JP2006060079A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2006060079A5
JP2006060079A5 JP2004241336A JP2004241336A JP2006060079A5 JP 2006060079 A5 JP2006060079 A5 JP 2006060079A5 JP 2004241336 A JP2004241336 A JP 2004241336A JP 2004241336 A JP2004241336 A JP 2004241336A JP 2006060079 A5 JP2006060079 A5 JP 2006060079A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
field effect
insulating layer
gate insulating
effect transistor
transistor structure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004241336A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006060079A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2004241336A priority Critical patent/JP2006060079A/ja
Priority claimed from JP2004241336A external-priority patent/JP2006060079A/ja
Publication of JP2006060079A publication Critical patent/JP2006060079A/ja
Publication of JP2006060079A5 publication Critical patent/JP2006060079A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (10)

  1. 基板上に形成されるゲート電極と、
    前記ゲート電極上に形成されるゲート絶縁層と、
    前記ゲート絶縁層上に対向形成されるソース電極及びドレイン電極と、
    前記ソース電極及びドレイン電極間に形成される半導体層とを有する電界効果型トランジスタ構造の素子であって、
    前記ソース電極およびドレイン電極形成領域以外のゲート絶縁層または基板の臨界表面張力は、該ソース電極およびドレイン電極の形成領域における臨界表面張力よりも小さい表面エネルギーであることを特徴とする電界効果型トランジスタ構造の素子
  2. 前記ソース電極およびドレイン電極の形成領域以外のゲート絶縁層または基板の臨界表面張力に比べて、10mN/m以上臨界表面張力が大きいソース電極およびドレイン電極が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  3. 前記ソース電極およびドレイン電極に挟持された低表面エネルギーのゲート絶縁層または基板の間隔が、該ソース電極およびドレイン電極の各幅よりも小さくなるように各電極が形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  4. 前記ソース電極およびドレイン電極に挟持されたゲート絶縁層または基板の臨界表面張力が、該各電極に挟持されていないゲート絶縁層または基板の臨界表面張力の値よりも大きいことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  5. 前記ゲート絶縁層は、エネルギーの付加によって臨界表面張力が変化する材料からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  6. 前記ゲート絶縁層は、少なくとも第一の材料と第二の材料とからなり、該第一の材料は第二の材料と比較してエネルギーの付加によって臨界表面張力が大きく変化する材料であり、該第二の材料は第一の材料とは別の性能を補完する機能を有する材料であり、
    かつ、前記第一の材料と第二の材料はゲート絶縁層厚方向に濃度分布を有し、最表層部における第一の材料の濃度が第二の材料の濃度よりも高いことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  7. 前記第二の材料は、第一の材料と比較して電気絶縁性の高い材料であることを特徴とする請求項6に記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  8. 前記第二の材料は、第一の材料と比較して高比誘電率の材料であることを特徴とする請求項6に記載の電界効果型トランジスタ構造の素子
  9. 請求項1〜8のいずれかに記載の電界効果型トランジスタ構造の素子が絶縁性基板上に複数形成されたことを特徴とする電子素子アレイ。
  10. 請求項9に記載の電子素子アレイを備えたことを特徴とする表示装置。
JP2004241336A 2004-08-20 2004-08-20 半導体層のパターン形成方法及び電子素子、電子素子アレイ、表示装置 Pending JP2006060079A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004241336A JP2006060079A (ja) 2004-08-20 2004-08-20 半導体層のパターン形成方法及び電子素子、電子素子アレイ、表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004241336A JP2006060079A (ja) 2004-08-20 2004-08-20 半導体層のパターン形成方法及び電子素子、電子素子アレイ、表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006060079A JP2006060079A (ja) 2006-03-02
JP2006060079A5 true JP2006060079A5 (ja) 2007-10-04

Family

ID=36107284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004241336A Pending JP2006060079A (ja) 2004-08-20 2004-08-20 半導体層のパターン形成方法及び電子素子、電子素子アレイ、表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006060079A (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101461047B (zh) 2006-06-07 2011-06-15 松下电器产业株式会社 半导体元件及其制造方法以及电子器件及其制造方法
JP5098325B2 (ja) * 2006-12-21 2012-12-12 セイコーエプソン株式会社 トランジスタ、トランジスタの製造方法、電子デバイスおよび電子機器
JP5380831B2 (ja) * 2007-12-07 2014-01-08 株式会社リコー 有機トランジスタ及びその製造方法
JP4466763B2 (ja) 2008-05-14 2010-05-26 ソニー株式会社 パターン形成方法、半導体装置の製造方法、および表示装置の製造方法
JP5446982B2 (ja) * 2009-05-01 2014-03-19 株式会社リコー 画像表示パネル及び画像表示装置
JP5724168B2 (ja) 2009-10-21 2015-05-27 株式会社リコー 電気−機械変換素子とその製造方法、及び電気−機械変換素子を有する液滴吐出ヘッド、液滴吐出ヘッドを有する液滴吐出装置
WO2012036103A1 (en) 2010-09-15 2012-03-22 Ricoh Company, Ltd. Electromechanical transducing device and manufacturing method thereof, and liquid droplet discharging head and liquid droplet discharging apparatus
WO2021172408A1 (ja) * 2020-02-26 2021-09-02 国立大学法人 東京大学 半導体装置及びその製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3246189B2 (ja) * 1994-06-28 2002-01-15 株式会社日立製作所 半導体表示装置
JP3994441B2 (ja) * 1995-01-09 2007-10-17 松下電器産業株式会社 電界効果トランジスタ
JP2003309268A (ja) * 2002-02-15 2003-10-31 Konica Minolta Holdings Inc 有機トランジスタ素子及びその製造方法
US7019328B2 (en) * 2004-06-08 2006-03-28 Palo Alto Research Center Incorporated Printed transistors

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2022031711A5 (ja) 表示装置、電子機器
JP2006512774A5 (ja)
KR20160020034A (ko) 스트레처블 기판 및 이를 구비한 유기 발광 표시 장치
TW200734780A (en) Display device and manufacturing method therefor
JP2006041354A5 (ja)
JP2006344956A5 (ja)
JP2006303488A5 (ja)
TW200603384A (en) Integrated circuit devices including a dual gate stack structure and methods of forming the same
KR20130019700A (ko) 트랜지스터와 그 제조방법 및 트랜지스터를 포함하는 전자소자
JP2010008874A5 (ja)
JP2001028443A5 (ja)
JP2003149675A5 (ja)
JP2005310962A5 (ja)
TW200834197A (en) Liquid crystal display device and electronic device
JP2018200377A5 (ja)
JP2005294814A5 (ja)
JP2007141916A5 (ja)
JP2018022713A5 (ja) 半導体装置
JP2006013480A5 (ja)
JP2006060079A5 (ja)
JP2002158350A5 (ja)
JP2006013481A5 (ja)
JP2008205330A5 (ja)
JP2003229578A5 (ja)
JP2009122256A5 (ja)