JP2006119076A - マッピングデータ解析装置及び方法 - Google Patents
マッピングデータ解析装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006119076A JP2006119076A JP2004309447A JP2004309447A JP2006119076A JP 2006119076 A JP2006119076 A JP 2006119076A JP 2004309447 A JP2004309447 A JP 2004309447A JP 2004309447 A JP2004309447 A JP 2004309447A JP 2006119076 A JP2006119076 A JP 2006119076A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mapping
- diagram
- sample
- principal component
- scatter diagram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/69—Microscopic objects, e.g. biological cells or cellular parts
- G06V20/695—Preprocessing, e.g. image segmentation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/40—Software arrangements specially adapted for pattern recognition, e.g. user interfaces or toolboxes therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】 試料面上の各点のスペクトルデータを個々のサンプル、各スペクトルデータの複数の波数での値を変量として主成分分析を行う主成分演算手段20と、複数個の主成分スコアを軸として、前記サンプルの散布図を作成する散布図作成手段22と、個々のサンプルの主成分スコアの値に基づいたマッピング図を作成するマッピング図作成手段24と、マッピング図および散布図を表示する表示手段14と、を備え、使用者は表示手段14上に表示された散布図を参照して個々のサンプル点のグループ分けを行い、該グループ分けに基づくマッピング図を表示することを特徴とするマッピングデータ解析装置10。
【選択図】 図1
Description
通常、マッピング測定の結果を2次元マッッピング図として表示する場合、採取した赤外スペクトルのうち特定のピークに着目し、そのピーク高さや、ピーク面積などによりマッピング図を作成している(例えば、特許文献1の従来の技術の欄を参照)。つまり、着目する物質に固有の官能基等のピークを取り出し、その部分の情報のみを用いてマッピング図を表示していた。
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、その目的は大量のスペクトルを含むマッピングデータを、統計的な手法を用いて客観的に分析することのできるマッピングデータ解析装置を提供することにある。
前記散布図作成手段にて作成された散布図を前記表示手段上に表示し、使用者は前記設定手段に個々のサンプル点のグループ分けを設定し、前記マッピング図作成手段は設定したグループ分けに基づき、試料面の各点がどのグループに属しているかを示すマッピング図を作成し、該マッピング図を前記表示手段に表示することを特徴とする。
試料面上の各点のスペクトルデータを個々のサンプル、各サンプルの複数の波数での値を変量として主成分分析を行い、個々のサンプルの主成分スコアを演算する主成分演算工程と、複数個の主成分のスコアを軸として、前記個々のサンプルの散布図を表示する散布図表示工程と、該散布図に基づいてサンプルを複数のグループに分割するグループ分け工程と、該グループ分けに基づいて、試料面上の各点がどのグループに属しているかを示すマッピング図を表示するマッピング図表示工程と、を含むことを特徴とする。
図1はマッピングデータ解析装置の概略構成図である。図1のマッピングデータ解析装置10は、マルチチャンネル赤外顕微鏡などの分光測定装置12に接続されており、該分光測定装置12からの測定データを受け取り、記憶する。マッピングデータ解析装置10は、コンピュータ等から構成されており、ディスプレイなどで構成される表示手段14、キーボード、マウス等で構成される入力手段16を含む。
分光測定装置12では、試料面を小領域に分割し、各小領域からの分光スペクトルデータを測定する。該測定されたスペクトルデータは、試料面上の位置情報とともに、マッピングデータ解析装置10に送られ、その記憶手段18に記憶される。つまり、試料面上の各点のスペクトルデータは試料面上の位置座標と対応付けられて記憶されている。
まず、分光測定装置によって、試料面上の所定区域を小領域に分け、それぞれの小領域での分光スペクトル(吸収スペクトル、反射スペクトルなど)をマッピング測定する(S10)。このとき、小領域の位置座標の情報とそこでの分光スペクトルデータとの組であるマッピングデータは、マッピングデータ解析装置の記憶手段18に記憶される。
マッピング測定によって得られたデータは、試料面上の各点のスペクトルデータを個々のサンプルとして主成分分析が行われる(S12)。ここで、分光スペクトルのどの波数での値を変量にとるかは、装置の使用者が適宜設定することができる。そして、図1に示した主成分演算手段20は、記憶手段18から各点ごとのスペクトルデータを読み出し、主成分分析を行う。各サンプルの主成分スコアの値は、試料面上の位置と関係付けて記憶手段18に記憶される。
上で設定したグループ分けに基づいて、試料面上の各点がどのグループに属しているかを示すマッピング図が表示される(S18)。設定手段28は上記のグループ分けの条件をマッピング作成手段24に送る。マッピング図作成手段24は、記憶手段16から各サンプルの主成分スコアの値を読み出し、そのサンプルがどのグループに属しているのかを上記のグループ分けの条件により判断し、マッピング図を作成する。作成されたマッピング図は、表示制御手段26によって表示手段14に表示される。図5にグループ分けしたマッピング図の例を示す。図5のマッピング図は、横軸、縦軸が試料面の位置座標(X座標、Y座標)を示し、各点(図中の格子で区切られた四角形の一つ一つ)は属しているグループ毎に色分けされている。ここでは、3つのグループに分けた例を示したが、この数は特に限定されない。
このように、本実施形態にかかるマッピングデータ解析装置及びその方法によれば、各点のスペクトルのピークの帰属を行う必要なく、解析を行うことができる。また、例えば試料が生体組織などの複雑なもののとき、各点からのスペクトルデータは複数のピークが重なりあったものとなり、ピークの帰属は非常に厄介なのもとなるが、本実施形態によれば統計的な手法を用いて客観的に分析することができる。
12 分光測定装置
14 表示手段
16 入力手段
18 記憶手段
20 主成分演算手段
22 散布図作成手段
24 マッピング図作成手段
26 表示制御手段
28 設定手段
Claims (2)
- 試料面上の各点からの分光スペクトルを測定し、得られたマッピングデータを解析するマッピングデータ解析装置において、
試料面上の各点のスペクトルデータを個々のサンプル、各スペクトルデータの複数の波数での値を変量として主成分分析を行い、個々のサンプルの主成分スコアを演算する主成分演算手段と、
複数個の主成分スコアを軸として、前記サンプルの散布図を作成する散布図作成手段と、
個々のサンプルの主成分スコアの値に基づいたマッピング図を作成するマッピング図作成手段と、
前記散布図および/またはマッピング図の表示パラメータの設定を行う設定手段と、
前記マッピング図および/または散布図を表示する表示手段と、
を備え、
前記散布図作成手段にて作成された散布図を前記表示手段上に表示し、使用者は前記設定手段に個々のサンプル点のグループ分けを設定し、前記マッピング図作成手段は設定したグループ分けに基づき、試料面の各点がどのグループに属しているかを示すマッピング図を作成し、該マッピング図を前記表示手段に表示することを特徴とするマッピングデータ解析装置。 - 試料面上の複数の点で分光スペクトルを測定して得られるマッピングデータを解析するマッピングデータ解析方法において、
試料面上の各点のスペクトルデータを個々のサンプル、各サンプルの複数の波数での値を変量として主成分分析を行い、個々のサンプルの主成分スコアを演算する主成分演算工程と、
複数個の主成分のスコアを軸として、前記個々のサンプルの散布図を表示する散布図表示工程と、
該散布図に基づいてサンプルを複数のグループに分割するグループ分け工程と、
該グループ分けに基づいて、試料面上の各点がどのグループに属しているかを示すマッピング図を表示するマッピング図表示工程と、
を含むことを特徴とするマッピングデータ解析方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004309447A JP2006119076A (ja) | 2004-10-25 | 2004-10-25 | マッピングデータ解析装置及び方法 |
US11/256,896 US7515769B2 (en) | 2004-10-25 | 2005-10-24 | Mapping-data analyzing method and apparatus |
EP20050109975 EP1686509A3 (en) | 2004-10-25 | 2005-10-25 | Mapping-data analyzing method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004309447A JP2006119076A (ja) | 2004-10-25 | 2004-10-25 | マッピングデータ解析装置及び方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006119076A true JP2006119076A (ja) | 2006-05-11 |
Family
ID=36206226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004309447A Pending JP2006119076A (ja) | 2004-10-25 | 2004-10-25 | マッピングデータ解析装置及び方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7515769B2 (ja) |
EP (1) | EP1686509A3 (ja) |
JP (1) | JP2006119076A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008151679A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Horiba Ltd | 試料分析装置 |
JP2011153858A (ja) * | 2010-01-26 | 2011-08-11 | Shimadzu Corp | X線分析用表示処理装置 |
WO2013027553A1 (ja) * | 2011-08-19 | 2013-02-28 | 国立大学法人京都大学 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
GB2508556A (en) * | 2011-08-19 | 2014-06-04 | Univ Kyoto | Signal analyzing apparatus, signal analyzing method, and computer program |
JP2016080575A (ja) * | 2014-10-20 | 2016-05-16 | 日本電子株式会社 | 散布図表示装置、散布図表示方法、および表面分析装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9750425B2 (en) | 2004-03-23 | 2017-09-05 | Dune Medical Devices Ltd. | Graphical user interfaces (GUI), methods and apparatus for data presentation |
US8073639B2 (en) * | 2007-08-31 | 2011-12-06 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method for identifying a convolved peak |
US8315938B1 (en) * | 2009-10-19 | 2012-11-20 | Optionmonster Holdings, Inc. | Option analysis for a trading system |
CN102289677B (zh) * | 2011-08-02 | 2013-05-29 | 东华大学 | 一种基于主元分析的图像分析方法及应用于织物瑕疵检测的方法 |
US9091628B2 (en) | 2012-12-21 | 2015-07-28 | L-3 Communications Security And Detection Systems, Inc. | 3D mapping with two orthogonal imaging views |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07151678A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-06-16 | Shimadzu Corp | 赤外顕微鏡 |
JPH0821808A (ja) * | 1994-07-06 | 1996-01-23 | Jeol Ltd | 分析位置決定方法 |
JPH08124982A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-17 | Mitsubishi Electric Corp | 異物分析装置及び半導体製造制御装置並びに異物分析方法及び半導体製造制御方法 |
JPH1096691A (ja) * | 1991-03-19 | 1998-04-14 | Tokai Rika Co Ltd | 面分析方法及び面分析装置 |
JP2001085485A (ja) * | 1999-09-10 | 2001-03-30 | Nikko Materials Co Ltd | 化合物半導体ウェハに含まれる特定元素の組成比のマッピング装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04249747A (ja) * | 1990-12-30 | 1992-09-04 | Horiba Ltd | 顕微分光測定装置 |
US5784162A (en) * | 1993-08-18 | 1998-07-21 | Applied Spectral Imaging Ltd. | Spectral bio-imaging methods for biological research, medical diagnostics and therapy |
US5347475A (en) * | 1991-09-20 | 1994-09-13 | Amoco Corporation | Method for transferring spectral information among spectrometers |
US6621079B1 (en) * | 1999-07-02 | 2003-09-16 | University Of Virginia Patent Foundation | Apparatus and method for a near field scanning optical microscope in aqueous solution |
US6804410B2 (en) * | 2001-04-17 | 2004-10-12 | Large Scale Proteomics Corporation | System for optimizing alignment of laser beam with selected points on samples in MALDI mass spectrometer |
-
2004
- 2004-10-25 JP JP2004309447A patent/JP2006119076A/ja active Pending
-
2005
- 2005-10-24 US US11/256,896 patent/US7515769B2/en active Active
- 2005-10-25 EP EP20050109975 patent/EP1686509A3/en not_active Withdrawn
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1096691A (ja) * | 1991-03-19 | 1998-04-14 | Tokai Rika Co Ltd | 面分析方法及び面分析装置 |
JPH07151678A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-06-16 | Shimadzu Corp | 赤外顕微鏡 |
JPH0821808A (ja) * | 1994-07-06 | 1996-01-23 | Jeol Ltd | 分析位置決定方法 |
JPH08124982A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-17 | Mitsubishi Electric Corp | 異物分析装置及び半導体製造制御装置並びに異物分析方法及び半導体製造制御方法 |
JP2001085485A (ja) * | 1999-09-10 | 2001-03-30 | Nikko Materials Co Ltd | 化合物半導体ウェハに含まれる特定元素の組成比のマッピング装置 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008151679A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Horiba Ltd | 試料分析装置 |
JP4709129B2 (ja) * | 2006-12-19 | 2011-06-22 | 株式会社堀場製作所 | 試料分析装置 |
JP2011153858A (ja) * | 2010-01-26 | 2011-08-11 | Shimadzu Corp | X線分析用表示処理装置 |
WO2013027553A1 (ja) * | 2011-08-19 | 2013-02-28 | 国立大学法人京都大学 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
GB2508556A (en) * | 2011-08-19 | 2014-06-04 | Univ Kyoto | Signal analyzing apparatus, signal analyzing method, and computer program |
JP2017032591A (ja) * | 2011-08-19 | 2017-02-09 | 国立大学法人京都大学 | 信号分析装置、信号分析方法及びコンピュータプログラム |
GB2508556B (en) * | 2011-08-19 | 2018-02-14 | Univ Kyoto | Signal analysis apparatus, signal analysis method, and computer program |
JP2016080575A (ja) * | 2014-10-20 | 2016-05-16 | 日本電子株式会社 | 散布図表示装置、散布図表示方法、および表面分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1686509A2 (en) | 2006-08-02 |
US20060088217A1 (en) | 2006-04-27 |
EP1686509A3 (en) | 2011-06-29 |
US7515769B2 (en) | 2009-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5348029B2 (ja) | 質量分析データ処理方法及び装置 | |
JP5527232B2 (ja) | 質量分析データ処理方法及び装置 | |
US7515769B2 (en) | Mapping-data analyzing method and apparatus | |
JP2014222500A (ja) | 位置特有のマルチパラメータデータセットを分析し比較するグラフィックユーザインターフェイス | |
US20090020693A1 (en) | Chromatograph mass analysis data processing apparatus | |
US11125692B2 (en) | Determination method, determination apparatus, and recording medium | |
CN110214271B (zh) | 分析数据解析方法以及分析数据解析装置 | |
JP2010276371A (ja) | 赤外顕微鏡 | |
JP5900644B2 (ja) | 分析対象領域設定装置 | |
US20120116689A1 (en) | Peak correlation and clustering in fluidic sample separation | |
JP4856436B2 (ja) | マッピングデータ表示方法、プログラム、および装置 | |
CN110530914A (zh) | 土壤重金属检测系统及检测方法 | |
CN106841167A (zh) | 果蔬农药残留的无损检测方法 | |
JP2003065956A (ja) | 蛍光ピーク検出方法及び分光蛍光光度計 | |
WO2019150575A1 (ja) | イメージング質量分析データ解析装置 | |
JPWO2019229902A1 (ja) | イメージング質量分析データ処理装置 | |
JP2006322772A (ja) | 分光分析装置 | |
JP2001318053A (ja) | 植物体の品質評価装置及び育種選抜方法並びに品質評価方法 | |
JP6669189B2 (ja) | 赤外顕微鏡 | |
US11380532B2 (en) | Method for imaging mass spectrometry and imaging mass spectrometer | |
JP2019148455A5 (ja) | ||
JP7191902B2 (ja) | 試料分析装置及び方法 | |
JP2014038043A (ja) | 分光測定方法 | |
JP2021196260A (ja) | イメージング質量分析装置、及びイメージング質量分析方法 | |
US9841409B2 (en) | Balanced feature display in fluidic sample separation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070921 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090929 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091006 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091207 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100105 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100506 |