JP2006067383A - パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法 - Google Patents

パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法 Download PDF

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Abstract

【課題】縦続接続されたそれぞれのパルサーが出力するパルスのパルス幅を精度よく測定できるパルス発生器を提供する。
【解決手段】 所定のパルス幅のパルスを生成するパルス発生器であって、入力されるパルスのパルス幅をそれぞれ所定のパルス幅に変更して出力する、縦続接続された複数のパルサーと、複数のパルサーに対応して設けられ、対応するパルサーの出力端の直近から、対応するパルサーが出力するパルスを取り出す複数の信号取出部と、複数の信号取出部が取り出したパルスのいずれかを選択する選択部と、選択部が選択したパルスを、複数のパルサーの初段のパルサーに入力する帰還経路と、選択部が選択したパルスが帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択部が選択したパルスのパルス幅を測定する測定部とを備えるパルス発生器を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、所望のパルス幅のパルスを発生するパルス発生器、所望の周期の信号を生成するタイミング発生器、及びパルス発生器が生成するパルスのパルス幅を調整するパルス幅調整方法に関する。
従来、所望のパルス幅のパルスを生成するパルサーとして、入力パルスを遅延させる遅延回路と、入力パルスと遅延パルスとを論理演算して所望のパルス幅のパルスを生成する論理演算回路とを備えるパルサーが知られている(例えば、特許文献1の図3参照)。
このようなパルサーは、例えば信号の伝送経路が長くなる場合に、パルスが伝送中に減衰して消滅しないために複数縦続接続して用いられる場合がある。また、直列に設けられた回路に入力するパルス幅をそれぞれ精度よく制御したい場合に、これらの回路の入力毎にパルサーを設ける場合もある。このような場合、それぞれのパルサーが出力するパルス幅を精度よく調整する必要がある。
図4は、複数のパルサーを有する従来のパルス発生器400の構成の一例を示す図である。図4に示すように、複数のパルサーが縦続接続されているときに、従来のパルス発生器400は、最終段のパルサー430が出力する出力パルスのパルス幅を測定し、それぞれのパルサーにおける遅延量を調整している。次に、従来のパルス幅測定について説明する。
論理和回路470は、パルスを生成するためのトリガパルスを受け取り、固定パルサー480、遅延回路490を介してパルサー410に入力する。それぞれのパルサー(410、420、430)は、入力されたパルスを所定のパルス幅に調整して出力する。
パルサー430が出力する出力パルスは、排他論理和回路440、フリップフロップ450、カウンタ460、論理和回路470、固定パルサー480、及び遅延回路490を介してパルサー410に帰還入力される。
フリップフロップ450は、入力されるパルスの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジのいずれかに応じてH論理の信号を出力する。当該信号は論理和回路470及び固定パルサー480を介してフリップフロップ450のリセット端子に供給され、フリップフロップ450の出力をL論理にする。これにより、フリップフロップ450はパルスを出力し、当該パルスがパルサー410に帰還入力される。
排他論理和回路440は、パルサー430の出力パルスを反転させてフリップフロップ450に入力するか否かを制御する。出力パルスを反転させた場合のフリップフロップ450の動作は、出力パルスを反転させない場合のフリップフロップ450の動作に比べ、出力パルスのパルス幅に応じて時間だけ遅延するため、出力パルスを反転させた場合のループ周期と、出力パルスを反転させない場合のループ周期との差分により、出力パルスのパルス幅を測定することができる。このようにして測定したパルス幅に基づいて、それぞれのパルサーを調整している。
特許第3499051号公報
しかし、従来のパルス発生器400では、パルス幅を測定するためにパルスをループさせる場合にも、複数のパルサー(410、420、430)をパルスが通過する。それぞれのパルサーにおける遅延時間は、パルスの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジでバラツキが生じてしまう。このため、出力パルスを反転させた場合のループ周期と、出力パルスを反転させない場合のループ周期との差分によりパルス幅を求めると、誤差が生じてしまい、パルス幅を精度よく測定することができなかった。また、パルス発生器400の用途に応じて、複数のパルサー(410、420、430)間に様々な素子が存在する場合がある。このような場合、上述した遅延時間のバラツキはより顕著になり、パルス幅を制度よく測定することができなかった。
このため本発明は、上述した課題を解決することのできるパルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
上記課題を解決するために、本発明の第1の形態においては、所定のパルス幅のパルスを生成するパルス発生器であって、入力されるパルスのパルス幅をそれぞれ所定のパルス幅に変更して出力する、縦続接続された複数のパルサーと、複数のパルサーに対応して設けられ、対応するパルサーの出力端の直近から、対応するパルサーが出力するパルスを取り出す複数の信号取出部と、複数の信号取出部が取り出したパルスのいずれかを選択する選択部と、選択部が選択したパルスを、複数のパルサーの初段のパルサーに入力する帰還経路と、選択部が選択したパルスが帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択部が選択したパルスのパルス幅を測定する測定部とを備えるパルス発生器を提供する。
それぞれの信号取出部は、対応するパルサーが出力するパルスを反転するか否かを切り替えるエッジ切替部を有し、測定部は、エッジ切替部が当該パルスを反転した場合のループ周期と、エッジ切替部が当該パルスを反転しない場合のループ周期との差分に基づいて、当該パルスのパルス幅を測定してよい。
複数のパルサーは、通過するパルスのエッジが、立ち上がりエッジか立ち下がりエッジかによって遅延時間の異なる素子によって縦続接続され、それぞれの信号取出部は、それぞれのパルサーの出力端から、素子を介さずにパルスを取り出してよい。
選択部は、複数の信号取出部が取り出したパルスのうち、初段のパルサーが出力するパルスから、最終段のパルサーが出力するパルスまで順次選択し、測定部は、選択部がパルスを選択する毎に、当該パルスのパルス幅を測定し、パルス発生器は、測定部がパルスのパルス幅を測定する毎に、対応するパルサーを制御して、当該パルサーが出力するパルスのパルス幅を調整する調整部を更に備えてよい。
本発明の第2の形態においては、所定の周期のタイミング信号を生成するタイミング発生器であって、与えられるセット信号に応じてタイミング信号の立ち上がりエッジを生成し、与えられるリセット信号に応じてタイミング信号の立ち下がりエッジを生成するセットリセットラッチと、セットリセットラッチに、セット信号を供給するセット部と、セットリセットラッチに、リセット信号を供給するリセット部とを備え、セット部は、与えられる基準クロックを遅延させた第1セット信号を出力する第1可変遅延回路と、与えられる基準クロックを遅延させ、第1セット信号の位相に対して、基準クロックの周期以下だけ位相が異なる第2セット信号を出力する第2可変遅延回路と、第1可変遅延回路及び第2可変遅延回路が出力する信号のパルス幅を、予め定められたパルス幅にそれぞれ調整する第1パルサーと、第1セット信号と第2セット信号との論理和を、セット信号として生成する論理和回路と、論理和回路が出力するセット信号を遅延させて出力する第3可変遅延回路と、第3可変遅延回路が出力する信号のパルス幅を、予め定められたパルス幅に調整する第2パルサーと、第1パルサーに対応して設けられ、第1パルサーの出力端の直近から、第1パルサーが出力するパルスを取り出す第1信号取出部と、第2パルサーに対応して設けられ、第2パルサーの出力端の直近から、第2パルサーが出力するパルスを取り出す第2信号取出部と、第1信号取出部又は第2信号取出部が取り出したパルスのいずれかを選択する選択部と、選択部が選択したパルスを、第1パルサーに入力する帰還経路と、選択部が選択したパルスが帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択部が選択したパルスのパルス幅を測定する測定部とを有するタイミング発生器を提供する。
本発明の第3の形態においては、入力されるパルスのパルス幅をそれぞれ所定のパルス幅に変更して出力する、縦続接続された複数のパルサーを備えるパルス発生器において、それぞれのパルサーが出力するパルス幅を調整するパルス幅調整方法であって、複数のパルサーの出力端の直近から、それぞれのパルサーが出力するパルスを取り出す信号取出段階と、信号取出段階において取り出したパルスのいずれかを選択する選択段階と、選択段階において選択したパルスを、複数のパルサーの初段のパルサーに帰還経路を用いて帰還入力する帰還段階と、選択段階において選択したパルスが帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択段階において選択したパルスのパルス幅を測定する測定段階とを備えるパルス幅調整方法を提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本発明の実施形態に係るパルス発生器100の構成の一例を示す図である。パルス発生器100は、所定のパルス幅のパルスを生成する回路であって、縦続接続された複数のパルサー(10−1、10−2、10−3、以下10と総称する)、複数のパルサー10に対応して設けられた複数の信号取出部(26−1、26−2、26−3、以下26と総称する)、選択部30、フリップフロップ32、測定部34、論理和回路31、固定パルサー33、及び遅延回路36を備える。また、パルス発生器100は、それぞれのパルサー10におけるパルス幅を測定し、調整する機能を有する。
論理和回路31は、パルスを生成するためのトリガパルスを受け取り、固定パルサー33に入力する。固定パルサー33は、トリガパルスに応じて所定のパルス幅のパルスを生成し、遅延回路36を介して、複数のパルサー10のうちの初段のパルサー10−1に入力する。
複数のパルサー10のそれぞれは、例えば、入力パルスを当該所望のパルス幅に応じて遅延させ、遅延パルスを反転し、反転パルスと入力パルスとの論理積を演算することにより、所望のパルス幅を生成する微分パルサーであってよく、また、入力パルスを当該所望のパルス幅に応じて遅延させ、遅延パルスと入力パルスとの論理和を演算することにより、所望のパルス幅を生成する積分パルサーであってもよい。複数のパルサー10は、入力されるパルスをそれぞれ所定のパルス幅に変更し、次段のパルサーに入力する。最終段のパルサー10−3が出力する出力パルスは、パルス発生器100の外部に出力される。
次に、それぞれのパルサー10におけるパルス幅の測定及び調整について説明する。複数の信号取出部26は、対応するパルサー10の出力端の直近から、対応するパルサー10が出力するパルスを取り出す。それぞれの信号取出部26は、対応するパルサー10の出力端に接続された伝送線と、当該伝送線を介してパルスが入力されるエッジ切替部20を有する。それぞれのエッジ切替部20は、対応するパルサー10が出力するパルスを反転するか否かを制御する制御信号(CONT1、2、3)が与えられ、当該制御信号に応じて、対応するパルサー10が出力するパルスを反転するか否かを切り替えて出力する。本例においてエッジ切替部20は排他論理和回路である。
選択部30は、複数の信号取出部26が取り出したパルスのいずれかを選択する。つまり選択部30は、出力パルスのパルス幅を測定するべきパルサー10に対応する信号取出部26が取り出したパルスを選択する。また、フリップフロップ32、論理和回路31、固定パルサー33、及び遅延回路36は、選択部30が選択したパルスを、複数のパルサー10の初段のパルサー10−1に帰還入力する帰還経路を構成する。
フリップフロップ32は、選択部30が選択したパルスの立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジのいずれかに応じて、H論理の信号を出力する。論理和回路31は、フリップフロップ32が出力する信号と、与えられるトリガパルスとの論理和を出力する。また、フリップフロップ32が出力したH論理の信号は、論理和回路31及び固定パルサー33を介してフリップフロップ32のリセット端子に供給される。これにより、フリップフロップ32は、当該H論理の信号の伝送時間に応じたパルス幅のパルスを出力する。そして測定部34は、選択部30が選択したパルスが当該帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択部30が選択したパルスのパルス幅を測定する。測定部34は、所定の期間内に当該パルスが当該帰還経路を通過した回数を計数するカウンタを有してよい。
測定部34は、選択部30にいずれのパルサー10の出力パルスを選択させるかを制御してよい。また、測定部34は、エッジ切替部20に制御信号を供給し、パルス幅を測定するべきパルサー10に対応するエッジ切替部20が、当該パルスを反転した場合のループ周期と、当該パルスを反転しない場合のループ周期との差分に基づいて、当該パルスのパルス幅を測定してよい。
本例におけるパルス発生器100は、それぞれのパルサー10の出力端の直近から出力パルスを取り出し、当該パルスをループさせることによりパルス幅を測定する。このため、パルスの立ち上がりエッジの遅延時間と、パルスの立ち下がりエッジの遅延時間の違いによる、パルス幅の測定誤差を低減することができる。
また、それぞれのパルサー10は、後述する図2に示されるように、通過するパルスのエッジが、立ち上がりエッジか立ち下がりエッジかによって遅延時間の異なる素子を介して縦続接続されてよい。この場合、それぞれの信号取出部26は、対応するパルサー10の出力端から、当該素子を介さずに出力パルスを取り出すことが好ましい。
また、選択部30は、複数の信号取出部26が取り出した出力パルスのうち、初段のパルサー10−1が出力するパルスから、最終段のパルサー10−3が出力する出力パルスまでを順次選択することが好ましい。この場合、測定部34は、選択部30がいずれかの出力パルスを選択する毎に、当該パルスのパルス幅を測定する。そして、パルス発生器100は、測定部34が出力パルスのパルス幅を測定する毎に、対応するパルサー10を制御して、当該パルサー10が出力する出力パルスのパルス幅を調整する調整部を備えることが好ましい。本例においては、測定部34が、当該調整部として更に機能する。
このように、初段のパルサー10−1から順にパルス幅を調整することにより、後段のパルサー10に入力されるパルスのパルス幅を所定のパルス幅に調整することができ、それぞれのパルサー10のパルス幅を精度よく調整することができる。
また、それぞれのパルサー10は、与えられる入力パルスのパルス幅を調整して出力する経路と、与えられる入力パルスを通過させる経路とを有し、いずれかの経路を選択して出力パルスを出力してよい。この場合、測定部34は、パルス幅を測定するべきパルサー10より前段に設けられたパルサー10に、入力パルスを通過させる経路を選択させてよい。当該入力パルスを通過させる経路には、通過するパルスのエッジが、立ち上がりエッジか立ち下がりエッジかによって遅延時間の異なる素子が設けられていないことが好ましい。
図2は、本発明の他の実施形態に係るタイミング発生器200の構成の一例を示す図である。タイミング発生器200は、所定の周期のタイミング信号を生成する回路であって、セットリセットラッチ62、セット部40、及びリセット部60を備える。
セットリセットラッチ62は、セット部40から与えられるセット信号に応じてタイミング信号の立ち上がりエッジを生成し、リセット部60から与えられるリセット信号に応じてタイミング信号の立ち下がりエッジを生成する。
セット部40とリセット部60とは、略同一の構成を有し、位相が予め定められた値だけ異なるセット信号とリセット信号とを生成する。本例においては、セット部40の構成について説明する。
セット部40は、2個の論理積回路42、第1可変遅延回路44、第2可変遅延回路45、2個の第1パルサー10−1、2個の第1信号取出部26−1、論理和回路46、第3可変遅延回路48、第2パルサー10−2、第2信号取出部26−2、選択部30、固定パルサー16、測定部34、論理和回路50、及びプリパルサー52を有する。
第1可変遅延回路44は、与えられる基準クロックを遅延させた第1セット信号を出力する。また、第2可変遅延回路45は、第1可変遅延回路と並列に設けられ、与えられる基準クロックを遅延させ、第1セット信号の位相に対して、基準クロックの周期以下だけ位相が異なる第2セット信号を出力する。
第1可変遅延回路44及び第2可変遅延回路45の入力端には、それぞれ論理積回路42が接続される。論理積回路42は、基準クロック及びイネーブル信号が与えられ、これらの論理積を出力する。タイミング信号を生成する場合や、パルサーにおけるパルス幅測定を行う場合にはH論理のイネーブル信号が与えられる。
また、第1可変遅延回路44及び第2可変遅延回路45の入力端には、それぞれ第1パルサー10−1が接続される。第1パルサー10−1は、第1可変遅延回路44及び第2可変遅延回路45が出力する信号のパルス幅を、予め定められたパルス幅にそれぞれ調整して出力する。
論理和回路46は、第1可変遅延回路44及び第2可変遅延回路45が出力する、第1セット信号と第2セット信号との論理和を、セット信号として生成して出力する。第3可変遅延回路48は、論理和回路46が出力するセット信号を遅延させて出力する。第3可変遅延回路48には、セットリセットラッチ62に入力されるべきセット信号とリセット信号との位相差に応じた、遅延設定信号が与えられる。
また、第2パルサー10−2は、第3可変遅延回路10−2が出力するセット信号のパルス幅を、予め定められたパルス幅に調整してセットリセットラッチ62に供給する。このような構成により、与えられる基準クロックをインターリーブした高周波のセット信号及びリセット信号に基づいて、所望のパターンのタイミング信号を生成することができる。
また、それぞれのパルサーは、パルスが結合することを防ぐために、後段の回路におけるパルス近接制限の条件を満たすパルス幅のパルスを出力する必要がある。このため、それぞれのパルサーにおけるパルス幅を精度よく調整する必要がある。本例のタイミング発生器200は、図1において説明したパルス発生器100と同様の方法で、それぞれの第1パルサー10−1、及び第2パルサー10−2のパルス幅を測定し、調整する。パルス幅を測定する場合、まず、論理和回路50が、基準クロックに代えて測定用のトリガパルスを受け取り、それぞれの論理積回路42に入力する。
第1信号取出部26−1は、第1パルサー10−1に対応して設けられ、第1パルサー10−1の出力端の直近から、第1パルサー10−1が出力する出力パルスを取り出す。また、第2信号取出部26−2は、第2パルサー10−2に対応して設けられ、第2パルサー10−2の出力端の直近から、第2パルサー10−2が出力する出力パルスを取り出す。第1信号取出部26−1及び第2信号取出部26−2の機能及び構成は、図1において説明した信号取出部26と同様である。
選択部30は、それぞれの第1信号取出部26−1、又は第2信号取出部26−2が取り出した3個の出力パルスのいずれかを選択する。選択部30の機能は、図1において説明した選択部30と同様である。また、固定パルサー16、論理和回路50、プリパルサー52は、選択部30が選択したパルスを、論理積回路42を介してそれぞれの第1パルサー10−1に帰還入力する帰還経路を構成する。
測定部34は、選択部30が選択したパルスが帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択部30が選択したパルスのパルス幅を測定する。測定部34は、図1において説明した測定部34と同一の方法で、それぞれのパルサーにおけるパルス幅を測定し、調整してよい。例えば、まずそれぞれの第1パルサー10−1のパルス幅の測定及び調整を行い、次に第2パルサー10−2のパルス幅の測定及び調整を行う。
遅延回路や論理演算回路は、通過するパルスの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとで、遅延時間にバラツキが生じる。しかし、本例におけるタイミング発生器200によれば、複数のパルサーが、これらの素子を介して縦続接続されていても、それぞれのパルサーのパルス幅を精度よく測定し、調整することができる。
図3は、図1において説明したパルス発生器100において、それぞれのパルサー10が出力するパルス幅を調整するパルス幅調整方法の一例を示すフローチャートである。まず、複数のパルサー10の出力端の直近から、それぞれのパルサー10が出力する出力パルスを取り出す(信号取出段階S300)。
次に、信号取出段階S300において取り出した出力パルスのいずれかを選択する(選択段階S302)。そして、選択段階S302において選択した出力パルスを、複数のパルサー10の初段のパルサー10に帰還経路を用いて帰還入力する(帰還段階S304)。そして、選択段階S302において選択した出力パルスが帰還経路を通過するループ周期に基づいて、選択段階S302において選択した出力パルスのパルス幅を測定する(測定段階S306)。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
以上から明らかなように、本発明によれば、縦続接続された複数のパルサーがそれぞれ出力する出力パルスのパルス幅を、当該出力パルスをそれぞれループさせる方法を用いて精度よく測定することができる。
本発明の実施形態に係るパルス発生器100の構成の一例を示す図である。 本発明の他の実施形態に係るタイミング発生器200の構成の一例を示す図である。 図1において説明したパルス発生器100において、それぞれのパルサー10が出力するパルス幅を調整するパルス幅調整方法の一例を示すフローチャートである。 複数のパルサーを有する従来のパルス発生器400の構成の一例を示す図である。
符号の説明
10・・・パルサー、16・・・固定パルサー、20・・・エッジ切替部、26・・・信号取出部、30・・・選択部、31・・・論理和回路、32・・・フリップフロップ、33・・・固定パルサー、34・・・測定部、36・・・遅延回路、40・・・セット部、42・・・論理積回路、44・・・第1可変遅延回路、46・・・第2可変遅延回路、48・・・第3可変遅延回路、50・・・論理和回路、52・・・プリパルサー、60・・・リセット部、100・・・パルス発生器、200・・・タイミング発生器、400・・・パルス発生器、410、420、430・・・パルサー、440・・・排他論理和回路、450・・・フリップフロップ、460・・・カウンタ、470・・・論理和回路、480・・・固定パルサー、490・・・遅延回路

Claims (6)

  1. 所定のパルス幅のパルスを生成するパルス発生器であって、
    入力されるパルスのパルス幅をそれぞれ所定のパルス幅に変更して出力する、縦続接続された複数のパルサーと、
    前記複数のパルサーに対応して設けられ、対応する前記パルサーの出力端の直近から、対応する前記パルサーが出力する前記パルスを取り出す複数の信号取出部と、
    前記複数の信号取出部が取り出した前記パルスのいずれかを選択する選択部と、
    前記選択部が選択したパルスを、前記複数のパルサーの初段の前記パルサーに入力する帰還経路と、
    前記選択部が選択したパルスが前記帰還経路を通過するループ周期に基づいて、前記選択部が選択したパルスのパルス幅を測定する測定部と
    を備えるパルス発生器。
  2. それぞれの前記信号取出部は、対応する前記パルサーが出力する前記パルスを反転するか否かを切り替えるエッジ切替部を有し、
    前記測定部は、前記エッジ切替部が当該パルスを反転した場合の前記ループ周期と、前記エッジ切替部が当該パルスを反転しない場合の前記ループ周期との差分に基づいて、当該パルスのパルス幅を測定する
    請求項1に記載のパルス発生器。
  3. 前記複数のパルサーは、通過するパルスのエッジが、立ち上がりエッジか立ち下がりエッジかによって遅延時間の異なる素子によって縦続接続され、
    それぞれの前記信号取出部は、それぞれの前記パルサーの出力端から、前記素子を介さずに前記パルスを取り出す
    請求項2に記載のパルス発生器。
  4. 前記選択部は、前記複数の信号取出部が取り出した前記パルスのうち、初段の前記パルサーが出力する前記パルスから、最終段の前記パルサーが出力する前記パルスまで順次選択し、
    前記測定部は、前記選択部が前記パルスを選択する毎に、当該パルスのパルス幅を測定し、
    前記パルス発生器は、前記測定部が前記パルスのパルス幅を測定する毎に、対応する前記パルサーを制御して、当該パルサーが出力する前記パルスのパルス幅を調整する調整部を更に備える
    請求項1に記載のパルス発生器。
  5. 所定の周期のタイミング信号を生成するタイミング発生器であって、
    与えられるセット信号に応じて前記タイミング信号の立ち上がりエッジを生成し、与えられるリセット信号に応じて前記タイミング信号の立ち下がりエッジを生成するセットリセットラッチと、
    前記セットリセットラッチに、前記セット信号を供給するセット部と、
    前記セットリセットラッチに、前記リセット信号を供給するリセット部と
    を備え、
    前記セット部は、
    与えられる基準クロックを遅延させた第1セット信号を出力する第1可変遅延回路と、
    与えられる基準クロックを遅延させ、前記第1セット信号の位相に対して、前記基準クロックの周期以下だけ位相が異なる第2セット信号を出力する第2可変遅延回路と、
    前記第1可変遅延回路及び前記第2可変遅延回路が出力する信号のパルス幅を、予め定められたパルス幅にそれぞれ調整する第1パルサーと、
    前記第1セット信号と前記第2セット信号との論理和を、前記セット信号として生成する論理和回路と、
    前記論理和回路が出力する前記セット信号を遅延させて出力する第3可変遅延回路と、
    前記第3可変遅延回路が出力する信号のパルス幅を、予め定められたパルス幅に調整する第2パルサーと、
    前記第1パルサーに対応して設けられ、前記第1パルサーの出力端の直近から、前記第1パルサーが出力する前記パルスを取り出す第1信号取出部と、
    前記第2パルサーに対応して設けられ、前記第2パルサーの出力端の直近から、前記第2パルサーが出力する前記パルスを取り出す第2信号取出部と、
    前記第1信号取出部又は前記第2信号取出部が取り出した前記パルスのいずれかを選択する選択部と、
    前記選択部が選択したパルスを、前記第1パルサーに入力する帰還経路と、
    前記選択部が選択したパルスが前記帰還経路を通過するループ周期に基づいて、前記選択部が選択したパルスのパルス幅を測定する測定部と
    を有するタイミング発生器。
  6. 入力されるパルスのパルス幅をそれぞれ所定のパルス幅に変更して出力する、縦続接続された複数のパルサーを備えるパルス発生器において、それぞれの前記パルサーが出力するパルス幅を調整するパルス幅調整方法であって、
    前記複数のパルサーの出力端の直近から、それぞれの前記パルサーが出力する前記パルスを取り出す信号取出段階と、
    前記信号取出段階において取り出した前記パルスのいずれかを選択する選択段階と、
    前記選択段階において選択したパルスを、前記複数のパルサーの初段の前記パルサーに帰還経路を用いて帰還入力する帰還段階と、
    前記選択段階において選択したパルスが前記帰還経路を通過するループ周期に基づいて、前記選択段階において選択したパルスのパルス幅を測定する測定段階と
    を備えるパルス幅調整方法。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI501554B (zh) * 2013-05-10 2015-09-21 Richtek Techohnology Corp 脈波產生電路

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147371A (ja) * 1985-12-20 1987-07-01 Advantest Corp パルス幅測定器
JPH095408A (ja) * 1995-06-22 1997-01-10 Advantest Corp タイミング信号発生回路
JPH09171061A (ja) * 1995-12-21 1997-06-30 Advantest Corp 遅延時間測定方法
JPH09203772A (ja) * 1996-01-25 1997-08-05 Advantest Corp 遅延時間測定方法及び遅延時間測定用パルス発生装置
JP2000147033A (ja) * 1998-11-16 2000-05-26 Advantest Corp パルサのパルス幅測定装置
JP2001091587A (ja) * 1999-09-22 2001-04-06 Toshiba Corp 可変遅延素子のテスト回路
JP2002139556A (ja) * 2000-11-02 2002-05-17 Advantest Corp 半導体試験装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3903528A (en) * 1973-05-22 1975-09-02 Polaroid Corp Exposure control system for photographic apparatus
DE2729422C2 (de) * 1977-06-29 1982-06-24 Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg Schaltungsanordnung zur Impulsbreitenmessung
CU21488A1 (es) * 1982-07-26 1987-06-09 Inst Central De Investigacion Medidor lógico
JPS6177757U (ja) * 1984-10-25 1986-05-24
JPS62188824A (ja) 1986-02-12 1987-08-18 Kubota Ltd 油圧クラツチの圧力調整機構
JP2583833Y2 (ja) * 1992-10-16 1998-10-27 株式会社アドバンテスト パルス測定装置
US6148025A (en) * 1998-04-17 2000-11-14 Lucent Technologies, Inc. System and method for compensating for baseline wander
JP3453133B2 (ja) * 1999-08-16 2003-10-06 株式会社アドバンテスト Ic試験装置のタイミング校正方法及びその校正方法を用いた校正機能を有するic試験装置
US6246737B1 (en) 1999-10-26 2001-06-12 Credence Systems Corporation Apparatus for measuring intervals between signal edges
DE10249886B4 (de) * 2002-10-25 2005-02-10 Sp3D Chip Design Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Taktsignals mit vorbestimmten Taktsingaleigenschaften

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62147371A (ja) * 1985-12-20 1987-07-01 Advantest Corp パルス幅測定器
JPH095408A (ja) * 1995-06-22 1997-01-10 Advantest Corp タイミング信号発生回路
JPH09171061A (ja) * 1995-12-21 1997-06-30 Advantest Corp 遅延時間測定方法
JPH09203772A (ja) * 1996-01-25 1997-08-05 Advantest Corp 遅延時間測定方法及び遅延時間測定用パルス発生装置
JP2000147033A (ja) * 1998-11-16 2000-05-26 Advantest Corp パルサのパルス幅測定装置
JP2001091587A (ja) * 1999-09-22 2001-04-06 Toshiba Corp 可変遅延素子のテスト回路
JP2002139556A (ja) * 2000-11-02 2002-05-17 Advantest Corp 半導体試験装置

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