JP2005501684A - Ｘ線撮影検査法における密度および原子番号の分布を求める方法 - Google Patents
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Abstract
人間または動物の類の被検体や材料工学および安全性工学における被検体において材料密度および原子番号の分布を求めることを可能にする方法、Ｘ線装置およびコンピュータソフトウェア製品が記載されている。第１のＸ線スペクトルにおける密度および原子番号と第１のＸ線吸収値との関数的依存関係、および、少なくとも第２のＸ線スペクトルにおける密度および原子番号と第２のＸ線吸収値との関数的依存関係が求められる。第１のＸ線スペクトルにおける被検体の第１のＸ線吸収値分布画像と、少なくとも１つの第２のＸ線スペクトルにおける被検体の第２のＸ線吸収値分布画像とに基づいて、第１のＸ線吸収値分布における第１Ｘ線吸収値の関数的依存関係と、第２のＸ線吸収値分布および／または他の分布における、第１Ｘ線吸収値に対応するＸ線吸収値の関数的依存関係との比較から密度および原子番号の値が求められる。
Description
【技術分野】
【０００１】
本発明は、人間または動物の類の被検体における、または材料検査もしくは安全性検査の範囲からの物理学的および化学的に重要なデータの分布を介して画像データを求めるための方法、Ｘ線装置およびコンピュータソフトウェア製品に関する。特に、本発明は、Ｘ線撮影による画像データを被検体における材料密度分布および原子番号分布へ分離する方法に関する。
【０００２】
例えばコンピュータ断層撮影法（コンピュータトモグラフィ）、マンモグラフィ、血管撮影法（アンギオグラフィ）、Ｘ線検査技術あるいは同等の方法の如き全てのＸ線撮影法の結果は、Ｘ線源からＸ線検出器へのＸ線路に沿ったＸ線の減弱の表示である。この減弱はＸ線が透過した媒質もしくは材料によってＸ線路に沿って引き起こされる。減弱は、一般に最初のＸ線の強さに対する弱められた強さの比の対数として定義され、測定基準に関しては材料の減弱係数と呼ばれる。
【０００３】
多くのＸ線撮影検査装置は、Ｘ線の減弱分布を表示するために、減弱係数の代わりに、減弱係数を水によって基準化した値、すなわちＣＴ値を使用する。ＣＴ値は、測定によって求められた実際の減弱係数μおよび基準の減弱係数μH20から、
【数１】
なる式に従って算出される。ただし、ＣＴ値Ｃの単位はハウンズフィールド値［ＨＵ］である。水については値ＣH20＝０ＨＵであり、空気については値ＣL＝−１０００ＨＵである。
【０００４】
両表示は互いに変換可能もしくは等価であることから、以下において一般的に選択された用語「減弱値」は減弱係数μでありまたＣＴ値でもある。更に、これに関連して、本発明の説明は用語「材料」および「組織」を交換可能に使用する。つまり、医学的に示される検査の背景での材料とは解剖学上の組織であってよく、逆に材料検査および安全性検査における組織とは被検体の任意の材料と理解すべきものとする。
【０００５】
減弱値の増大は、例えば骨格におけるカルシウムまたは造影剤におけるヨウ素のような比較的大きい原子番号の材料に起因するか、あるいは肺結節あたりにおけるような軟部分密度の増大に起因する。位置
【数２】
における局部的な減弱係数μは、
【数３】
なる式に従って、組織もしくは材料に入射するＸ線エネルギーＥに依存し、且つエネルギーおよび材料に依存した質量減弱係数
【数４】
と共に局部的な組織もしくは材料の密度ρに依存する。
【０００６】
従って、材料のエネルギーに依存したＸ線吸収は、これが材料の有効原子番号によって決まるように、材料密度によって影響されるＸ線吸収に重なる。従って、異なる物理学的且つ化学的な組成の材料もしくは組織がＸ線画像において同一の減弱値を有し得る。裏返せば、Ｘ線撮影の減弱値から被検体の材料組成を推論することはできない。
【０００７】
Ｘ線撮影による検査方法により形成されるＸ線画像における本来はどちらかというと不明瞭な減弱値分布の正しい解釈は、医学分野ではたいてい形態学基準のみに基づいて行なわれ、たいていその分野における数十年の経験を有する放射線医学者を必要とする。それにもかかわらず、幾つかの例では、Ｘ線検査の画像形成において高められた減弱値により目立つ構造物を明瞭に分類することができない。例えば胸郭概観撮影における門付近の石灰化を画像平面に対して直角にある血管から区別することはまさにむずかしい。例えば、拡散性の石灰沈着物も新鮮な流出血からほとんど区別することができない。
【０００８】
材料検査および安全性検査においても、一般に検査者は自身の個人的な専門知識および職業上の経験によって減弱値分布の表示情報を補足する。それにもかかわらず、検査者には、例えば、Ｘ線画像からプラスチック爆薬と非爆発性プラスチックとを確実に区別することは不可能である。
【０００９】
このために、材料の特徴的な値を表示するための方法が必要である。Ｗ．Ｋａｌｅｎｄｅｒ氏等は、“Ｍａｔｅｒｉａｌｓｅｌｅｋｔｉｖｅ Ｂｉｌｄｇｅｂｕｎｇ ｕｎｄ Ｄｉｃｈｔｅｍｅｓｓｕｎｇ ｍｉｔ ｄｅｒ Ｚｗｅｉ−Ｓｐｅｋｔｒｅｎ−Ｍｅｔｈｏｄｅ，Ｉ．Ｇｕｎｄｌａｇｅｎ ｕｎｄ Ｍｅｔｈｏｄｉｋ， Ｗ．Ｋａｌｅｎｄｅｒ， Ｗ．Ｂａｕｔｚ， Ｄ．Ｆｅｌｓｅｎｂｅｒｇ， Ｃ．Ｓｕｅｓｓ ｕｎｄ Ｅ．Ｋｌｏｔｚ， Ｄｉｇｉｔ． Ｂｉｌｄｄｉａｇｎ．７， １９８７， ６６−７７， Ｇｅｏｒｇ Ｔｈｉｅｍｅ Ｖｅｒｌａｇ”において、Ｘ線撮影における基礎材料分析のための方法を開示している。この方法は、高い原子番号の材料および組織が、低い原子番号の材料もしくは組織よりも明らかに強く低エネルギーのＸ線を吸収するという作用に基づいている。これに対して、高いＸ線エネルギーの場合には、減弱値が同化し、材料密度の作用が優位である。
【００１０】
この開示の文脈において、用語「原子番号」は、他に言及がない限り、厳密に元素に関係した意味で使用されるのではなく、むしろその代わりに組織もしくは材料の有効原子番号を意味する。この有効原子番号は組織もしくは材料の構造に関与する元素の化学的な原子番号および原子量から算出される。
【００１１】
Ｗ．Ｋａｌｅｎｄｅｒ氏等によって提案された方法においては、被検体のＸ線減弱値が低いＸ線エネルギーと高いＸ線エネルギーとで測定され、得られた値が、例えば（骨部分についての）カルシウムおよび（軟部分組織についての）水の如き２つの基礎材料の当該基準値と比較される。各測定値が両基礎材料の測定値の線形重ね合わせとして表示されることが前提となっている。例えば、被検体の画像表示の各元素について、骨部分および軟組織部分を基礎材料の値との比較から算定することができるので、元の撮影は骨部分材料および軟部分組織の両基礎材料の表示へ変換される。
【００１２】
従って、基礎材料分析もしくは２スペクトル法は、非常に異なる原子番号を有する人間および動物の組織における解剖学上の構造物を分離もしくは区別するのに適している。それゆえ、材料検査および安全性検査においては、例えば、予め規定された材料種類、いわゆる材料部類に基づく分離を行なうことができるであろう。被検査材料の物理学的および化学的特性もしくはこれらの特性の変形を或る材料種類内で認識させる機能的表示は基礎材料分析の狙いとする方向ではない。
【００１３】
本発明の課題は、Ｘ線撮影により生成された被検体吸収値に基づいて、被検体に関する物理学的および化学的に重要な情報を作成する方法、Ｘ線装置およびコンピュータソフトウェア製品を提供することにある。
【００１４】
この課題は、本発明によれば、被検における密度および原子番号の分布を求める方法において、
第１のＸ線スペクトルにおける被検体の第１のＸ線吸収値分布を表示するステップと、
第２のＸ線スペクトルにおける被検体の第２のＸ線吸収値分布を表示するステップと、
第１のＸ線吸収値分布における第１Ｘ線吸収値と密度および原子番号との第１の関数的依存関係を算定するステップと、
第２のＸ線吸収値分布における、第１Ｘ線吸収値に対応した第２Ｘ線吸収値と密度および原子番号との第２の関数的依存関係を算定するステップと、
第１の関数的依存関係と第２の関数的依存関係および／または他の関数的依存関係との比較から密度および原子番号の値を求めるステップとを有することによって解決される。
【００１５】
この明細書の関連で使用される用語「Ｘ線スペクトル」は、設備のＸ線源から放射されたＸ線のスペクトル分布だけとは違って更に別の把握された意味を有する。Ｘ線検出器側ではＸ線の異なったスペクトル成分が異なった効率で変換され、従って種々に重み付けされる。その結果生じる有効スペクトル分布がこの明細書においてＸ線スペクトルと呼ばれる。
【００１６】
更に、上記課題は、Ｘ線を放射するＸ線源と、Ｘ線源から放射されたＸ線を検出しＸ線を継続処理のために電気信号へ変換するＸ線検出器と、Ｘ線検出器の電気信号を処理する信号処理装置とを備え、被検体における密度および原子番号の分布を求めるためのＸ線装置において、信号処理装置は、異なるＸ線スペクトルを有するＸ線装置において表示された被検体の少なくとも２つのＸ線吸収分布に基づいて、本発明による方法に従って、被検体における密度および原子番号の分布を求めることによって解決される。
【００１７】
更に、上記課題は、異なるＸ線スペクトルで表示された、被検体におけるＸ線吸収値分布の少なくとも２つの画像データセットに基づいて、本発明による方法に従って、被検体における密度および原子番号の分布を求めるためのコンピュータソフトウェア製品によって解決される。
【００１８】
本発明は、Ｘ線装置のスペクトルに影響された測定データの分析から、平均密度
【数５】
および有効原子番号
【数６】
の空間的分布の算出を可能にする。この上に、被検体の特に化学的および物理学的な組成に関する新式のコントラストが得られる。今までは磁気共鳴システムにゆだねられた被検体のこの機能的表示はＸ線検査技術の如きＸ線診断学に多数の新規な応用を開拓する。
【００１９】
例えば、組織における、とりわけ被検体の生化学組成への認識における原子番号分布の表示、従来同質の密度で表示された器官の化学的構造に基づくコントラスト、ヨウ素等の身体構成要素の定量的測定、原子番号に基づく石灰化の細分が可能である。被検体の分離された密度表示は、とりわけ例えば骨粗しょう症の場合に行なわれるように、正確な重心測定および密度測定を可能にする。
【００２０】
安全性技術の範囲において、このことは、危険要素、特に爆発物質の確実な検出が可能であることを意味する。材料検査においては、被検体における材料組成および密度分布の定量的検査への道が開かれる。
【００２１】
本発明の他の好ましい実施態様は相応の従属請求項に規定されている。
【００２２】
少なくとも１つのＸ線スペクトルについての密度および原子番号とＸ線吸収値との関数的依存関係の算定は、密度および原子番号とＸ線吸収値との設備固有の依存関係が得られるように、校正サンプルにおける基準測定によりおよび／または物理学的モデルに基づくシミュレーションの形で行なわれると好ましい。
【００２３】
とりわけ、Ｘ線吸収値分布を密度および原子番号の分布へ変換することは、第１のＸ線吸収値分布と他のＸ線吸収値分布との対応する各Ｘ線吸収値について、密度と原子番号との値対の検出に基づいて、この値対が第１のＸ線スペクトルと少なくとも１つの他のＸ線スペクトルとについて、Ｘ線吸収値と密度および原子番号との定められた関数的依存関係（関数従属性とも呼ばれている）を満たすように行なわれる。それにより、１つの画素についての密度および原子番号を、表示されたＸ線吸収値分布の互いに対応するＸ線吸収値の関数的依存関係の交差量として簡単に算出することができる。
【００２４】
原子番号の決定において高い分解能が得られるように、第１のＸ線スペクトルは、第２のＸ線スペクトルの量子エネルギーに比べて光電効果によるＸ線吸収を多く受ける量子エネルギーを有すると好ましい。
【００２５】
本発明の優れた実施態様において、被検体を表示するためのＸ線スペクトルの変更のために、Ｘ線管の少なくとも１つの動作パラメータの変更が行なわれる。その場合に、Ｘ線源は、第１の動作状態において第１のＸ線スペクトルを放射し、第２の動作状態において第１のＸ線スペクトルとは異なる第２のＸ線スペクトルを放射し、それにより２つのＸ線スペクトル間での高速の切換が可能になる。
【００２６】
さらに、被検体を表示するＸ線スペクトルの変更のために、検出器特性の変更が行なわれると好ましい。Ｘ線検出器は、Ｘ線源から受信したＸ線のスペクトル部分範囲を互いに独立な電気信号に変換し、この場合に異なるＸ線スペクトルにおけるＸ線吸収分布の同時表示を可能にする。
【００２７】
更に、被検体の少なくとも１つの部分領域の表示は高められたＸ線量で行なわれると好ましい。それにより、検査領域全体が高められたＸ線量で覆われて例えば患者が過大なＸ線被爆に曝されるということなしに、その部分領域に対しては密度分布および／または原子番号分布の満足できる分解能が得られる。
【００２８】
好ましい実施態様に従って、被検体の第１のＸ線吸収分布を表示するためにＸ線路に材料を挿入し、被検体の第２のＸ線吸収分布を表示するためにＸ線路に当該材料を挿入しないと好ましい。それにより、第１の減弱値分布を表示する際、被検体の前もしくは後において、その都度使用される材料に固有のＸ線スペクトル成分がフィルタ除去されるので、被検体におけるこの材料に対応した物質の検出において高い感度が達成される。
【００２９】
以下において図面を参照しながら本発明を実施例に基づいて更に詳細に説明する。
図１は等吸収線に基づいて異なる組成の材料における同一の減弱値μの成立を、
図２は３つの元素についてＸ線減弱のエネルギー依存関係を、
図３ａは等吸収線を求めるための本発明による計算方法の機能ブロック図を、
図３ｂはＸ線吸収値を材料密度および原子番号の値へ変換する流れ図を、
図４は２つの異なるＸ線スペクトルにおける組織種類の２つの等吸収線を、
図５は３つの典型的なＸ線技術を概略的に、
図６はＸ線スペクトルの変形のための種々の方法を概略的に示す。
【００３０】
図１のグラフ１０の等吸収線１１は定められたＸ線スペクトルにおいて同一の減弱値μもしくはＣにすべての値対（ρ，Ｚ）を結び付ける。図１は、Ｘ線画像の減弱値だけに基づいて組織もしくは材料の種類および組成に関する情報を導き出すことができないことを示している。一般に、放射線医学者はＸ線画像における組織種類を識別するのに自身の解剖学的知識を用い、それに基づいて不規則性を探し求める。その際、不規則性の身元解明のために、医師は経験値および形態学上の基準を用いることを強いられる。同様に、材料検査および安全性検査の専門家はＸ線撮影判定の評価のために自身の職業上の豊富な経験をより所とする。
【００３１】
Ｘ線は、種々の材料によって、しかもＸ線エネルギーに依存して種々の強さで弱められる。図２はこれを、水２３、カルシウム２２およびヨウ素２１に関して質量減弱係数のエネルギー依存関係２０に基づいて示している。これは、種々の材料において種々に作用する減弱メカニズムに起因する。診断上重要なＸ線エネルギー範囲において、Ｘ線減弱は主として光電効果によって引き起こされる吸収とコンプトン効果に基づく散乱とに起因する。吸収は、特に低いＸ線エネルギーおよび大きい原子番号を持った組織において重要である。散乱はＸ線エネルギーに対しては僅かの依存関係しか持たず、主として、組織の物理学的密度を伝える電子密度に関係する。
【００３２】
この明細書の文脈では簡単化されて原子番号と呼ばれている定められた組織種類の有効原子番号Ｚは、構造に関与する元素の原子番号Ｚi、それの原子量Ａiおよびそれの局部的な材料等価密度ρiから、例えば次のとおり算定される。
【数７】
【００３３】
純粋なカルシウムについてＺCa＝２０、水素化カルシウムについてほぼＺCaH2≒１６．０４、水についてほぼＺH2O≒７．４２８が得られる。従って、原子番号Ｚを介して被検体の化学的組成または生化学的組成を非常によく捉えることができる。
【００３４】
検査領域における原子番号分布および密度分布の算出のための前提は、同一の撮影ジオメトリにて、しかし使用Ｘ線の異なるエネルギーにより作成された少なくとも２つの領域Ｘ線撮影である。異なるＸ線エネルギーで表示された２つよりも多いＸ線撮影を使用する場合、Ｚ分解能およびρ分解能を改善することができるが、しかしそれによってＸ線被爆も増大する。従って、患者検査の場合には、この可能性が常に与えられている
というわけではない。
【００３５】
減弱値に基づく画像データを原子番号および材料密度もしくは組織密度の分布画像へ変換する出発点はＸ線装置の各Ｘ線スペクトルについての等吸収線の知識である。この場合に、既に述べたように、Ｘ線スペクトルは、Ｘ線装置のＸ線源から放射されたＸ線のスペクトル分布という狭義の用語で解釈するのではなくて、Ｘ線検出器側でのＸ線管放射スペクトルの種々のスペクトル範囲における異なる重み付けを考慮する広義の用語で解釈すべきである。従って、測定された減弱値は、Ｘ線管から放射されたＸ線スペクトルの直接的な減弱と使用されたＸ線検出器のスペクトル効率とからもたらされる。両値は、設備固有の量であり、校正検査の減弱値により直接もしくは間接に求められなければならない。両値は等吸収線を算定する基礎である。
【００３６】
図３ａには、多数の等吸収線をモデル化もしくは算出するための３つの方法３００が概略的に示されている。すなわち、３つの方法とは、理論的モデル法と、実験的形成法と、実験的に求められたパラメータによる曲線の校正をともなう理論的モデル法である。
【００３７】
原理的には、減弱値がＸ線撮影におけるＸ線減弱の間隔を覆うのに必要であるような多さの等吸収線が求められるべきである。その場合に、理論的に発生する減弱値のすべてについて等吸収線を算出しなくてもよい。計算されない等吸収線は必要であれば補間法または他の平均化手法によって得ることができる。
【００３８】
理論的モデル法の基本ステップは図３ａの左側の分岐に示されている。ステップＳ３０２では、まずパラメータとして使用可能な管電圧を有する設備固有のＸ線放射スペクトルＳ（Ｅ）のデータが読み込まれる。このために、Ｘ線のスペクトル分布が個々の各Ｘ線設備について事前に実験的に正確に測定されるか、または特別なＸ線源型に特徴的なデータが使用される。検出器装置関数ｗ（Ｅ）の検出がステップＳ３０３で行なわれる。このためにも事前に検出器装置の正確な測定が行なわれてもよいが、しかし例えばスペクトル技術の設計仕様の如き検出器型を特徴付けるデータが使用される。曲線群Ｃi（ρ，Ｚ）もしくはμi（ρ，Ｚ）の形での等吸収線の算定が物理学的なモデルに基づいてステップＳ３０４で行なわれる。その物理学的なモデルは、Ｓ（Ｅ）およびｗ（Ｅ）の関連した各組み合わせに関して、異なる原子番号を有する材料について且つ異なる材料密度においてＸ線減弱値Ｃiもしくはμiを模擬する。
【００３９】
ステップＳ３０２〜Ｓ３０４の理論的モデル化の代替として等吸収線の曲線群を実験的に求めることができる。このために、ステップＳ３０５では、Ｓ（Ｅ）とｗ（Ｅ）との異なる関連する組み合わせ時にＸ線装置において異なる密度および平均の原子番号を持った校正材料のＸ線減弱が測定される。ステップＳ３０６において、測定値は等吸収線Ｃiもしくはμiの曲線群の次の算定のための拠点を形成する。
【００４０】
他の代替として、理論的にモデル化された曲線群Ｃiもしくはμiを実験的に求めたＸ線減弱値により校正することが可能である。ステップＳ３０７では理論的曲線群の校正に必要な減弱値が、ステップＳ３０５に関して上述したように、Ｘ線設備において適切な校正材料もしくはファントムを用いて測定される。ステップＳ３０２〜Ｓ３０４の純理論的モデル化と違って、この方法の場合には、Ｘ線放射スペクトルＳ（Ｅ）およびｗ（Ｅ）の正確な知識は前提ではなく、むしろステップＳ３０８における等吸収線Ｃiもしくはμiの曲線群の理論的モデル化のパラメータである。ステップＳ３０７において実験的に求められた校正値によるステップＳ３０９における曲線の校正は最終的にＸ線装置のＸ線放射スペクトルおよび検出器装置関数にとって特有であるこれらのパラメータ値を定める。
【００４１】
必要な減弱値とＳ（Ｅ）およびｗ（Ｅ）の組み合わせとに対する等吸収線を求めることにより、組織を通過した際のＸ線の減弱値を表わす画像データを、当該組織における原子番号もしくは材料密度の分布を表わす画像データへ変換するための前提が提供される。
【００４２】
課題設定に応じて等吸収線を求めるのに３つの方法を混合して使用することもできる。例えば、実験的には不正確にしか求まらない値、非常に高い費用でしか求まらない値、あるいは全く求まらない値は、理論的モデル化により補足されるか、またはそれの精度を上げられる。その際、異なる方法により推定されたデータは、ステップＳ３１０において、統一されたデータセットにまとめられ、ステップＳ３１１において画像変換のために準備される。
【００４３】
図３ｂには、本発明による変換方法３２０が示されている。これは、前述の方法３００の１つに基づいて求められデータセットとしてステップＳ３２１において準備された等吸収線の曲線群に基づいている。
【００４４】
変換は画素毎に行なわれる。以下においては、異なるＸ線エネルギースペクトルではあるがしかし同一の撮影ジオメトリにおいて撮影された２つのＸ線画像に基づくＸ線減弱値分布の変換から出発する。これは、本発明による変換の実施のための最小限の前提である。しかしながら、２つよりも多い異なるＸ線エネルギー分布において２つよりも多いＸ線撮影を使用することもできる。
【００４５】
変換すべき画素の選択はステップＳ３２２において行なわれ、次のステップＳ３２３において、この画素について、第１のＸ線画像から減弱値Ｃ1もしくはμ1が読み出され、そして第２のＸ線画像から減弱値Ｃ2もしくはμ2が読み出される。次のステップＳ３２４において、第１のＸ線撮影に使用されたＸ線スペクトルＳ1（Ｅ）および検出器装置関数ｗ1（Ｅ）の問合せと、第２のＸ線画像のためのＸ線スペクトルＳ2（Ｅ）および検出器装置関数ｗ2（Ｅ）の問合せとが行なわれる。これらの値は、後段におけるそれぞれの減弱値に割り付けられた等吸収線の選択のためのパラメータを形成する。この場合に、スペクトル分布Ｓi（Ｅ）もしくはｗi（Ｅ）は、間接的にも、例えば使用された管電圧Ｕ1もしくはＵ2、あるいはＸ線検出器の動作パラメータの問合せを介して求めることもできる。
【００４６】
ステップＳ３２５においては、ステップＳ３２１において準備された等吸収線データセットから、パラメータＳ1（Ｅ）およびｗ1（Ｅ）において条件Ｃ1もしくはμ1を満たす第１の曲線と、パラメータＳ2（Ｅ）およびｗ2（Ｅ）において条件Ｃ2もしくはμ2を満たす第２の曲線とが選択される。こようにして得られた第１の等吸収線１１および第２の等吸収線４１の例は図４のグラフ４０に示されている。
【００４７】
両曲線１１および４１の交差量としての交点４２が変換方法３２０のステップＳ３２６で算出される。曲線交点４２は、例えば局部的に線形な変換によってまたは反復法による交点検出により求められる。両曲線１１および４１は、同じ画素に対する、従って被検査組織の同一の部分範囲に対する２つの異なる減弱値を表わすことから、両減弱値は同じ材料種類もしくは組織種類によって引き起こされているはずである。従って、曲線交点４２の座標（ρ，Ｚ）は、画素に割り付けられた組織部分範囲の材料密度および原子番号を再現する。
【００４８】
次に、ステップＳ３２７においては、そのようにして求められた原子番号値Ｚが原子番号分布画像へ当該画素値として書き込まれ、ステップＳ３２８においては、同様に、求められた材料密度値ρが密度分布画像に書き込まれる。ステップＳ３２２〜Ｓ３２８は、最後の画像出力をステップＳ３２９において行なうことができるようになるまで、全ての残りの画素に対して繰り返される。その際に、スペクトル分布Ｓi（Ｅ）もしくはｗi（Ｅ）は1つの画像における全ての画素に対して同じであるから、ステップＳ３２４は省略することができる。
【００４９】
密度ρおよび原子番号Ｚの算定精度は、主として減弱値のノイズ成分および測定のスペクトル分解能の影響を受ける。ノイズ成分は例えば使用されたＸ線量を介して影響を受ける。スペクトル分解能は測定に使用されたＸ線スペクトルの間隔および幅の関数である。
【００５０】
一般に、比較的低いエネルギーのＸ線スペクトルの場合には光電効果によるＸ線減弱が顕著であり、比較的高いエネルギーのＸ線スペクトルの場合にはコンプトン効果によるＸ線減弱が顕著である。より正確に表現するならば、低いＸ線エネルギーの場合の撮影のＸ線減弱値への原子番号の影響は高いＸ線エネルギーの場合よりも比較的大きい。これに対して、Ｘ線減弱値への材料密度もしくは組織密度の影響は丁度逆になる。従って、まず、第１のＸ線スペクトルは第１のＸ線減弱値における明白な割合が被検査組織または被検査材料の原子番号の影響に由来するように選ばれ、第２のＸ線スペクトルは被検体密度が第２のＸ線減弱値への明白な影響を受け入れるように選ばれることが好ましい。
【００５１】
従って、コンピュータ断層撮影法（ＣＴ）については、５０ｅＶ〜１２０ｅＶの範囲におけるＸ線スペクトルの量子エネルギーが優先されるので、Ｘ線量を患者に有害な範囲に高めなければならないことなしに、第１のＸ線スペクトルと第２のＸ線スペクトルとの間において十分なエネルギー間隔を選ぶことができる。それどころか、マンモグラフおよびマイクロＣＴでは、１０ｋｅＶもしくは１ｋｅＶまでの下方範囲が定められる。
【００５２】
材料および安全性検査は、一般に生体検査において是認されるよりも高いＸ線量が使用される。この高いＸ線量により、顕著に改善された信号／ノイズ比が得られる。更に、１ＭｅＶまでの著しく高いＸ線エネルギーも使用することができる。それにより、Ｘ線エネルギーが定められている際に原子番号がＸ線吸収に対して僅かな割合でしか寄与しない場合にも、使用されたＸ線量においてＸ線吸収値のノイズ割合が当該Ｘ線吸収値における原子番号の相対的成分よりも明らかに僅かである限り、原子番号の値は良好な精度で決定される。従って、使用されたＸ線スペクトルの絶対的なエネルギー状態ではなくて、Ｘ線スペクトルの相互の異なるエネルギー状態が重要である。その場合に、絶対的な状態の選択は使用可能なＸ線量および検出すべき物質によって影響される。
【００５３】
材料の化学的組成または組織の生化学的組成における満足のいく識別にとって十分な原子番号コントラストは、Ｘ線量および使用されたＸ線スペクトルを介して調整される。原子番号分布の表示における必要な分解能は診断学上の課題設定に依存している。例えば、ヨウ素、マグネシウム、炭素、窒素、酸素、ナトリウム、燐、硫黄、塩素、カリウム、マンガン、鉄、コバルト、銅、亜鉛、セレン、モリブデン等の如き典型的な身体構成要素の量的測定には、肝臓における例えば鉄分に基づく化学的コントラストを得るためとは違ったＺ分解能が必要である。極端に異なる原子番号を有する周囲から被検体を分離するためのＺ分解能への要求は比較的僅かである。原理的には、Ｚ分解能はなおも区別すべき原子番号の差よりも良くなければならない。現在ではＺ分解能は０．１まで到達可能である。
【００５４】
密度分布は、
【数８】
なる式に従って被検体の重量分布を測定するために評価し、重心を決定するために使用することができる。用途は、例えば骨や脳の密度測定があるが、しかし検査物体における実際の重心の決定も用途である。
【００５５】
例えば肝臓、腎臓、白色および灰色脳質等の身体材料または材料部類の分類および細分化のために、密度と原子番号を介して求められた組織種類もしくは材料種類とのウィンドウ処理を行なうことによって原子番号分布と密度分布との組み合わせ評価を行なうことができる。例えば悪性組織の細分化に加えてこの方法により例えば同時にその組織の窒素含有量を求め、後に続く放射線治療における線量計画に使用することができる。
【００５６】
更に、減弱値を表示する古典的なレントゲン写真との比較を可能にするために、元の画像も標準Ｘ線画像として表示するとよい。元の画像がもはや存在しない場合には、検査物体の原子番号分布および密度分布から逆方向互換性の標準Ｘ線画像が算出される。
【００５７】
Ｘ線画像システムの検出器ノイズはコンピュータ断層撮影法に比べて高いが、このようなＸ線画像システムの検出器ノイズにおいて、Ｘ線画像コントラストの動特性が減り、それにともない達成可能なＺ分解能およびρ分解能が減る。事情によっては、断層撮影大面積の検査の際に高いＺ分解能およびρ分解能を設定することは、許容できない高い線量被爆を意味する。従って、概観測定の後に診断学上の必要性に応じて比較的小さい検査領域では高められた線量による第２の測定が行なわれる。マンモグラフにおいて、微小石灰化の検査にはこの方法がよい。
【００５８】
図５には、３つの異なるＸ線システムがＸ線透視法の３つの基本原理を説明するために示されている。
【００５９】
図５ａは、２次元平面検出器５０２における被検体５０３を投影撮像するためのＸ線画像システム５００を示す。患者５０３または物体５０３は一般にＸ線撮像中、Ｘ線管５０１および検出器５０２からなる装置に対して相対的に静止状態にある。
【００６０】
図５ｂはコンピュータ断層撮影装置の例として回転検出器システム５０２を備えたファンビーム装置５００の原理を概略的に示している。Ｘ線管５０１からファン状に放射されるＸ線ビームは定められた角度位置から被検体５０３を透過し、最後に個別検出器の列状の装置に当たる。撮影サイクルは、被検体に対する種々の角度位置における多数のこのような透過からなる。
【００６１】
図５ｃに示された型のＸ線透視装置５００の場合、検査物体５０３が、例えば移送ベルト５０６の如き移送装置により設備のＸ線路５０４を通して案内される。この種の型のＸ線装置は主に安全性検査に使用される。検出器として線状検出器、１次元検出器、しばしばＬ形検出器が使用される。検査物体５０３はＸ線路５０４を通過する際にＸ線管５０１から放射されたＸ線によって列状に走査され、このようにして生成された画像列から検査物体の完全な透視画像が合成される。
【００６２】
図６は、Ｘ線管５０１から放射されたＸ線分布６１０（６１１）と検出器装置関数６１２（６２０）のスペクトル特性との協動により生じるような有効Ｘ線スペクトルの種々の影響可能性を示す。
【００６３】
図６ａは値Ｕ1から値Ｕ2への管電圧の高速切換を示し、これにより２つのＸ線放射スペクトル６１０，６１１間の切換が行なわれる。１つの撮影サイクルの各部分撮影は、最初に両管電圧のうち一方の管電圧で、そして直ぐに続いて両管電圧のうち他方の管電圧で、撮影サイクル中における例えば患者の運動によるアーチファクトを最小限にするように行なわれると好ましい。例えばＸ線投影システムのように短い測定時間を持ったＸ線装置５００の場合、各撮影サイクルも完全に両管電圧のそれぞれ１つで実施される。管電圧の切換の代わりに、Ｘ線管と被検体との間もしくは被検体とＸ線検出器との間に、Ｘ線スペクトルに影響を与えるために、フィルタもしくはフィルタシステムを挿入することができる。その際に、動作電圧Ｕ1におけるＸ線管の図示の動作は標準動作電圧およびフィルタなしまたは第１のフィルタもしくはフィルタシステムを使用した作動と置き換えられる。値Ｕ2における動作は第２のフィルタもしくはフィルタシステムの使用によって置き換えられる。
【００６４】
Ｘ線管５０１は単一エネルギーＸ線ではなくてＸ線５０４の比較的幅の広いスペクトルを放射することから、図６ｂに示されているように、エネルギー感応検出器６２０を使用することによって、１つの測定過程において、異なるＸ線スペクトルにある多数の撮影を得ることができる。このエネルギー感応検出器６２０は一般に隣り合わせに並んだスペクトル範囲に対して分離された測定信号を供給する。それにより、減弱値が、Ｘ線スペクトルの互いに分離された種々のスペクトル範囲に対して同時に得られ、従って、１つの撮影サイクルにおいて、検出器の実施形態および接続によって決まる多数の異なるＸ線エネルギーのＸ線画像が得られる。このような検出器６２０は層構造検出器として実現することができ、その場合に、検出器の層システムへのＸ線の浸透深さがＸ線量子のエネルギーによって決まることが利用される。層構造検出器の代わりに量子カウンタをエネルギー感応検出器として使用することができる。
【００６５】
図６ｃはＸ線放射スペクトルに影響を及ぼすための第３の変形を示す。この場合には、課題特有の元素の材料６３０が、例えば高速回転するプロペラ形フィルタ６３０の形でＸ線管５０１と被検体５０３との間または被検体５０３とＸ線検出器５０２との間に配置される。各元素は同様に特徴的なスペクトル範囲におけるＸ線を特徴的に吸収する。プロペラ形フィルタの羽根がＸ線路にあるとき、この元素にとって典型的なスペクトル範囲がＸ線路において減衰させられるか、もしくは最善の場合には除去される。ここでは、１つの撮影サイクルの各部分撮影について、Ｘ線路にプロペラ形フィルタの羽根が無いときの測定および有るときの測定が行われる。その場合、プロペラ形フィルタ元素に対応する被検体における元素は、Ｘ線路にプロペラ形フィルタの羽根が無いときの測定においてのみＸ線源減弱値６３２を有することができる。Ｘ線路にプロペラ形フィルタの羽根が有る場合、測定される減弱値６３３は理想的には零に等しい。このようにして、高い精度で、被検体における例えば鉄または銅の如き定められた元素の存在もしくは不存在を検出することができる。この検出方法は特にマンモグラフおよび材料検査において重要である。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】等吸収線に基づいて異なる組成の材料における同一の減弱値μの成立を説明するための図
【図２】３つの元素についてＸ線減弱のエネルギー依存関係を説明するための図
【図３ａ】等吸収線を求めるための本発明による計算方法示す機能ブロック図
【図３ｂ】Ｘ線吸収値を材料密度および原子番号の値へ変換する流れ図
【図４】２つの異なるＸ線スペクトルにおける組織種類の２つの等吸収線を示す図
【図５】３つの典型的なＸ線技術を概略的に示す図
【図６】Ｘ線スペクトルの変形のための種々の方法を概略的に示す図
【符号の説明】
【００６７】
１０ グラフ
１１ 等吸収線
２０ エネルギー依存関係
２１ ヨウ素
２２ カルシウム
４０ グラフ
４１ 等吸収線
４２ 交点
３００ 方法
５００ Ｘ線システム
５０１ Ｘ線管
５０２ 検出器システム
５０３ 患者
５０４ Ｘ線路
６１０ Ｘ線分布（Ｘ線放射スペクトル）
６１１ Ｘ線分布（Ｘ線放射スペクトル）
６１２ 検出器装置関数
６２０ 検出器装置関数
６３０ プロペラ形フィルタ
６３２ Ｘ線減弱値
６３３ 減弱値
【０００１】
本発明は、人間または動物の類の被検体における、または材料検査もしくは安全性検査の範囲からの物理学的および化学的に重要なデータの分布を介して画像データを求めるための方法、Ｘ線装置およびコンピュータソフトウェア製品に関する。特に、本発明は、Ｘ線撮影による画像データを被検体における材料密度分布および原子番号分布へ分離する方法に関する。
【０００２】
例えばコンピュータ断層撮影法（コンピュータトモグラフィ）、マンモグラフィ、血管撮影法（アンギオグラフィ）、Ｘ線検査技術あるいは同等の方法の如き全てのＸ線撮影法の結果は、Ｘ線源からＸ線検出器へのＸ線路に沿ったＸ線の減弱の表示である。この減弱はＸ線が透過した媒質もしくは材料によってＸ線路に沿って引き起こされる。減弱は、一般に最初のＸ線の強さに対する弱められた強さの比の対数として定義され、測定基準に関しては材料の減弱係数と呼ばれる。
【０００３】
多くのＸ線撮影検査装置は、Ｘ線の減弱分布を表示するために、減弱係数の代わりに、減弱係数を水によって基準化した値、すなわちＣＴ値を使用する。ＣＴ値は、測定によって求められた実際の減弱係数μおよび基準の減弱係数μH20から、
【数１】
【０００４】
両表示は互いに変換可能もしくは等価であることから、以下において一般的に選択された用語「減弱値」は減弱係数μでありまたＣＴ値でもある。更に、これに関連して、本発明の説明は用語「材料」および「組織」を交換可能に使用する。つまり、医学的に示される検査の背景での材料とは解剖学上の組織であってよく、逆に材料検査および安全性検査における組織とは被検体の任意の材料と理解すべきものとする。
【０００５】
減弱値の増大は、例えば骨格におけるカルシウムまたは造影剤におけるヨウ素のような比較的大きい原子番号の材料に起因するか、あるいは肺結節あたりにおけるような軟部分密度の増大に起因する。位置
【数２】
【数３】
【数４】
【０００６】
従って、材料のエネルギーに依存したＸ線吸収は、これが材料の有効原子番号によって決まるように、材料密度によって影響されるＸ線吸収に重なる。従って、異なる物理学的且つ化学的な組成の材料もしくは組織がＸ線画像において同一の減弱値を有し得る。裏返せば、Ｘ線撮影の減弱値から被検体の材料組成を推論することはできない。
【０００７】
Ｘ線撮影による検査方法により形成されるＸ線画像における本来はどちらかというと不明瞭な減弱値分布の正しい解釈は、医学分野ではたいてい形態学基準のみに基づいて行なわれ、たいていその分野における数十年の経験を有する放射線医学者を必要とする。それにもかかわらず、幾つかの例では、Ｘ線検査の画像形成において高められた減弱値により目立つ構造物を明瞭に分類することができない。例えば胸郭概観撮影における門付近の石灰化を画像平面に対して直角にある血管から区別することはまさにむずかしい。例えば、拡散性の石灰沈着物も新鮮な流出血からほとんど区別することができない。
【０００８】
材料検査および安全性検査においても、一般に検査者は自身の個人的な専門知識および職業上の経験によって減弱値分布の表示情報を補足する。それにもかかわらず、検査者には、例えば、Ｘ線画像からプラスチック爆薬と非爆発性プラスチックとを確実に区別することは不可能である。
【０００９】
このために、材料の特徴的な値を表示するための方法が必要である。Ｗ．Ｋａｌｅｎｄｅｒ氏等は、“Ｍａｔｅｒｉａｌｓｅｌｅｋｔｉｖｅ Ｂｉｌｄｇｅｂｕｎｇ ｕｎｄ Ｄｉｃｈｔｅｍｅｓｓｕｎｇ ｍｉｔ ｄｅｒ Ｚｗｅｉ−Ｓｐｅｋｔｒｅｎ−Ｍｅｔｈｏｄｅ，Ｉ．Ｇｕｎｄｌａｇｅｎ ｕｎｄ Ｍｅｔｈｏｄｉｋ， Ｗ．Ｋａｌｅｎｄｅｒ， Ｗ．Ｂａｕｔｚ， Ｄ．Ｆｅｌｓｅｎｂｅｒｇ， Ｃ．Ｓｕｅｓｓ ｕｎｄ Ｅ．Ｋｌｏｔｚ， Ｄｉｇｉｔ． Ｂｉｌｄｄｉａｇｎ．７， １９８７， ６６−７７， Ｇｅｏｒｇ Ｔｈｉｅｍｅ Ｖｅｒｌａｇ”において、Ｘ線撮影における基礎材料分析のための方法を開示している。この方法は、高い原子番号の材料および組織が、低い原子番号の材料もしくは組織よりも明らかに強く低エネルギーのＸ線を吸収するという作用に基づいている。これに対して、高いＸ線エネルギーの場合には、減弱値が同化し、材料密度の作用が優位である。
【００１０】
この開示の文脈において、用語「原子番号」は、他に言及がない限り、厳密に元素に関係した意味で使用されるのではなく、むしろその代わりに組織もしくは材料の有効原子番号を意味する。この有効原子番号は組織もしくは材料の構造に関与する元素の化学的な原子番号および原子量から算出される。
【００１１】
Ｗ．Ｋａｌｅｎｄｅｒ氏等によって提案された方法においては、被検体のＸ線減弱値が低いＸ線エネルギーと高いＸ線エネルギーとで測定され、得られた値が、例えば（骨部分についての）カルシウムおよび（軟部分組織についての）水の如き２つの基礎材料の当該基準値と比較される。各測定値が両基礎材料の測定値の線形重ね合わせとして表示されることが前提となっている。例えば、被検体の画像表示の各元素について、骨部分および軟組織部分を基礎材料の値との比較から算定することができるので、元の撮影は骨部分材料および軟部分組織の両基礎材料の表示へ変換される。
【００１２】
従って、基礎材料分析もしくは２スペクトル法は、非常に異なる原子番号を有する人間および動物の組織における解剖学上の構造物を分離もしくは区別するのに適している。それゆえ、材料検査および安全性検査においては、例えば、予め規定された材料種類、いわゆる材料部類に基づく分離を行なうことができるであろう。被検査材料の物理学的および化学的特性もしくはこれらの特性の変形を或る材料種類内で認識させる機能的表示は基礎材料分析の狙いとする方向ではない。
【００１３】
本発明の課題は、Ｘ線撮影により生成された被検体吸収値に基づいて、被検体に関する物理学的および化学的に重要な情報を作成する方法、Ｘ線装置およびコンピュータソフトウェア製品を提供することにある。
【００１４】
この課題は、本発明によれば、被検における密度および原子番号の分布を求める方法において、
第１のＸ線スペクトルにおける被検体の第１のＸ線吸収値分布を表示するステップと、
第２のＸ線スペクトルにおける被検体の第２のＸ線吸収値分布を表示するステップと、
第１のＸ線吸収値分布における第１Ｘ線吸収値と密度および原子番号との第１の関数的依存関係を算定するステップと、
第２のＸ線吸収値分布における、第１Ｘ線吸収値に対応した第２Ｘ線吸収値と密度および原子番号との第２の関数的依存関係を算定するステップと、
第１の関数的依存関係と第２の関数的依存関係および／または他の関数的依存関係との比較から密度および原子番号の値を求めるステップとを有することによって解決される。
【００１５】
この明細書の関連で使用される用語「Ｘ線スペクトル」は、設備のＸ線源から放射されたＸ線のスペクトル分布だけとは違って更に別の把握された意味を有する。Ｘ線検出器側ではＸ線の異なったスペクトル成分が異なった効率で変換され、従って種々に重み付けされる。その結果生じる有効スペクトル分布がこの明細書においてＸ線スペクトルと呼ばれる。
【００１６】
更に、上記課題は、Ｘ線を放射するＸ線源と、Ｘ線源から放射されたＸ線を検出しＸ線を継続処理のために電気信号へ変換するＸ線検出器と、Ｘ線検出器の電気信号を処理する信号処理装置とを備え、被検体における密度および原子番号の分布を求めるためのＸ線装置において、信号処理装置は、異なるＸ線スペクトルを有するＸ線装置において表示された被検体の少なくとも２つのＸ線吸収分布に基づいて、本発明による方法に従って、被検体における密度および原子番号の分布を求めることによって解決される。
【００１７】
更に、上記課題は、異なるＸ線スペクトルで表示された、被検体におけるＸ線吸収値分布の少なくとも２つの画像データセットに基づいて、本発明による方法に従って、被検体における密度および原子番号の分布を求めるためのコンピュータソフトウェア製品によって解決される。
【００１８】
本発明は、Ｘ線装置のスペクトルに影響された測定データの分析から、平均密度
【数５】
【数６】
【００１９】
例えば、組織における、とりわけ被検体の生化学組成への認識における原子番号分布の表示、従来同質の密度で表示された器官の化学的構造に基づくコントラスト、ヨウ素等の身体構成要素の定量的測定、原子番号に基づく石灰化の細分が可能である。被検体の分離された密度表示は、とりわけ例えば骨粗しょう症の場合に行なわれるように、正確な重心測定および密度測定を可能にする。
【００２０】
安全性技術の範囲において、このことは、危険要素、特に爆発物質の確実な検出が可能であることを意味する。材料検査においては、被検体における材料組成および密度分布の定量的検査への道が開かれる。
【００２１】
本発明の他の好ましい実施態様は相応の従属請求項に規定されている。
【００２２】
少なくとも１つのＸ線スペクトルについての密度および原子番号とＸ線吸収値との関数的依存関係の算定は、密度および原子番号とＸ線吸収値との設備固有の依存関係が得られるように、校正サンプルにおける基準測定によりおよび／または物理学的モデルに基づくシミュレーションの形で行なわれると好ましい。
【００２３】
とりわけ、Ｘ線吸収値分布を密度および原子番号の分布へ変換することは、第１のＸ線吸収値分布と他のＸ線吸収値分布との対応する各Ｘ線吸収値について、密度と原子番号との値対の検出に基づいて、この値対が第１のＸ線スペクトルと少なくとも１つの他のＸ線スペクトルとについて、Ｘ線吸収値と密度および原子番号との定められた関数的依存関係（関数従属性とも呼ばれている）を満たすように行なわれる。それにより、１つの画素についての密度および原子番号を、表示されたＸ線吸収値分布の互いに対応するＸ線吸収値の関数的依存関係の交差量として簡単に算出することができる。
【００２４】
原子番号の決定において高い分解能が得られるように、第１のＸ線スペクトルは、第２のＸ線スペクトルの量子エネルギーに比べて光電効果によるＸ線吸収を多く受ける量子エネルギーを有すると好ましい。
【００２５】
本発明の優れた実施態様において、被検体を表示するためのＸ線スペクトルの変更のために、Ｘ線管の少なくとも１つの動作パラメータの変更が行なわれる。その場合に、Ｘ線源は、第１の動作状態において第１のＸ線スペクトルを放射し、第２の動作状態において第１のＸ線スペクトルとは異なる第２のＸ線スペクトルを放射し、それにより２つのＸ線スペクトル間での高速の切換が可能になる。
【００２６】
さらに、被検体を表示するＸ線スペクトルの変更のために、検出器特性の変更が行なわれると好ましい。Ｘ線検出器は、Ｘ線源から受信したＸ線のスペクトル部分範囲を互いに独立な電気信号に変換し、この場合に異なるＸ線スペクトルにおけるＸ線吸収分布の同時表示を可能にする。
【００２７】
更に、被検体の少なくとも１つの部分領域の表示は高められたＸ線量で行なわれると好ましい。それにより、検査領域全体が高められたＸ線量で覆われて例えば患者が過大なＸ線被爆に曝されるということなしに、その部分領域に対しては密度分布および／または原子番号分布の満足できる分解能が得られる。
【００２８】
好ましい実施態様に従って、被検体の第１のＸ線吸収分布を表示するためにＸ線路に材料を挿入し、被検体の第２のＸ線吸収分布を表示するためにＸ線路に当該材料を挿入しないと好ましい。それにより、第１の減弱値分布を表示する際、被検体の前もしくは後において、その都度使用される材料に固有のＸ線スペクトル成分がフィルタ除去されるので、被検体におけるこの材料に対応した物質の検出において高い感度が達成される。
【００２９】
以下において図面を参照しながら本発明を実施例に基づいて更に詳細に説明する。
図１は等吸収線に基づいて異なる組成の材料における同一の減弱値μの成立を、
図２は３つの元素についてＸ線減弱のエネルギー依存関係を、
図３ａは等吸収線を求めるための本発明による計算方法の機能ブロック図を、
図３ｂはＸ線吸収値を材料密度および原子番号の値へ変換する流れ図を、
図４は２つの異なるＸ線スペクトルにおける組織種類の２つの等吸収線を、
図５は３つの典型的なＸ線技術を概略的に、
図６はＸ線スペクトルの変形のための種々の方法を概略的に示す。
【００３０】
図１のグラフ１０の等吸収線１１は定められたＸ線スペクトルにおいて同一の減弱値μもしくはＣにすべての値対（ρ，Ｚ）を結び付ける。図１は、Ｘ線画像の減弱値だけに基づいて組織もしくは材料の種類および組成に関する情報を導き出すことができないことを示している。一般に、放射線医学者はＸ線画像における組織種類を識別するのに自身の解剖学的知識を用い、それに基づいて不規則性を探し求める。その際、不規則性の身元解明のために、医師は経験値および形態学上の基準を用いることを強いられる。同様に、材料検査および安全性検査の専門家はＸ線撮影判定の評価のために自身の職業上の豊富な経験をより所とする。
【００３１】
Ｘ線は、種々の材料によって、しかもＸ線エネルギーに依存して種々の強さで弱められる。図２はこれを、水２３、カルシウム２２およびヨウ素２１に関して質量減弱係数のエネルギー依存関係２０に基づいて示している。これは、種々の材料において種々に作用する減弱メカニズムに起因する。診断上重要なＸ線エネルギー範囲において、Ｘ線減弱は主として光電効果によって引き起こされる吸収とコンプトン効果に基づく散乱とに起因する。吸収は、特に低いＸ線エネルギーおよび大きい原子番号を持った組織において重要である。散乱はＸ線エネルギーに対しては僅かの依存関係しか持たず、主として、組織の物理学的密度を伝える電子密度に関係する。
【００３２】
この明細書の文脈では簡単化されて原子番号と呼ばれている定められた組織種類の有効原子番号Ｚは、構造に関与する元素の原子番号Ｚi、それの原子量Ａiおよびそれの局部的な材料等価密度ρiから、例えば次のとおり算定される。
【数７】
純粋なカルシウムについてＺCa＝２０、水素化カルシウムについてほぼＺCaH2≒１６．０４、水についてほぼＺH2O≒７．４２８が得られる。従って、原子番号Ｚを介して被検体の化学的組成または生化学的組成を非常によく捉えることができる。
【００３４】
検査領域における原子番号分布および密度分布の算出のための前提は、同一の撮影ジオメトリにて、しかし使用Ｘ線の異なるエネルギーにより作成された少なくとも２つの領域Ｘ線撮影である。異なるＸ線エネルギーで表示された２つよりも多いＸ線撮影を使用する場合、Ｚ分解能およびρ分解能を改善することができるが、しかしそれによってＸ線被爆も増大する。従って、患者検査の場合には、この可能性が常に与えられている
というわけではない。
【００３５】
減弱値に基づく画像データを原子番号および材料密度もしくは組織密度の分布画像へ変換する出発点はＸ線装置の各Ｘ線スペクトルについての等吸収線の知識である。この場合に、既に述べたように、Ｘ線スペクトルは、Ｘ線装置のＸ線源から放射されたＸ線のスペクトル分布という狭義の用語で解釈するのではなくて、Ｘ線検出器側でのＸ線管放射スペクトルの種々のスペクトル範囲における異なる重み付けを考慮する広義の用語で解釈すべきである。従って、測定された減弱値は、Ｘ線管から放射されたＸ線スペクトルの直接的な減弱と使用されたＸ線検出器のスペクトル効率とからもたらされる。両値は、設備固有の量であり、校正検査の減弱値により直接もしくは間接に求められなければならない。両値は等吸収線を算定する基礎である。
【００３６】
図３ａには、多数の等吸収線をモデル化もしくは算出するための３つの方法３００が概略的に示されている。すなわち、３つの方法とは、理論的モデル法と、実験的形成法と、実験的に求められたパラメータによる曲線の校正をともなう理論的モデル法である。
【００３７】
原理的には、減弱値がＸ線撮影におけるＸ線減弱の間隔を覆うのに必要であるような多さの等吸収線が求められるべきである。その場合に、理論的に発生する減弱値のすべてについて等吸収線を算出しなくてもよい。計算されない等吸収線は必要であれば補間法または他の平均化手法によって得ることができる。
【００３８】
理論的モデル法の基本ステップは図３ａの左側の分岐に示されている。ステップＳ３０２では、まずパラメータとして使用可能な管電圧を有する設備固有のＸ線放射スペクトルＳ（Ｅ）のデータが読み込まれる。このために、Ｘ線のスペクトル分布が個々の各Ｘ線設備について事前に実験的に正確に測定されるか、または特別なＸ線源型に特徴的なデータが使用される。検出器装置関数ｗ（Ｅ）の検出がステップＳ３０３で行なわれる。このためにも事前に検出器装置の正確な測定が行なわれてもよいが、しかし例えばスペクトル技術の設計仕様の如き検出器型を特徴付けるデータが使用される。曲線群Ｃi（ρ，Ｚ）もしくはμi（ρ，Ｚ）の形での等吸収線の算定が物理学的なモデルに基づいてステップＳ３０４で行なわれる。その物理学的なモデルは、Ｓ（Ｅ）およびｗ（Ｅ）の関連した各組み合わせに関して、異なる原子番号を有する材料について且つ異なる材料密度においてＸ線減弱値Ｃiもしくはμiを模擬する。
【００３９】
ステップＳ３０２〜Ｓ３０４の理論的モデル化の代替として等吸収線の曲線群を実験的に求めることができる。このために、ステップＳ３０５では、Ｓ（Ｅ）とｗ（Ｅ）との異なる関連する組み合わせ時にＸ線装置において異なる密度および平均の原子番号を持った校正材料のＸ線減弱が測定される。ステップＳ３０６において、測定値は等吸収線Ｃiもしくはμiの曲線群の次の算定のための拠点を形成する。
【００４０】
他の代替として、理論的にモデル化された曲線群Ｃiもしくはμiを実験的に求めたＸ線減弱値により校正することが可能である。ステップＳ３０７では理論的曲線群の校正に必要な減弱値が、ステップＳ３０５に関して上述したように、Ｘ線設備において適切な校正材料もしくはファントムを用いて測定される。ステップＳ３０２〜Ｓ３０４の純理論的モデル化と違って、この方法の場合には、Ｘ線放射スペクトルＳ（Ｅ）およびｗ（Ｅ）の正確な知識は前提ではなく、むしろステップＳ３０８における等吸収線Ｃiもしくはμiの曲線群の理論的モデル化のパラメータである。ステップＳ３０７において実験的に求められた校正値によるステップＳ３０９における曲線の校正は最終的にＸ線装置のＸ線放射スペクトルおよび検出器装置関数にとって特有であるこれらのパラメータ値を定める。
【００４１】
必要な減弱値とＳ（Ｅ）およびｗ（Ｅ）の組み合わせとに対する等吸収線を求めることにより、組織を通過した際のＸ線の減弱値を表わす画像データを、当該組織における原子番号もしくは材料密度の分布を表わす画像データへ変換するための前提が提供される。
【００４２】
課題設定に応じて等吸収線を求めるのに３つの方法を混合して使用することもできる。例えば、実験的には不正確にしか求まらない値、非常に高い費用でしか求まらない値、あるいは全く求まらない値は、理論的モデル化により補足されるか、またはそれの精度を上げられる。その際、異なる方法により推定されたデータは、ステップＳ３１０において、統一されたデータセットにまとめられ、ステップＳ３１１において画像変換のために準備される。
【００４３】
図３ｂには、本発明による変換方法３２０が示されている。これは、前述の方法３００の１つに基づいて求められデータセットとしてステップＳ３２１において準備された等吸収線の曲線群に基づいている。
【００４４】
変換は画素毎に行なわれる。以下においては、異なるＸ線エネルギースペクトルではあるがしかし同一の撮影ジオメトリにおいて撮影された２つのＸ線画像に基づくＸ線減弱値分布の変換から出発する。これは、本発明による変換の実施のための最小限の前提である。しかしながら、２つよりも多い異なるＸ線エネルギー分布において２つよりも多いＸ線撮影を使用することもできる。
【００４５】
変換すべき画素の選択はステップＳ３２２において行なわれ、次のステップＳ３２３において、この画素について、第１のＸ線画像から減弱値Ｃ1もしくはμ1が読み出され、そして第２のＸ線画像から減弱値Ｃ2もしくはμ2が読み出される。次のステップＳ３２４において、第１のＸ線撮影に使用されたＸ線スペクトルＳ1（Ｅ）および検出器装置関数ｗ1（Ｅ）の問合せと、第２のＸ線画像のためのＸ線スペクトルＳ2（Ｅ）および検出器装置関数ｗ2（Ｅ）の問合せとが行なわれる。これらの値は、後段におけるそれぞれの減弱値に割り付けられた等吸収線の選択のためのパラメータを形成する。この場合に、スペクトル分布Ｓi（Ｅ）もしくはｗi（Ｅ）は、間接的にも、例えば使用された管電圧Ｕ1もしくはＵ2、あるいはＸ線検出器の動作パラメータの問合せを介して求めることもできる。
【００４６】
ステップＳ３２５においては、ステップＳ３２１において準備された等吸収線データセットから、パラメータＳ1（Ｅ）およびｗ1（Ｅ）において条件Ｃ1もしくはμ1を満たす第１の曲線と、パラメータＳ2（Ｅ）およびｗ2（Ｅ）において条件Ｃ2もしくはμ2を満たす第２の曲線とが選択される。こようにして得られた第１の等吸収線１１および第２の等吸収線４１の例は図４のグラフ４０に示されている。
【００４７】
両曲線１１および４１の交差量としての交点４２が変換方法３２０のステップＳ３２６で算出される。曲線交点４２は、例えば局部的に線形な変換によってまたは反復法による交点検出により求められる。両曲線１１および４１は、同じ画素に対する、従って被検査組織の同一の部分範囲に対する２つの異なる減弱値を表わすことから、両減弱値は同じ材料種類もしくは組織種類によって引き起こされているはずである。従って、曲線交点４２の座標（ρ，Ｚ）は、画素に割り付けられた組織部分範囲の材料密度および原子番号を再現する。
【００４８】
次に、ステップＳ３２７においては、そのようにして求められた原子番号値Ｚが原子番号分布画像へ当該画素値として書き込まれ、ステップＳ３２８においては、同様に、求められた材料密度値ρが密度分布画像に書き込まれる。ステップＳ３２２〜Ｓ３２８は、最後の画像出力をステップＳ３２９において行なうことができるようになるまで、全ての残りの画素に対して繰り返される。その際に、スペクトル分布Ｓi（Ｅ）もしくはｗi（Ｅ）は1つの画像における全ての画素に対して同じであるから、ステップＳ３２４は省略することができる。
【００４９】
密度ρおよび原子番号Ｚの算定精度は、主として減弱値のノイズ成分および測定のスペクトル分解能の影響を受ける。ノイズ成分は例えば使用されたＸ線量を介して影響を受ける。スペクトル分解能は測定に使用されたＸ線スペクトルの間隔および幅の関数である。
【００５０】
一般に、比較的低いエネルギーのＸ線スペクトルの場合には光電効果によるＸ線減弱が顕著であり、比較的高いエネルギーのＸ線スペクトルの場合にはコンプトン効果によるＸ線減弱が顕著である。より正確に表現するならば、低いＸ線エネルギーの場合の撮影のＸ線減弱値への原子番号の影響は高いＸ線エネルギーの場合よりも比較的大きい。これに対して、Ｘ線減弱値への材料密度もしくは組織密度の影響は丁度逆になる。従って、まず、第１のＸ線スペクトルは第１のＸ線減弱値における明白な割合が被検査組織または被検査材料の原子番号の影響に由来するように選ばれ、第２のＸ線スペクトルは被検体密度が第２のＸ線減弱値への明白な影響を受け入れるように選ばれることが好ましい。
【００５１】
従って、コンピュータ断層撮影法（ＣＴ）については、５０ｅＶ〜１２０ｅＶの範囲におけるＸ線スペクトルの量子エネルギーが優先されるので、Ｘ線量を患者に有害な範囲に高めなければならないことなしに、第１のＸ線スペクトルと第２のＸ線スペクトルとの間において十分なエネルギー間隔を選ぶことができる。それどころか、マンモグラフおよびマイクロＣＴでは、１０ｋｅＶもしくは１ｋｅＶまでの下方範囲が定められる。
【００５２】
材料および安全性検査は、一般に生体検査において是認されるよりも高いＸ線量が使用される。この高いＸ線量により、顕著に改善された信号／ノイズ比が得られる。更に、１ＭｅＶまでの著しく高いＸ線エネルギーも使用することができる。それにより、Ｘ線エネルギーが定められている際に原子番号がＸ線吸収に対して僅かな割合でしか寄与しない場合にも、使用されたＸ線量においてＸ線吸収値のノイズ割合が当該Ｘ線吸収値における原子番号の相対的成分よりも明らかに僅かである限り、原子番号の値は良好な精度で決定される。従って、使用されたＸ線スペクトルの絶対的なエネルギー状態ではなくて、Ｘ線スペクトルの相互の異なるエネルギー状態が重要である。その場合に、絶対的な状態の選択は使用可能なＸ線量および検出すべき物質によって影響される。
【００５３】
材料の化学的組成または組織の生化学的組成における満足のいく識別にとって十分な原子番号コントラストは、Ｘ線量および使用されたＸ線スペクトルを介して調整される。原子番号分布の表示における必要な分解能は診断学上の課題設定に依存している。例えば、ヨウ素、マグネシウム、炭素、窒素、酸素、ナトリウム、燐、硫黄、塩素、カリウム、マンガン、鉄、コバルト、銅、亜鉛、セレン、モリブデン等の如き典型的な身体構成要素の量的測定には、肝臓における例えば鉄分に基づく化学的コントラストを得るためとは違ったＺ分解能が必要である。極端に異なる原子番号を有する周囲から被検体を分離するためのＺ分解能への要求は比較的僅かである。原理的には、Ｚ分解能はなおも区別すべき原子番号の差よりも良くなければならない。現在ではＺ分解能は０．１まで到達可能である。
【００５４】
密度分布は、
【数８】
【００５５】
例えば肝臓、腎臓、白色および灰色脳質等の身体材料または材料部類の分類および細分化のために、密度と原子番号を介して求められた組織種類もしくは材料種類とのウィンドウ処理を行なうことによって原子番号分布と密度分布との組み合わせ評価を行なうことができる。例えば悪性組織の細分化に加えてこの方法により例えば同時にその組織の窒素含有量を求め、後に続く放射線治療における線量計画に使用することができる。
【００５６】
更に、減弱値を表示する古典的なレントゲン写真との比較を可能にするために、元の画像も標準Ｘ線画像として表示するとよい。元の画像がもはや存在しない場合には、検査物体の原子番号分布および密度分布から逆方向互換性の標準Ｘ線画像が算出される。
【００５７】
Ｘ線画像システムの検出器ノイズはコンピュータ断層撮影法に比べて高いが、このようなＸ線画像システムの検出器ノイズにおいて、Ｘ線画像コントラストの動特性が減り、それにともない達成可能なＺ分解能およびρ分解能が減る。事情によっては、断層撮影大面積の検査の際に高いＺ分解能およびρ分解能を設定することは、許容できない高い線量被爆を意味する。従って、概観測定の後に診断学上の必要性に応じて比較的小さい検査領域では高められた線量による第２の測定が行なわれる。マンモグラフにおいて、微小石灰化の検査にはこの方法がよい。
【００５８】
図５には、３つの異なるＸ線システムがＸ線透視法の３つの基本原理を説明するために示されている。
【００５９】
図５ａは、２次元平面検出器５０２における被検体５０３を投影撮像するためのＸ線画像システム５００を示す。患者５０３または物体５０３は一般にＸ線撮像中、Ｘ線管５０１および検出器５０２からなる装置に対して相対的に静止状態にある。
【００６０】
図５ｂはコンピュータ断層撮影装置の例として回転検出器システム５０２を備えたファンビーム装置５００の原理を概略的に示している。Ｘ線管５０１からファン状に放射されるＸ線ビームは定められた角度位置から被検体５０３を透過し、最後に個別検出器の列状の装置に当たる。撮影サイクルは、被検体に対する種々の角度位置における多数のこのような透過からなる。
【００６１】
図５ｃに示された型のＸ線透視装置５００の場合、検査物体５０３が、例えば移送ベルト５０６の如き移送装置により設備のＸ線路５０４を通して案内される。この種の型のＸ線装置は主に安全性検査に使用される。検出器として線状検出器、１次元検出器、しばしばＬ形検出器が使用される。検査物体５０３はＸ線路５０４を通過する際にＸ線管５０１から放射されたＸ線によって列状に走査され、このようにして生成された画像列から検査物体の完全な透視画像が合成される。
【００６２】
図６は、Ｘ線管５０１から放射されたＸ線分布６１０（６１１）と検出器装置関数６１２（６２０）のスペクトル特性との協動により生じるような有効Ｘ線スペクトルの種々の影響可能性を示す。
【００６３】
図６ａは値Ｕ1から値Ｕ2への管電圧の高速切換を示し、これにより２つのＸ線放射スペクトル６１０，６１１間の切換が行なわれる。１つの撮影サイクルの各部分撮影は、最初に両管電圧のうち一方の管電圧で、そして直ぐに続いて両管電圧のうち他方の管電圧で、撮影サイクル中における例えば患者の運動によるアーチファクトを最小限にするように行なわれると好ましい。例えばＸ線投影システムのように短い測定時間を持ったＸ線装置５００の場合、各撮影サイクルも完全に両管電圧のそれぞれ１つで実施される。管電圧の切換の代わりに、Ｘ線管と被検体との間もしくは被検体とＸ線検出器との間に、Ｘ線スペクトルに影響を与えるために、フィルタもしくはフィルタシステムを挿入することができる。その際に、動作電圧Ｕ1におけるＸ線管の図示の動作は標準動作電圧およびフィルタなしまたは第１のフィルタもしくはフィルタシステムを使用した作動と置き換えられる。値Ｕ2における動作は第２のフィルタもしくはフィルタシステムの使用によって置き換えられる。
【００６４】
Ｘ線管５０１は単一エネルギーＸ線ではなくてＸ線５０４の比較的幅の広いスペクトルを放射することから、図６ｂに示されているように、エネルギー感応検出器６２０を使用することによって、１つの測定過程において、異なるＸ線スペクトルにある多数の撮影を得ることができる。このエネルギー感応検出器６２０は一般に隣り合わせに並んだスペクトル範囲に対して分離された測定信号を供給する。それにより、減弱値が、Ｘ線スペクトルの互いに分離された種々のスペクトル範囲に対して同時に得られ、従って、１つの撮影サイクルにおいて、検出器の実施形態および接続によって決まる多数の異なるＸ線エネルギーのＸ線画像が得られる。このような検出器６２０は層構造検出器として実現することができ、その場合に、検出器の層システムへのＸ線の浸透深さがＸ線量子のエネルギーによって決まることが利用される。層構造検出器の代わりに量子カウンタをエネルギー感応検出器として使用することができる。
【００６５】
図６ｃはＸ線放射スペクトルに影響を及ぼすための第３の変形を示す。この場合には、課題特有の元素の材料６３０が、例えば高速回転するプロペラ形フィルタ６３０の形でＸ線管５０１と被検体５０３との間または被検体５０３とＸ線検出器５０２との間に配置される。各元素は同様に特徴的なスペクトル範囲におけるＸ線を特徴的に吸収する。プロペラ形フィルタの羽根がＸ線路にあるとき、この元素にとって典型的なスペクトル範囲がＸ線路において減衰させられるか、もしくは最善の場合には除去される。ここでは、１つの撮影サイクルの各部分撮影について、Ｘ線路にプロペラ形フィルタの羽根が無いときの測定および有るときの測定が行われる。その場合、プロペラ形フィルタ元素に対応する被検体における元素は、Ｘ線路にプロペラ形フィルタの羽根が無いときの測定においてのみＸ線源減弱値６３２を有することができる。Ｘ線路にプロペラ形フィルタの羽根が有る場合、測定される減弱値６３３は理想的には零に等しい。このようにして、高い精度で、被検体における例えば鉄または銅の如き定められた元素の存在もしくは不存在を検出することができる。この検出方法は特にマンモグラフおよび材料検査において重要である。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】等吸収線に基づいて異なる組成の材料における同一の減弱値μの成立を説明するための図
【図２】３つの元素についてＸ線減弱のエネルギー依存関係を説明するための図
【図３ａ】等吸収線を求めるための本発明による計算方法示す機能ブロック図
【図３ｂ】Ｘ線吸収値を材料密度および原子番号の値へ変換する流れ図
【図４】２つの異なるＸ線スペクトルにおける組織種類の２つの等吸収線を示す図
【図５】３つの典型的なＸ線技術を概略的に示す図
【図６】Ｘ線スペクトルの変形のための種々の方法を概略的に示す図
【符号の説明】
【００６７】
１０ グラフ
１１ 等吸収線
２０ エネルギー依存関係
２１ ヨウ素
２２ カルシウム
４０ グラフ
４１ 等吸収線
４２ 交点
３００ 方法
５００ Ｘ線システム
５０１ Ｘ線管
５０２ 検出器システム
５０３ 患者
５０４ Ｘ線路
６１０ Ｘ線分布（Ｘ線放射スペクトル）
６１１ Ｘ線分布（Ｘ線放射スペクトル）
６１２ 検出器装置関数
６２０ 検出器装置関数
６３０ プロペラ形フィルタ
６３２ Ｘ線減弱値
６３３ 減弱値
Claims (12)
- 被検体（５０３）における密度および原子番号の分布を求める方法において、
第１のＸ線スペクトルにおける被検体（５０３）の第１のＸ線吸収値分布を表示するステップと、
第２のＸ線スペクトルにおける被検体（５０３）の第２のＸ線吸収値分布を表示するステップと、
第１のＸ線吸収値分布における第１Ｘ線吸収値と密度および原子番号との第１の関数的依存関係（１１）を算定するステップと、
第２のＸ線吸収値分布における、第１Ｘ線吸収値に対応した第２Ｘ線吸収値と密度および原子番号との第２の関数的依存関係（４１）を算定するステップと、
第１の関数的依存関係（１１）と第２の関数的依存関係（４１）および／または他の関数的依存関係との比較から密度および原子番号の値を求めるステップと
を有することを特徴とする被検体における密度および原子番号の分布を求める方法。 - 少なくとも１つのＸ線スペクトルについての密度および原子番号とＸ線吸収値との関数的依存関係（１１，４１）の算定は、校正サンプルにおける基準測定により行なわれることを特徴とする請求項１記載の方法。
- 少なくとも１つのＸ線スペクトルについての密度および原子番号とＸ線吸収値との関数的依存関係（１１，４１）の算定は、物理学的モデルに基づくシミュレーションの形で行なわれることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
- Ｘ線吸収値分布を密度および原子番号の分布へ変換することは、第１のＸ線吸収値分布と他のＸ線吸収値分布との対応する各Ｘ線吸収値について、密度と原子番号との値対（４２）の検出に基づいて、この値対（４２）が第１のＸ線スペクトルと少なくとも１つの他のＸ線スペクトルとについてＸ線吸収と密度および原子番号との定められた関数的依存関係を満たすように行なわれることを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載の方法。
- 第１のＸ線スペクトルは、第２のＸ線スペクトルの量子エネルギーに比べて光電効果によるＸ線吸収を多く受ける量子エネルギーを有することを特徴とする請求項１乃至４の１つに記載の方法。
- 被検体（５０３）を表示するためのＸ線スペクトルの変更のために、Ｘ線管の少なくとも１つの動作パラメータの変更および／または検出器特性の変更が行なわれることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
- 被検体（５０３）の少なくとも１つの部分領域の表示が高められたＸ線量で行なわれることを特徴とする請求項１乃至６の１つに記載の方法。
- Ｘ線（５０４）を放射するＸ線源（５０１）と、Ｘ線源から放射されたＸ線（５０４）を検出しＸ線（５０４）を継続処理のために電気信号へ変換するＸ線検出器（５０２）と、Ｘ線検出器（５０２）の電気信号を処理する信号処理装置（５０５）とを備え、被検体における密度および原子番号の分布を求めるためのＸ線装置（５００）において、
信号処理装置（５０５）は、異なるＸ線スペクトルを有するＸ線装置（５００）において表示された被検体（５０３）の少なくとも２つのＸ線吸収分布に基づいて、請求項1乃至７の1つに記載の方法に従って、被検体（５０３）における密度および原子番号の分布を求めることを特徴とするＸ線装置。 - Ｘ線源（５０１）は、第１の動作状態において第１のＸ線スペクトル（６１０）を放射し、第２の動作状態において第１のＸ線スペクトル（６１０）とは異なる第２のＸ線スペクトル（６１１）を放射することを特徴とする請求項８記載のＸ線装置。
- Ｘ線検出器（５０２）は、Ｘ線源（５０１）から受信したＸ線（５０４）のスペクトル部分範囲を互いに独立な電気信号に変換することを特徴とする請求項８または９記載のＸ線装置。
- 被検体（５０３）の第１のＸ線吸収分布を表示するためにＸ線路（５０４）に材料（６３０）を挿入し、被検体（５０３）の第２のＸ線吸収分布を表示するためにＸ線路（５０４）に当該材料を挿入しないことを特徴とする請求項８乃至１０の１つに記載のＸ線装置。
- 異なるＸ線スペクトルで表示された、被検体（５０３）におけるＸ線吸収値分布の少なくとも２つの画像データセットに基づいて、請求項１乃至７の１つに記載の方法に従って、被検体における密度および原子番号の分布を求めるためのコンピュータソフトウェア製品。
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