JP2006054438A - 基板処理装置,基板処理方法及びコンピュータプログラム - Google Patents

基板処理装置,基板処理方法及びコンピュータプログラム Download PDF

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Abstract

【課題】 塗布現像処理装置内で発生したゴーストウェハを,他の通常の基板の処理を中断させずに回収する。
【解決手段】 塗布現像処理装置1側が認識していないゴーストウェハGが露光装置4から搬出された場合には,当該ゴーストウェハGをユニット群H1のバッファカセット131に一旦収容する。そして,ロットとロットの間の切れ目で,他のウェハ処理に影響を与えないタイミングで,バッファカセット131内のゴーストウェハGを,各搬送ユニット122,31,30,7を順に用いてカセットステーション2に回収する。
【選択図】 図1

Description

本発明は,基板処理装置,基板処理方法及びコンピュータプログラムに関する。
例えば半導体デバイスの製造工程におけるフォトリソグラフィー工程は,通常塗布現像処理装置を用いて行われている。塗布現像処理装置は,例えば外部に対して基板を搬入出するための搬入出部と,レジスト塗布処理,現像処理及び熱処理等の各種処理を行う複数の処理ユニットが配置された処理部と,当該処理部と他の装置である露光装置との間で基板の受け渡しを行うためのインターフェイス部とを備えている。また,塗布現像処理装置は,例えば上記各部間や処理ユニット間において基板を搬送する複数の搬送ユニットを備えている。
上記塗布現像処理装置における基板の処理時には,搬入出部に搬入された複数の基板が搬送ユニットによって順次処理部に搬送され,処理部の複数の処理ユニットに順次搬送されて,各基板に対してレジスト塗布処理,熱処理などの所定の処理が施される。処理部において所定の処理が施された基板は,搬送ユニットによってインターフェイス部に順次搬送され,当該インターフェイス部から露光装置に搬送される。露光装置において露光処理が施された基板は,露光装置からインターフェイス部に搬出され,インターフェイス部から再び処理部に搬送される。処理部の各基板は,各処理ユニットにおいて現像処理などの所定の処理が施された後,順次搬入出部に戻される。この塗布現像処理装置においては,複数の基板がロット毎に連続的に処理されている。
また,上記したように複数の基板が連続処理される塗布現像処理装置においては,通常,処理される各々の基板に対し管理用の識別番号が付与されており,基板の処理工程中,各基板は,当該識別番号に基づいて管理されている(例えば,特許文献1参照。)。
ところで,上述したように基板の一連の処理工程中に一時的に基板が搬送される露光装置と塗布現像処理装置とは,別装置であるので,基板の処理や搬送を管理する制御系を各々が備えている。従来は,塗布現像処理装置と露光装置との間で基板をやり取りする際には,例えば塗布現像処理装置は,識別番号で管理している複数枚のウェハを露光装置に順次搬入し,露光装置の露光が終了し搬出されるウェハを順に受け取って再び管理していた。
しかしながら,露光装置側から塗布現像処理装置に,塗布現像処理装置側が認識していない基板,いわゆる「ゴーストウェハ」が搬出される場合がある。この原因として,例えば露光装置内に直接手動で搬入された基板が塗布現像処理装置側に搬出される場合,露光装置側に搬出基板に関するオペレーションミスがあった場合,塗布現像処理装置側から露光装置に基板を搬入した後に不具合などにより塗布現像処理装置の電源を落として再起動したため,搬入した基板の識別情報が失われた場合などが考えられる。
このように,塗布現像処理装置側に「ゴーストウェハ」が搬出された場合,塗布現像処理装置は,認識していない「ゴーストウェハ」を受け取ることができない。このため,塗布現像処理装置と露光装置との間の基板の搬送が停止し,その結果,塗布現像処理装置における総ての基板の搬送や処理が中断していた。また,この「ゴーストウェハ」を作業員の手作業によって取り除いていた。このように,「ゴーストウェハ」が発生する度に,基板処理が中断され,「ゴーストウェハ」の取り除き作業が行われるため,基板の生産効率が著しく低下していた。また,「ゴーストウェハ」を手動で取り除くために,手や顔を装置内に入れる必要があり,危険であった。
特開2004−87878号公報
本発明は,かかる点に鑑みてなされたものであり,塗布現像処理装置などの基板処理装置内で発生した「ゴーストウェハ」などの不認識基板を,他の通常の基板処理を中断させず回収できる基板処理装置,基板処理方法,およびかかる基板処理方法を実行するためのコンピュータプログラムを提供することをその目的とする。
上記目的を達成するために,本発明は,基板を搬入出する搬入出部と,基板を処理する処理部と,当該処理部と他の装置との間の基板の受け渡しを行うための受け渡し部と,前記搬入出部に搬入された基板を前記処理部に搬送し当該処理部から前記受け渡し部を介して前記他の装置に搬送でき,さらに前記他の装置から搬出された基板を前記受け渡し部を介して前記処理部に搬送し当該処理部から前記搬入出部に搬送できる基板搬送手段と,前記基板搬送手段による基板の搬送を制御する制御部と,を備えた基板処理装置であって,前記制御部は,前記基板搬送手段により搬送される基板を個別に管理しながら各基板の搬送を制御し,
前記制御部は,当該制御部により認識されていない不認識基板が前記他の装置から搬出された場合に,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送し回収する制御を行うことを特徴とする。なお,「不認識基板」には,実物のある基板のみならず,実物のない基板,例えば他の装置からの基板搬出信号だけで,実際に基板が存在しない場合をも含まれる。
本発明によれば,制御部により認識されていない不認識基板が他の装置から搬出される場合においても,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて搬入出部に回収することができる。したがって,不認識基板が発生した場合に,その都度基板処理装置を停止し基板処理を中断させる必要がなく,不認識基板を自動で回収できる。この結果,基板の生産効率を向上できる。また,作業員が不認識基板を手動で取り除く必要がないので,作業に伴う危険を回避できる。
前記制御部は,当該制御部により認識されている通常の基板の処理を妨げないように,前記不認識基板を前記搬入出部に搬送し回収するように制御してもよい。かかる場合,他の通常の基板の処理を妨げないので,不認識基板の回収に伴って他の基板の処理効率が低下することを防止できる。
前記基板処理装置は,前記不認識基板を収容する収容部をさらに備え,前記制御部は,前記他の装置から搬出された前記不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記収容部に一旦収容し,前記通常の基板の処理を妨げないタイミングで前記収容部の不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送するように制御してもよい。かかる場合,不認識基板を収容部に一旦収容できるので,通常の基板の処理を妨げない所望のタイミングで不認識基板を搬入出部に搬送できる。
前記収容部は,前記受け渡し部に設けられていてもよい。かかる場合,他の装置に近い受け渡し部に収容部が設けられるので,他の装置から搬出される不認識基板を収容部に直ちに収容できる。この結果,不認識基板が他の通常の基板の搬送を妨げることを防止できる。
前記制御部は,前記不認識基板の前記搬入出部への搬送を,前記通常の基板のロットとロットとの間の切れ目に実行するように制御を行ってもよい。
別の観点による本発明は,基板を搬入出する搬入出部と,基板を処理する処理部と,当該処理部と他の装置との間の基板の受け渡しを行うための受け渡し部と,前記搬入出部に搬入された基板を前記処理部に搬送し当該処理部から前記受け渡し部を介して前記他の装置に搬送でき,さらに前記他の装置から搬出された基板を前記受け渡し部を介して前記処理部に搬送し当該処理部から前記搬入出部に搬送できる基板搬送手段と,前記基板搬送手段により搬送される基板を個別に管理しながら,前記基板の搬送を制御する制御部と,を備えた基板処理装置における基板の処理方法であって,前記制御部により認識されていない不認識基板が前記他の装置から搬出された場合に,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送して回収することを特徴とする。
本発明によれば,制御部により認識されていない不認識基板が他の装置から搬出される場合においても,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて搬入出部に回収することができる。したがって,不認識基板が発生した場合に,その都度基板処理装置を停止して基板処理を中断させる必要がなく,不認識基板を自動で回収できる。この結果,基板の生産効率を向上できる。また,作業員が不認識基板を手動で取り除く必要がないので,その作業に伴う危険を回避できる。
前記制御部により認識されている通常の基板の処理を妨げないように,前記不認識基板を前記搬入出部に搬送し回収してもよい。また,前記他の装置から搬出された前記不認識基板を前記基板搬送手段を用いて一旦収容部に収容し,前記通常の基板の処理を妨げないタイミングで,前記収容部の不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送してもよい。さらに,前記不認識基板の前記搬入出部への搬送を,前記通常の基板のロットとロットとの間の切れ目に行うようにしてもよい。
また本発明のコンピュータプログラムは,基板を搬入出する搬入出部と,基板を処理する処理部と,当該処理部と他の装置との間の基板の受け渡しを行うための受け渡し部と,前記搬入出部に搬入された基板を前記処理部に搬送し当該処理部から前記受け渡し部を介して前記他の装置に搬送でき,さらに前記他の装置から搬出された基板を前記受け渡し部を介して前記処理部に搬送し当該処理部から前記搬入出部に搬送できる基板搬送手段と,前記基板搬送手段による基板の搬送を制御する制御部と,を備えた基板処理装置での処理のためのコンピュータプログラムであって,前記基板搬送手段により搬送される基板を前記制御部によって個別に管理し,前記制御部により認識されていない不認識基板が前記他の装置から搬出された場合に,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送して回収する処理をコンピュータに実行させることを特徴としている。
本発明によれば,不認識基板が発生しても他の基板処理を中断する必要がないので,基板処理装置における基板の生産効率の向上できる。
以下,本発明の好ましい実施の形態について説明する。図1は,本実施の形態にかかる基板処理装置としての塗布現像処理装置1の構成の概略を示す平面図であり,図2は,塗布現像処理装置1の正面図であり,図3は,塗布現像処理装置1の背面図である。
塗布現像処理装置1は,図1に示すように例えば装置全体を覆う筺体としてのケーシング1a内に,例えば25枚のウェハをカセット単位で外部から塗布現像処理装置1に対して搬入出したり,カセットCに対してウェハを搬入出したりする搬入出部としてのカセットステーション2と,塗布現像工程の中で枚葉式に所定の処理を施す各種処理ユニットを多段配置してなる処理部としての処理ステーション3と,この処理ステーション3に隣接して設けられている他の装置としての露光装置4との間でウェハの受け渡しを行う受け渡し部としてのインターフェイス部5とを一体に接続した構成を有している。
カセットステーション2では,カセット載置台6上の所定の位置に複数のカセット,例えばカセットC1,C2,C3をX方向(図1中の上下方向)に沿って一列に載置できる。カセットステーション2には,搬送路7上をX方向に沿って移動可能なウェハ搬送ユニット8が設けられている。ウェハ搬送ユニット8は,上下方向にも移動可能であり,カセット内に上下方向に配列されたウェハに対して選択的にアクセスできる。ウェハ搬送ユニット8は,鉛直方向の軸周り(θ方向)に回転可能であり,後述する処理ステーション3側の第3の処理ユニット群G3内のユニットに対してもアクセスできる。
処理ステーション3は,図1に示すように複数の処理ユニットが多段に配置された,例えば7つの処理ユニット群G1〜G7を備えている。処理ステーション3の正面側であるX方向負方向(図1中の下方向)側には,カセットステーション2側から第1の処理ユニット群G1,第2の処理ユニット群G2が順に配置されている。処理ステーション3の中央部には,カセットステーション2側から第3の処理ユニット群G3,第4の処理ユニット群G4及び第5の処理ユニット群G5が順に配置されている。処理ステーション3の背面側であるX方向正方向(図1中の上方向)側には,カセットステーション2側から第6の処理ユニット群G6,第7の処理ユニット群G7が順に配置されている。
第3の処理ユニット群G3と第4の処理ユニット群G4の間には,第1の搬送ユニット30が設けられている。第1の搬送ユニット30は,例えばθ方向に回転可能で,かつ水平方向と上下方向に移動可能な搬送アーム30aを備えている。第1の搬送ユニット30は,隣接する第1の処理ユニット群G1,第3の処理ユニット群G3,第4の処理ユニット群G4及び第6の処理ユニット群G6内の各ユニットに対し搬送アーム30aを進退させることによって,当該各処理ユニット群G1,G3,G4及びG6内の各ユニット間でウェハを搬送できる。
第4の処理ユニット群G4と第5の処理ユニット群G5の間には,第2の搬送ユニット31が設けられている。第2の搬送ユニット31は,第1の搬送ユニット30と同様に搬送アーム31aを備えており,第2の処理ユニット群G2,第4の処理ユニット群G4,第5の処理ユニット群G5及び第7の処理ユニット群G7の各ユニットに対して選択的にアクセスしてウェハを搬送できる。
図2に示すように第1の処理ユニット群G1には,ウェハに所定の液体を供給して処理を行う液処理ユニット,例えばウェハにレジスト液を塗布してレジスト膜を形成するレジスト塗布ユニット40〜44が下から順に5段に重ねられている。第2の処理ユニット群G2には,液処理ユニット,例えばウェハを現像処理する現像ユニット50〜54が下から順に5段に重ねられている。また,第1の処理ユニット群G1及び第2の処理ユニット群G2の最下段には,各処理ユニット群G1及びG2内の前記液処理ユニットに各種処理液を供給するためのケミカル室60,61がそれぞれ設けられている。
例えば図3に示すように第3の処理ユニット群G3には,ウェハの受け渡しを行うためのトランジションユニット70,71,精度の高い温度管理下でウェハを冷却するクーリングユニット72〜74及びウェハを高温で加熱処理する高温度熱処理ユニット75〜78が下から順に9段に重ねられている。
第4の処理ユニット群G4では,例えばクーリングユニット80,81,レジスト塗布処理後のウェハを加熱処理するプリベーキングユニット82〜86及び現像処理後のウェハを加熱処理するポストベーキングユニット87〜89が下から順に10段に重ねられている。
第5の処理ユニット群G5では,例えばクーリングユニット90〜93,露光後のウェハを加熱処理する熱処理ユニットとしてのポストエクスポージャーベーキングユニット94〜99が下から順に10段に重ねられている。ポストエクスポージャーベーキング94〜99は,例えば容器内にウェハを載置して加熱する加熱板とウェハを載置して冷却する冷却板を有し,ウェハの加熱と冷却の両方を行うことができる。
第6の処理ユニット群G6には,例えば図3に示すようにウェハを疎水化処理するためのアドヒージョンユニット100,101,ウェハを加熱処理する加熱処理ユニット102,103が下から順に4段に重ねられている。
第7の処理ユニット群G7には,例えば図3に示すようにポストベーキングユニット110〜112が下から順に3段に重ねられている。
インターフェイス部5は,例えば図1に示すように処理ステーション3側から順に第1のインターフェイス部120と,第2のインターフェイス部121とを備えている。第1のインターフェイス部120には,例えば第1のウェハ搬送ユニット122が第5の処理ユニット群G5に対応する位置に設けられている。第1のウェハ搬送ユニット122のX方向の両側には,例えば2つのユニット群H1,H2が配置されている。
例えばX方向正方向側のユニット群H1には,図3に示すように例えば収容部としてのバッファカセットユニット130,131,ウェハの外周部のみを選択的に露光する周辺露光ユニット132が下から順に配置されている。X方向負方向側のユニット群H2には,図2に示すように例えばクーリングユニット140,141,トランジションユニット142が下から順に配置されている。
図1に示すように第1のウェハ搬送ユニット122は,例えば水平方向と上下方向に移動可能で,かつθ方向に回転可能であり,第5の処理ユニット群G5,ユニット群H1及びユニット群H2内の各ユニットに対してアクセスできる。
第2のインターフェイス部121には,例えばX方向に向けて設けられた搬送路150上を移動する第2のウェハ搬送ユニット151が設けられている。第2のウェハ搬送ユニット151は,Z方向に移動可能で,かつθ方向に回転可能であり,例えばユニット群H2内の各ユニットと,露光装置4内の後述する受け渡し台160との間でウェハを搬送できる。
露光装置4には,例えばインターフェイス部5の第2の搬送ユニット151との間でウェハの受け渡しを行う受け渡し台160が設けられている。受け渡し台160には,例えばウェハを載置できる搬入載置部161と搬出載置部162が並べて設けられている。第2のウェハ搬送ユニット151は,ユニット群H2内のウェハを搬入載置部161上に載置することができ,露光装置4は,搬入載置部161に載置されたウェハを受け取って露光処理することができる。露光装置4は,露光処理の終了したウェハを搬出載置部162に載置することができ,第2のウェハ搬送ユニット151は,搬出載置部162に載置されたウェハを受け取ってユニット群H2内に搬送することができる。
なお,本実施の形態においては,ウェハ搬送ユニット8,第1の搬送ユニット30,第2の搬送ユニット31,第1のウェハ搬送ユニット122及び第2のウェハ搬送ユニット151によって基板搬送手段が構成されている。
塗布現像処理装置1におけるウェハ処理やウェハ搬送の管理は,例えば図1に示す制御部170によって行われている。制御部170には,例えばウェハに所望の処理を施すための搬送フローがロット毎に設定されている。制御部170は,塗布現像処理装置1内の搬送ユニット7,30,31,122,151などの動作を制御しながら前記搬送フローに従って各ロットのウェハを順次搬送し,各ウェハに所望の処理を施すことができる。制御部170は,例えば前記搬送フローに従って搬送される各ウェハに識別番号を付して管理している。これにより,塗布現像処理装置1内で処理中のウェハは,制御部170によって常時認識されている。
上記構成を有する塗布現像処理装置1は,制御部によって制御されている。制御部170は,中央処理装置171,支持回路172,及び関連した制御ソフトウエアを含む記憶媒体173を有している。この制御部170は,例えば前記した搬送ユニット7,30,31,122,151などの動作は,もちろんのこと,その他塗布現像処理装置1における各ユニットの動作,管理も行っている。
制御部170の中央処理装置171は,汎用コンピュータのプロセッサを用いることができる。記憶媒体173は,例えばRAM,ROM,フレキシブルディスク,ハードディスクをはじめとした各種の形式の記憶媒体を用いることができる。また支持回路174は,各種の方法でプロセッサを支持するために中央処理装置171と接続されている。
記憶媒体173には,搬送ユニット7,30,31,122,151などの動作の通常の制御以外に,例えば後述するような図6に示したフローに基いた制御のコンピュータプログラム,図5,図7に示したスケジュール,その他本発明の基板処理方法を実施するために必要な制御プログラムが格納されている。
別装置である塗布現像処理装置1と露光装置4との間でウェハを搬入出する場合,例えば制御部170は,露光装置4に搬入するウェハの識別番号とその搬入順番を認識しており,露光装置4から搬出されたウェハの順番を基に当該搬出ウェハの識別番号を認識し引き続き管理できる。
ところで,露光装置4から塗布現像処理装置1に,制御部170により認識されていない不認識基板としてのウェハ(以下,「ゴーストウェハG」とする)が搬出されることがある。制御部170には,当該ゴーストウェハGをカセットステーション2の所定のカセットに回収するためのゴーストウェハ回収機能が設定されている。制御部170は,ゴーストウェハ回収機能によって,例えば露光装置4の搬出載置部162に載置されたゴーストウェハGを一旦バッファカセット130,131に収容し待機させ,他のウェハの処理を妨げない所定のタイミングでカセットステーション2のカセットまで搬送できる。
ここで,塗布現像処理装置1で行われる通常のウェハ処理の一例を説明する。図4は,処理時のウェハの搬送フローの一例を示すものである。図5は,2つのロットの搬送スケジュールの一例を示している。
例えば図1に示すカセットC1,C2には,ロットA,Bの未処理のウェハA1〜A3,B1〜B3がそれぞれ収容され,それらのカセットC1,C2がカセットステーション2の載置台6上に載置されると,カセットC1,C2内のウェハA1〜A3,B1〜B3は,各ロット毎に設定されている搬送フローに従って順次搬送され処理される。
例えば,図1に示すカセットC1から取り出されたロットAのウェハA1は,先ずウェハ搬送ユニット8によって第3の処理ユニット群G3のトランジションユニット70に搬送される。トランジションユニット70に搬送されたウェハA1は,第1の搬送ユニット30によって第6の処理ユニット群G6のアドヒージョンユニット100に搬送され,ウェハA1上に例えばHMDSが塗布されて,ウェハA1とレジスト液との密着性が向上される。続いてウェハA1は,第1の搬送ユニット30によって第3の処理ユニット群G3のクーリングユニット72に搬送され冷却された後,第1の搬送ユニット30によって第1の処理ユニット群G1のレジスト塗布ユニット40に搬送され,レジスト塗布処理が施される。
レジスト塗布処理が施されたウェハA1は,第1の搬送ユニット30によって第4の処理ユニット群G4のプリベーキングユニット82に搬送され加熱され乾燥された後,第2の搬送ユニット31によって第5の処理ユニット群G5のクーリングユニット90に搬送され,冷却される。その後,ウェハA1は,第1のインターフェイス部121の第1のウェハ搬送ユニット122によってユニット群H1の周辺露光ユニット132に搬送され,周辺露光処理された後,バッファカセットユニット130に収容される。その後ウェハA1は,ウェハ搬送ユニット122によってユニット群H2のクーリングユニット140に搬送され,第2のインターフェイス部121の第2のウェハ搬送ユニット151によって露光装置4の搬入載置部161に載置される。
露光装置4において露光処理の終了し,露光装置4の搬出載置部162に載置されたウェハA1は,第2のウェハ搬送ユニット151によって第1のインターフェイス部120のトランジションユニット142に搬送され,その後,第1のウェハ搬送ユニット122によって第5の処理ユニット群G5のポストエクスポージャーベーキングユニット94に搬送される。ポストエクスポージャーベーキングユニット94において加熱されたウェハA1は,第2の搬送ユニット31によって第4の処理ユニット群G4のクーリングユニット80に搬送され冷却された後,第2の処理ユニット群G2の現像ユニット50に搬送され,現像される。
現像処理の終了したウェハA1は,第2の搬送ユニット31によって第7の処理ユニット群G7のポストベーキングユニット110に搬送されて,加熱処理が施された後,第4の処理ユニット群G4のクーリングユニット81に搬送され冷却される。その後ウェハA1は,第1の搬送ユニット30によって第3の処理ユニット群G3のトランジションユニット71に搬送され,続いてウェハ搬送ユニット8によってカセットステーション2のカセットC1内に戻される。こうして,塗布現像処理装置1における一連のウェハ処理が終了する。
塗布現像処理装置1においては,図5に示すようにロットAのウェハA1,A2,A3が連続して処理される。ロットAの総てのウェハA1〜A3がカセットC1から搬出されると,塗布現像処理装置1内の各種処理設定がロットB用に変更され,その後,ロットBのウェハB1〜B3がカセットC2から順次搬出され,上記ロットAと同様に連続処理される。
次に,制御部170のゴーストウェハ回収機能によって行われるゴーストウェハGの回収プロセスについて説明する。図6は,ゴーストウェハGの回収プロセスのフロー図である。図7は,ゴーストウェハGの回収スケジュールと,ロットA及びロットBの搬送スケジュールを示す。
例えば図7に示すようにロットAのウェハA1が露光装置4から搬出され,ウェハA2が露光装置4に搬入される前に,露光装置4において,制御部170が認識していないゴーストウェハGが搬出載置162に載置されて,ゴーストウェハGが発生した(図6の工程S1)場合,先ず制御部170によって例えばユニット群H1のバッファカセット130,131の空き状況が確認される(図6の工程S2)。バッファカセット130,131が空いている場合には,ゴーストウェハGは,例えば図7に示すように第2のウェハ搬送ユニット151によってトラジションユニット142に搬送され,第1のウェハ搬送ユニット122によって例えばバッファカセット131に搬送され収容される(図6の工程S3)。バッファカセット130,131に空きがない場合には,制御部170によって例えばゴーストウェハ回収不能アラームが発せられ,塗布現像処理装置1で行われているウェハ処理が停止される(図6の工程S4)。
また,ゴーストウェハGが発生すると,制御部170によって当該ゴーストウェハGの回収スケジュールが作成される(図6の工程S5)。このときゴーストウェハGの搬送フローは,通常のロットA,Bの搬送フローをショートカットするように作成される。例えばゴーストウェハGの搬送フローは,ゴーストウェハGがカセットステーション2まで最短時間,最短距離で搬送されるように,例えばバッファカセット131から第5の処理ユニット群G5のポストエクスポージャーベーキングユニット94,第4の処理ユニット群G4のクーリングユニット80,第3の処理ユニット群G3のトランジションユニット71を経由してカセットC3に搬送されるように設定される。
また,ゴーストウェハGの回収開始タイミングは,ロットAとロットBの間の切れ目に搬送が行われ,前後のロットA,Bのウェハ処理を妨げないように定められる。例えばロットAの総てのウェハA1〜A3が露光装置4から搬出された後であって,ゴーストウェハGがロットAの最後尾のウェハA3に回収途中で追い着かないように,ゴーストウェハGの回収開始タイミングが定められる。このとき,図7に示すようにウェハA3がカセットC1に戻された直後にゴーストウェハGがカセットC3に到着すると仮定し,当該ゴーストウェハGの到着時間から逆算して回収開始タイミングを定めてもよい。
また,ロットAとロットBの間の切れ目の時間が短く,ロットAとロットBとの間に上記条件を満たすような回収開始タイミングがない場合,ゴーストウェハGの回収開始タイミングは,例えばロットBの後に決定される。この時もロットBとその後のロットとの間の切れ目で,ロットBの最後のウェハB3に回収途中で追い着かないように定められる(図7の(G)で示す)。なお,ロットAとロットBとの間に,上記条件を満たす回収開始タイミングがない場合,ゴーストウェハGの搬送に要する時間を敢えて遅らせて,ゴーストウェハGがウェハA3に追い着かないようにしてもよい。このとき,ゴーストウェハGが経由するユニットの数を増やすようにしてもよい。
そして,ゴーストウェハGの回収開始タイミングになると,各搬送ユニットによってゴーストウェハGの回収が開始され(図6の工程S6),バッファカセット131に収容されていたゴーストウェハGは,上記搬送フローに従って例えばポストエクスポージャーベーキングユニット94,クーリングユニット80,トランジションユニット71を通って,カセットステーション2の通常のウェハと区別されたゴーストウェハ用のカセットC3に回収される(図6の工程S7)。
以上の実施の形態によれば,露光装置4と塗布現像処理装置1との間でウェハを受け渡す際に発生したゴーストウェハGを,各搬送ユニットを用いてカセットステーション2に自動的に回収できるので,従来のようにゴーストウェハGが発生する度にウェハ処理を中断し,回復作業を行う必要がなく,塗布現像処理装置1におけるウェハの生産効率を向上できる。また,作業員の手作業でゴーストウェハGを取り除く必要がないので,当該作業に伴う危険を回避できる。
また,ゴーストウェハGをバッファカセット131に一旦収容し,ロットAとロットBの間の切れ目にカセットステーション2に搬送するので,ゴーストウェハGを通常のウェハの処理フローを妨げないように回収できる。
ゴーストウェハGを収容するバッファカセット130,131を露光装置4に近いインターフェイス部5に設けたので,露光装置4で発生したゴーストウェハGを直ちにバッファカセット131に収容し,他の通常のウェハの処理フローへの影響を最小限に抑えることができる。
以上の実施の形態によれば,ゴーストウェハGは,バッファカセット131のあるインターフェイス部5からカセットステーション2側の方向に直線状に並べられた処理ユニット群G5,G4,G3を順に搬送されて回収されたので,ゴーストウェハGの回収を短時間で行うことができる。なお,上記実施の形態では,ゴーストウェハGが,第5の処理ユニット群G5のポストエクスポージャーベーキングユニット94,第4の処理ユニット群G4のクーリングユニット80,第3の処理ユニット群G3のトランジションユニット71を経由していたが,各処理ユニットG3〜G5の他のユニットを経由してもよい。また,ゴーストウェハGは,ゴーストウェハGの発生前後で処理されていたロットAやロットBの搬送フローで用いられないユニットを経由してもよい。
以上の実施の形態では,ユニット群H1内のバッファカセット131に,ゴーストウェハGを収容していたが,他のユニット群,例えばユニット群H2内にバッファカセットを設け,当該バッファカセットにゴーストウェハGを収容してもよい。また,ゴーストウェハGを収容するためのバッファカセットは,処理ステーション3内に設けてもよい。さらにバッファカセットは,通常のウェハも収容するものであってもよいし,ゴーストウェハG専用のバッファカセットであってもよい。専用のバッファカセットの場合,ゴーストウェハGが発生したときに,バッファカセットに空きがないことを防止できる。
なお,上記実施の形態において,ゴーストウェハG発生時にバッファカセット130,131に空きがない場合であっても,当該バッファカセット130,131内に収容されているウェハの処理を継続して,当該ウェハの露光処理から現像処理までの時間を一定に維持するようにしてもよい。こうすることにより,ゴーストウェハGの発生時にバッファカセット130,131内にあったウェハにも適正なパターンが形成され,それらのウェハが無駄にならない。また,かかる例において,バッファカセット130,131から搬送され処理されたウェハに追従するようにゴーストウェハGを搬送してカセットCに回収してもよい。この場合,ゴーストウェハGをバッファカセット130,131に一時的に収容せずに直接処理ステーション3側に搬送し回収してもよい。
露光装置4が実物のウェハが無いのに搬出動作を行った場合のように,ゴーストウェハGが実物のない場合がある。例えば露光装置4の搬出載置部162に実物ウェハを検出するセンサを取り付けておき,ゴーストウェハGが発生した場合に,当該センサによって実物があるか否かを検出し,実物がない場合には,ゴーストウェハGの発生を無視して通常のウェハ処理を継続するようにしてもよい。なお,実物ウェハを検出するセンサは,例えば第2のウェハ搬送ユニット151のアームに取り付けられていてもよく,当該アームが搬出載置部162上まで移動し,実物ウェハを試し取りして実ウェハの有無を検出してもよい。
以上,本発明の実施の形態の一例について説明したが,本発明はこの例に限らず種々の態様を採りうるものである。例えば本実施の形態では,露光装置4側に受け渡し台160が設けられていたが,塗布現像処理装置1側に受け渡し台があるものにも本発明は適用できる。また,本実施の形態で記載した塗布現像処理装置1内に設置される搬送ユニットや処理ユニットの種類や数,配置は,これに限られるものではない。また,本発明は,塗布現像処理装置1に限られず,例えばエッチング装置,成膜装置,洗浄装置などの他の基板処理装置にも適用できる。また,他の装置も露光装置4に限られない。さらに,本発明は,半導体ウェハ以外に,FPD(フラットパネルディスプレイ)用基板,フォトマスク用のガラス基板等の他の基板の処理装置にも適用できる。
本発明は,装置内で発生した不認識基板を,通常の他の基板処理を中断させないで回収する際に有用である。
本実施の形態にかかる塗布現像処理装置の概略を示す平面図である。 図1の塗布現像処理装置の正面図である。 図1の塗布現像処理装置の背面図である。 ウェハの搬送フローの一例を示す説明図である。 ウェハの搬送スケジュールの一例を示す説明図である。 ゴーストウェハの回収プロセスを示すフロー図である。 ゴーストウェハの回収スケジュールの一例を示す説明図である。
符号の説明
1 塗布現像処理装置
2 カセットステーション
4 露光装置
5 インターフェイス部
131 バッファカセット
170 制御部
H1 ユニット群
G ゴーストウェハ

Claims (13)

  1. 基板を搬入出する搬入出部と,基板を処理する処理部と,当該処理部と他の装置との間の基板の受け渡しを行うための受け渡し部と,前記搬入出部に搬入された基板を前記処理部に搬送し当該処理部から前記受け渡し部を介して前記他の装置に搬送でき,さらに前記他の装置から搬出された基板を前記受け渡し部を介して前記処理部に搬送し当該処理部から前記搬入出部に搬送できる基板搬送手段と,前記基板搬送手段による基板の搬送を制御する制御部と,を備えた基板処理装置であって,
    前記制御部は,前記基板搬送手段により搬送される基板を個別に管理しながら各基板の搬送を制御し,
    前記制御部は,当該制御部により認識されていない不認識基板が前記他の装置から搬出された場合に,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送し回収する制御を行うことを特徴とする,基板処理装置。
  2. 前記制御部は,当該制御部により認識されている通常の基板の処理を妨げないように,前記不認識基板を前記搬入出部に搬送して回収する制御を行うことを特徴とする,請求項1に記載の基板処理装置。
  3. 前記不認識基板を収容する収容部をさらに備え,
    前記制御部は,前記他の装置から搬出された前記不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記収容部に一旦収容し,前記通常の基板の処理を妨げないタイミングで前記収容部の不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送する制御を行うことを特徴とする,請求項2に記載の基板処理装置。
  4. 前記収容部は,前記受け渡し部に設けられていることを特徴とする,請求項3に記載の基板処理装置。
  5. 前記制御部は,前記不認識基板の前記搬入出部への搬送を,前記通常の基板のロットとロットとの間の切れ目に実行する制御を行うことを特徴とする,請求項2,3又は4のいずれかに記載の基板処理装置。
  6. 基板を搬入出する搬入出部と,基板を処理する処理部と,当該処理部と他の装置との間の基板の受け渡しを行うための受け渡し部と,前記搬入出部に搬入された基板を前記処理部に搬送し当該処理部から前記受け渡し部を介して前記他の装置に搬送でき,さらに前記他の装置から搬出された基板を前記受け渡し部を介して前記処理部に搬送し当該処理部から前記搬入出部に搬送できる基板搬送手段と,前記基板搬送手段により搬送される基板を個別に管理しながら,前記基板の搬送を制御する制御部と,を備えた基板処理装置における基板の処理方法であって,
    前記制御部により認識されていない不認識基板が前記他の装置から搬出された場合に,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送して回収することを特徴とする,基板処理方法。
  7. 前記制御部により認識されている通常の基板の処理を妨げないように,前記不認識基板を前記搬入出部に搬送して回収することを特徴とする,請求項6に記載の基板処理方法。
  8. 前記他の装置から搬出された前記不認識基板を前記基板搬送手段を用いて一旦収容部に収容し,前記通常の基板の処理を妨げないタイミングで,前記収容部の不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送することを特徴とする,請求項7に記載の基板処理方法。
  9. 前記不認識基板の前記搬入出部への搬送は,前記通常の基板のロットとロットとの間の切れ目に行なわれることを特徴とする,請求項6,7又は8のいずれかに記載の基板処理方法。
  10. 基板を搬入出する搬入出部と,基板を処理する処理部と,当該処理部と他の装置との間の基板の受け渡しを行うための受け渡し部と,前記搬入出部に搬入された基板を前記処理部に搬送し当該処理部から前記受け渡し部を介して前記他の装置に搬送でき,さらに前記他の装置から搬出された基板を前記受け渡し部を介して前記処理部に搬送し当該処理部から前記搬入出部に搬送できる基板搬送手段と,前記基板搬送手段による基板の搬送を制御する制御部と,を備えた基板処理装置での処理のためのコンピュータプログラムであって,
    前記基板搬送手段により搬送される基板を前記制御部によって個別に管理し,前記制御部により認識されていない不認識基板が前記他の装置から搬出された場合に,当該不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送して回収する処理をコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラム。
  11. 前記制御部により認識されている通常の基板の処理を妨げないように,前記不認識基板を前記搬入出部に搬送して回収することを特徴とする,請求項10に記載のコンピュータプログラム。
  12. 前記他の装置から搬出された前記不認識基板を前記基板搬送手段を用いて一旦収容部に収容し,前記通常の基板の処理を妨げないタイミングで,前記収容部の不認識基板を前記基板搬送手段を用いて前記搬入出部に搬送することを特徴とする,請求項11に記載のコンピュータプログラム。
  13. 前記不認識基板の前記搬入出部への搬送は,前記通常の基板のロットとロットとの間の切れ目に行なわれることを特徴とする,請求項10,11又は12のいずれかに記載のコンピュータプログラム。
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