかもバンプ付き回路チップのバンプの押圧力によるバンプの沈み込みが抑えられ、タグ特性を安定化させることができる。
以下、本発明の各種の実施形態について説明する。
図3は、本発明の第1実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図3および後述する各図において、前述した図2に示すRFIDタグの構成要素に対応する構成要素には図2に付した符号と同一の符号を付して示して説明を省略し、相違点のみについて説明する。尚、この図3および後述する各図においても、原則的には、図2と同様、ベース13とICチップ11との間の接着剤15および上部を覆うベースシート14(図2(B)参照)は図示省略されている。ただし、後述する図20については接着剤には特徴があり接着剤についても示されている。また、以下に説明する各実施形態では、その実施形態において特に断らない限り、ベース13はPET材からなり、アンテナ122は、エポキシ等の樹脂材料にAgフィラーが配合されたペーストを用いて形成されている。
図3に示すRFIDタグ1Aには、ICチップ11上に、バンプの位置に穴を有するポリイミド膜21が形成されている。このポリイミド膜21は、バンプ16の高さよりも若干低い(薄い)膜であり、バンプ16およびポリイミド膜21付きのICチップ11がアンテナ122に接続される際にポリイミド膜21がストッパとして機能しバンプ16の沈み込み(図2(B)参照)が抑えられ、タグ特性が安定したRFIDタグとなる。
図4は、本発明の第2実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図4に示すRFIDタグ1Bには、ベース13上に、穴あきのPET材22が貼り合わされている。このPET材22の厚さはバンプ16の高さよりも若干薄くなっており、バンプ16付きのICチップ11がアンテナ122に接続される際にPET材22がストッパとして機能し、バンプ16の沈み込みが抑えられ、タグ特性が安定したRFIDタグとなる。
図5は、本発明の第3実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図5に示すRFIDタグ1Cの場合、ICチップ11が接続される前のベース13側にバンプ16の高さよりも若干低い突起(ストッパ部23)が形成されており、したがってバンプ16付きのICチップ11の接続の際に、そのストッパ部23の作用により、バンプ16の沈み込みが抑えられる。
図6は、本発明の第3実施形態(図5参照)の変形例としてのRFIDタグを示す図である。図6(A)は断面図、図6(B)は、ICチップの搭載前のベースを示す平面図、図6(C)は、ICチップ搭載後のベースを示す平面図である。ただし、図6(C)ではICチップはその位置関係を破線で示すにとどめている。
この図6に示すRFIDタグ1C’の場合も、図5の場合と同様、ICチップ11が接続される前のベース13側にバンプ16の高さよりも若干低い突起(ストッパ部23)が形成されており、バンプ16付きのICチップ11の接続の際に、そのストッパ部23の作用により、バンプ16の沈み込みが抑えられる。また、この図6に示すRFIDタグ1C’の場合、ストッパ部23は、ベース13上のバンプ16と接続される部分を除く、ICチップ11が搭載される部分に、アンテナ122の両端間のアンテナパターンの無い領域をほとんど埋めるように広く広がっている。このように、ストッパ部23をアンテナパターンの無い領域の形状に合わせることにより、ベース13上への実装時のICチップ11のバランス(姿勢)を保つことができるとともに、ICチップ11とベース13との間の密着性を向上させることができる。
図7は本発明の第4実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図7に示すRFIDタグ1Dの場合、接着剤(図示省略)中にバンプ16の高さよりも若干小径のプラスチックフィラー24が配合されており、したがってバンプ16付きのICチップ11の接続の際にそのプラスチックフィラー24がストッパとして作用し、バンプ16の沈み込みが抑えられる。
図8は、本発明の第5実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図8に示すRFIDタグ1Eの場合、PET材からなるベース13とアンテナ122との間に硬質樹脂層25が設けられている。このため、バンプ16付きのICチップ11の接続にあたり、その硬質樹脂層25の存在によりバンプ16の沈み込みが抑えられる。
図9は、本発明の第6実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図9に示すRFIDタグ1Fの場合、PET材からなるベース13とアンテナ122との間に、そのベース13よりも硬質のPET材シート26が配置されている。このため、図8に示すRFIDタグ1Eの場合と同様、バンプ16付きのICチップ11の接続にあたり、その硬質のPET材シート26の存在によりバンプ16の沈み込みが抑えられる。
図10は、本発明の第7実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図10に示すRFIDタグ1Gの場合、ベース13上のアンテナ122のさらに上の、バンプ16の接続部分に、金属性の支持台27が配置されており、バンプ16は、直接にはその支持台27に接続されその支持台27を介してアンテナ122と接続されている。このRFIDタグ1Gの場合、その支持台27の存在によりバンプ16の沈み込みが防止される。
図11は、本発明の第8実施形態のRFIDタグの断面図である。
この図11に示すRFIDタグ1Hの場合、アンテナ122のバンプ16と接続されるバンプ搭載部122aが、そのバンプ搭載部122aを除く部分と比べAgフィラーの充填率が変更されて高い硬度を有しており、このため、その部分122aに接続されるバンプ16から押圧力を受けても沈み込みが抑えられる。
図12は、本発明の第9実施形態のRFIDタグの、ベースおよびアンテナの部分の断面図である。
従来、上述の沈み込みによる不具合は想定されておらず、したがってアンテナ122の材料としてペーストを採用するにあたっては、通常は、図12(A)に示すようにエポキシ等の樹脂材料にAgフィラー等、そのペーストにアンテナとして必要な導電性を与えるためのフィラーを配合することに主眼が置かれている。
これに対し、ここでは図12(B)にベースおよびアンテナを示すRFIDタグ1Iの場合、エポキシ等の樹脂材料に、Agフィラー等、そのペーストにアンテナとして必要な導電性を与えるためのフィラーを配合するとともに、例えばCu、Pd、Ni等、そのペーストを材料としたアンテナに必要な硬度を与えるためのフィラー28を配合し、そのような配合のペーストを用いてアンテナ122bを形成する。こうすることにより、バンプ16からの押圧力によるバンプ16の沈み込みが防止される。
次に、これまで説明したきた各種のRFIDタグ1A〜1Iの製造方法を説明する。
図13は、ICチップの電極上へのバンプの形成方法の説明図である。
先ず図13(A)に示すように穴あきの治具20の先端からバンプとして形成される細線金属ワイヤ30を突出させ、その細線金属ワイヤ30と放電電極40との間に放電を生じさせる。すると、その放電エネルギーにより、細線金属ワイヤ30の先端部分が溶解して金属ボール31が形成される。
次に、図13(B)に示すように、その金属ボール31をICチップ11の電極111上に押し当てて治具20を介してその金属ボール31に超音波を与える。すると、その超音波により金属ボール31がICチップ11の電極111に接合され、治具20を取り去るとその金属ボール31とその根元の細線金属ワイヤ30が引きちぎられて、図13(C)に示すように、ICチップ11の電極111上にバンプの原型32が形成される。
図14は、バンプのレベリング処理方法を示す図、図15は、レベリング処理後のバンプを示す図ある。
図13に示すようにしてICチップ11の電極111上にバンプの原型32を形成した後、図14に示すように、そのバンプの原型32を、ガラス50の平坦な表面に押し付ける。この押し付けるときの荷重および押し付ける高さにより、低荷重・高位置のときは図15(A)、中荷重・中位置のときは図15(B)、高荷重・低位置のときは図15(C)に示す形状のバンプ16が形成される。
図16は、図3に示す穴あきのポリイミド膜からなるストッパを有するRFIDタグの製造方法の説明である。
ICチップ11の、電極111を有する側の面にポリイミド膜211が形成され(図16(A))、レーザ加工あるいはエッチング加工により、電極111の部分のみ、そのポリイミド膜を除去する。これによりバンプが形成される電極111の部分に穴212を有するポリイミド膜21が形成される(図16(B))。その後、図16(C)に示すように、その電極111の上に、図13に示すようにしてバンプの原型32を形成し、そのバンプの原型32が図14、図15に示すようにしてレベリングを行なって、ポリイミド膜21よりも高さが若干高いバンプ16を形成し、そのバンプ16をベース13側に向けてバンブ16とアンテナ122を接続する(図16(D))。このとき、ポリイミド膜121がストッパとして機能し、バンプ16の沈み込みが抑えられる。
図17は、図4に示す穴あきPET材からなるストッパを有するRFIDタグの製造方法の説明図である。
穴221を有するPET材22を用意して(図17(A))、そのPET材22を、アンテナ122が形成されたベース13上に、穴221がバンプの接続部に一致するように貼り合わせる(図17(B))。その後、ICチップ11を実装する(図17(C))。このときPET材22がストッパの役割りをなし、バンプ16の沈み込みが防止される。
図18は、図5に示すストッパ部を有するRFIDタグの製造方法の説明図である。
ベース13のアンテナ122が構成された面に、絶縁材料からなる膜231を形成する(図18(A))。この膜231の材料としては、例えばポリエチレン、エポキシ、ポリエステル等を利用可能であり、ここで形成する膜231は後で形成されるバンプ16の高さよりも若干薄い厚さを有している。次に化学的なエッチング処理により、アンテナ122の、バンプと接続される部分に隣接した部分のみ膜231を残して残りの不要部分を除去し、こうしてベース13上にストッパ部23を形成する(図18(B))。バンプ16付きのICチップ11をベース13上に実装してバンプ16とアンテナ122とを接続すると、ストッパ部23は接続前のバンプ16よりも若干低い高さに作られており、バンプ16はアンテナ122に確実に接続されるとともにそのストッパ部23の作用によりバンプ16の沈み込みは防止される。
尚、この図18では、図5に示す第3実施形態のRFIDタグの製造方法について説明したが、図6に示す第3実施形態の変形例としてのRFIDタグも、ストッパ部23の平面形状を図6(B)に示す平面形状とすることで製造することができる。
図19は、図7に示すプラスチックフィラーを含むRFIDタグの製造方法の説明図である。
図19(A)に示すように、アンテナ122が形成されたベース13上の、バンプと接続される部分に隣接した、ただしバンプに接続される部分には広がらない位置に、プラスチックフィラー24が配合された接着剤15を塗布する。ここでは、この塗布は、ノズルの先端からプラスチックフィラー24入りの接着剤をベース13上に供給することにより行なわれる。
その後、図19(B)に示すように、バンプ16付きのICチップ11がベース13上に実装されてバンプ16とアンテナ122が接続されるが、プラスチックフィラー24はそのバンプ16の高さよりも直径が若干小さいものであり、バンプ16がアンテナ122に確実に接続されるとともにプラスチックフィラー24がストッパとなってバンプ16の沈み込みが防止される。
図20は、図8に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。
ここでは、硬質樹脂シート251を用意し(図20(A))、その硬質樹脂シート251をベース13上に接着剤252で貼り付けることにより、硬質樹脂層25を形成する(図20(B))。
その後、その上にアンテナ122のパターンに穴が設けられた印刷マスタ80を配置し、スキージ81でアンテナ122の材料となるペースト83をその印刷マスタ80の穴に押し込むように印刷する(図14(C))。
その後、その突起形成用の印刷マスタ80を取り外して乾燥硬化させることにより、アンテナ122が形成される。
ここで、印刷マスタ80としては、エッチング処理により所望の部分に穴があけられた、AlやSUS等の薄板を採用することができる。
尚、ペーストの印刷技術は周知であるため、他の実施形態ではアンテナ122自体の製造方法の説明は省略したが、ここでの説明による方法と同様の方法を採用することができる。
硬質樹脂層25の上にアンテナ122が印刷されると、次に、図20(D)に示すように、そのアンテナ122上にバンプ16が押し当てられた状態にICチップ11が実装されるが、硬質樹脂層25の存在によりバンプ16の沈み込みが防止される。
図21は、図9に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。
ここでは、PET材からなるベース13よりも硬質のPET材シート26が用意されて(図21(A))、その硬質のPET材シート26が接着剤252によりベース13上に貼り付けられる(図21(B))。ここで、ベース13の材料としてはポリプロピレン系の軟質のPET材が用いられており、その上に貼付される硬質のPET材シート26としては、ポリエステル系あるいはナイロン系のものを採用することができる。
その後の製造工程は図20の場合と同様であり、そのPET材シート26上にアンテナ122が印刷されて(図21(C))、ICチップ11が実装される(図21(D))。この実装にあたっては、硬質のPET材シート26の存在により、バンプ16の沈み込みが防止される。
図22は、図10に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。
ここでは、ベース13上にアンテナ122を印刷した後、そのアンテナ122上の、バンプと接続される部分に導電性の接着剤あるいは粘着剤271を供給して(図22(B))、その上に金属製の支持台27を貼り付ける(図27(C))。その後、その支持台27の上にバンプ16が乗るようにしてICチップ11が実装される(図27(D))。この実装にあたっては、支持台27の存在により、バンプ16の沈み込みが防止される。
図23は、図11に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。
ここでは、アンテナのバンプと接続されるバンプ搭載部を除いた部分を印刷するための印刷マスク801を用意し、エポキシ等の樹脂材料にAgフィラーを配合した印刷用ペースト83を用いてスキージ81によりベース13上に印刷する(図23(A))。その後、今度は、アンテナのバンプ搭載部を印刷するための印刷マスク802を用意しアンテナの、バンプ搭載部を除いた部分の印刷に用いたペースト83と比べ硬度を増すようにAgフィラーの配合率を変更した印刷用ペースト831を用いてスキージ81によりベース13上に印刷する(図23(B))。このようにして、バンプ搭載部122aを含むアンテナ122を形成した後、ベース13上にICチップ11が実装される(図23(C))。この実装時において、アンテナ122の、バンプ16が接続されるバンプ搭載部122aは高い硬度を有しているためバンプ16の沈み込みが防止される。
図24は、図12に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。
ここでは、アンテナの材料として、エポキシ等の樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するためAgフィラーのほか、バンプの沈み込みを抑えるレベルに硬質化するための、例えばCu,Pd,Ni等のフィラーを配合したペースト832を使ってベース13上にアンテナを印刷し(図24(A))、その後その硬質のアンテナ122bが形成されたベース13上に、ICチップ11が、そのICチップ11に形成されているバンプ16とアンテナ122bとが接続されるようにしてベース13上に実装される(図24(B))。このとき、アンテナ122bは十分な硬度を有しているためバンプ16の沈み込みが防止される。
以下、本発明の各種態様を付記する。
(付記1)
ベースと、
前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
前記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
前記バンプに隣接した位置に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを押えるストッパを有することを特徴とするRFIDタグ。
(付記2)
前記ストッパが、前記回路チップ上あるいは前記ベース上に形成された、前記バンプが接合される部分に穴を有する膜からなることを特徴とする付記1記載のRFIDタグ。
(付記3)
前記ストッパが、前記ベース上の、バンプが接続される部分に隣接した部分に設けられた突起からなることを特徴とする付記1記載のRFIDタグ。
(付記4)
バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続されるにあたり前記ベースと前記回路チップとの間にフィラーを配合した接着剤が充填されて該回路チップと該ベースとが固定されたものであって、
前記フィラーが前記ストッパを構成するものであることを特徴とする付記1記載のRFIDタグ。
(付記5)
ベースと、
前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
前記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
前記ベースと前記アンテナとの間の、少なくともバンプ直下の部分に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える硬質層を有することを特徴とするRFIDタグ。
(付記6)
ベースと、
前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
前記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
前記アンテナと前記バンプとの間に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える導電性の支持台を有することを特徴とするRFIDタグ。
(付記7)
ベースと、
前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
前記アンテナが、樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであり、さらに該アンテナは、バンプ直下の部分については、該直下の部分を除く部分と比べ前記金属フィラーの配合率が変更されたペーストで形成されることにより、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みが抑えられたものであることを特徴とするRFIDタグ。
(付記8)
ベースと、
前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
前記アンテナが、樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するための金属フィラーが配合されるとともに、さらに、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑えるための硬質フィラーが配合されたペーストで形成されたものであることを特徴とするRFIDタグ。
(付記9)
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
前記バンプに隣接した位置に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑えるストッパを形成するストッパ形成工程を含むことを特徴とするRFIDタグ製造方法。
(付記10)
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
前記ベースと前記アンテナとの間の、少なくともバンプ直下の部分に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える硬質層を形成する硬質層形成工程を含むことを特徴とするRFIDタグ製造方法。
(付記11)
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
前記アンテナと前記バンプとの間に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える導電性の支持台を形成する支持台形成工程を含むことを特徴とするRFIDタグ製造方法。
(付記12)
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
前記アンテナ印刷工程が、樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、前記アンテナの、前記バンプが接続される部分を除く部分を印刷する第1印刷工程と、前記ペーストと比べ前記金属フィラーの配合率が変更されたペーストを用いて、前記アンテナの、前記バンプが接続される部分を印刷することにより、該バンプが接続される部分に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える硬質導電膜を形成する第2印刷工程とを有することを特徴とするRFIDタグ製造方法。
(付記13)
樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
前記アンテナ印刷工程が、樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するための金属フィラーが配合されるとともに、さらに、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑えるための硬質フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷する工程であることを特徴とするRFIDタグ製造方法。
RFIDタグの一例を示す正面図(A)および側面断面図(B)である。 アンテナの材料として金属を用いた場合(A)とペーストを用いた場合(B)とを比較して示す図である。 本発明の第1実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第2実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第3実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第3実施形態の変形例としてのRFIDタグを示す図である。 本発明の第4実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第5実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第6実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第7実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第8実施形態のRFIDタグの断面図である。 本発明の第9実施形態のRFIDタグの、ベースおよびアンテナの部分の断面図である。 ICチップの電極上へのバンプの形成方法の説明図である。 バンプのレベリング処理方法を示す図である。 レベリング処理後のバンプを示す図である。 図3に示す穴あきのポリイミド膜からなるストッパを有するRFIDタグの製造方法の説明である。 図4に示す穴あきPET材からなるストッパを有するRFIDタグの製造方法の説明図である。 図5に示すストッパ部を有するRFIDタグの製造方法の説明図である。 図7に示すプラスチックフィラーを含むRFIDタグの製造方法の説明図である。 図8に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。 図9に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。 図10に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。 図11に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。 図12に示すRFIDタグの製造方法の説明図である。
符号の説明
1,1A,1B,1C,1D,1E,1F,1G,1I RFIDタグ
11 ICチップ
111 電極
12,121,122 アンテナ
122a ペースト材の盛り上がり
122b 隙き間
13 ベース
14 カバーシート
15 接着剤
16 バンプ
20 治具
21 ポリイミド膜
22 穴あきのPET材
23 ストッパ部
24 プラスチックフィラー
25 硬質樹脂層
26 PET材シート
27 支持台
30 金属ワイヤ
31 金属ボール
32 バンプの原型
40 放電電極
80 印刷マスタ
81 スキージ
83,831,832 ペースト

Claims (10)

  1. ベースと、
    前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
    前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
    前記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
    前記バンプに隣接した位置に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを押えるストッパを有することを特徴とするRFIDタグ。
  2. ベースと、
    前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
    前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
    前記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
    前記ベースと前記アンテナとの間の、少なくともバンプ直下の部分に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える硬質層を有することを特徴とするRFIDタグ。
  3. ベースと、
    前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
    前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
    前記アンテナが樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであって、
    前記アンテナと前記バンプとの間に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える導電性の支持台を有することを特徴とするRFIDタグ。
  4. ベースと、
    前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
    前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
    前記アンテナが、樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストで形成されたものであり、さらに該アンテナは、バンプ直下の部分については、該直下の部分を除く部分と比べ前記金属フィラーの配合率が変更されたペーストで形成されることにより、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みが抑えられたものであることを特徴とするRFIDタグ。
  5. ベースと、
    前記ベース上に設けられた通信用のアンテナと、
    前記アンテナ上にバンプを介して接続された、前記アンテナを介して無線通信を行なう回路チップとを備え、
    前記アンテナが、樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するための金属フィラーが配合されるとともに、さらに、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑えるための硬質フィラーが配合されたペーストで形成されたものであることを特徴とするRFIDタグ。
  6. 樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
    前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
    前記バンプに隣接した位置に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑えるストッパを形成するストッパ形成工程を含むことを特徴とするRFIDタグ製造方法。
  7. 樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
    前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
    前記ベースと前記アンテナとの間の、少なくともバンプ直下の部分に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える硬質層を形成する硬質層形成工程を含むことを特徴とするRFIDタグ製造方法。
  8. 樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
    前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
    前記アンテナと前記バンプとの間に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える導電性の支持台を形成する支持台形成工程を含むことを特徴とするRFIDタグ製造方法。
  9. 樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
    前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
    前記アンテナ印刷工程が、樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、前記アンテナの、前記バンプが接続される部分を除く部分を印刷する第1印刷工程と、前記ペーストと比べ前記金属フィラーの配合率が変更されたペーストを用いて、前記アンテナの、前記バンプが接続される部分を印刷することにより、該バンプが接続される部分に、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑える硬質導電膜を形成する第2印刷工程とを有することを特徴とするRFIDタグ製造方法。
  10. 樹脂材料に金属フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷するアンテナ印刷工程と、
    前記アンテナを介して無線通信を行なう、バンプ付きの回路チップを、該バンプを介して該回路チップと該アンテナが接続された状態に実装する回路チップ実装工程とを有するRFIDタグ製造方法であって、
    前記アンテナ印刷工程が、樹脂材料に、アンテナとして必要な導電性を付与するための金属フィラーが配合されるとともに、さらに、バンプ付きの回路チップが前記アンテナに接続される際の押圧力による該バンプの沈み込みを抑えるための硬質フィラーが配合されたペーストを用いて、ベース上に通信用のアンテナを印刷する工程であることを特徴とするRFIDタグ製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010238082A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Toshiba Corp Icカード
JP2011135083A (ja) * 2009-12-23 2011-07-07 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives 少なくとも1つのチップとワイヤ要素をアセンブルする方法、変形する接続要素を有する電子チップ、複数のチップを製造する方法、及び、少なくとも1つのチップとワイヤ要素のアセンブリ

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008007326A2 (en) * 2006-07-10 2008-01-17 Nxp B.V. Transponder and method of producing a transponder
WO2008053702A1 (en) * 2006-11-01 2008-05-08 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Non-contact ic tag label and method of producing the same
WO2008143043A1 (ja) * 2007-05-14 2008-11-27 Tateyama Kagaku Industry Co., Ltd. 無線icタグおよび無線icタグの製造方法
US7651882B1 (en) * 2007-08-09 2010-01-26 Impinj, Inc. RFID tag circuit die with shielding layer to control I/O bump flow
JP5296630B2 (ja) * 2009-08-06 2013-09-25 富士通株式会社 無線タグおよび無線タグ製造方法
US8860227B2 (en) * 2011-06-22 2014-10-14 Panasonic Corporation Semiconductor substrate having dot marks and method of manufacturing the same
DE102017122052A1 (de) * 2017-09-22 2019-03-28 Schreiner Group Gmbh & Co. Kg RFID-Etikett mit Schutz der RFID-Funktion
FR3083643B1 (fr) * 2018-07-04 2023-01-13 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation d'un dispositif electronique

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11204578A (ja) * 1998-01-20 1999-07-30 Hitachi Chem Co Ltd 導電ぺースト印刷回路へのicベアチップ実装方法
JP2000195900A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Denso Corp 半導体装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5866951A (en) * 1990-10-12 1999-02-02 Robert Bosch Gmbh Hybrid circuit with an electrically conductive adhesive
CN1123067C (zh) 1995-05-22 2003-10-01 日立化成工业株式会社 具有与布线基板电连接的半导体芯片的半导体器件
WO1998059318A1 (fr) * 1997-06-23 1998-12-30 Rohm Co., Ltd. Module pour circuit integre et carte a circuit integre
FR2775810B1 (fr) * 1998-03-09 2000-04-28 Gemplus Card Int Procede de fabrication de cartes sans contact
JP2000311226A (ja) 1998-07-28 2000-11-07 Toshiba Corp 無線icカード及びその製造方法並びに無線icカード読取り書込みシステム
CN1243294A (zh) * 1998-07-28 2000-02-02 东芝株式会社 集成电路卡和数据读写装置和无线标记及它们的制造方法
EP0977145A3 (en) 1998-07-28 2002-11-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Radio IC card
FR2781924B1 (fr) 1998-07-30 2002-11-29 St Microelectronics Sa Procede de montage de circuits integres
US6891110B1 (en) 1999-03-24 2005-05-10 Motorola, Inc. Circuit chip connector and method of connecting a circuit chip
EP1167068A4 (en) 1999-10-08 2007-04-04 Dainippon Printing Co Ltd TOUCH-FREE DATA CARRIER AND IC CHIP
JP3451373B2 (ja) 1999-11-24 2003-09-29 オムロン株式会社 電磁波読み取り可能なデータキャリアの製造方法
US6853087B2 (en) * 2000-09-19 2005-02-08 Nanopierce Technologies, Inc. Component and antennae assembly in radio frequency identification devices

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11204578A (ja) * 1998-01-20 1999-07-30 Hitachi Chem Co Ltd 導電ぺースト印刷回路へのicベアチップ実装方法
JP2000195900A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Denso Corp 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010238082A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Toshiba Corp Icカード
JP2011135083A (ja) * 2009-12-23 2011-07-07 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives 少なくとも1つのチップとワイヤ要素をアセンブルする方法、変形する接続要素を有する電子チップ、複数のチップを製造する方法、及び、少なくとも1つのチップとワイヤ要素のアセンブリ

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