JP2005300311A - 蛍光寿命測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料6にパルス励起光を照射しつつ走査し、パルス励起光によって励起された試料6から放出される蛍光光子をカウントし、カウントした蛍光光子数をもとに蛍光寿命を測定する蛍光寿命測定装置100において、カウントされた蛍光光子数が所定数に達するごとに、パルス励起光の照射位置を次の照射位置に走査させるスキャナ制御部93を備える。
【選択図】 図1
Description
図1は、この発明の実施の形態1である蛍光寿命測定装置100の概要構成を示すブロック図である。図1において、この蛍光寿命測定装置100は、パルスレーザ光源1と、レンズ系2,5,7と、ビームスプリッタ3と、スキャナ4と、検出器8と、制御部9と、表示部10とを有している。さらに、制御部9は、信号処理部91と、カウンタ92と、スキャナ制御部93と、演算部94とを有している。
つぎに、この実施の形態2について説明する。実施の形態1では、1画素に対応する照射位置からカウントされる蛍光光子数を予め設定し、各画素の蛍光寿命の誤差を均一にするようにしていたが、この実施の形態2では、一度目は、所定の速度でパルス励起光を走査させて、蛍光強度の分布画像を取得するとともに蛍光強度をもとにカウントされる蛍光光子数が設定した蛍光光子数になる走査速度を演算し、2度目は、演算した走査速度にしたがってパルス励起光を走査し、均一な誤差の蛍光寿命の分布画像を取得するようにしている。
2,5,7 レンズ系
3 ビームスプリッタ
4 スキャナ
6 試料
8 検出器
9,9A 制御部
91 信号処理部
92 カウンタ
93,93a スキャナ制御部
94 演算部
95 走査速度演算部
96 記憶部
100,200 蛍光寿命測定装置
Claims (5)
- 試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに蛍光寿命を測定する蛍光寿命測定装置において、
カウントされた前記蛍光光子数が所定数に達するごとに、前記パルス励起光の照射位置を次の照射位置に走査させる走査制御手段を備えたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。 - 前記照射位置は、1画素内の所定領域に対応することを特徴とする請求項1に記載の蛍光寿命測定装置。
- 試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに蛍光寿命を測定する蛍光寿命測定装置において、
前記試料の蛍光寿命測定領域を予め所定の光強度の励起光によって走査し、前記蛍光寿命測定領域の蛍光強度分布を測定する蛍光強度測定手段と、
前記蛍光強度分布をもとに前記蛍光寿命測定領域内の各所定領域から放出される蛍光光子数が所定数を超えるように前記励起光の強度に対応した前記励起光の走査速度を演算する走査速度演算手段と、
前記走査速度演算手段によって演算された走査速度にしたがって各所定領域を前記パルス励起光が走査するように制御する走査制御手段と、
を備えたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。 - 前記パルス励起光が照射されてから前記蛍光光子が放出されるまでの時間をもとに前記蛍光寿命を測定する時間相関単一計数法を用いて前記蛍光寿命を演算する演算手段を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の蛍光寿命測定装置。
- 前記パルス励起光が照射されてから複数の時間帯においてカウントされた前記蛍光光子数をもとに前記蛍光寿命を測定する時間ゲート法を用いて前記蛍光寿命を演算する演算手段を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の蛍光寿命測定装置。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008032440A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Hokkaido Univ | 発光寿命測定装置およびその測定方法 |
KR101507103B1 (ko) | 2014-12-30 | 2015-04-01 | 이화여자대학교 산학협력단 | 형광 시정수 영상 데이터의 전역적 분석 방법 및 이를 이용한 형광 시정수 영상 시스템 |
KR20160086048A (ko) * | 2015-01-09 | 2016-07-19 | 연세대학교 산학협력단 | 콜레스테롤 분석 장치 및 그 분석 방법 |
KR101758114B1 (ko) | 2015-11-30 | 2017-07-14 | 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단 | 에너지 전이에 따른 형광 수명을 측정하는 방법 |
KR101835815B1 (ko) | 2016-12-16 | 2018-03-07 | (주) 인텍플러스 | 형광수명 측정장치 및 측정방법 |
US11307140B2 (en) | 2017-07-04 | 2022-04-19 | Olympus Corporation | Signal acquisition device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08506664A (ja) * | 1993-02-01 | 1996-07-16 | セック,リミテッド | Dna配列決定の方法および装置 |
JPH0943146A (ja) * | 1995-07-28 | 1997-02-14 | Hamamatsu Photonics Kk | 時間分解イメージング装置 |
JP2002107300A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-10 | Hamamatsu Photonics Kk | 蛍光寿命測定装置及び測定方法 |
JP2004108892A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Olympus Corp | 蛍光分光分析装置 |
JP2005091349A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-04-07 | Olympus Corp | 蛍光寿命測定装置 |
-
2004
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08506664A (ja) * | 1993-02-01 | 1996-07-16 | セック,リミテッド | Dna配列決定の方法および装置 |
JPH0943146A (ja) * | 1995-07-28 | 1997-02-14 | Hamamatsu Photonics Kk | 時間分解イメージング装置 |
JP2002107300A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-10 | Hamamatsu Photonics Kk | 蛍光寿命測定装置及び測定方法 |
JP2004108892A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Olympus Corp | 蛍光分光分析装置 |
JP2005091349A (ja) * | 2003-08-08 | 2005-04-07 | Olympus Corp | 蛍光寿命測定装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008032440A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Hokkaido Univ | 発光寿命測定装置およびその測定方法 |
KR101507103B1 (ko) | 2014-12-30 | 2015-04-01 | 이화여자대학교 산학협력단 | 형광 시정수 영상 데이터의 전역적 분석 방법 및 이를 이용한 형광 시정수 영상 시스템 |
KR20160086048A (ko) * | 2015-01-09 | 2016-07-19 | 연세대학교 산학협력단 | 콜레스테롤 분석 장치 및 그 분석 방법 |
KR101655949B1 (ko) | 2015-01-09 | 2016-09-08 | 연세대학교 산학협력단 | 콜레스테롤 분석 장치 및 그 분석 방법 |
KR101758114B1 (ko) | 2015-11-30 | 2017-07-14 | 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단 | 에너지 전이에 따른 형광 수명을 측정하는 방법 |
KR101835815B1 (ko) | 2016-12-16 | 2018-03-07 | (주) 인텍플러스 | 형광수명 측정장치 및 측정방법 |
WO2018110843A1 (ko) * | 2016-12-16 | 2018-06-21 | (주) 인텍플러스 | 형광수명 측정장치 및 측정방법 |
US10753872B2 (en) | 2016-12-16 | 2020-08-25 | Intekplus Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring fluorescence lifetime |
US11307140B2 (en) | 2017-07-04 | 2022-04-19 | Olympus Corporation | Signal acquisition device |
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