JP2005514590A - 加速風化装置におけるスペクトル出力分布を操作するための光学フィルタ - Google Patents

Abstract

本開示は、太陽光に都合よく近似し、加速風化装置を過酷な光強度、温度および水分による負荷に曝したときに、長期間にわたって、耐久性があり、かつ安定している光学フィルタに関する。光学フィルタは、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有するガラスを含んでいる。一部の実施例において、フィルタは、厚さ０．７ｍｍ〜１０ｍｍを有するように構成されることができる。開示の別の態様において、光学フィルタは、スペクトル出力分布を操作するのに適した光学フィルタアセンブリの一部である。光学フィルタアセンブリは、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有する鉛ガラス光学フィルタおよび紫外線透過光学フィルタを具備している。一実施例において、紫外線透過光学フィルタは、石英ガラスから構成される。紫外線透過光学フィルタは、赤外線吸収コーティングをさらに具備することができる。本開示のさらに別の態様において、鉛ガラスから構成された光学フィルタは、鉛ガラスを通過する照射量が第１の比および第２の比を有するように選択された厚さを有する。第１の比は、２９０ｎｍ未満の短波長の場合の第１の総放射照度対３００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の場合の第２の総放射照度であり、第１の比は２．０×１０^-6未満である。第２の比は、３１０ｎｍの放射照度対第２の総放射照度であり、第２の比は少なくとも１．２×１０^-3である。

Description

加速風化装置は、屋外環境に対する製品の耐性を試験するためにさまざまな業界によって採用されている。所与の製品のメーカーは、製品が指定された耐用期間、屋外の環境に耐えることを保証することが多い。製品は、温度サイクル、湿度、結露および雨などの水分の作用のほか、地上の太陽輻射への曝露に耐えることができなければならない。これらは屋外で用いられる製品の劣化を引き起こすために重要な作用であり、これらの作用のシミュレーションは実験室の加速風化試験に用いられる装置では不可欠である。３つの作用はすべて劣化を引き起こすように影響を与えるが、紫外線が長い時間にわたって一般にポリマーや他の材料を分解するため、太陽輻射への曝露は風化作用においてより影響力のある要因の１つである。

人工光源を用いる加速風化装置には利点がある。この装置の利用は、温度、水分および地上の太陽輻射といった気候や季節による変化の影響を受けにくいためである。加速風化装置の製作においてより困難な課題の１つは、地上における自然の太陽光に厳密に適合する人工光のスペクトル出力分布を提供することである。自然の太陽光のスペクトル出力分布に適合させるか、または厳密に近似することによって、加速風化装置への曝露の結果も、現実の世界への曝露により厳密に近似すると推測される。

太陽光のスペクトル出力に近似することは通常、１つ以上の光学フィルタによって人工光源からの照射を通過させることによって実現される。この近似が効果的に行われない場合には、試験中の製品において実験的に観察される故障状態は現実の世界の故障に一致しない可能性がある。光学フィルタを通過するとき、人工光に存在し、地上の太陽光に存在しない光の波長が、劣化反応および安定化反応の平衡を変化させることがわかっている。可能な範囲内で、これらの波長の光を試験プロトコルから排除する必要がある。比較例に関して実証するように、加速風化装置用の一般的な光学フィルタは、太陽光を都合よく近似していない照射を通過させる。たとえば、多くのフィルタは、２９０ｎｍ未満の波長ではきわめて少量の放射線のみしか含まれない実際の地上の太陽輻射に比べて、２９０ｎｍ未満の波長でより多量の紫外放射線を通過させる。これらの波長における放射線は、ポリエチレンテレフタレートおよびポリオールを含むフタレートを有するポリウレタンなどの一部の材料を早期に劣化させる可能性がある。さらに、この短波長の放射線を通過させない多くのフィルタはまた、太陽のスペクトル内の光、特に約３１０ｎｍ程度の光を不十分に透過し、劣化速度を遅くするか、または試験時間を長くすることになる可能性がある。

適切な光学フィルタの作製に関する困難さに折り合いをつけるために、加速風化装置において用いられる光学フィルタは、強すぎる光強度、温度および水分による負荷に曝される。光学フィルタは、過酷な環境において長期間にわたって耐久性があって安定していなければならない。加速風化装置用のフィルタは、スペクトル特性のみによって選択されてはならない。正確に言えば、加速風化装置用の効率的なフィルタは、太陽光に適合するスペクトル特性を有し、加速風化装置における使用に耐えるほど十分に耐久性を備えていなければならない。

地上の太陽輻射のスペクトル出力分布により厳密に適合することができると同時に、許容可能な耐用期間そのような装置内の過酷な条件に適応する加速風化装置用の光学フィルタを提供することがきわめて必要とされている。

本開示は、太陽光に都合よく近似し、加速風化装置を過酷な光強度、温度および水分による負荷に曝したときに、長期間にわたって、耐久性があり、かつ安定している光学フィルタに関する。光学フィルタは、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有するガラスを含んでいる。一部の実施例において、フィルタは、厚さ０．７ｍｍ〜１０ｍｍを有するように構成されることができる。開示の別の態様において、光学フィルタは、スペクトル出力分布を操作するのに適した光学フィルタアセンブリの一部である。光学フィルタアセンブリは、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有する鉛ガラス光学フィルタおよび紫外線透過光学フィルタを具備している。一実施例において、紫外線透過光学フィルタは、石英ガラスから構成される。紫外線透過光学フィルタは、赤外線吸収コーティングをさらに具備することができる。本開示のさらに別の態様において、鉛ガラスから構成された光学フィルタは、鉛ガラスを通過する照射量が第１の比および第２の比を有するように選択された厚さを有する。第１の比は、２９０ｎｍ未満の短波長の場合の第１の総放射照度対３００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の場合の第２の総放射照度であり、第１の比は２．０×１０^-6未満である。第２の比は、３１０ｎｍの放射照度対第２の総放射照度であり、第２の比は少なくとも１．２×１０^-3である。

本開示は、複数の利点を有する光学フィルタについて記載している。これらの利点の１つとしては、太陽光を比較例より厳密にシミュレートし、加速風化装置の過酷な環境に耐えるような耐久性のある光学フィルタが挙げられる。また、このようなフィルタのカットオン波長は、試験用の選択されたカットオン波長を提供するために容易に調整されることができる。さらに、フィルタは広い出力範囲にわたって作動することができ、依然として太陽光を都合よく近似することができる。また、通常指定される放射照度レベルにおける試験は、より低いランプ出力設定で行うことができる。

図１は、加速風化装置２０の一実施例である。加速風化装置２０は、風化室２２を具備している。風化室２２の内部には、試験用の多数の製品サンプル（図示せず）を保持するように構成された風化設備２４がある。実施例では、試験変数は、ユーザインターフェイス２６を通じて入力される。試験変数の例としては、湿度、散水、結露、温度および放射照度などの水分作用が挙げられる。霧生成装置２８は、風化室２２内部に霧状の水を提供する。風化室内部の湿度は、湿度センサ３０によって測定される。ヒータ３２は、風化室２２内に熱を発生する。熱は、温度センサ３４を用いて測定される。センサ３０，３４から受信した信号は、風化室２２内の温度および水分の作用を制御または維持するために用いられる。風化室２２はまた、照明器３８を具備する照射アセンブリ３６も具備している。照射アセンブリ３６は、放射照度を提供して制御し、照明器３８を冷却するように機能する。示された実施例において、照明器３８は、風化設備２４の中心付近に配置され、製品サンプルに放射照度を提供している。

図２は、照明器３８の一実施例を示している。照明器３８は、光源４２に結合して保持する１組のエンドキャップ４０を具備している。プラグ４４は、照射アセンブリ３６中の導体と接合し、出力を光源４２に提供する。光源４２は、少なくとも１つの光学フィルタまたは示された実施例では光学フィルタアセンブリ４６によって包囲される。光学フィルタアセンブリは、複数の光学フィルタである。冷媒５０が照明器３８を貫流し、照明器３８の温度を制御して維持している。光源４２は、少なくとも２００ｎｍ〜４００ｎｍの範囲のスペクトル放出を有するランプを具備している。加速風化装置において使用するのに適した既知の光源の例としては、炭素アーク灯、キセノンアーク灯、メタルハライド灯、蛍光灯などが挙げられる。示された実施例では、光源４２はキセノンアーク灯であり、液体冷媒５０は水である。

図３は、図２の線３−３に沿って切り取った光学フィルタアセンブリ４６の断面を示している。示された実施例では、光学フィルタアセンブリ４６は、内部フィルタ５２および外部フィルタ５４である２つの光学フィルタを具備している。光学フィルタ５２，５４は、フィルタアセンブリ４６が円筒であることを示す円形断面であることを示している。光学フィルタ５２，５４に関して他の曲線形状または直線形状が考えられる。冷媒５０は、光源４２と内部フィルタ５２との間で照明器３８の長さに沿った第１の方向に流れる。冷媒５０は、内部フィルタ５２と外部フィルタ５４との間において対向する方向に流れる。他のシステムとしては、一方の端部に冷却水入口があり、他方の端部に出口があるものが挙げられる。

図４は、光学フィルタアセンブリ１４６を備えた照明器１３８の別の実施例の断面を示している。この光学フィルタアセンブリ１４６は、内部フィルタ１５２、中間フィルタ１５３および外部フィルタ１５４である３つの光学フィルタを具備している。冷媒５０は、光源４２と内部フィルタ１５２との間で照明器１３８の長さに沿った第１の方向に流れる。冷媒５０は、内部フィルタ１５２と中間フィルタ１５３との間、および中間フィルタ１５３と外部フィルタ１５４との間の両方において対向する方向に流れる。

図５は、光学フィルタアセンブリ２４６を備えた照明器２３８の別の実施例の断面を示している。この光学フィルタアセンブリ２４６は、内部フィルタ２５２、中間フィルタ２５３および外部フィルタ２５４である３つの光学フィルタを具備している。実施例において、水などの液体冷媒５０は、光源４２と内部フィルタ２５２との間で第１の方向に進み、内部フィルタ２５２と中間フィルタ２５３との間で対向する方向に進む。空気などの気体冷媒５１は、中間フィルタ２５３と外部フィルタ２５４との間を通る。

図６は、単独の光学フィルタ３５２を具備している照明器３３８の一実施例を示している。実施例において、光学フィルタは、平面または平坦なフィルタであり、反射性の凹面５８を有する反射体５６に連結されている。反射体５６および光学フィルタ３５２の連結物は、光源３４２を包囲している。実施例における照明器３３８は、空気などの気体冷媒３５０によって冷却される。この構成において、実施例は、メタルハライド光源３４２を備えていることが示されているが、照明器３３８において使用するのにキセノンアーク光源などの他の光源が適している。光源を包囲する複数のフィルタではなく単独フィルタを備え、反射体を備えていない照明器も考えられる。また、気体冷媒以外の冷媒の使用も考えられる。

図２〜６に示された実施例は、請求項の範囲内で可能な実施例を網羅しているわけではない。説明のため、図は細長い照明器を示している。照明器は、任意の有形の形態を取ることができる。さらに、フィルタアセンブリにおける光学フィルタは、示されているように離隔されておらず、隣接して互いに接着していてもよい。照明器は、エンドキャップ４０がない状態で構成されてもよい。他の変形も考えられ、添付請求項の範囲内にあると想定される。

太陽輻射を有利に近似するために、光学フィルタまたは光学フィルタアセンブリは、光源から照明器の外への照射を調整するように選択される。したがって、照明器は、これまでのフィルタを用いた場合より現実的な風化試験を提供する。２つのスペクトル領域は、照明器またはフィルタが太陽輻射をどれほどうまく近似するかを定義する際に重要である。第１のスペクトル領域は、２９０ｎｍ未満の短波長を含む。２９０ｎｍ未満の紫外放射線は、エネルギーが高く、ポリマーを急速に劣化させる原因となる。地上における太陽の紫外光は２９０ｎｍより小さい放射線は、きわめて少量である。第２のスペクトル領域は、３１０ｎｍにおける放射照度を含む。一般に、放射照度は、受信器に入射する単位堆積当たりの放射出力であり、通常、平方メートル当たりのワット（Ｗ／ｍ²）で記録される。上述したように、地上の太陽輻射は、２９０ｎｍ未満では微量であり、約３００ｎｍで顕著になる。したがって、太陽のカットオン波長は一般に、真夏の正午で２９０ｎｍ〜３００ｎｍである。３１０ｎｍにおける放射照度は、フィルタリングされる光が効果的な試験を行うために太陽のカットオン波長をちょうど上回る領域において十分な放射照度を有するかどうかに関して、現実的な目安を提供する。

本開示において、カットオン波長は、キセノンアーク光源またはメタルハライド光源を用いて試験が行われるとき、放射照度が少なくとも０．００１Ｗ／ｍ²である最短波長として定義される。カットオン波長を決定するための試験方法は、雑音に影響されやすい。雑音を考慮するために、カットオン波長はまた、測定された放射照度が、放射照度が増大するにつれて連続して増大する整数の波長の４分の１である場合の波長として定義されることができ、最小放射照度は０．００００２Ｗ／ｍ²である。

地上の太陽輻射の有利な近似を行うために、フィルタは、上述のスペクトル領域に関連する２つの基準を満たすように設計されることが好ましい。第一に、光学フィルタを通過する光源からの照射またはフィルタリングされた照射は、３００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の場合の第２の総放射照度に対する２９０ｎｍ未満の短波長の場合の第１の総放射照度の比を有し、２．０×１０^-6に等しいか、それ未満である。第二に、光学フィルタを通過する光源からの照射は、第２の総放射照度（３００ｎｍ〜４００ｎｍの総放射照度）に対する３１０ｎｍにおける放射照度の比を有し、１．２×１０^-3より大きいか、それに等しい。総放射照度は、所与の範囲にわたって各整数波長に関して測定された放射照度の和である。総放射照度を決定するための適切な方法は、２ｎｍ刻みに放射照度を測定し、各測定波長における放射照度を加算し、結果として生じる和に２を乗算することである。第１の総放射照度を算出するために、２ｎｍ刻みに２５０ｎｍ〜２８８ｎｍまで測定された放射照度の和に２を乗算する。第２の総放射照度を算出するために、２ｎｍ刻みに３００ｎｍ〜４００ｎｍまで測定された放射照度の和に２を乗算する。

０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有するガラスを含むフィルタアセンブリにおける光学フィルタまたは少なくとも１つの光学フィルタは、地上の太陽輻射のスペクトル特性を都合よく近似する。ガラスは鉛ガラスとして知られることが多く、フリントガラスと呼ばれることもある。鉛ガラスは、ガラスの機械的特性、温度特性、電気特性または光学特性を調整するために、ガラスを含むか、酸化鉛などの鉛がガラス混合物に添加されるガラスである。一実施例において、鉛ガラスは、主成分として、酸化カリウム、酸化鉛、二酸化珪素を含むガラスである。さらに具体的な実施例において、ガラスはまた、酸化ナトリウムを含んでもよい。上述の鉛成分は、ガラス形成時のすべての材料の全体成分に基づく、鉛の重量％によって決定される。

適切な光学フィルタにおけるガラス中の鉛成分の量は、用いられるガラスの厚さに左右される。約０．５重量％の鉛成分を有するガラスは、適切なフィルタリングを行うために、厚さが約１０ｍｍでなければならない。約５０重量％の鉛成分を有するガラスは、適切なフィルタリングを行うために、厚さは約０．７ｍｍを必要とするだけで済む。ここで、当業者は、広範囲の鉛成分にわたって鉛ガラスフィルタを構成することができるが、鉛ガラスフィルタが薄すぎると、加速風化装置において使用する場合に耐久性がなく、熱すぎると、加速風化装置において使用する場合に経済的または実用的でない可能性があることを十分に理解されたい。本願では、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分の範囲が、一般的な加速風化装置用の照明器において使用する場合に、耐久性があり、経済的かつ実用的であるフィルタの実施例として示されている。一実施例において、用いられる鉛ガラスは、ペンシルバニア州デュレヤのショット・ガラス・テクノロジーズ・インコーポレィティッド（Ｓｃｈｏｔｔ Ｇｌａｓｓ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ，Ｉｎｃ．（Ｄｕｒｅｙａ，Ｐｅｎｎｓｙｌｖａｎｉａ））から商標名「ＷＧ−３２０」で販売されている。一実施例において、ＷＧ−３２０鉛ガラスは、約３０重量％の鉛成分を有する。ＷＧ−３２０鉛ガラスの適切な厚さは、約１．３ｍｍである。図６の実施例において、光学フィルタ３５２は、ＷＧ−３２０鉛ガラスの板ガラスとして示されている。

さらに、鉛ガラスの重量による鉛成分を変更させることなく、鉛成分の厚さを変化させることにより、フィルタを通過した照射のスペクトル出力分布を調整する。具体的に言えば、フィルタから通過する照射のカットオン波長が地上の太陽照射の場合のカットオン波長と同一であるように、ガラスの厚さを調整することができる。たとえば、ＷＧ−３２０鉛ガラスから構成され、それぞれが異なる厚さである３つの光学フィルタの場合のカットオン波長が、測定された。キセノンアーク灯からの照射を通過させる光学フィルタは、コネチカット州ストラトフォードのオリエル・コーポレーション（Ｏｒｉｅｌ Ｃｏｒｐ．（Ｓｔｒａｔｆｏｒｄ，Ｃｏｎｎｅｃｔｉｃｕｔ））から商標名「オリエル（Ｏｒｉｅｌ）６６０２１」で販売されている。厚さ３ｍｍの光学フィルタの場合は、カットオン波長は約２９８ｎｍであり、厚さ２ｍｍの光学フィルタの場合は、カットオン波長は約２９４ｎｍであり、厚さ１．３ｍｍの場合は、カットオン波長は約２９２ｎｍであった。

上述の２つの基準は、光源に供給される広範囲の出力にわたって満たされる。通常の風化試験は、３４０ｎｍで０．３５Ｗ／ｍ²で行われる。一実施例において、上述の２つの基準は、壁厚１．６ｍｍのＷＧ−３２０鉛ガラスから構成されたフィルタによって、３４０ｎｍで１．３１Ｗ／ｍ²であると測定された放射照度によって満たされた。上述の２つの基準は、記載した以外のより広範囲にわたって満たされると予測されている、本フィルタを用いて、通常より高い放射照度の使用により、より高速の試験結果を得る。従来技術のフィルタの場合には、さらなる出力は、より早い非現実的な劣化を生じるか、地上の太陽輻射の近似において誤差を生じるかまたは誤差を拡大する可能性がある。

光学フィルタアセンブリにおいて、鉛ガラスから構成されない光学フィルタは、紫外線透過である材料から構成される。これらのフィルタは、地上の太陽輻射の有利な近似に実質的に影響を及ぼさない。一実施例において、紫外線透過光学フィルタは、２５０ｎｍで少なくとも６０％の光透過率を有し、３００ｎｍで８０％の光透過率を有する（他の実施例も考えられる）。鉛ガラス光学フィルタおよび紫外線透過光学フィルタを具備するこの光学フィルタアセンブリを通過した照射に関するカットオン波長は、鉛ガラス光学フィルタのみを用いて鉛ガラス光学フィルタによって決定されるときの鉛ガラス光学フィルタの場合のカットオン波長にきわめて厳密に近い。紫外線透過光学フィルタにおいて使用するのに適した材料の一実施例としては、厚さ２ｍｍの石英ガラスが挙げられる。別の実施例は、イリノイ州シカゴのアトラス・エレクトリック・デバイセズ（Ａｔｌａｓ Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｄｅｖｉｃｅｓ（Ｃｈｉｃａｇｏ，Ｉｌｌｉｎｏｉｓ））から商標名「ＣＩＲＡ」で販売されているガラスなどの赤外線吸収コーティングを備えた石英ガラスである。図３を参照すると、内部フィルタ５２は鉛ガラスから構成され、外部フィルタ５４は石英または赤外線吸収コーティングを有する石英ガラスなどの紫外線透過ガラスから構成される。あるいは、内部フィルタ５２は紫外線透過ガラスから構成され、外部フィルタは鉛ガラスから構成される。

石英ガラスに施した赤外線吸収コーティングは、試験中、製品の温度を対応して上昇させることなく、光源によってより高い放射照度レベルを実現することができる。赤外線制御の１つの形態は、水冷媒を用いることである。赤外線制御の別の形態は、冷媒に赤外線吸収材料を添加することである。たとえば、水に硫酸銅を加えると、赤外線吸収冷媒を形成し、６００ｎｍを超える光を吸収し始め、太陽の紫外線のカットオンに一致する。赤外線制御の別の形態は、赤外線吸収冷媒と共に、赤外線吸収コーティングを備えたガラスを用いることである。赤外線制御の他の実施例も公知である。

以下の実施例は、夏至近くの晴天の日の正午にアリゾナ州フェニックス（Ｐｈｏｅｎｉｘ，Ａｒｉｚｏｎａ）で測定された半球の垂直太陽輻射のスペクトル出力分布と種々のフィルタを用いた風化装置のスペクトル出力分布を比較する。これは、短波長の紫外放射線の量が最大または最大に近い場合を「最大の昼光」とみなした。風化装置におけるスペクトル出力分布測定は、フロリダ州オーランドのオプトロニクス（Ｏｐｔｒｏｎｉｃｓ（Ｏｒｌａｎｄｏ，Ｆｌｏｒｉｄａ））から光学ヘッドＯＬ７５４−ＰＭＴおよび積分球ＯＬ７５２Ｓを備えた商標名「ＯＬ７５４」で市販されている分光放射計によって行われた。分光放射計は、米国標準技術局（Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ ｆｏｒ Ｓｔａｎｄａｒｄｓ ａｎｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ（ＮＩＳＴ））によって追跡可能な較正を用いて、標準的なタングステンハロゲンランプ（オプトロニクス（Ｏｐｔｒｏｎｉｃｓ）ＯＬ７５２−１０Ｅ）によって較正された。スペクトル出力分布測定は、２ｎｍ刻みに２５０ｎｍ〜４００ｎｍまで行われた。

以下の実施例は、比較例Ａ〜Ｉとラベル付けされた比較例を含む。これらの比較例は、キセノンアーク風化装置において使用するための市販の物品を示している。以下の実施例はまた、実施例１〜２とラベル付けされた本開示の実施例も示している。以下の略記が、これらの実施例において用いられる。

表１は、各実施例において用いられたフィルタおよび光源を示し、３００ｎｍ〜４００ｎｍの放射照度に対する２９０ｎｍ未満の放射照度と３１０ｎｍの放射照度の比を示している。

比較例Ａ〜Ｆは、キセノンアーク風化装置において市販のフィルタを用いた。図７は、２７０ｎｍ〜３５０ｎｍの最大昼光と比較した最大比較例Ａ〜Ｆの装置のスペクトル出力分布を示している。図７のスペクトル出力分布データおよび他のスペクトル出力分布グラフは、実験室の加速風化装置において一般に用いられる放射照度制御点である３４０ｎｍで０．５５Ｗ／ｍ²に正規化された。グラフは、波長ｎｍの関数としてｎｍ当たりのＷ／ｍ²で正規化された放射照度を示している。

図７は、比較例Ａ〜Ｆのフィルタを用いたキセノンアークのスペクトル出力分布が最大昼光のカットオン未満の短波長紫外放射線を多量に含むことを示している。これは、一部の材料において非現実的な劣化反応を生じる可能性がある。

比較例Ｇ〜Ｉは、太陽のカットオン未満の短波長紫外放射線を除去する市販のフィルタを用いた。図８は、３４０ｎｍで０．５５Ｗ／ｍ²に正規化した放射照度データに関する最大昼光および比較例Ｇ〜Ｉのスペクトル出力分布のグラフである。グラフは、波長ｎｍの関数としてｎｍ当たりのＷ／ｍ²で正規化された放射照度を示している。

図８は、これらのフィルタが実験室の加速風化装置において用いられる光源からの短波長紫外放射線を効果的に除去するために用いられるとき、太陽輻射に存在する３００ｎｍを超える放射線も多すぎるほどフィルタリングされることを示している。このことは、最大昼光に比べて、スペクトル出力分布を「弱く」し、望ましくないほど長い試験時間を生じる可能性がある。

実施例１および２は、キセノンアークランプおよびメタルハライドランプを備えた本発明の鉛ガラスフィルタを用いた。図９は、３４０ｎｍで０．５５Ｗ／ｍ²に正規化した放射照度によって最大昼光および実施例１および２のスペクトル出力分布のグラフである。グラフは、波長ｎｍの関数としてｎｍ当たりのＷ／ｍ²で正規化された放射照度を示している。図９は、本発明のフィルタが用いられたとき、最大昼光に存在する３００ｎｍを超える放射線を非現実的なほどフィルタリングすることなく、実験室の加速光源の短波長紫外放射線が除去された。図９において、実施例１および２のカットオンは、最大昼光の場合より数ｎｍほど長い方の波長にシフトされた。フィルタの厚さまたは鉛成分のわずかな修正により、最大昼光の場合に本質的に正確に適合するスペクトル出力分布を形成する。

表１のデータおよび図７〜９は、実験室の加速風化装置における本発明のフィルタの利用が、非現実的な劣化反応を生じることなく、実際の屋外の曝露で入手される結果を効果的に近似し、短期間で試験結果を得る可能性があることを示している。

開示された実施形態の種々の変形および組合せは当業者には明白であると思われる。これらの変形は、添付特許請求の範囲において定義されるように、本発明の範囲内にあることを意味している。

本発明によって構成される加速風化装置の斜視図を示している。 図１の加速風化装置内部で用いられる照明器の側面図を示している。 図２の照明器の断面図を示している。 照明器の別の実施例の断面図を示している。 照明器のさらに別の実施例の断面図を示している。 照明器のさらに別の実施例の断面図を示している。 比較例および太陽光のスペクトル出力分布を示している。 比較例および太陽光のスペクトル出力分布を示している。 本開示の実施例および太陽光のスペクトル出力分布を示している。

Claims (18)

1. 加速風化装置用の光学フィルタであって、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有するガラスを含む光学フィルタ。
2. 前記ガラスが円筒形である、請求項１に記載の光学フィルタ。
3. 前記ガラスが厚さ０．７ｍｍ〜１０ｍｍである、請求項１に記載の光学フィルタ。
4. 前記ガラスが３０重量％の鉛成分を有する、請求項３に記載の光学フィルタ。
5. スペクトル出力分布を操作するための光学フィルタアセンブリであって、
   ０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有する鉛ガラス光学フィルタと、
   前記鉛ガラス光学フィルタに動作可能であるように連結される紫外線透過光学フィルタと、を具備する光学フィルタアセンブリ。
6. 前記紫外線透過光学フィルタが石英ガラスから構成される、請求項５に記載の光学フィルタアセンブリ。
7. 前記紫外線透過光学フィルタが赤外線吸収コーティングを備える、請求項５に記載の光学フィルタアセンブリ。
8. 複数の紫外線透過光学フィルタを備える、請求項５に記載の光学フィルタアセンブリ。
9. ２つの紫外線透過光学フィルタを備える、請求項８に記載の光学フィルタアセンブリ。
10. 前記鉛ガラス光学フィルタは、前記紫外線透過光学フィルタの間に配置される、請求項９に記載の光学フィルタアセンブリ。
11. 加速風化装置用の光学フィルタであって、光源を有する加速風化装置が照射を提供し、
    鉛ガラスを通過する照射が、
    ３００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の場合の第２の総放射照度に対する２９０ｎｍ未満の短波長の場合の第１の総放射照度の第１の比であり、２．０×１０^-6未満である第１の比と、
    第２の総放射照度に対する３１０ｎｍの放射照度の第２の比であり、少なくとも１．２×１０^-3である第２の比と、を有する
    ように選択される厚さを有する鉛ガラスを含む光学フィルタ。
12. 前記鉛ガラスの厚さが、２９０ｎｍ〜３００ｎｍの前記鉛ガラスを通過する照射の場合には、カットオン波長を提供するように選択される、請求項１１に記載の光学フィルタ。
13. 前記光源からの照射が、少なくとも２９０ｎｍ〜４００ｎｍのスペクトル成分を含む、請求項１１に記載の光学フィルタ。
14. 前記光源からの照射が、３４０ｎｍにおいて０．３５Ｗ／ｍ²〜１．３１Ｗ／ｍ²の放射照度を含む、請求項１１に記載の光学フィルタ。
15. 加速風化装置用の光学フィルタであって、光源を有する前記加速風化装置が前記光学フィルタを通過し、フィルタリングされる照射となる照射を提供し、前記フィルタリングされる照射が
    ２９０ｎｍ〜３００ｎｍのカットオン波長および
    ３００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の場合の総放射照度に対する３１０ｎｍの放射照度の比であり、少なくとも１．２×１０^-3である比
    を有するように選択された厚さを有する鉛ガラスを含む光学フィルタ。
16. 加速風化装置用の光学フィルタアセンブリであって、光源を有する前記加速風化装置が照射を提供し、
    紫外線透過光学フィルタと、
    前記紫外線透過光学フィルタに動作可能であるように連結される鉛ガラスであって、前記光学フィルタアセンブリを通過する照射が、
    ３００ｎｍ〜４００ｎｍの波長の場合の第２の総放射照度に対する２９０ｎｍ未満の短波長の場合の第１の総放射照度の第１の比であり、２．０×１０^-6未満である第１の比と、
    第２の総放射照度に対する３１０ｎｍの放射照度の第２の比であり、少なくとも１．２×１０^-3である第２の比と、を有する
    ように選択される厚さを有する鉛ガラスと、を含む光学フィルタアセンブリ。
17. 前記紫外線透過光学フィルタが、２５０ｎｍで少なくとも６０％の光透過率を有し、３００ｎｍで少なくとも８０％の光透過率を有する、請求項１６に記載の光学フィルタアセンブリ。
18. 製品サンプルを試験するのに適した加速風化装置であって、
    前記製品サンプルを保持するように構成された風化設備と、
    前記風化設備の近くに配置された照明器であって、前記製品サンプルに照射を提供するように構成された照明器と、を具備し、
    前記照明器が、
    少なくとも２００ｎｍ〜４００ｎｍの範囲にスペクトル特性を有する光源および
    前記光源の近くに配置される光学フィルタであって、０．５重量％〜５０重量％の鉛成分を有するガラスを含む光学フィルタを具備する加速風化装置。

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