JP2005318000A - 半導体ウエハの分割方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】回転する切削刃によって半導体ウエハを分割する半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハ11をステージ14上に固定する工程と、前記半導体ウエハ11を第1の刃厚を有する第1の切削刃15を用いて、該半導体ウエハ11を所定の深さだけ切削する第1の切削工程と、前記第1の切削工程の後に、前記第1の刃厚より薄い第2の刃厚を有する第2の切削刃を用いて、前記第1の切削工程における切削された部分をさらに切削し、該半導体ウエハを分割する分割工程と、を有する。
【選択図】図3
Description
(1)切削刃が目詰まりを起こし、半導体ウエハ分割時に、半導体ウエハの振動を生じ、チッピング、欠け、クラック等の品質上の問題が生じる。
〔1〕回転する切削刃によって半導体ウエハを分割する半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハをステージ上に固定する工程と、前記半導体ウエハを第1の刃厚を有する第1の切削刃を用いて、該半導体ウエハを所定の深さだけ切削する第1の切削工程と、前記第1の切削工程の後に、前記第1の刃厚より薄い第2の刃厚を有する第2の切削刃を用いて、前記第1の切削工程における切削された部分をさらに切削し、該半導体ウエハを分割する分割工程と、を有することを特徴とする。
(1)半導体ウエハの欠け、クラックなどがなくなり、チップの品質の向上を図ることができる。
(1)アッパーカットを太い厚みの切削刃40μm〜150μmで行い、ダウンカットをそれより細い厚みの切削刃15μm〜40μmの切削刃で実施する。
12 粘着テープ
13 粘着剤
14 ウエハチャックステージ
14A 吸気穴
15 切削刃
16 切削刃の回転方向
17 奥行き方向
18 ウエハチャックステージの移動方向(右方向)
19 ウエハチャックステージの移動方向(左方向)
21 切削溝(第1のアッパーカットにより形成)
22 切削溝(第2のアッパーカットにより形成)
23 切削溝(ダウンカットにより形成)
Claims (33)
- 回転する切削刃によって半導体ウエハを分割する半導体ウエハの分割方法において、
前記半導体ウエハをステージ上に固定する工程と、
前記半導体ウエハを第1の刃厚を有する第1の切削刃を用いて、該半導体ウエハを所定の深さだけ切削する第1の切削工程と、
前記第1の切削工程の後に、前記第1の刃厚より薄い第2の刃厚を有する第2の切削刃を用いて、前記第1の切削工程における切削された部分をさらに切削し、該半導体ウエハを分割する分割工程と、
を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 請求項1に記載の半導体ウエハの分割方法において、
前記半導体ウエハは、配線材を有し、
前記第1の切削工程は、前記半導体ウエハの前記配線材を除去するように切削することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 請求項1又は2に記載の半導体ウエハの分割方法は、前記第1の切削工程後に、前記第1の切削工程において切削された前記半導体ウエハの部分に隣接する部分を、該半導体ウエハと前記切削刃とを接触させることによって所定の深さだけ切削する第2の切削工程を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項1〜3のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程はアッパーカットによって前記半導体ウエハが切削される工程であり、前記分割工程ではダウンカットによって前記半導体ウエハが分割される工程であることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項1〜4のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程では、前記半導体ウエハは50〜350μmの厚さを残して切削されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項1〜5のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削刃は40μm〜150μmの前記第1の刃厚を有し、前記第2の切削刃は15μm〜40μmの前記第2の刃厚を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項1〜6のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、前記第1の切削刃及び第2の切削刃が1万rpm〜6万rpmで回転することによって切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 回転する切削刃によって半導体ウエハを分割する半導体ウエハの分割方法において、
前記半導体ウエハをステージ上に固定する工程と
前記半導体ウエハを固定した前記ステージを移動させ、該半導体ウエハと前記切削刃との接触部分において該ステージの移動方向とは逆方向の回転となる該切削刃によって、該半導体ウエハを所定の深さだけ切削する第1の切削工程と、
前記第1の切削工程の後に、前記半導体ウエハを固定した前記ステージを移動させ、該半導体ウエハと前記切削刃との接触部分において該ステージの移動方向と一致する方向の回転となる該切削刃とによって、前記第1の切削工程における切削された部分をさらに切削し、該半導体ウエハを分割する分割工程と、
を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 請求項8に記載の半導体ウエハの分割方法において、
前記半導体ウエハは、配線材を有し、
前記第1の切削工程は、前記ウエハの前記配線材を除去するように切削することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 請求項8又は9に記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程と前記分割工程とは交互に行われることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜10のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程後に、前記第1の切削工程において切削された前記半導体ウエハの部分に隣接する部分を、前記半導体ウエハを固定した前記ステージを移動させることによって所定の深さだけ切削する第2の切削工程を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項11記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第2の切削工程はアッパーカットによって前記半導体ウエハが切削される工程であることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項11又は12記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第2の切削工程では、前記半導体ウエハは50μm〜350μmの厚さを残して切削されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜13のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程はアッパーカットによって前記半導体ウエハが切削される工程であり、前記分割工程ではダウンカットによって前記半導体ウエハが分割される工程であることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜14のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程では、前記半導体ウエハは50〜350μmの厚さを残して切削されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜16のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、刃厚が25μm〜150μmの前記切削刃によって切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜15のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、前記第1の切削工程では刃厚が40μm〜150μmの前記切削刃によって切削され、前記分割工程では刃厚が15μm〜40μmの前記切削刃によって分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜17のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、前記切削刃が1万rpm〜6万rpmで回転することによって切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜18のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、前記ステージ上に粘着テープを介して固定された状態で切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項8〜19のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程では、前記半導体ウエハは砥粒径が4μm〜12μmの切削刃によって切削され、前記分割工程では、前記半導体ウエハは砥粒径が1μm〜6μmの切削刃によって分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 回転する切削刃によって半導体ウエハを分割する半導体ウエハの分割方法において、
前記半導体ウエハをステージ上に固定する工程と、
前記切削刃を回転させ、前記半導体ウエハを固定した前記ステージを移動させることによって、前記半導体ウエハを所定の深さだけアッパーカットする第1の切削工程と、
前記第1の切削工程の後に、前記切削刃を回転させ、前記半導体ウエハを固定した前記ステージを移動させることによって、該第1の切削工程における切削された部分をさらに切削し、該半導体ウエハをダウンカットする分割工程を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 請求項21に記載の半導体ウエハの分割方法において、
前記ウエハは、配線材を有し、
前記第1の切削工程は、前記ウエハの前記配線材を除去するように切削することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 前記請求項21又は22に記載の半導体ウエハの分割方法において、
前記第1の切削工程では、前記所定の深さにおける前記切削刃の回転方向は、前記半導体ウエハを固定した前記ステージの移動方向とは逆であり、前記分割工程では、前記所定の深さにおける前記切削刃の回転方向は、前記半導体ウエハを固定した前記ステージの移動方向と一致することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。 - 請求項21〜23のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程と前記分割工程とは交互に行われることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜24のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程後に、前記第1の切削工程に於いて切削された前記半導体ウエハの部分に隣接する部分を、前記半導体ウエハを固定した前記ステージを移動させることによって所定の深さだけ切削する第2の切削工程を有することを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項25記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第2の切削工程はアッパーカットによって前記半導体ウエハが切削される工程であることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項25又は26記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第2の切削工程では、前記半導体ウエハは50μm〜350μmの厚さを残して切削されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜27のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程では、前記半導体ウエハは50μm〜350μmの厚さを残して切削されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜28のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、刃厚が25μm〜150μmの前記切削刃によって切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜28のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、前記第1の切削工程では刃厚が40μm〜150μmの前記切削刃によって切削され、前記分割工程では刃厚が15μm〜40μmの前記切削刃によって分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜30のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは、前記切削刃が1万rpm〜6万rpmで回転することによって切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜31のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記半導体ウエハは前記ステージ上に粘着テープを介して固定された状態で切削あるいは分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
- 請求項21〜32のいずれか一つに記載の半導体ウエハの分割方法において、前記第1の切削工程では、前記半導体ウエハは砥粒径が4μm〜12μmの切削刃によって切削され、前記分割工程では、前記半導体ウエハは砥粒径が1μm〜6μmの切削刃によって分割されることを特徴とする半導体ウエハの分割方法。
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JP2010245446A (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物の切削方法 |
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