JP2006131490A - 脆性材料の割断加工システム及びその方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 被加工基板の縁部における切落とし加工等を高品位でかつ高速に実現することができる、簡易でかつ安価な、脆性材料の割断加工システムを提供する。
【解決手段】 割断加工システムは、被加工基板を保持する基板保持機構と、被加工基板にレーザビームを照射して局部的に加熱することにより割断加工を行う加工部ユニットとを備え、該加工部ユニットにより被加工基板上で局部的に加熱された領域が該被加工基板の割断予定線に沿って移動するよう、基板保持機構と加工部ユニットとが互いに相対的に移動するよう構成されており、前記基板保持機構は、被加工基板の縁部を保持する端材クランパと、該端材クランパから離間する側に設けられ被加工基板の下面を支持する高さホルダとを有し、端材クランパのうち少なくとも被加工基板に当接する部分は比較的剛性の高い弾性材料からなり、高さホルダは、割断加工時に被加工基板の水平移動を許容する低摩擦材料からなる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、脆性材料(硬く脆い材料)からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工システムに係り、とりわけ、被加工基板の縁部における切落とし加工等の割断加工を高品位にかつ高速に実現することができる、脆性材料の割断加工システム及びその方法に関する。
従来から、液晶ディスプレイパネルやプラズマディスプレイパネルなどに用いられるガラス基板などを割断する方法として、ガラス基板などからなる被加工基板を局部的に加熱及び冷却し、その際に生じる熱応力(引張応力)によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う方法が提案されている。
このような従来の割断加工方法においては、例えば、ステージ上に載置された被加工基板に対してレーザビームを照射することにより被加工基板を局部的に加熱し、この局部的に加熱が行われた領域に生じる熱応力(引張応力)によって被加工基板に亀裂を生じさせる。また、このようにして被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域を割断予定線に沿って移動させることにより、被加工基板に生じた亀裂を割断予定線に沿って進展させる。この場合、被加工基板のうち局部的に加熱が行われた領域を、冷却剤の吹き付け等によって局部的に冷却すると、当該領域に生じる熱応力(引張応力)をより増大させることが可能となり、亀裂の進展を促進することができる。
ところで、このような従来の割断加工方法において、被加工基板の割断加工を精度良く行うためには、被加工基板に生じる亀裂を割断予定線に沿って精度良く進展させる必要がある。
このための従来の手法としては、被加工基板に対するレーザビームの照射条件や、レーザビームの照射点と冷却点との相対的な位置関係等を制御することにより、被加工基板に生じる亀裂を安定的に進展させる手法が提案されている(例えば特許文献1〜3参照)。
しかしながら、上述したような従来の手法はいずれも、レーザビームの照射や冷却剤の吹き付け等に関して複雑な制御を伴うので、高価な制御系や光学系等が必要となり、装置が複雑でかつ高価なものになるという問題がある。
これに対し、上述したような従来の手法以外にも、被加工基板を保持する基板保持機構を改良することにより、被加工基板に生じる亀裂を安定的に進展させる手法も提案されている。具体的には例えば、特許文献4に記載されているように、被加工基板の割断予定線の両側に当該被加工基板に剛性を付与する固定用治具を設け、割断予定性を挟んだ被加工基板の両側での剛性を均等にすることにより、被加工基板の割断予定線に沿った亀裂の直進性を確保する手法が提案されている。なお、特許文献4に記載された手法では、固定用治具のうち被加工基板に当接する部分は比較的剛性の低い弾性材料であるゴムからなっている。
特開平7−328781号公報 特開平7−323384号公報 特開2003−34545号公報 特開2002−110589号公報
しかしながら、上記特許文献4に記載された手法では、被加工基板の中央部を割断する場合には亀裂が精度良く直進するものの、切落とし加工のように被加工基板の縁部を割断する場合には亀裂の進展経路が湾曲してしまい、精度の良い直進性を得ることができないという問題がある。特に、この問題は、割断予定線が被加工基板の自由端である縁部に近い場合(例えば10mm程度しか離れていない場合)に顕著となる。なお、ここでいう「精度の良い直進性」とは、割断予定線からのずれに関して±10分の数ミリメートル以下のオーダーを問題にするものであり、±0.4〜1mm程度のずれを持つ場合には精度の悪い状態であり、±0.1〜0.2mm程度以下のずれを持つ場合には精度の良い状態である。なお、より望ましい状態は、±数十μm程度のずれを持つ状態である。(このような直進性の精度に関しては、参考資料(機械学会論文集A編、Vol.68、No.670、pp.993〜)を参照されたい。)
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、被加工基板の縁部における切落とし加工等の割断加工を高品位でかつ高速に実現することができる、簡易でかつ安価な、脆性材料の割断加工システム及びその方法を提供することを目的とする。
本発明は、その第1の解決手段として、脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工システムにおいて、被加工基板を保持する基板保持機構と、前記基板保持機構により保持された前記被加工基板上にレーザビームを照射して当該被加工基板を局部的に加熱することにより当該被加工基板に対して割断加工を行う加工部ユニットとを備え、前記加工部ユニットにより前記被加工基板上で局部的に加熱が行われる領域が当該被加工基板の割断予定線に沿って移動するよう、前記基板保持機構と前記加工部ユニットとが互いに相対的に移動するように構成されており、前記基板保持機構は、前記被加工基板の縁部を当該被加工基板の一方の表面及びそれと反対側の他方の表面の両側から保持する端材クランパと、前記被加工基板の前記縁部に沿って延びる割断予定線を基準として前記端材クランパから離間する側に設けられ、前記端材クランパにより支持された前記被加工基板の他方の表面を支持する高さホルダとを有し、前記端材クランパのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は比較的剛性の高い弾性材料からなり、前記高さホルダは割断加工時に前記被加工基板がその延在面に沿って変位するよう当該被加工基板を水平移動可能に支持することを特徴とする割断加工システムを提供する。
なお、本発明の第1の解決手段において、前記加工部ユニットは、前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域に冷却剤を吹き付けて当該領域を冷却することが好ましい。
また、本発明の第1の解決手段においては、前記端材クランパによる前記被加工基板の前記縁部における保持幅が10mm以下であることが好ましい。
さらに、本発明の第1の解決手段において、前記弾性材料はそのヤング率が10〜数1000MPaの範囲にあることが好ましい。ここで、前記弾性材料は樹脂材料であることが好ましい。また、前記樹脂材料はフッ素系樹脂を含むことが好ましい。
さらに、本発明の第1の解決手段において、前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する低摩擦材料からなることが好ましい。また、前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する変形部材を有していてもよい。
本発明は、その第2の解決手段として、脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工方法において、割断対象となる被加工基板を基板保持機構により保持する保持工程と、前記保持工程にて保持された前記被加工基板上にレーザビームを照射して当該被加工基板を局部的に加熱しつつ、当該被加工基板上で局部的に加熱が行われる領域を、当該被加工基板の縁部に沿って延びる割断予定線に沿って移動させる割断工程とを含み、前記保持工程にて前記被加工基板を保持する前記基板保持機構は、前記被加工基板の縁部を当該被加工基板の一方の表面及びそれと反対側の他方の表面の両側から保持する端材クランパと、前記被加工基板の前記縁部に沿って延びる割断予定線を基準として前記端材クランパから離間する側に設けられ、前記端材クランパにより支持された前記被加工基板の他方の表面を支持する高さホルダとを有し、前記端材クランパのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は比較的剛性の高い弾性材料からなり、前記高さホルダは割断加工時に前記被加工基板がその延在面に沿って変位するよう当該被加工基板を水平移動可能に支持することを特徴とする割断加工方法を提供する。
なお、本発明の第2の解決手段においては、前記割断工程において前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域に冷却剤を吹き付けて当該領域を冷却することが好ましい。
また、本発明の第2の解決手段においては、前記端材クランパによる前記被加工基板の前記縁部における保持幅が10mm以下であることが好ましい。
さらに、本発明の第2の解決手段において、前記弾性材料はそのヤング率が10〜数1000MPaの範囲にあることが好ましい。ここで、前記弾性材料は樹脂材料であることが好ましい。また、前記樹脂材料はフッ素系樹脂を含むことが好ましい。
さらに、本発明の第2の解決手段において、前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する低摩擦材料からなることが好ましい。また、前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する変形部材を有していてもよい。
本発明によれば、被加工基板の縁部の一方の表面及び他方の表面が、端材クランパに取り付けられた比較的剛性の高い弾性材料からなる部分により保持されるとともに、被加工基板の他方の表面が、割断加工時に被加工基板がその延在面に沿って変位するよう当該被加工基板を水平移動可能に支持する高さホルダにより支持されているので、被加工基板の縁部における切落とし加工等の割断加工を高品位でかつ高速に実現することができる。特に、本発明によれば、従来の手法のように、レーザビームの照射等に関して複雑な制御を行う必要がないので、高価な制御系や光学系等が不要であり、装置が簡易でかつ安価になる。
発明を実施するための形態
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
まず、図1乃至図4により、本発明の一実施の形態に係る割断加工システムの構成について説明する。
図1及び図2に示すように、割断加工システム1は、ガラス等の脆性材料からなる被加工基板51を局部的に加熱し、その熱応力によって被加工基板51に亀裂を生じさせて割断加工を行うものであり、被加工基板51を保持する基板保持機構10と、基板保持機構10により保持された被加工基板51に対して割断加工を行うための加工部ユニット5とを備えている。なおここでは、割断対象となる被加工基板51として、ガラス基板を用いるものとする。
このうち、基板保持機構10は、被加工基板51の縁部を当該被加工基板51の上面及びそれと反対側の下面の両側から保持する端材クランパ12と、被加工基板51の縁部に沿って延びる割断予定線61を基準として端材クランパ12から離間する側に設けられ、端材クランパ12により支持された被加工基板51の下面を支持する高さホルダ19とを有している。なお、端材クランパ12及び各高さホルダ19はいずれもベース11上に固定されており、端材クランパ12及び各高さホルダ19上に載置された被加工基板51がベース11に対して平行になるようにその高さ等が決められている。
ここで、端材クランパ12は、被加工基板51の下面を支持する端材ホルダ15と、端材ホルダ15との間で被加工基板51を挟持するよう被加工基板51の上面を加圧する加圧バー14とを有している。
また、加圧バー14及び端材ホルダ15のうち被加工基板51に当接する部分には樹脂材14a,15aが取り付けられている。なお、樹脂材14a,15aは比較的剛性の高い弾性材料からなっており、そのヤング率は10〜数1000MPa(1MPa=1×10+9N/m)の範囲にあることが好ましい。なおここでは、樹脂材14a,15aは、同一の材料からなっている。より具体的には、樹脂材14a,15aとしては、フッ素系樹脂(テフロン(登録商標)などのPTFEや、PCTFE、PFA等)、ポリアセタール樹脂(POM)、MCナイロン等を用いることが好ましい。なおここで、典型的な材料のヤング率を列挙すると、PTFEは0.3〜0.6GPa(1GPa=1×10+12N/m)、ポリエチレンは0.4〜1.3GPaである。これに対し、鉄(鋼)は200〜220GPa、銅は130GPa、ゴムは数MPaである。
また、樹脂材14a,15aは、その厚さが10分の数mm〜10mmの範囲にあることが好ましい。ここで、樹脂材14a,15aの厚さが薄すぎると、被加工基板51を加圧したときに傷等がつきやすく、樹脂材14a,15aにより保持された部分での変形の程度が不十分となる。また逆に、樹脂材14a,15aの厚さが厚くなりすぎると、被加工基板51のうち樹脂材14a,15aにより保持された部分での変形の程度が大きくなり被加工基板51の割断予定線61を挟んだ左右の部分での変形が非対称となる。
ここで、加圧バー14は、被加工基板51の全長に亘って被加工基板51の縁部を加圧するよう一体の剛体からなっており、加圧バー14による加圧が行われていない状態では被加工基板51の上面から数mm程度浮いた状態で取り付けられている。なお、加圧バー14は、そのヤング率が100GPa以上の金属からなることが好ましい。また、加圧バー14と端材ホルダ15とにより挟持される被加工基板51の縁部における保持幅は10mm以下であることが好ましい。具体的には例えば、被加工基板51の縁部にて10mm幅の部分を取り除く切落とし加工を行うものとすると、被加工基板51の縁部における保持幅は5mm程度とすることが好ましい。この場合には、被加工基板51の端辺から割断予定線61までの10mm幅の部分のうち5mm幅の部分だけが加圧バー14により挟持される。
加圧バー14の上部には、支持機構17により支持されたレバー軸13の一端が取り付けられている。レバー軸13の他端には、モータ16のロッド16aにより押される荷重センサ18が組み込まれており、レバー軸13の他端(力点N)を上方へ移動させることによりレバー軸13を支点Nを中心として回転させる。なおこのとき、モータ16の内部には、外部から与えられた印加信号によって回転した回転子(図示せず)の回転移動をギア等の減速器(図示せず)を介してロッド16aの直進移動へと変換する構造が設けられている。またこのとき、図示しない制御回路により、モータ16への入力信号と荷重センサ18の出力信号とを用いたフィードバック回路を構成するようにすれば、レバー軸13の他端(力点N)を所要の目標荷重Wで押すことができる。
このようにしてレバー軸13が支点Nを中心として回転すると、レバー軸13の一端(作用点N)が下方へ移動し、レバー軸13によって加圧バー14が押されることにより、加圧バー14が下方へ移動し、端材ホルダ15との間で被加工基板51を挟持する。なおこのとき、レバー軸13の他端(力点N)に加えられた荷重Wはレバー軸13のてこ比に応じた荷重としてレバー軸13の一端(作用点N)に作用し、最終的に被加工基板51の縁部(加圧点N)を所望の荷重で加圧する。
ここで、レバー軸13の支点Nと作用点Nとの間の距離は作用点Nが移動する距離に比べて長いので、加圧バー14は被加工基板51の垂直方向に対してほぼ平行に移動する。これにより、加圧バー14に取り付けられた樹脂材14aと被加工基板51の上面とが均一に接触することとなるので、被加工基板51に対して均等な荷重を加えることができる。
なお、このようにして加圧バー14を加圧するレバー軸13は、被加工基板51の割断予定線61に沿って複数個配置されており、加圧バー14の上部をレバー軸13の数分だけの点で加圧することができる。これにより、加圧バー14により被加工基板51に対して加えられる荷重を場所によらず均一にすることができる。また逆に、レバー軸13による加圧点を不均等に配置することにより、図1の割断加工点P,P(被加工基板51の縁部のうち加工開始点及び加工終了点に対応する点)における荷重を、中央部の割断加工点Pにおける荷重よりも強く若しくは弱くする等のように、加圧バー14により被加工基板51に対して加えられる荷重を場所によって変えることもできる。
高さホルダ19は、割断加工時に被加工基板51がその延在面に沿って変位するよう当該被加工基板51を水平移動可能に支持するものであり、高さホルダ19のうち少なくとも被加工基板51に当接する部分は、割断加工時に被加工基板51の水平移動を許容する低摩擦材料からなっている。具体的には例えば、金属製の高さホルダ19の上面を研磨して当該上面の摩擦係数を小さくしたり、高さホルダ19の上面に樹脂コートを施して当該上面の摩擦係数を小さくすることが好ましい。この場合、高さホルダ19の上面は、その摩擦係数が0.1以下の範囲にあることが好ましい。これにより、高さホルダ19の上面とガラス等からなる被加工基板51との間での摩擦が少なくなり、両者が相対的に滑動(水平移動)することが可能となる。なお、高さホルダ19の上面に施される樹脂コートとしては、フッ素系樹脂(テフロン(登録商標)などのPTFEや、PCTFE、PFA等)等を用いることが好ましい。
次に、このような基板保持機構10により保持された被加工基板51に対して割断加工を行うための加工部ユニット5について説明する。
図4に示すように、加工部ユニット5は、予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40を含み、これらの各ユニットが被加工基板51上で割断予定線61に沿って相対的に移動するように構成されている。なお、予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40は、被加工基板51上での移動方向に関して先頭側から後尾側へ向かってこの順番で一直線状に配置されている。
予熱ユニット20は、被加工基板51上にレーザビームLBを照射して被加工基板51を局部的に予熱するためのものであり、200W程度のレーザ光を出射するCOレーザ等からなるレーザ発振器21と、レーザ発振器21により出射されたレーザ光を反射する反射ミラー22と、反射ミラー22により反射されたレーザ光を被加工基板51上で走査するポリゴンミラー23とを有している。これにより、レーザ発振器21により出射されたレーザ光が反射ミラー22を経てポリゴンミラー23で反射され、被加工基板51上で割断予定線61に沿って所定の長さLに亘って繰り返し走査されることにより、線状のレーザビームLBが生成される。なお、線状のレーザビームLBは、図1に示すように、割断予定線61に沿う方向に延びる線状の照射パターン62を有するものである。
加熱ユニット30は、予熱ユニット20により局部的に予熱された被加工基板51上にレーザビームLBを照射して被加工基板51を局部的に加熱するためのものであり、数十〜百数十W程度のレーザ光を出射するCOレーザ等からなるレーザ発振器31と、レーザ発振器31により出射されたレーザ光を反射する反射ミラー32と、反射ミラー32により反射されたレーザ光を被加工基板51上で走査するポリゴンミラー33とを有している。これにより、レーザ発振器31により出射されたレーザ光が反射ミラー32を経てポリゴンミラー33で反射され、被加工基板51上で割断予定線61に沿って所定の長さLに亘って繰り返し走査されることにより、線状のレーザビームLBが生成される。なお、線状のレーザビームLBは、図1に示すように、割断予定線61に沿う方向に延びる線状の照射パターン63を有するものである。
冷却ユニット40は、加熱ユニット30により局部的に加熱された被加工基板51に冷却剤Cを吹き付けて被加工基板51を局部的に冷却するためのものであり、水や霧(水と気体との混合物)、窒素などの気体、二酸化炭素粒子などの微粒子固体、アルコールなどの液体、霧状のアルコールなどの冷却剤Cを被加工基板51の表面に噴射する冷却ノズル41を有している。なお、冷却ノズル41から噴射された冷却剤Cは、図1に示すように、被加工基板51上に所定の吹付パターン64で吹き付けられる。
以上において、基板保持機構10と加工部ユニット5(予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40)とは互いに相対的に移動するように構成されており、これにより、加工部ユニット5により被加工基板51上で局部的に加熱及び冷却が行われる領域(レーザビームLB,LBの照射パターン62,63及び冷却剤Cの吹付パターン64)が当該被加工基板51の割断予定線61に沿って移動するようになっている。なお、加工部ユニット5に含まれる予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40はいずれも移動ステージ(図示せず)により被加工基板51に沿う方向に移動することができるようになっており、予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40がいずれも被加工基板51上で割断予定線61に沿って適切な間隔で一直線状に配置されるようにアライメント調整を行うことができるようになっている。
次に、このような構成からなる本実施の形態の作用について説明する。
図1乃至図4に示す割断加工システム1において、割断対象となる被加工基板51を基板保持機構10上に搬送し(図1乃至図3の矢印の方向参照)、被加工基板51の下面を高さホルダ19により支持するとともに、被加工基板51の縁部を端材クランパ12の端材ホルダ15と加圧バー14との間に位置付ける。
そして、このようにして基板保持機構10上に位置付けられた被加工基板51は端材クランパ12の加圧バー14と端材ホルダ15とにより挟持される。具体的には、端材クランパ12において、モータ16の回転子(図示せず)を回転させてロッド16aを直進させ、荷重センサ18を介してレバー軸13の他端(力点N)を押すようにする。これにより、支持機構17により支持されたレバー軸13が支点Nを中心として回転し、レバー軸13の一端(作用点N)が下方へ移動し、レバー軸13によって加圧バー14が押されることにより、加圧バー14が下方へ移動し、端材ホルダ15との間で被加工基板51を挟持する。これにより、被加工基板51が基板保持機構10上の所定の場所に位置決めされる。
その後、加工部ユニット5を基板保持機構10に対して相対的に移動させ、基板保持機構10上に位置決めされた被加工基板51の割断予定線61上に加工部ユニット5を位置付ける。なお、加工部ユニット5に含まれる予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40は、被加工基板51の割断予定線61上に位置付けられたときに当該割断予定線61に沿って適切な間隔で一直線状に配置されるように予めアライメント調整が行われている。
この状態で、図示しない初期クラックユニットで被加工基板51の端部Pに微小な亀裂を入れ、次いで、加工部ユニット5を基板保持機構10に対して相対的に移動させ、加工部ユニット5に含まれる予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40を被加工基板51上で割断予定線61に沿ってこの順番で相対的に移動させる。
これにより、図1及び図4に示すように、まず、予熱ユニット20が被加工基板51上で割断予定線61に沿って相対的に移動し、被加工基板51上に線状のレーザビームLBを照射することにより、被加工基板51を所定の温度(30〜200℃程度)で局部的に予熱する。なおこのとき、予熱ユニット20においては、レーザ発振器21により出射されたレーザ光が反射ミラー22を経てポリゴンミラー23で反射され、被加工基板51上で割断予定線61に沿って所定の長さLに亘って繰り返し走査されることにより、照射パターン62を有する線状のレーザビームLBが生成される。
次に、このようにして予熱ユニット20により局部的に予熱された被加工基板51上で割断予定線61に沿って加熱ユニット30が相対的に移動し、予熱ユニット20により被加工基板51上で局部的に予熱が行われた領域よりも狭い線状の領域に線状のレーザビームLBを照射することにより、被加工基板51を所定の温度(100〜400℃程度)で局部的に加熱する。なおこのとき、加熱ユニット30においては、レーザ発振器31により出射されたレーザ光が反射ミラー32を経てポリゴンミラー33で反射され、被加工基板51上で割断予定線61に沿って所定の長さLに亘って繰り返し走査されることにより、照射パターン63を有する線状のレーザビームLBが生成される。
その後、このようにして加熱ユニット30により局部的に加熱された被加工基板51上で割断予定線61に沿って冷却ユニット40が相対的に移動し、加熱ユニット30により被加工基板51上で局部的に加熱が行われた領域と同程度の大きさの領域に冷却剤Cを吹き付けることにより、被加工基板51を局部的に冷却する。なおこのとき、冷却ユニット40においては、冷却ノズル41から噴射された冷却剤Cが被加工基板51の表面に所定の吹付パターン64で吹き付けられる。
以上のようにして、被加工基板51上で割断予定線61に沿って予熱ユニット20による予熱、加熱ユニット30による加熱、及び冷却ユニット40による冷却が順次行われると、主として被加工基板51の加熱により発生した熱応力(引張応力)と被加工基板51の冷却により発生した引張応力とによって亀裂が形成され、かつ、予熱ユニット20、加熱ユニット30及び冷却ユニット40が被加工基板51上で割断予定線61に沿って相対的に移動することに伴って割断予定線61に沿って亀裂が進展する。
具体的には、図5(a)(b)に示すように、予熱ユニット20及び加熱ユニット30により照射されたレーザビームLB,LBにより被加工基板51を局部的に加熱すると、被加工基板51のうちレーザビームLB,LBが照射された部分が熱膨張を引き起こし、その部分が上方へ盛り上がると同時に、被加工基板51が亀裂を中心として左右に開くように変形する。このとき、被加工基板51のうちレーザビームLB,LBが照射された位置とそれに近接する端辺の位置との間の部分51a(図面の左側の部分)の幅WLは、レーザビームLB,LBが照射された位置とそれに近接しない端辺の位置との間の部分51b(図面の右側の部分)の幅WLに比べて短いので、被加工基板51のうち左側の部分51aが右側の部分51bに比べてより大きく変形することとなる(図5(b)参照)。
しかしながら、本実施の形態においては、被加工基板51の縁部(被加工基板51の左側の部分51aの一部)が、端材クランパ12の加圧バー14及び端材ホルダ15に取り付けられた比較的剛性の高い弾性材料からなる樹脂材14a,15aにより保持されているので、当該部分がゴム等の比較的剛性の低い弾性材料からなる樹脂材により保持される場合に比べて、その複数の方向への変形量を格段に抑えることができる。このため、被加工基板51の左側の部分51a及び右側の部分51bの変形量がほぼ等しくなり、両者の間での変形の非対称性を小さくすることができる。
また、図6に示すように、レーザビームLB,LBの照射により生じる被加工基板51に対する引張応力65及び被加工基板51の熱膨張は、被加工基板51の左側の部分51a及び右側の部分51bに対してその長手方向(割断予定線61に沿った方向)の変形及び当該長手方向に垂直な外側に開くような変形を生じさせる。なお、図6において、二点鎖線で示す被加工基板51は割断加工前のものであり、実線で示す被加工基板51は割断加工時のものである。
しかしながら、本実施の形態においては、被加工基板51の縁部(被加工基板51の左側の部分51aの一部)が、端材クランパ12の加圧バー14及び端材ホルダ15に取り付けられた比較的剛性の高い弾性材料からなる樹脂材14a,15aにより保持されているので、被加工基板51の左側の部分51aについては、その変形量を格段に抑えることができる。一方、被加工基板51の右側の部分51bについては、その下面が、割断加工時に被加工基板51の水平移動を許容する低摩擦材料からなる高さホルダ19により支持されているので、被加工基板51の左側の部分51aとは異なり、割断加工時に右側の部分51bが高さホルダ19の上面で滑動(水平移動)し、その長手方向(割断予定線61に沿った方向)の変形及び当該長手方向に垂直な外側に開くような変形が行われる。これにより、被加工基板51における亀裂52の進展に必要とされる亀裂52の開きを十分に確保した上で、被加工基板51の割断予定線61に沿って亀裂52を精度良く直線的に進展させることができる。
このように本実施の形態によれば、被加工基板51の縁部の上面及び下面が、端材クランパ12の加圧バー14及び端材ホルダ15に取り付けられた比較的剛性の高い弾性材料からなる樹脂材14a,15aにより保持されるとともに、被加工基板51の下面が、割断加工時に被加工基板51の水平移動を許容する低摩擦材料からなる高さホルダ19により支持されているので、被加工基板51の縁部における割断加工(例えば、10mm幅又はそれ以下の幅の部分を取り除く切落とし加工等)を高品位でかつ高速に実現することができる。特に、本実施の形態によれば、従来の手法のように、レーザビームの照射等に関して複雑な制御を行う必要がないので、高価な制御系や光学系等が不要であり、装置が簡易でかつ安価になる。
なお、上述した実施の形態においては、端材クランパ12の端材ホルダ15と高さホルダ19とにより被加工基板51の下面を支持する一方で、端材クランパ12の加圧バー14により被加工基板51の上面を加圧する場合を例に挙げて説明しているが、これに限らず、図7に示すように、端材クランパ12の端材ホルダ15と高さホルダ19とにより被加工基板51の上面を支持する一方で、端材クランパ12の加圧バー14により被加工基板51の下面を加圧するようにしてもよい。
また、上述した実施の形態においては、端材クランパ12(加圧バー14及び端材ホルダ15)と高さホルダ19とにより保持された被加工基板51に対してその上面側からレーザビームLB,LBを照射する場合を例に挙げて説明しているが、これに限らず、図8に示すように、端材クランパ12(加圧バー14及び端材ホルダ15)と高さホルダ19とにより保持された被加工基板51に対してその下面側からレーザビームLB,LBを照射するようにしてもよい。
さらに、上述した実施の形態においては、端材クランパ12の端材ホルダ15に取り付けられた樹脂材15aと、加圧バー14に取り付けられた樹脂材14aとにより、被加工基板51の縁部を保持する場合を例に挙げて説明しているが、これに限らず、図9に示すように、被加工基板51の縁部の上面及び下面を覆う一体型の樹脂材55をその上面側及び下面側から加圧バー14により加圧するようにしてもよい。また、割断加工時に被加工基板51の水平移動を許容する低摩擦材料からなる高さホルダ19により、被加工基板51の下面を支持する場合を例に挙げて説明しているが、これに限らず、図9に示すように、このような高さホルダ19の代わりに、被加工基板51の表面にガスを吹き付けるエアフロート56を設け、エアフロート56のエアー噴出口56aから空気やその他のガス(窒素や酸素などを含む)を噴出させることによって被加工基板51を浮上させて支持するようにしてもよい。また、高さホルダ19としては、被加工基板51に接触する接触面に、球面や円柱側面等の曲面を有する部材を用いてもよい。
さらに、上述した実施の形態においては、被加工基板51の上面及び下面をそれぞれ支持する樹脂材14a,15aが同一の材料からなる場合を例に挙げて説明したが、これに限らず、図10に示すように、両者の材料が、そのヤング率が100〜数1000MPaの範囲で異なる値を持つ異なる材料からなっていてもよい。
さらに、上述した実施の形態においては、端材クランパ12の加圧バー14により被加工基板51の上面を予め決められた荷重で加圧する場合を例に挙げて説明しているが、これに限らず、図11に示すように、被加工基板51の変位量を測定する変位計57を被加工基板51の下方又は上方に設け、この変位計57による測定結果に基づいて、加圧バー14により加えられる荷重を制御するようにしてもよい。なおこの場合、変位計57は、接触式及び非接触式のいずれの種類のものであってもよい。また、変位計57による測定位置は、図11に示す実線の位置(割断予定線に関して図面上の左側の位置に限らず、図11に示す仮想線の位置(割断予定線に関して図面上の右側の位置)であってもよい。
さらに、上述した実施の形態においては、高さホルダ19として、割断加工時に被加工基板51の水平移動を許容する低摩擦材料からなるものを用い、高さホルダ19上にて被加工基板51を滑動(水平移動)させることにより、割断加工時に被加工基板51がその延在面に沿って変位するようにしているが、これに限らず、図12に示すように、高さホルダ19のうち被加工基板51に当接する部分(高さホルダ19の上部)に、割断加工時に被加工基板51の水平移動を許容する弾性体からなる軟らかい変形部材19aを設け、高さホルダ19上にて被加工基板51を水平移動させることにより、割断加工時に被加工基板51がその延在面に沿って変位するようにしてもよい。
さらに、上述した実施の形態においては、割断対象となる被加工基板51として、1枚のガラス基板を用いているが、シール材を介して貼り合わされた2枚のガラス基の間に液晶材が注入された状態の液晶基板に対しても同様に高品位でかつ高速な割断加工を行うことができる他、これ以外の任意の脆性材料からなる基板に対しても同様に高品位でかつ高速な割断加工を行うことができる。
本発明の一実施の形態に係る割断加工システムの全体構成を示す平面図。 図1に示す割断加工システムの基板保持機構を示す側面図。 図1及び図2に示す割断加工システムの基板保持機構に含まれる端材クランパの詳細を示す拡大図。 図1及び図2に示す割断加工システムの加工部ユニットを示す側面図。 図1乃至図4に示す割断加工システムにおける被加工基板の割断加工の様子を説明するための側面図。 図1乃至図4に示す割断加工システムにおける被加工基板の割断加工の様子を説明するための平面図。 図1乃至図4に示す割断加工システムの第1の変形例を示す概略図。 図1乃至図4に示す割断加工システムの第2の変形例を示す概略図。 図1乃至図4に示す割断加工システムの第3の変形例を示す概略図。 図1乃至図4に示す割断加工システムの第4の変形例を示す概略図。 図1乃至図4に示す割断加工システムの第5の変形例を示す概略図。 図1乃至図4に示す割断加工システムの第6の変形例を示す概略図。
符号の説明
1 割断加工システム
5 加工部ユニット
10 基板保持機構
11 ベース
12 端材クランパ
13 レバー軸
14 加圧バー
14a 樹脂材
15 端材ホルダ
15a 樹脂材
16 モータ
16a ロッド
17 支持機構
18 荷重センサ
19 高さホルダ
19a 変形部材
20 予熱ユニット
21 レーザ発振器
22 反射ミラー
23 ポリゴンミラー
30 加熱ユニット
31 レーザ発振器
32 反射ミラー
33 ポリゴンミラー
40 冷却ユニット
41 冷却ノズル
51 被加工基板
51a,51b 被加工基板の部分
52 亀裂
55 樹脂材
56 エアフロート
56a エアー噴出口
57 変位計
61 割断予定線
62,63 レーザビームの照射パターン
64 冷却剤の吹付パターン
65 引張応力
,P,P 割断加工点
力点
作用点
加圧点
支点
LB,LB レーザビーム
C 冷却剤

Claims (16)

  1. 脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工システムにおいて、
    被加工基板を保持する基板保持機構と、
    前記基板保持機構により保持された前記被加工基板上にレーザビームを照射して当該被加工基板を局部的に加熱することにより当該被加工基板に対して割断加工を行う加工部ユニットとを備え、
    前記加工部ユニットにより前記被加工基板上で局部的に加熱が行われる領域が当該被加工基板の割断予定線に沿って移動するよう、前記基板保持機構と前記加工部ユニットとが互いに相対的に移動するように構成されており、
    前記基板保持機構は、前記被加工基板の縁部を当該被加工基板の一方の表面及びそれと反対側の他方の表面の両側から保持する端材クランパと、前記被加工基板の前記縁部に沿って延びる割断予定線を基準として前記端材クランパから離間する側に設けられ、前記端材クランパにより支持された前記被加工基板の他方の表面を支持する高さホルダとを有し、前記端材クランパのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は比較的剛性の高い弾性材料からなり、前記高さホルダは割断加工時に前記被加工基板がその延在面に沿って変位するよう当該被加工基板を水平移動可能に支持することを特徴とする割断加工システム。
  2. 前記加工部ユニットは、前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域に冷却剤を吹き付けて当該領域を冷却することを特徴とする、請求項1に記載の割断加工システム。
  3. 前記端材クランパによる前記被加工基板の前記縁部における保持幅が10mm以下であることを特徴とする、請求項1又は2に記載の割断加工システム。
  4. 前記弾性材料はそのヤング率が10〜数1000MPaの範囲にあることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の割断加工システム。
  5. 前記弾性材料は樹脂材料であることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の割断加工システム。
  6. 前記樹脂材料はフッ素系樹脂を含むことを特徴とする、請求項5に記載の割断加工システム。
  7. 前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する低摩擦材料からなることを特徴とする、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の割断加工システム。
  8. 前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する変形部材を有することを特徴とする、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の割断加工システム。
  9. 脆性材料からなる被加工基板を局部的に加熱し、その熱応力によって当該被加工基板に亀裂を生じさせて割断加工を行う割断加工方法において、
    割断対象となる被加工基板を基板保持機構により保持する保持工程と、
    前記保持工程にて保持された前記被加工基板上にレーザビームを照射して当該被加工基板を局部的に加熱しつつ、当該被加工基板上で局部的に加熱が行われる領域を、当該被加工基板の縁部に沿って延びる割断予定線に沿って移動させる割断工程とを含み、
    前記保持工程にて前記被加工基板を保持する前記基板保持機構は、前記被加工基板の縁部を当該被加工基板の一方の表面及びそれと反対側の他方の表面の両側から保持する端材クランパと、前記被加工基板の前記縁部に沿って延びる割断予定線を基準として前記端材クランパから離間する側に設けられ、前記端材クランパにより支持された前記被加工基板の他方の表面を支持する高さホルダとを有し、前記端材クランパのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は比較的剛性の高い弾性材料からなり、前記高さホルダは割断加工時に前記被加工基板がその延在面に沿って変位するよう当該被加工基板を水平移動可能に支持することを特徴とする割断加工方法。
  10. 前記割断工程において前記被加工基板上で局部的に加熱が行われた領域に冷却剤を吹き付けて当該領域を冷却することを特徴とする、請求項9に記載の割断加工方法。
  11. 前記端材クランパによる前記被加工基板の前記縁部における保持幅が10mm以下であることを特徴とする、請求項9又は10に記載の割断加工方法。
  12. 前記弾性材料はそのヤング率が10〜数1000MPaの範囲にあることを特徴とする、請求項9乃至11のいずれか一項に記載の割断加工方法。
  13. 前記弾性材料は樹脂材料であることを特徴とする、請求項9乃至12のいずれか一項に記載の割断加工方法。
  14. 前記樹脂材料はフッ素系樹脂を含むことを特徴とする、請求項13に記載の割断加工方法。
  15. 前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する低摩擦材料からなることを特徴とする、請求項9乃至14のいずれか一項に記載の割断加工方法。
  16. 前記高さホルダのうち少なくとも前記被加工基板に当接する部分は、割断加工時に前記被加工基板の水平移動を許容する変形部材を有することを特徴とする、請求項9乃至14のいずれか一項に記載の割断加工方法。
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