JP2006032906A - 薄膜トランジスタ,電子装置およびフラットパネルディスプレイ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 優れた特性を有し,常温で製造可能であり,活性層とソースおよびドレイン電極間のコンタクト抵抗が改善され,多数の異種TFTの同時形成工程を簡単にする薄膜トランジスタおよびこれを備えたフラットパネルディスプレイ装置を提供する。
【解決手段】 少なくとも一つのナノ粒子12を有する少なくとも2層のナノ粒子層11a,11bを含む活性層11と,活性層11から絶縁されるゲート電極14と,活性層11のいずれか1層のナノ粒子層11aまたは11bとコンタクトされるソースおよびドレイン電極16と,を含み,ナノ粒子層11a,11b間には絶縁層11cが介在される。
【選択図】 図1

Description

本発明は薄膜トランジスタ,電子装置およびフラットパネルディスプレイ装置に係り,より詳しくは少なくともチャンネルにナノ粒子を用いる薄膜トランジスタ,電子装置およびフラットパネルディスプレイ装置に関するものである。
液晶ディスプレイ装置,有機電界発光ディスプレイ装置または無機電界発光ディスプレイ装置などのフラットパネルディスプレイ装置は,その駆動方式によって,受動駆動方式のパッシブマトリックス(Passive Matrix:PM)型と能動駆動方式のアクティブマトリックス(Active Matrix:AM)型に区分される。
上記パッシブマトリックス型は,単に正極と負極がそれぞれ行(coulumn)と列(row)に配列され,負極には,列駆動回路からスキャニング信号が供給される。この際,複数の列のなかで1列のみが選択される。また,行駆動回路から各画素にデータ信号が入力される。
一方,上記アクティブマトリックス型は薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor,以下TFTという)を用いて各画素に入力される信号を制御するもので,膨大な量の信号を処理するのに適合するので,動映像を表示するためのディスプレイ装置として多く用いられている。
このように,アクティブマトリックス型フラットパネルディスプレイ層のTFTは,ソースおよびドレイン領域と,ソースおよびドレイン領域間に形成されたチャンネル領域を有する半導体活性層と,半導体活性層から絶縁され,チャンネル領域に対応する領域に位置するゲート電極と,ソースおよびドレイン領域にそれぞれ接するソースおよびドレイン電極とを有する。
半導体活性層は,非晶質シリコンまたは多結晶質シリコンからなる。非晶質シリコンは低温蒸着が可能である利点があるが,電気的特性および信頼性が低いため,最近は多結晶質シリコンを多く使用している。多結晶質シリコンは数十〜数百cm/Vsの高い電流移動度を有し,漏洩電流値が低いなど,電気的特性に優れ,素子の信頼性に優れている。
ところが,多結晶質シリコンで半導体活性層を製造する場合,非晶質シリコンを多結晶質シリコンに結晶化する結晶化工程が必要であるが,この結晶化には通常300℃以上の高温工程が含まれる。
一方,最近のフラットパネルディスプレイ装置は,十分な視野角を確保するため,所定の張力が加わると折り曲げることが可能なように,柔軟性が求められている。したがって,アームバンド(Arm Band),財布,ノートブックコンピュータなどの携帯型製品に適用されている。
しかしながら,従来の方法で多結晶質シリコンTFTを形成する場合は,フレキシブルのフラットパネルディスプレイ装置を得ることが難しい。すなわち,フレキシブル製品を加工するためには,基板を含む構成品の大部分に,曲がり易い材料として,アクリル,ポリイミド,ポリカーボネート,ポリエステル,マイラー(mylar)そのほかのプラスチック材料を採用しているが,これらプラスチック材料は熱に弱い。
したがって,特にフレキシブル製品に適用されるフラットパネルディスプレイ装置のTFTを加工するためには,プラスチック材料が耐えられる温度以下で製造可能な構造および方法が必要である。
このように,フレキシブル製品に適用されるTFTを製造するため,最近はTFTのチャンネルにナノ構造体を採用する方法が開示されている(特許文献1参照)。
特開2004−048062号公報
そこで,本発明は上記問題に鑑みてなされたもので,その目的とするところは,優れた特性を有し,常温で製造可能であり,活性層とソースおよびドレイン電極間のコンタクト抵抗が改善され,複数の異種TFTの同時形成工程を簡単にする薄膜トランジスタ,電子装置およびフラットパネルディスプレイ装置を提供することにある。
上記課題を解決するために,本発明のある観点によれば,少なくとも一つのナノ粒子を有する少なくとも2層のナノ粒子層を含む活性層と,活性層から絶縁されるゲート電極と,活性層のいずれか1層のナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極と,を含み,ナノ粒子層間には絶縁層が介在されることを特徴とする薄膜トランジスタが提供される。
また,活性層は,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を含んでもよい。また,活性層は,N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を含んでもよい。
ナノ粒子層のうち,1のナノ粒子層のナノ粒子は他のナノ粒子層のナノ粒子とは異なる方向に伸びていてもよい。ナノ粒子層のナノ粒子は同一方向に伸びていてもよい。
上記薄膜トランジスタは,CMOS薄膜トランジスタであり,CMOS薄膜トランジスタは,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を有するP型活性層と,前記P型活性層のP型ナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極とを含むP型薄膜トランジスタと;N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を有するN型活性層と,N型活性層のN型ナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極とを含むN型薄膜トランジスタと;を含み,P型活性層とN型活性層は互いに異なる層に位置し,P型活性層とN型活性層の間には絶縁層が介在してもよい。
上記P型活性層は,P型ナノ粒子層およびN型ナノ粒子層を含み,N型活性層はP型ナノ粒子層およびN型ナノ粒子層を含んでもよい。
上記ナノ粒子のうち,少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッドまたはナノリボンのいずれか一つであってもよい。上記各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,各ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行に配列されることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
活性層のチャンネル方向は,ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層のナノ粒子が伸びる方向に平行であってもよい。少なくとも一つのナノ粒子は,コア部とコア部を取り囲む酸化皮膜とを含み,ソース電極およびドレイン電極は少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接するようにしてもよい。
上記課題を解決するために,本発明の別の観点によれば,少なくとも二つの異種薄膜トランジスタが互いに電気的に連結された電子装置であって,各薄膜トランジスタは,少なくとも一つのナノ粒子を有するナノ粒子層を含む活性層と,活性層から絶縁されるゲート電極と,活性層のナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極と,薄膜トランジスタの活性層間に介在される絶縁層とを含み,各薄膜トランジスタの活性層が薄膜トランジスタの種類別に互いに異なる層に位置し,の互いに異なる層に位置する活性層の間に絶縁層が介在されることを特徴とする電子装置が提供される。
上記異種の薄膜トランジスタのチャンネル方向が互いに異なっていてもよい。上記薄膜トランジスタのうち,少なくとも二つの異種薄膜トランジスタはP型薄膜トランジスタおよびN型薄膜トランジスタであってもよい。
上記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は,層別に互いに異なる方向に伸びていてもよい。上記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は,層別に互いに平行な方向に伸びていてもよい。
上記ナノ粒子のうち,少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッド,またはナノリボンのいずれか一つであってもよい。上記各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,ナノ粒子は互いに平行に配列されていてもよい。
上記ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層を有する活性層のチャンネル方向は,ナノ粒子が伸びる方向に平行であってもよい。上記少なくとも一つのナノ粒子はコア部およびコア部を取り囲む酸化皮膜を含み,ソースおよびドレイン電極は少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接するようにしてもよい。
上記課題を解決するために,本発明の別の観点によれば,基板と,上記基板上に設けられ,それぞれ多数の選択駆動回路を有する多数の画素を含む発光領域と,を含んでなり,各選択駆動回路は少なくとも一つの薄膜トランジスタを含み,薄膜トランジスタは,活性層から絶縁されるゲート電極と,活性層のいずれか一つのナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極と,少なくとも1のナノ粒子を有する少なくとも2層のナノ粒子層を含む活性層と,を含み,ナノ粒子層間には絶縁層が介在されることを特徴とするフラットパネルディスプレイ装置が提供される。
上記活性層は,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を含んでもよい。上記活性層は,N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を含んでもよい。
少なくとも一つの選択駆動回路に電気的に連結されるCMOS薄膜トランジスタをさらに含み,CMOS薄膜トランジスタは,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を有するP型活性層,およびP型活性層のP型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むP型薄膜トランジスタと,N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を有するN型活性層,およびN型活性層のN型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むN型薄膜トランジスタとを含んでもよい。
上記P型活性層は上記P型ナノ粒子層および上記N型ナノ粒子層を含み,上記N型活性層は上記P型ナノ粒子層および上記N型ナノ粒子層を含んでもよい。
上記各選択駆動回路は,少なくとも二つの異種薄膜トランジスタを含み,ソース電極およびドレイン電極とコンタクトされる異種薄膜トランジスタのナノ粒子層は,それぞれ相違した層に設けられるようにしてもよい。
上記各選択駆動回路の異種薄膜トランジスタのチャンネル方向は互いに異なるようにしてもよい。各選択駆動回路の少なくとも二つの薄膜トランジスタはP型薄膜トランジスタおよびN型薄膜トランジスタであってもよい。
ナノ粒子層のなかで,一つのナノ粒子層のナノ粒子は,相違する層に設置されているナノ粒子層とは異なる方向に伸びていてもよい。ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行な方向に伸びていてもよい。
上記ナノ粒子のうち,少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッドまたはナノリボンのいずれか一つであってもよい。各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,各ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行に配列されるようにしてもよい。
活性層のチャンネル方向は,ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層のナノ粒子が伸びる方向に平行であってもよい。少なくとも一つのナノ粒子は,コア部と前記コア部を取り囲む酸化皮膜とを含み,ソースおよびドレイン電極は少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接するようにしてもよい。
各画素は有機電界発光素子を含み,有機電界発光素子は選択駆動回路に電気的に連結されるようにしてもよい。
上記課題を解決するために,本発明の別の観点によれば,基板と,基板上に設けられ,それぞれ多数の選択駆動回路を有する多数の画素を含む発光領域と,を含んでなり,各選択駆動回路は少なくとも二つの異種薄膜トランジスタを含み,選択駆動回路の各薄膜トランジスタは,少なくとも一つのナノ粒子を有するナノ粒子層を含む活性層と,活性層から絶縁されるゲート電極と,活性層のナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極と,各選択駆動回路の薄膜トランジスタの活性層間に介在される絶縁層とを含み,絶縁層は互いに異なる層に位置する活性層の間に介在されることを特徴とするフラットパネルディスプレイ装置が提供される。
各選択駆動回路の異種薄膜トランジスタのチャンネル方向は互いに異なるようにしてもよい。各選択駆動回路の少なくとも二つの異種薄膜トランジスタは,P型薄膜トランジスタおよびN型薄膜トランジスタであってもよい。
上記フラットパネルディスプレイ装置は,少なくとも一つの選択駆動回路に電気的に連結されるCMOS薄膜トランジスタをさらに含み,CMOS薄膜トランジスタは,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を有するP型活性層,およびP型活性層のP型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むP型薄膜トランジスタと,N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を有するN型活性層,およびN型活性層のN型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むN型薄膜トランジスタと,P型活性層とN型活性層間に介在される絶縁層と,を含み,P型活性層とN型活性層は互いに異なる層に位置し,P型活性層とN型活性層の間には絶縁層が介在されるようにしてもよい。
上記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は層別に互いに異なる方向に伸びていてもよい。上記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は層別に互いに平衡する方向に伸びていてもよい。
上記少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッドまたはナノリボンのいずれか一つであってもよい。上記各ナノ粒子層には,少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,各ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行に配列してもよい。
ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層を有する活性層のチャンネル方向は,ナノ粒子が伸びる方向に平行であってもよい。少なくとも一つのナノ粒子は,コア部とコア部を取り囲む酸化皮膜とを含み,ソース電極およびドレイン電極は少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接するようにしてもよい。上記各画素は有機電界発光素子を含み,有機電界発光素子は選択駆動回路に電気的に連結されるようにしてもよい。
以上発明したように本発明によれば,薄膜トランジスタのチャンネルにナノ粒子を用いることにより,高温工程によらなくても,常温または低温で薄膜トランジスタおよびこれを備えたフラットパネルディスプレイ装置,特に有機電界発光ディスプレイ装置を製造することができる。
また,高温熱処理に脆弱なプラスチック材料をフラットパネルディスプレイ装置,特に有機電界発光ディスプレイ装置に用いられる。したがって,フレキシブルなフラットパネルディスプレイ装置を製造するのに一層有利である。
また,長手方向に配列されたナノ粒子でチャンネルを形成することにより,電流モビリティを一層向上させることができる。
また,活性層とソースおよびドレイン電極間のコンタクト抵抗を低めることができる。また,異種TFTの形成工程を単純にすることができる。
また,所望の電流モビリティで発光領域および非発光領域の回路のTFTを構成することができるので,設計マージンが高くなる。
また,PMOS TFTとNMOS TFTの配列がより易く形成可能である。また,CMOS TFTの具現がより容易になる。
以下に添付図面を参照しながら,本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお,本明細書及び図面において,実質的に同一の機能構成を有する構成要素については,同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
図1は,本発明の好適な一実施形態による薄膜トランジスタ(以下,“TFT”という)を示すものである。
図1に示すように,本発明の好適な一実施形態にTFTは基板10上に設けられる。
基板10としては,アクリル,ポリイミド,ポリカーボネート,ポリエステル,マイラー(mylar)ほかのプラスチック材料などが使用可能である。この基板10上には,必要に応じて,不純物イオンが拡散することを防止するためのバッファ層が形成でき,水分または外気の浸透を防止するためのバリア層が形成できる。
TFTは,活性層11と,この活性層11に対して絶縁されたゲート電極14と,活性層11に接するソースおよびドレイン電極16とを含む。
活性層11は基板10上に所定のパターンに形成され,これを覆うようにゲート絶縁膜13が形成される。そして,ゲート絶縁膜13上にゲート電極14が形成され,このゲート電極14を覆うように層間絶縁膜15が形成される。そして,前記ゲート絶縁膜13および層間絶縁膜15にコンタクトホール17が形成され,層間絶縁膜15の上部にソースおよびドレイン電極16が形成され,このソースおよびドレイン電極16は活性層11に接する。
かかるTFTの構造は必ずしもこれに限定されるものではなく,多様な構造のTFTが本発明に適用可能である。
一方,本発明において,活性層11は,図2に示すように,少なくとも一つのナノ粒子12を含む少なくとも2層のナノ粒子層11a,11bと,ナノ粒子層11a,11b間に介在された絶縁層11cとを含むことができる。
本発明の一実施形態によると,活性層11は,図2に示すように,複数のナノ粒子12が並んで配列された第1ナノ粒子層11aおよび第2ナノ粒子層11bと,これらの間に介在された絶縁層11cを含んでもよい。ナノ粒子層は3層または4層となってもかまわない。
ナノ粒子12は,CdS,CdSe,CdTeを含むIIB−VIA族化合物の一種と,GaAsを含むIIIA−VA族化合物の一種と,Siを含むIVA族元素またはその化合物の一種と,Ni,Co,Fe,Pt,Au,Agを含む金属またはその化合物の一種とから形成してもよい。ナノ粒子12はこれらに限定されるものではなく,多様な材料により形成可能である。
かかるナノ粒子は予め物理的,化学的方法により製造可能であるが,ナノ粒子の製造方法について以下説明する。
化学的方法で製造されたナノ粒子は,CdS,CdSe,CdTeを含むIIB−VIA族化合物の一種と,GaAsを含むIIIA−VA族化合物の一種と,Siを含むIVA族元素またはその化合物の一種と,Ni,Co,Fe,Pt,Au,Agを含む金属またはその化合物の一種とからなるコアと,コアにコートされる化合物の一種とを含んでもよい。
一例として,(CdSe)ZnSナノ粒子を形成するための第1段階は,CdSeナノ結晶を用意することである。このナノ粒子の大きさはおよそ23〜55Åの範囲であり,大きさ分布の標準偏差はおよそ5〜10%であることが知られた。このCdSeナノ粒子は,ナノ粒子は高温のコロイド成長処理過程と,大きさを選択するための沈殿過程とにより形成される。ここで,高温のコロイド成長処理過程とは,高温の溶媒に有機金属前駆体を速く注入して瞬間的に均質の核を生成させることを言う。Cdソースとして使用される適当な有機金属前駆体はCdMe2のようなアルカリカドミウム合成物を含む。Seソースとして使用される適当な有機金属合成物としては,ビス(トリメチルシリル)セレニウム(TMS)Se,(トリ−エヌ−オキシルホスファイン)セレナイド(TOPSe),または(トリ−エヌ−ブチルホスファイン)セレナイド(TBPSe)のようなトリアルキルホスファインセレナイドなどがある。ついで,CdSe粒子を,溶媒(例えば,TOP)内に亜鉛(Zn)および硫黄(S)前駆体を含む溶液で,適正温度で塗布する。亜鉛および硫黄前駆体としては,ダイチルジンク(ditylzinc)およびヘキサメチルジシラチン(hexamethyldisilatine)をそれぞれ使用することができる。
物理的な方法としては,真空合成(vaccum synthesis),気相合成(gas−phase synthesis),凝縮相合成(condensed phase synthesis),イオン化されたクラスタビームによる高速蒸着,圧密化(consolidation),高速製粉(milling),合金処理(mizalloy processing),蒸着法(deposition method)およびゾルーゲル法などの多様な方法がある。 しかし,必ずしもこれらのような方法に限定されるものではない。
ナノ粒子12はN型またはP型半導体であって,ナノワイヤ,ナノリボン,ナノロッド,および単層壁または多層壁のナノチューブの形態を有し得る。このようなナノ粒子の製造方法の例としてはつぎのような方法が挙げられる。
(a)P型Siナノワイヤ
厚さ20〜40nmのP型Siナノワイヤの場合,商業的に用いられる単分散金コロイド粒子(Mono−dispersed gold colloid particle,British Biocell International Ltd.)を触媒としてSiHとBの熱蒸着で合成される。このときの温度は420〜480℃の温度を用い,反応器は,8−インチチューブファーネス(8−inch tube furnace)内でコンピュータによる制御成長が可能であるように調節する。全体圧力が30torrであるとき,シラン(silane)の分圧はおよそ2torr,反応時間は40分かかる。SiHとBの比は,ドーピングレベルに鑑みて,6400:1に調節する。この際,ナノワイヤのドーピング濃度はおよそ〜4x10E+17cm−3であり得る。ドーピングレベルが高いほど,高温アニーリングプロセスがなくてもコンタクト抵抗が低くなる利点がある。
(b)N型Siナノワイヤ
N型のSiナノワイヤは,レーザ触媒成長(laser−assisted catalytic growth;LCG)法で合成される。簡単には,Nd:YAGレーザ(532nm;8nsパルス幅,300mJ/pulse,10Hz)のレーザビームを用いて金ターゲットを剥離する方法を採択することになる。このときに生成される金ナノクラスタ(gold nanocluster)触媒粒子は反応容器内でSiHガスと共に反応してSiナノワイヤに成長する。ドーピングを行うとき,N型の場合は,Au−Pターゲット(99.5:0.5wt%,Alfa Aesar)と補助赤色蛍光(additional red phosphorus)(99% Alfa Aesar)を反応容器のガス入口に置くことにより生成する。
(c)N型GaNナノワイヤ
アンモニアガス(99.99%,Matheson),ガリウム金属(99.9999%,Alfa Aesar),マグネシウムナイトライド(Mg,99.6%,Alfa Aesar)をそれぞれN,Ga,Mgのソースとして用いて金属−触媒CVD(metal−catalyzed CVD)に形成する。このときに使用する基板はc−プレーンサファイア(c−plane sapphire)が好ましい。Mgは熱的に分解されてMgN(s)=3Mg(g)+N2(g)となり,Mgドーパントを生成し,Ga−ソースの上流に置かれる。950℃の温度条件でGaNナノワイヤが形成され,ニッケルが触媒として使用される。殆どの長さは10〜40μmの分布を有する。
(d)N型CdSナノリボン
CdSナノリボンは真空カポーア伝達(vacuum capour transport)法で合成される。特に,少量のCdS粉末(〜100mg)を真空管の一端に置き密封する。CdS粉末の温度が900℃を維持するように真空管を加熱する間,他端は50℃より低く維持する。2時間内に大部分のCdSが冷たい側に移動し,真空管の壁にくっつくことになる。このような方法で得られた物質は30〜150nmの厚さを有するナノリボンが大部分であり,このときの幅は0.5〜5μm,長さは10〜200μmである。
(e)Geナノワイヤ
直径2.5cmのファーネス反応器(furnace reactor)(総気圧=1atm)でHを100sccmの流速で流すとともにGeH(10%in He)の流速を10sccmに維持しながら275℃で15分間CVDを行って,Geナノワイヤを得る。反応基板は金ナノ結晶(Au nanocrystal)(平均直径20nm)をSiO基板の表面に均一に分散した基板を使用する。
(f)InPナノワイヤ
InPナノワイヤはLCG法で形成される。LCGターゲットは,概して94%のInP,触媒としての5%のAu,ドーピング元素としての1%のTeまたはZnからなっている。成長中のファーネス温度は800℃に維持し,ターゲットはファーネスの中間よりは上流端に位置させる。レーザの条件としては,Nd−YAGレーザ(波長1064nm)のパルスを10分間照射する。この際,ナノワイヤはファーネスの冷たい下流端に捕集される。
(g)ZnOナノロッド
ZnOナノロッドは,およそ29.5g(0.13mol)の亜鉛アセテートジハイドレート(Zinc acetate dihydrate(ZnOCOCH−2HO))を60℃で125mLのメタノールに溶かした後,65mLのメタノールに14.8g(0.23mol)の水酸化カリウム(KOH)を溶かした溶液を加えて製造する。反応混合物は60℃で数日間撹拌する。数日内にナノロッドが沈殿すると,沈殿物をメタノールで洗い,5500rpmで30分間遠心分離を行う。得られたナノ粒子をエチレングリコール/水(2:1)の溶媒で希釈して溶液を製造する。3日程度熟成させる場合,直径15〜30nm,長さ200〜300nmのナノロッドが得られる。これとは異なり,CVD法を用いてもナノワイヤが得られる。
このようなナノ粒子12からなる第1および第2ナノ粒子層11a,11bは,そのナノ粒子の配列方向が,図2に示すように,互いに交差する方向になっているが,互いに平行に配列(図示せず)されていてもかまわない。
本発明は,このような第1および第2ナノ粒子層11a,11bのいずれか一つのナノ粒子層にチャンネルを形成するものであって,チャンネルが形成されたナノ粒子層のナノ粒子12の長手方向とチャンネルの形成方向が互いに平行となるようにチャンネルを構成することができる。このように,チャンネルをナノ粒子12の長手方向に平行に形成すると,チャンネルに沿って移動するキャリアに抵抗成分が減少してTFTの電流モビリティをさらに向上させることができる。
したがって,本発明においては,ナノ粒子が互いに平行に配列されているナノ粒子層を,そのナノ粒子層の配列方向が相違するように形成することにより,所望の電流モビリティを有する所望数のナノ粒子層でチャンネルを形成することができる。
このような構造は,各ナノ粒子層のナノ粒子の種類を異にしてもかまわない。すなわち,あるナノ粒子層をP型ナノ粒子で形成し,ほかのナノ粒子層はN型ナノ粒子で形成すると,P型TFTであるかN型TFTであるかにかかわらず,ソースおよびドレイン電極が形成される位置,例えばコンタクトホールの深さのみを調節することで,P型TFT,N型TFT,およびCMOS TFTなど,どんなTFTであっても容易に形成することができる。以下,本発明の原理を実施形態に基づいて詳細に説明する。
図2に示すような本発明の好適な一実施形態による活性層11は,第1ナノ粒子層11a,絶縁層11c,および第2ナノ粒子層11bが順次形成された構造である。第1ナノ粒子層11aのナノ粒子12と,第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12は異種のナノ粒子であり得る。例えば,一ナノ粒子はP型,ほかのナノ粒子はN型に形成することができる。しかし,本発明がこれに限定されるものではなく,層間ナノ粒子の電流モビリティの違うナノ粒子で各ナノ粒子層を形成することもできる。
このようなナノ粒子12は多様な方法で基板上に形成可能である。その例として,高分子モールドを用いるスタンピング法を使用することもでき,ナノ粒子が一方向に配列されたドナーシートを用いるレーザ転写法を使用することもできる。もちろん,このほかにも,インクジェットプリント法などが使用可能である。
すなわち,基板10の全面に,第1ナノ粒子層11aを,そのナノ粒子が一方向に配列されるように形成し,第1ナノ粒子層11aを覆うように絶縁層11cを形成する。そして,絶縁層11c上に第2ナノ粒子層11bを全面に形成した後,所望の活性層11のパターンに,第1ナノ粒子層11a,絶縁層11c,および第2ナノ粒子層11bを同時にパターニングする。
一方,ナノ粒子12は,図2に示すように,コア部12aとこのコア部12aを取り囲む酸化皮膜12bとからなる。このような構造は,特にシリコン系列のナノ粒子でよく見られる。コア部12aが30nm程度である場合,その表面に1〜10nmの酸化皮膜12bが観察される。
ところで,このように酸化皮膜12bが存在するままで活性層11を形成すると,この酸化皮膜12bにより,活性層11とソースおよびドレイン電極16間のコンタクト抵抗が高くなって問題となる。
したがって,コンタクトホール17をゲート絶縁膜13および層間絶縁膜15に形成するほかにも,酸化皮膜12bにもさらに形成することが必要である。
図3〜図5は,図2に示す活性層11において,第2ナノ粒子層11bにチャンネルを形成した場合を示す。図3〜図5は図1の線I−Iについての断面図を示すものである。
図3に示すように,基板10上にナノ粒子12で活性層11を形成し,これを覆うようにゲート絶縁膜13および層間絶縁膜15を形成する。活性層11は,前述したように,第1ナノ粒子層11a,絶縁層11cおよび第2ナノ粒子層11bを同時にパターニングしてなるものである。そして,ゲート絶縁膜13と層間絶縁膜15間には,図1に示すゲート電極14が介在される。
その後,ゲート絶縁膜13および層間絶縁膜15に,図4に示すように,コンタクトホール17を形成する。
このコンタクトホール17は,第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12の酸化皮膜12bまでエッチングして形成する。
このようなコンタクトホール17は,まずゲート絶縁膜13および層間絶縁膜15をエッチングした後,ドライエッチングまたはBOE(Buffered Oxide Echant)により酸化皮膜12bのみを別にエッチングすることができるが,必ずしもこれに限定されるものではなく,ゲート絶縁膜13および層間絶縁膜15のエッチングと同時にエッチングを行うこともできる。
このようにコンタクトホール17が形成されると,コンタクトホール17が開口されている方向に(図4で,上方に)第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12のコア部12aがそのまま露出され,第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12の酸化皮膜12bは第1ナノ粒子層11aの方向にだけ支持される。もちろん,コンタクトホール17の形状が必ずしもこれに限定されるものではなく,第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12のコア部12aの少なくとも一部のみ露出させるとよい。
このように,コンタクトホール17を形成した後,図5に示すように,ソースおよびドレイン電極16を形成すると,このソースおよびドレイン電極16が活性層11と接するとき,第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12のコア部12aに接することにより,コンタクト抵抗を著しく減らすことができる。
そして,第1ナノ粒子層11aと第2ナノ粒子層11bは,ナノ粒子12の酸化皮膜12bと,第1ナノ粒子層11aと第2ナノ粒子層11b間に介在された絶縁層11cにより互いに絶縁される。
一方,第1ナノ粒子層11aにチャンネルを形成しようとする場合は,図3に示すように,層間絶縁膜15まで形成した後,図6に示すように,第1ナノ粒子層11aのコア部12aが露出されるように,コンタクトホール17を形成し,図7に示すように,ソースおよびドレイン電極16を形成する。
かかる本発明によると,第1ナノ粒子層11aと第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12の配列を多様に調節することにより,これにより形成される活性層の電流モビリティを多様に調節することができる。
すなわち,図2に示すように,第1ナノ粒子層11aと第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12を互いに直交するように配置し,チャンネル方向が第2ナノ粒子層11bのナノ粒子12の長手方向に平行になった活性層11を形成した後,図5に示すように,第2ナノ粒子層11bにチャンネルを形成した場合と,図7に示すように,第1ナノ粒子層11aにチャンネルを形成した場合を比較して見ると,図5のように第2ナノ粒子層11bにチャンネルを形成した場合は,チャンネルの方向とナノ粒子の長手方向が平行であるので,図7の場合より電流モビリティが一層高くなる。したがって,別途の工程なしでも所望の電流モビリティのTFTが多様に得られる。
一方,CMOS TFTを具現しようとする場合,第1ナノ粒子層11aをP型ナノ粒子で形成し,第2ナノ粒子層11bをN型ナノ粒子で形成すると,第1ナノ粒子11aにチャンネルを形成したTFTをP型TFTとして使用し,第2ナノ粒子層11bにチャンネルを形成したTFTをN型TFTとして使用して,これらをCMOS TFTとして使用することができる。
図8〜図10は本発明の好適な他の実施形態によるTFTを示すものである。図8〜図10に示す実施形態は,上述した実施形態とは異なり,活性層が単一ナノ粒子層で構成されている。これを詳細に説明すると次のようである。
基板20上には,第1TFT30と第2TFT40が設けられる。第1TFT30と第2TFT40は異種のTFTであって,互いに電気的に連結可能である。もちろん,これらが互いに分離されていてもかまわない。
第1TFT30と第2TFT40のそれぞれは,活性層31,41と,ゲート電極32,42と,ソースおよびドレイン電極33,43とを有するが,そのTFT構造は多様に変形可能である。
第1TFT30と第2TFT40の活性層31,41は,上述したように,ナノ粒子12を含むナノ粒子層を含むことができ,単層または複数層のナノ粒子層を含むことができる。
この際,第1TFT30と第2TFT40の活性層31,41間には絶縁層22が介在される。
第1TFT30と第2TFT40の活性層31,41のナノ粒子層のナノ粒子の配列方向が,図2に示すように,互いに直交するように形成できるが,必ずしもこれに限定されるものではなく,互いに平行に配列されることもできる。
そして,第1TFT30の活性層31はP型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層となり,第2TFT40の活性層41はN型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層となり得る。もちろん,これの反対になってもかまわない。
このような構造のTFTは,前述したように,複数のナノ粒子層を全て形成した後,一時にパターニングして活性層を形成する方式でなく,一層の活性層をパターニングした後,これを覆うように絶縁層を形成し,さらにほかの活性層をパターニングする方式で製造される。この際,活性層を形成するナノ粒子層は,前述したように,高分子モールドを用いるスタンピング法,レーザ転写法,およびインクジェットプリント法など,多様な方法で形成することができる。
このように,相違した層に活性層を形成した場合にも,各活性層のナノ粒子層のナノ粒子12は,前述したように,コア部12aと酸化皮膜12bからなる。
したがって,図9および図10に示すように,各活性層31,41のコア部12aにソースおよびドレイン電極33,43がコンタクトできる。
図8に示すようなTFTは,第1TFT30をP型TFT30をP型TFTとし,第2TFT40をN型TFTとして,CMOS TFTとして使用することもできる。もちろん,第1TFT30をN型とし,第2TFT40をP型とすることもできる。
このようなTFT構造は,有機電界発光ディスプレイ装置のようなフラットパネルディスプレイ装置に適用可能である。
図11は基板上に形成された有機電界発光ディスプレイ装置の発光領域50と非発光領域60を示す概略図である。
発光領域50には,有機電界発光素子および選択駆動回路を有する多数の副画素が配置される。
非発光領域60には,前記副画素を駆動する水平ドライバおよび/または垂直ドライバが配置される。図11には非発光領域60に垂直ドライバVDのみを示したが,必ずしもこれに限定されるものではなく,水平ドライバまたはレベルシフタなどの多数の回路が配置可能である。そして,非発光領域60には,外部回路に連結される端子部と,少なくとも発光領域50を密封する密封部などが位置する。
図12は,本発明の好適な一実施形態による有機電界発光ディスプレイ装置において,発光領域50の単位画素の選択駆動回路SCの回路図,および非発光領域60の垂直ドライバVDのCMOS TFT31を示す概略回路図である。回路図はこれに限定されるものではなく,多様な回路構造に後述するような本発明が適用可能である。
図13は図12の回路図の断面構造を示すもので,各単位画素内の選択駆動回路の駆動TFT51,スイッチングTFT52を示し,垂直ドライバのCMOS TFT61を示す。CMOS TFT61は,N型TFT62とP型TFT63が結合された形態を取っている。前述した垂直ドライバVDは必ずしもこのようなCMOS TFT61のみを備えているものではなく,多様な種類のTFTと回路素子が連係して駆動回路を形成する。
これらTFT51,52,62,63は基板100上に形成されるが,前記基板100は前述したようである。この基板100上には,必要に応じて,不純物イオンが拡散することを防止するためのバッファ層110が選択的に配置可能であり,プラスチック基板の場合は,バリア層が形成できる。
基板100上にも,図2に示すように,第1ナノ粒子層11aと第2ナノ粒子層11bを形成する。この際,第1ナノ粒子層11aはP型ナノ粒子で形成し,第2ナノ粒子層11bはN型ナノ粒子で形成する。そして,第1ナノ粒子層11aと第2ナノ粒子層11b間には絶縁層11cが介在されている。
このような第1ナノ粒子層11a,絶縁層11c,および第2ナノ粒子層11bは,基板100の全面に形成された後,図14に示すようにパターニングされることにより,各TFT51,52,62,63の半導体活性層121,122,123,124の少なくともチャンネルを形成する。
この際,発光領域50の各単位画素50aに設けられた活性層121,122はP型活性層であり得るので,P型ナノ粒子からなった第1ナノ粒子層11aにチャンネルを形成することができる。そして,CMOS TFTの場合,N型活性層123とP型活性層124の両方を有するので,N型活性層123は,N型ナノ粒子からなった第1ナノ粒子層11bにチャンネルを形成し,P型活性層124は,P型ナノ粒子からなった第1ナノ粒子層11aにチャンネルを形成する。
本発明は必ずしもこれに限定されるものではなく,端子画素50aに設けられた活性層121,122のチャンネルをみんなN型の第2ナノ粒子層11bに形成するか,そのなかでいずれか一つの活性層のチャンネルをN型の第2ナノ粒子層11bに,ほかの一つの活性層のチャンネルをP型の第1ナノ粒子層11aに形成することもできる。また,単位画素50aに設けられる活性層の数がさらに多くなる場合には,必要に応じて,N型とP型を混合して使用することができる。
また,上述したように,各ナノ粒子層のナノ粒子の配列とチャンネルの形成方法の角度を考慮して活性層をパターニングすることもできる。図15は図8〜図10によるTFTと同一の方式で活性層を形成することを示すものである。
図15に示すように,P型の駆動TFT51の活性層121,スイッチングTFT52の活性層122,およびCMOS TFT61のP型TFTの活性層124はバッファ層110上に形成し,これら活性層121,122,124上に絶縁層120を形成した後,この絶縁層120上に,N型であるCMOS TFT61のP型TFT63の活性層124を形成する。
このように,パターニングされた複数の活性層121,122,123,124の上部に,図13および図15に示すように,ゲート絶縁膜130が形成され,その上に,導電性金属膜により,各TFT51,52,62,63のゲート電極141,142,143,144が形成される。
ゲート絶縁膜130およびゲート電極141,142,143,144の上部には層間絶縁膜150が形成され,その上に,前記ゲート電極141,142,143,144から絶縁されるように形成された各TFT51,52,62,63のソースおよびドレイン電極161,162,163,164が配置される。ソースおよびドレイン電極161,162,163,164は,導電性金属膜または導電性ポリマーなどの導電性素材からなる。また,ソースおよびドレイン電極161,162,163,164は,コンタクトホール150a,150b,150c,150dを介して,活性層121,122,123,124にそれぞれコンタクトされる。この際,各コンタクトホール150a,150b,150c,150dは,CMOS TFT31のN型TFT62の場合,図13に示すように,N型である第2ナノ粒子層11bのコア部まで形成されるようにし,P型TFT63の場合,P型である第1ナノ粒子層11aのコア部まで形成されるようにする。そして,発光領域50に位置するTFT51,52は,P型である第1ナノ粒子層11aのコア部まで形成されるようにする。
一方,ゲート電極141,142,143,144およびソースおよびドレイン電極161,162,163,164の形成時,これらと同一物質で充電用キャパシタCstを形成することができる。
ソースおよびドレイン電極161,162,163,164の上部にはパッシベーション膜170が形成され,その上に,アクリル,BCB,ポリイミドなどによる平坦化膜171が形成される。そして,パッシベーション膜170および平坦化膜171には,駆動TFT51のソースおよびドレイン電極161のいずれか一つが露出されるように,ビアホール170aが形成される。前記パッシベーション膜170と前記平坦化膜171は必ずしもこれに限定されるものではなく,いずれか一層のみ含んでもかまわない。
平坦化膜171の上部には,有機電界発光素子OLEDの下部電極層である画素電極180が形成される。この画素電極180がビアホール170aを介して前記ソースおよびドレイン電極161のいずれか一つに連結される。
画素電極180の上部には,アクリル,BCB,ポリイミドなどの有機物,またはシリコンオキサイド,シリコンナイトライドなどの無機物のような絶縁物により画素定義膜185が形成される。画素定義膜185は,図12に示すように,選択駆動回路SCの駆動TFT51,スイッチングTFT52などのTFTを覆い,画素電極180の所定部分を露出させる開口部を有するように形成される。
そして,発光層を有する有機膜190が少なくとも画素電極180の露出した開口部上に塗布される。有機膜190は画素定義膜185の全面に形成されることもできる。この際,有機膜190の発光層は,各画素当たり,赤色,緑色,青色でパターニングされてフルカラーを具現することができる。
一方,非発光領域60の垂直または水平ドライバが位置する部分上には,図13および図15に示すように,画素定義膜185が形成されないが,必ずしもこれに限定されるものではなく,その部分を覆うように形成することもできる。
有機膜190が形成された後は,有機電界発光素子OLEDの下部電極層である対向電極195が形成される。この対向電極195は全画素を覆うように形成されるが,必ずしもこれに限定されるものではなく,パターニングされることもできる。
画素電極180と対向電極195は有機膜190を介して互いに絶縁され,有機膜190に相違した極性の電圧を印加して,有機膜190が発光するようにする。
一方,画素電極180はアノード電極の機能をし,対向電極195はカソード電極の機能をするが,これら画素電極180と対向電極195の極性は反対になってもかまわない。
画素電極180は透明電極または反射型電極として使用することもできる。画素電極180が透明電極として使用されるときは,ITO,IZO,ZnOまたはInから形成することができ,画素電極180が反射型電極として使用されるときは,Ag,Mg,Al,Pt,Pd,Au,Ni,Nd,Ir,Cr,およびこれらの化合物などから反射膜を形成した後,その上にITO,IZO,ZnOまたはInを形成することができる。
一方,対向電極195も透明電極または反射型電極として形成できる。対向電極195が透明電極として使用されるときは,対向電極195がカソード電極として使用されるので,仕事関数の小さい金属,すなわちLi,Ca,LiF/Ca,LiF/Al,Al,Mgおよびこれらの化合物を使用して有機膜190に向かうように対向電極195を蒸着した後,その上に,ITO,IZO,ZnOまたはInなどの透明電極形成用物質で補助電極層またはバス電極ラインを形成することができる。そして,対向電極195を反射型電極として使用するときは,Li,Ca,LiF/Ca,LiF/Al,Al,Mgおよびこれらの化合物を全面に蒸着して対向電極195を形成する。
有機膜190は低分子または高分子有機層であり得る。低分子有機層を使用する場合は,ホール注入層(HIL:Hole Injection Layer),ホール輸送層(HTL:Hole Transport Layer),有機発光層(EML:Emission Layer),電子輸送層(ETL:Electron Transport Layer),電子注入層(EIL:Electron Injection Layer)などを単一または複合の構造に積層して形成することができ,使用可能な有機材料としては,銅フタロシアニン(CuPc:copper phthalocyanine),N,N−ジ(ナフタレン−1−イル)−N,N−ジフェニル−ベンジジン(N,N−di(naphthalene)−1−yl)−N,N−diphenyl−benzidine:NPB),またはトリス−8−ヒドロキシキノリンアルミニウム(tris−8−hydroxyquinoline aluminum)(Alq3)などから形成可能である。この低分子有機層は真空蒸着法で形成される。
有機膜190が高分子有機層で形成される場合は,有機膜190はHTLおよびEMLであり得,HTLはPEDOTから形成可能であり,前記EMLはPPV(Poly−Phenylenevinylene)系およびポリフルオレン(Polyfluorene)系の高分子有機物質から形成可能である。高分子有機層は,スクリーン印刷法,インクジェット印刷法などで形成することができる。
このような構造は,液晶ディスプレイ装置にもそのまま適用する可能である。また,上記実施形態においては,選択駆動回路の駆動TFT51とスイッチングTFT52をP型TFTで形成したが,本発明は必ずしもこれに限定されるものではなく,駆動TFT51とスイッチングTFT52のいずれか一つをN型TFTで形成することもできる。
以上,添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが,本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば,特許請求の範囲に記載された範疇内において,各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり,それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
本発明は,優れた特性を有し,常温で製造可能であり,活性層とソースおよびドレイン電極間のコンタクト抵抗が改善され,多数の異種TFTの同時形成工程を簡単にする薄膜トランジスタおよびこれを備えたフラットパネルディスプレイ装置に適用可能である。
本発明の一実施形態による薄膜トランジスタの断面構造を示す断面図である。 図1の活性層を示す部分斜視図である。 図1の薄膜トランジスタの製造過程を示すもので,図1の線I−Iについての断面図である。 図1の薄膜トランジスタの製造過程を示すもので,図1の線I−Iについての断面図である。 図1の薄膜トランジスタの製造過程を示すもので,図1の線I−Iについての断面図である。 図1の薄膜トランジスタの他の製造方法を示すもので,図1の線I−Iについての断面図である。 図1の薄膜トランジスタの他の製造方法を示すもので,図1の線I−Iについての断面図である。 本発明の他の実施形態による薄膜トランジスタの断面構造を示す断面図である。 図8の線II−IIについての断面図である。 図8の線III−IIIについての断面図である。 本発明の一実施形態によるフラットディスプレイ装置の平面構造を示す平面図である。 図11の発光領域および非発光領域の回路構造を示す回路図である。 図12の回路図の発光領域および非発光領域の断面構造の一例を示す断面図である。 本発明の一実施形態によるフラットディスプレイ装置の活性層を示す平面図である。 図12の回路図の発光領域および非発光領域の断面構造の他の例を示す断面図である。
符号の説明
10 基板
11 活性層
11a,11b ナノ粒子層
11c 絶縁層
12 ナノ粒子
12a コア部
12b 酸化皮膜
13 ゲート絶縁膜
14 ゲート電極
15 層間絶縁膜
16 ソースおよびドレイン電極
17 コンタクトホール
20 基板
30 第1TFT
31 活性層
32 ゲート電極
33 ソースおよびドレイン電極
40 第2TFT
41 活性層
42 ゲート電極
43 ソースおよびドレイン電極
50 発光領域
50a 単位画素
51 駆動TFT
52 スイッチングTFT
60 非発光領域
61 CMOS TFT
62 N型TFT
63 P型TFT
100 基板
110 バッファ層
121,122,123,124 半導体活性層
130 ゲート絶縁膜
141,142,143,144 ゲート電極
150 層間絶縁膜
150a,150b,150c,150d コンタクトホール
161,162,163,164 ソースおよびドレイン電極
170 パッシベーション膜
170a ビアホール
171 平坦化膜
180 画素電極
185 画素定義膜
190 有機膜
195 対向電極

Claims (46)

  1. 少なくとも一つのナノ粒子を有する少なくとも2層のナノ粒子層を含む活性層と;
    前記活性層から絶縁されたゲート電極と;
    前記活性層のいずれか1層のナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極と;を含み,
    前記ナノ粒子層間には絶縁層が介在されることを特徴とする,薄膜トランジスタ。
  2. 前記活性層は,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を含むことを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  3. 前記活性層は,N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を含むことを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  4. 前記ナノ粒子層のうち,1のナノ粒子層のナノ粒子は他のナノ粒子層のナノ粒子とは異なる方向に伸びていることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  5. 前記ナノ粒子層のナノ粒子は同一方向に伸びていることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  6. 前記薄膜トランジスタはCMOS薄膜トランジスタであり,
    前記CMOS薄膜トランジスタは,
    P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を有するP型活性層と,前記P型活性層のP型ナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極とを含むP型薄膜トランジスタと;
    N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を有するN型活性層と,前記N型活性層のN型ナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極とを含むN型薄膜トランジスタと;を含み,
    前記P型活性層と前記N型活性層は互いに異なる層に位置し,P型活性層とN型活性層の間には前記絶縁層が介在されることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  7. 前記P型活性層は前記P型ナノ粒子層および前記N型ナノ粒子層を含み,前記N型活性層は前記P型ナノ粒子層および前記N型ナノ粒子層を含むことを特徴とする,請求項6に記載の薄膜トランジスタ。
  8. 前記ナノ粒子のうち,少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッドまたはナノリボンのいずれか一つであることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  9. 前記各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,前記各ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行に配列されることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  10. 前記活性層のチャンネル方向は,前記ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層のナノ粒子が伸びる方向に平行であることを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  11. 前記少なくとも一つのナノ粒子は,コア部と前記コア部を取り囲む酸化皮膜とを含み,前記ソース電極およびドレイン電極は前記少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接することを特徴とする,請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  12. 少なくとも二つの異種薄膜トランジスタが互いに電気的に連結された電子装置であって,
    前記各薄膜トランジスタは,
    少なくとも一つのナノ粒子を有するナノ粒子層を含む活性層と,
    前記活性層から絶縁されるゲート電極と,
    前記活性層の前記ナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極と,
    前記薄膜トランジスタの前記活性層間に介在される絶縁層とを含み,
    各薄膜トランジスタの活性層が薄膜トランジスタの種類別に互いに異なる層に位置し,前記の互いに異なる層に位置する活性層の間に前記の絶縁層が介在されることを特徴とする,電子装置。
  13. 前記異種の薄膜トランジスタのチャンネル方向が互いに異なることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  14. 前記薄膜トランジスタのうち,少なくとも二つの異種薄膜トランジスタはP型薄膜トランジスタおよびN型薄膜トランジスタであることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  15. 前記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は層別に互いに異なる方向に伸びていることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  16. 前記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は層別に互いに平行な方向に伸びていることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  17. 前記ナノ粒子のうち,少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッド,またはナノリボンのいずれか一つであることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  18. 前記各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,前記ナノ粒子は互いに平行に配列されることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  19. 前記ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層を有する活性層のチャンネル方向は,前記ナノ粒子が伸びる方向に平行であることを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  20. 前記少なくとも一つのナノ粒子はコア部および前記コア部を取り囲む酸化皮膜を含み,前記ソースおよびドレイン電極は前記少なくとも一つのナノ粒子の前記コア部と接することを特徴とする,請求項12に記載の電子装置。
  21. 基板と,
    前記基板上に設けられ,それぞれ多数の選択駆動回路を有する多数の画素を含む発光領域と;を含んでなり,
    前記各選択駆動回路は少なくとも一つの薄膜トランジスタを含み,前記薄膜トランジスタは,
    前記活性層から絶縁されるゲート電極と;
    前記活性層のいずれか一つのナノ粒子層と接するソースおよびドレイン電極と;
    少なくとも1のナノ粒子を有する少なくとも2層のナノ粒子層を含む活性層と;
    を含み,
    前記ナノ粒子層間には絶縁層が介在されることを特徴とする,フラットパネルディスプレイ装置。
  22. 前記活性層は,P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を含むことを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  23. 前記活性層は,N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を含むことを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  24. 少なくとも一つの選択駆動回路に電気的に連結されるCMOS薄膜トランジスタをさらに含み,
    前記CMOS薄膜トランジスタは,
    P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を有するP型活性層,および前記P型活性層のP型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むP型薄膜トランジスタと,
    N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を有するN型活性層,および前記N型活性層のN型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むN型薄膜トランジスタと,を含み,
    前記P型活性層と前記N型活性層は互いに異なる層に位置し,P型活性層とN型活性層の間に前記絶縁層が介在されていることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  25. 前記P型活性層は前記P型ナノ粒子層および前記N型ナノ粒子層を含み,前記N型活性層は前記P型ナノ粒子層および前記N型ナノ粒子層を含むことを特徴とする,請求項24に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  26. 前記各選択駆動回路は,少なくとも二つの異種薄膜トランジスタを含み,
    前記ソース電極およびドレイン電極とコンタクトされる前記異種薄膜トランジスタのナノ粒子層は,それぞれ相違した層に設けられることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  27. 前記各選択駆動回路の異種薄膜トランジスタのチャンネル方向は互いに異なることを特徴とする,請求項26に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  28. 前記各選択駆動回路の少なくとも二つの薄膜トランジスタはP型薄膜トランジスタおよびN型薄膜トランジスタであることを特徴とする,請求項26に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  29. 前記ナノ粒子層のなかで,一つのナノ粒子層のナノ粒子は,相違する層に設置されているナノ粒子層とは異なる方向に伸びていることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  30. 前記ナノ粒子層のナノ粒子は層別に互いに平行な方向に伸びていることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  31. 前記ナノ粒子のうち,少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッドまたはナノリボンのいずれか一つであることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  32. 前記各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,前記各ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行に配列されることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  33. 前記活性層のチャンネル方向は,前記ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層のナノ粒子が伸びる方向に平行であることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  34. 前記少なくとも一つのナノ粒子は,コア部と前記コア部を取り囲む酸化皮膜とを含み,前記ソースおよびドレイン電極は前記少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接することを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  35. 前記各画素は有機電界発光素子を含み,前記有機電界発光素子は前記選択駆動回路に電気的に連結されることを特徴とする,請求項21に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  36. 基板と,
    前記基板上に設けられ,それぞれ多数の選択駆動回路を有する多数の画素を含む発光領域と,を含んでなり,
    前記各選択駆動回路は少なくとも二つの異種薄膜トランジスタを含み,
    前記選択駆動回路の各薄膜トランジスタは,
    少なくとも一つのナノ粒子を有するナノ粒子層を含む活性層と;
    前記活性層から絶縁されるゲート電極と;
    前記活性層のナノ粒子層と接するソース電極およびドレイン電極と;
    前記各選択駆動回路の薄膜トランジスタの活性層間に介在される絶縁層と;を含み,
    絶縁層は互いに異なる層に位置する活性層の間に介在されることを特徴とする,フラットパネルディスプレイ装置。
  37. 前記各選択駆動回路の異種薄膜トランジスタのチャンネル方向は互いに異なることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  38. 前記各選択駆動回路の少なくとも二つの異種薄膜トランジスタはP型薄膜トランジスタおよびN型薄膜トランジスタであることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  39. 少なくとも一つの選択駆動回路に電気的に連結されるCMOS薄膜トランジスタをさらに含み,
    前記CMOS薄膜トランジスタは,
    P型ナノ粒子からなったP型ナノ粒子層を有するP型活性層,および前記P型活性層のP型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むP型薄膜トランジスタと,
    N型ナノ粒子からなったN型ナノ粒子層を有するN型活性層,および前記N型活性層のN型ナノ粒子層とコンタクトされるソースおよびドレイン電極を含むN型薄膜トランジスタと,
    前記P型活性層と前記N型活性層間に介在される絶縁層と,を含み,
    前記P型活性層と前記N型活性層は互いに異なる層に位置し,P型活性層とN型活性層の間には前記絶縁層が介在されることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  40. 前記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は層別に互いに異なる方向に伸びていることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  41. 前記異種の薄膜トランジスタのナノ粒子は層別に互いに平行する方向に伸びていることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  42. 前記少なくとも一つのナノ粒子は,ナノワイヤ,ナノロッドまたはナノリボンのいずれか一つであることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  43. 前記各ナノ粒子層には少なくとも二つのナノ粒子が含まれ,前記各ナノ粒子層のナノ粒子は互いに平行に配列されることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  44. 前記ソース電極およびドレイン電極と接するナノ粒子層を有する前記活性層のチャンネル方向は,前記ナノ粒子が伸びる方向に平行であることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  45. 前記少なくとも一つのナノ粒子は,コア部と前記コア部を取り囲む酸化皮膜とを含み,前記ソース電極およびドレイン電極は前記少なくとも一つのナノ粒子のコア部と接することを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
  46. 前記各画素は有機電界発光素子を含み,前記有機電界発光素子は前記選択駆動回路に電気的に連結されることを特徴とする,請求項36に記載のフラットパネルディスプレイ装置。
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