JP2005352146A - 顕微鏡照明強度測定装置 - Google Patents
顕微鏡照明強度測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005352146A JP2005352146A JP2004172576A JP2004172576A JP2005352146A JP 2005352146 A JP2005352146 A JP 2005352146A JP 2004172576 A JP2004172576 A JP 2004172576A JP 2004172576 A JP2004172576 A JP 2004172576A JP 2005352146 A JP2005352146 A JP 2005352146A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- microscope
- light receiving
- illumination
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 74
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 70
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 50
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 25
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 25
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 102000034287 fluorescent proteins Human genes 0.000 description 2
- 108091006047 fluorescent proteins Proteins 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 238000010230 functional analysis Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0271—Housings; Attachments or accessories for photometers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0096—Microscopes with photometer devices
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0488—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts with spectral filtering
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
【解決手段】ステージ102は、下ステージ1010と、これに対してA方向に移動可能な中ステージ1020と、これに対してB方向に移動可能な上ステージ1030とからなる。照明強度測定装置は、受けた光の強度を示す信号を出力する受光部1001と、受光部1001から出力される信号を光強度情報に変換する変換器1003とを備えている。受光部1001は着脱自在なケーブル1002を介して変換器1003と接続されている。変換器1003は、計測対象の光の波長を設定するための例えばダイヤル式の波長選択部1004と、光強度を表示するための表示部1005とを備えている。受光部1001は、観察光軸OA1上に配置され得る上ステージ1030の部分に固定されている。
【選択図】 図2
Description
以下、本発明の第一実施形態の照明強度測定装置について説明する。ここでは図1を用いて説明した蛍光顕微鏡全体の説明は省略し、照明強度測定装置に直接関係する部位についてだけ説明する。図2は、本発明の第一実施形態の照明強度測定装置をステージの断面構造とともに示している。
図3は、本発明の第一実施形態の変形例1による照明強度測定装置を備えた蛍光顕微鏡の全体を示している。
変形例1の装置構成において、ステージ102を電動ステージで構成し、ステージ102の動作をPC1110内のソフトウェアによって制御する。
以下、本発明の第二実施形態の照明強度測定装置について説明する。第一実施形態と同様に、図1を用いて説明した蛍光顕微鏡全体の説明は省略し、照明強度測定装置に直接関係する部位についてだけ説明する。図4は、本発明の第二実施形態の照明強度測定装置を対物レンズとレボルバーとともに示している。
第一実施形態の変形例1と同様に調光装置を組み合わせる。これにより第一実施形態の変形例1と同様の効果を得ることができる。
本実施形態の変形例1の装置構成において、レボルバー106を電動レボルバーで構成し、レボルバー106の動作をPC内のソフトウェアによって制御する。これにより、第一実施形態の変形例2と同様の効果を得ることができる。
以下、本発明の第三実施形態の照明強度測定装置について説明する。第一実施形態と同様に、図1を用いて説明した蛍光顕微鏡全体の説明は省略し、照明強度測定装置に直接関係する部位についてだけ説明する。図5は、本発明の第三実施形態の照明強度測定装置をコンデンサーとともに示している。
第一実施形態の変形例1と同様に調光装置を組み合わせる。これにより第一実施形態の変形例1と同様の効果を得ることができる。
本実施形態の変形例1の装置構成において、ターレット120bを電動ターレットで構成し、ターレット120bの動作をPC内のソフトウェアによって制御する。これにより、第一実施形態の変形例2と同様の効果を得ることができる。
Claims (11)
- 顕微鏡の照明光学系の照明光強度を測定する顕微鏡照明強度測定装置であり、
受けた光の強度を示す信号を出力する受光部と、
顕微鏡の観察光軸上に受光部を適宜配置させる移動機構と、
受光部から出力される信号を光強度情報に変換する変換器と、
計測対象の光の波長を設定する波長選択部と、
光強度情報を表示する表示部とを備えている、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項1において、
顕微鏡が、保持した標本を観察光軸に垂直な平面内で移動し得るステージを有し、
移動機構が、顕微鏡のステージで構成され、
受光部が、観察光軸上に配置され得るステージの部分に固定されている、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項1において、
顕微鏡が、保持した複数の対物レンズの一つを選択的に観察光軸上へ配置し得るレボルバーを有し、
移動機構が、顕微鏡のレボルバーで構成され、
受光部が、レボルバーに設けられた対物レンズ取付部に取り付けられる、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項1において、
顕微鏡が、保持した複数の光学素子の一つを選択的に観察光軸上へ配置し得るターレットを持つコンデンサーを有し、
移動機構が、顕微鏡のコンデンサーのターレットで構成され、
受光部が、ターレットに設けられた光学素子取付部に取り付けられる、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項2〜請求項4のいずれかひとつにおいて、
顕微鏡の照明光学系が電動駆動可能な調光装置を含み、変換器によって得られた光強度情報に基づいて調光装置を制御する調光制御部と、光強度の目標値を設定する光強度設定部とをさらに備えている、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項5において、
顕微鏡が、PC(パーソナルコンピューター)のソフトウェアによって制御可能なPC制御顕微鏡であり、
顕微鏡照明強度測定装置はPCを含み、光強度設定部がPCのソフトウェアによって提供される、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項6において、
顕微鏡が電動ステージを有し、電動ステージはPCのソフトウェアによって制御される、顕微鏡照明強度測定装置。 - 顕微鏡の照明光学系の照明光強度を測定する顕微鏡照明強度測定装置であり、
受けた光の強度を示す信号を出力する受光部と、
受光部を顕微鏡の照明光学系の光を照射可能な位置に適宜配置させる移動機構と、
受光部から出力される信号を光強度情報に変換する変換器と、
計測対象の光の波長を設定する波長選択部と、
光強度情報を表示する表示部とを備えている、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項8において、
受光部は、コンデンサの代わりに顕微鏡へ装着される、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項8において、
受光部は、対物レンズの代わりに顕微鏡へ装着される、顕微鏡照明強度測定装置。 - 請求項8において、
受光部は、ステージ上に配置される、顕微鏡照明強度測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004172576A JP4689975B2 (ja) | 2004-06-10 | 2004-06-10 | 顕微鏡照明強度測定装置 |
EP05012048A EP1605292A1 (en) | 2004-06-10 | 2005-06-03 | Microscope illumination intensity measuring device |
US11/146,999 US7289265B2 (en) | 2004-06-10 | 2005-06-07 | Microscope illumination intensity measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004172576A JP4689975B2 (ja) | 2004-06-10 | 2004-06-10 | 顕微鏡照明強度測定装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005352146A true JP2005352146A (ja) | 2005-12-22 |
JP2005352146A5 JP2005352146A5 (ja) | 2007-07-26 |
JP4689975B2 JP4689975B2 (ja) | 2011-06-01 |
Family
ID=34937231
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004172576A Expired - Fee Related JP4689975B2 (ja) | 2004-06-10 | 2004-06-10 | 顕微鏡照明強度測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7289265B2 (ja) |
EP (1) | EP1605292A1 (ja) |
JP (1) | JP4689975B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010508564A (ja) * | 2006-11-06 | 2010-03-18 | インスティトット クリア | 顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための装置及び方法 |
EP2458420A1 (en) | 2010-11-26 | 2012-05-30 | Olympus Corporation | Light intensity measuring unit and microscope including the same |
EP2784565A1 (en) | 2013-03-27 | 2014-10-01 | Olympus Corporation | Optical intensity measuremepparatus |
JP2015041007A (ja) * | 2013-08-22 | 2015-03-02 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システムおよび測定方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007007797B4 (de) * | 2007-02-16 | 2017-11-16 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Fluoreszenzmikroskop mit Beleuchtungseinrichtung |
JP2014209088A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-11-06 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡用放射照度測定器、及び、それを備えた顕微鏡 |
DE102016122529A1 (de) | 2016-11-22 | 2018-05-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop zur Abbildung eines Objekts |
DE102016122528A1 (de) * | 2016-11-22 | 2018-05-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Steuern oder Regeln einer Mikroskopbeleuchtung |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0365623A (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-20 | Hitachi Ltd | 投影露光方法及びその装置 |
JPH03182239A (ja) * | 1989-12-11 | 1991-08-08 | Topcon Corp | 眼科手術用顕微鏡 |
JPH0792024A (ja) * | 1993-09-21 | 1995-04-07 | Ricoh Co Ltd | 光量測定装置 |
JPH0933344A (ja) * | 1995-07-17 | 1997-02-07 | Canon Inc | 光量測定装置 |
JPH11258512A (ja) * | 1998-03-12 | 1999-09-24 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
JP2003195172A (ja) * | 2001-12-25 | 2003-07-09 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザー顕微鏡 |
JP2005091701A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光顕微鏡及び蛍光顕微鏡の励起光源制御方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US154396A (en) * | 1874-08-25 | Improvement in printing-rolls | ||
US129865A (en) * | 1872-07-23 | Improvement in wheels for vehicles | ||
US117210A (en) * | 1871-07-18 | Improvement in coffee-pots | ||
US196536A (en) * | 1877-10-30 | Improvement in vehicle-spring braces | ||
US4555620A (en) * | 1983-01-11 | 1985-11-26 | Bausch & Lomb Incorporated | Automatic illumination control for multi-objective optical instruments such as microscopes |
JPH05297280A (ja) | 1992-04-15 | 1993-11-12 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
US6269846B1 (en) * | 1998-01-13 | 2001-08-07 | Genetic Microsystems, Inc. | Depositing fluid specimens on substrates, resulting ordered arrays, techniques for deposition of arrays |
US6201639B1 (en) * | 1998-03-20 | 2001-03-13 | James W. Overbeck | Wide field of view and high speed scanning microscopy |
US6262838B1 (en) * | 1998-03-20 | 2001-07-17 | Genetic Microsystems Inc | Focusing in microscope systems |
US20040126895A1 (en) | 1998-01-13 | 2004-07-01 | James W. Overbeck | Depositing fluid specimens on substrates, resulting ordered arrays, techniques for analysis of deposited arrays |
US6185030B1 (en) | 1998-03-20 | 2001-02-06 | James W. Overbeck | Wide field of view and high speed scanning microscopy |
DE10110389A1 (de) | 2001-03-03 | 2002-09-12 | Zeiss Carl | Verfahren zur Justierung einer Lampe relativ zu einem Beleuchtungsstrahlengang eines Mikroskopes und zur Ausführung des Verfahrens geeignetes Mikroskop |
DE10133992A1 (de) * | 2001-07-12 | 2003-01-23 | Leica Microsystems | Anordnung und Verfahren zur Beleuchtung eines Objektfeldes in einem optischen Gerät |
DE10142945B4 (de) * | 2001-09-01 | 2004-07-29 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Vorrichtung zur Ermittlung einer Lichtleistung und Mikroskop |
-
2004
- 2004-06-10 JP JP2004172576A patent/JP4689975B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-06-03 EP EP05012048A patent/EP1605292A1/en not_active Withdrawn
- 2005-06-07 US US11/146,999 patent/US7289265B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0365623A (ja) * | 1989-08-03 | 1991-03-20 | Hitachi Ltd | 投影露光方法及びその装置 |
JPH03182239A (ja) * | 1989-12-11 | 1991-08-08 | Topcon Corp | 眼科手術用顕微鏡 |
JPH0792024A (ja) * | 1993-09-21 | 1995-04-07 | Ricoh Co Ltd | 光量測定装置 |
JPH0933344A (ja) * | 1995-07-17 | 1997-02-07 | Canon Inc | 光量測定装置 |
JPH11258512A (ja) * | 1998-03-12 | 1999-09-24 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
JP2003195172A (ja) * | 2001-12-25 | 2003-07-09 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型レーザー顕微鏡 |
JP2005091701A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 蛍光顕微鏡及び蛍光顕微鏡の励起光源制御方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010508564A (ja) * | 2006-11-06 | 2010-03-18 | インスティトット クリア | 顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための装置及び方法 |
EP2458420A1 (en) | 2010-11-26 | 2012-05-30 | Olympus Corporation | Light intensity measuring unit and microscope including the same |
JP2012113188A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Olympus Corp | 光強度測定ユニット、及びそれを備えた顕微鏡 |
US8619252B2 (en) | 2010-11-26 | 2013-12-31 | Olympus Corporation | Microscope including a light intensity measuring unit for measuring an intensity of light emitted from the microscope |
EP2784565A1 (en) | 2013-03-27 | 2014-10-01 | Olympus Corporation | Optical intensity measuremepparatus |
JP2014209195A (ja) * | 2013-03-27 | 2014-11-06 | オリンパス株式会社 | 測定装置 |
JP2015041007A (ja) * | 2013-08-22 | 2015-03-02 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システムおよび測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4689975B2 (ja) | 2011-06-01 |
US7289265B2 (en) | 2007-10-30 |
US20050275938A1 (en) | 2005-12-15 |
EP1605292A1 (en) | 2005-12-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7589839B2 (en) | Examination apparatus, fluoroscopy apparatus, examination method, and experimental method | |
US7345814B2 (en) | Microscope system and microscope focus maintaining device for the same | |
EP0339582B1 (en) | Fluorescence microscope system | |
US6898004B2 (en) | Microscope system | |
US7289265B2 (en) | Microscope illumination intensity measuring device | |
US7480046B2 (en) | Scanning microscope with evanescent wave illumination | |
US20080179491A1 (en) | Focus detection device and fluorescent observation device using the same | |
JP2006301599A (ja) | 微弱光撮像光学系、それを備えた顕微鏡装置、及びそれを備えた顕微鏡システム | |
JP4285807B2 (ja) | 落射蛍光顕微鏡 | |
US20120140057A1 (en) | Microscope for Measuring Total Reflection Fluorescence | |
JP5726490B2 (ja) | 光強度測定ユニット、及びそれを備えた顕微鏡 | |
JP3877380B2 (ja) | 光学顕微鏡 | |
US9140886B2 (en) | Inverted microscope including a control unit configured to synchronize a switching operation between absorption filters with a switching operation between excitation filters | |
JP3995458B2 (ja) | 全反射蛍光顕微鏡 | |
JP2005316383A (ja) | 蛍光顕微鏡 | |
JP6249681B2 (ja) | 顕微鏡システムおよび測定方法 | |
JP2010091468A (ja) | 収差測定装置 | |
JPH05173078A (ja) | システム顕微鏡 | |
JP2008175884A (ja) | レーザ顕微鏡 | |
JP2013190760A (ja) | 顕微鏡用照明装置 | |
CN214122005U (zh) | 紫外拉曼光谱仪的共焦成像系统 | |
JPH05203880A (ja) | 顕微鏡照明装置 | |
JP2005140925A (ja) | 顕微鏡 | |
JPH0627385A (ja) | 走査型光学顕微鏡 | |
JP2006133345A (ja) | 共焦点顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070607 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070607 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100825 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101102 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110104 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110208 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110217 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4689975 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140225 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |