JP4704052B2 - 蛍光寿命測定装置 - Google Patents
蛍光寿命測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4704052B2 JP4704052B2 JP2005015930A JP2005015930A JP4704052B2 JP 4704052 B2 JP4704052 B2 JP 4704052B2 JP 2005015930 A JP2005015930 A JP 2005015930A JP 2005015930 A JP2005015930 A JP 2005015930A JP 4704052 B2 JP4704052 B2 JP 4704052B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- fluorescence lifetime
- time
- measuring apparatus
- photons
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
図1は、この発明の実施の形態1にかかる蛍光寿命測定装置1の概要構成を示すブロック図である。図1において、この蛍光寿命測定装置1は、トリガ信号Tr0を生成して出力するトリガ生成部2と、トリガ信号Tr0を入力してパルスレーザ光を出射するレーザ光源3と、パルスレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズ4と、平行光に変換されたパルスレーザ光を標本16上に走査するガルバノミラー6と、パルスレーザ光を標本16に集光する対物レンズ7と、標本16が発した蛍光を反射するダイクロイックミラー5と、ダイクロイックミラー5で反射された光から所定の蛍光波長の光のみを透過するバリアフィルタ8と、蛍光を集光する集光レンズ9と、集光された蛍光を光電変換して電気信号P1を出力する光電子増倍管(PMT)10と、電気信号P1を乗算信号S1〜S4と乗算して乗算結果である乗算結果信号S10a〜S10dを出力する乗算器12a〜12dと、乗算結果信号S10a〜S10dをもとに蛍光光子数をカウントしてカウント信号SF1〜SF4を出力するカウント部13a〜13dと、カウント信号SF1〜SF4を入力して蛍光寿命を演算し、蛍光寿命を特定する制御部14と、制御部14が特定した蛍光寿命の分布画像を表示する表示部15と、トリガ生成部2からトリガ信号Tr0を入力して乗算器12a〜12dに乗算信号S1〜S4を出力する時間ゲート生成部11とを有する。また、時間ゲート生成部11は、入力されたトリガ信号Tr0を所定時間遅延するた乗算信号S1〜S4としてそれぞれ出力する遅延器11a〜11dを有し、遅延器11a〜11cの各出力側は、それぞれ遅延器11b〜11dの入力側に接続される。さらに、制御部14は、複数の蛍光寿命を演算する演算部140と、演算部140が演算した蛍光寿命の数を判定するとともに蛍光寿命を特定する判定特定部141とを有する。
つぎに、この発明にかかる実施の形態2について説明する。上述した実施の形態1では、1つの波長のパルスレーザ光によって発する蛍光をもとに蛍光寿命を特定するようにしていたが、この実施の形態2では、異なる複数の波長のパルスレーザ光によって発する蛍光をもとにそれぞれの蛍光寿命を特定するようにしている。
つぎに、この発明の実施の形態3について説明する。上述した実施の形態1,2では、蛍光寿命を測定して蛍光寿命の分布画像を表示するようにしていたが、この実施の形態3では、蛍光寿命の分布画像とともに蛍光画像をも表示できるようにしている。
2 トリガ生成部
3,3a,3b レーザ光源
4,4a,4b コリメータレンズ
5 ダイクロイックミラー
6 ガルバノミラー
7 対物レンズ
9,9a,9b 集光レンズ
8,8a,8b バリアフィルタ
10,10a,10b PMT
11 時間ゲート生成部
11a,11b,11c,11d,21,22a,22b 遅延器
12a,12b,12c,12d,12e,12f,12g,12h,12i,12j,12k,12l 乗算器
13a,13b,13c,13d,13e,13f,13g,13h,13i,13j,13k,13l カウント部
14,14a,14b,14c 制御部
15 表示部
16,16A,16B 標本
17 反射ミラー
18 合成ダイクロイックミラー
19 分光ダイクロイックミラー
140,140a,140b 演算部
141,141a,141b 判定部
Claims (6)
- 異なる波長の複数のパルスレーザ光を標本に照射しつつ走査し、前記標本が発する蛍光光子をカウントして蛍光寿命を測定する蛍光寿命測定装置において、
前記複数のパルスレーザ光を同時に出射させる制御を行う出射制御手段と、
前記蛍光光子の光路を波長によって分岐する分岐手段と、
前記分岐手段の後段に設けられ、前記蛍光光子をカウントする複数の時間帯である複数の時間ゲートであって前記複数のパルスレーザ光の出射後に生成される複数の時間ゲートによってカウントされた前記蛍光光子数をもとに蛍光寿命を演算するアルゴリズムを用いて前記蛍光寿命を演算する前記波長毎の複数の演算手段と、
を備えたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。 - 前記複数の演算手段によって演算された前記蛍光寿命に関する値をもとに各波長毎の蛍光寿命の数および値を判定する判定手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の蛍光寿命測定装置。
- 前記蛍光光子の光強度を検出する検出手段と、
前記光強度をもとに蛍光画像を生成する画像生成手段と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の蛍光寿命測定装置。 - 前記複数の時間ゲートの各ゲート長時間は、各時間ゲート間の時間に比して大きいことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の蛍光寿命測定装置。
- 前記演算手段が用いるアルゴリズムは、演算する最大の蛍光寿命の数の値に応じて切替可能であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の蛍光寿命測定装置。
- 前記時間ゲートは、4以上であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の蛍光寿命測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005015930A JP4704052B2 (ja) | 2005-01-24 | 2005-01-24 | 蛍光寿命測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005015930A JP4704052B2 (ja) | 2005-01-24 | 2005-01-24 | 蛍光寿命測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006201133A JP2006201133A (ja) | 2006-08-03 |
JP4704052B2 true JP4704052B2 (ja) | 2011-06-15 |
Family
ID=36959251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005015930A Expired - Fee Related JP4704052B2 (ja) | 2005-01-24 | 2005-01-24 | 蛍光寿命測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4704052B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4944006B2 (ja) * | 2007-12-17 | 2012-05-30 | 株式会社山武 | 温度センサ、及び温度測定方法 |
JP5437864B2 (ja) * | 2010-03-10 | 2014-03-12 | 富士フイルム株式会社 | pH測定装置の作動方法、検出装置の作動方法、及び生体物質分析装置の作動方法、並びに各装置 |
CN103364079A (zh) * | 2013-07-18 | 2013-10-23 | 南京大学 | 一种宽波段荧光光子检测系统及其检测方法 |
KR101752588B1 (ko) | 2016-03-03 | 2017-06-29 | 한양대학교 산학협력단 | 형광 수명 측정 시스템 및 방법 |
CN108007584B (zh) * | 2017-11-08 | 2019-10-11 | 南京邮电大学 | 基于单光子雪崩二极管探测器的快速荧光寿命成像方法 |
DE102018114697B4 (de) * | 2018-06-19 | 2023-02-16 | Krohne Messtechnik Gmbh | Messvorrichtung und Verfahren zur zeitaufgelösten Messung eines Messsignals |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5576919A (en) * | 1978-12-06 | 1980-06-10 | Japan Spectroscopic Co | Measuring method for rapid time division spectroscopic analysis |
JPH02268255A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-11-01 | Hamamatsu Photonics Kk | 螢光特性検査装置 |
JPH07229835A (ja) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | エネルギー移動検出法およびその装置 |
JP2004191251A (ja) * | 2002-12-12 | 2004-07-08 | Olympus Corp | 蛍光分光分析装置 |
JP2004212204A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-29 | Olympus Corp | 蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム |
-
2005
- 2005-01-24 JP JP2005015930A patent/JP4704052B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5576919A (en) * | 1978-12-06 | 1980-06-10 | Japan Spectroscopic Co | Measuring method for rapid time division spectroscopic analysis |
JPH02268255A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-11-01 | Hamamatsu Photonics Kk | 螢光特性検査装置 |
JPH07229835A (ja) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Hamamatsu Photonics Kk | エネルギー移動検出法およびその装置 |
JP2004191251A (ja) * | 2002-12-12 | 2004-07-08 | Olympus Corp | 蛍光分光分析装置 |
JP2004212204A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-29 | Olympus Corp | 蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006201133A (ja) | 2006-08-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20230349812A1 (en) | Fluorescence Imaging Flow Cytometry With Enhanced Image Resolution | |
US8921809B2 (en) | Device for microscopy having selective illumination of a plane | |
US7394063B2 (en) | Microscope for investigating the lifetime of excited states in a sample | |
JP4704052B2 (ja) | 蛍光寿命測定装置 | |
US7310142B2 (en) | Fast time-correlated multi-element photon detector and method | |
US9739715B2 (en) | Laser scanning microscope system and method of setting laser-light intensity value | |
JP2011513740A (ja) | 光子混合検出器を用いた時間分解分光分析方法およびシステム | |
US20170016769A1 (en) | Measurement system of real-time spatially-resolved spectrum and time-resolved spectrum and measurement module thereof | |
JP5133602B2 (ja) | 光信号の検出のための方法および装置 | |
US8912510B2 (en) | Fluorescence observation apparatus | |
JP2019502125A (ja) | 電子励起状態の平均寿命時間を測定するための発光寿命時間測定方法及び装置 | |
JP4224640B2 (ja) | 蛍光分光分析装置 | |
US7257289B2 (en) | Spectral microscope and method for data acquisition using a spectral microscope | |
CN107643272B (zh) | 一种基于少通道tcspc和多探测器的时间分辨荧光测量系统 | |
US9651765B2 (en) | Method for separating detection signals in the beam path of an optical device | |
WO2006037248A1 (en) | Combining photon counting and analog detection | |
JP4902582B2 (ja) | 蛍光検出装置 | |
US20220155225A1 (en) | Multi-capillary optical detection system | |
US9411141B2 (en) | Microscope and a method for examining a sample using a microscope | |
JP4725087B2 (ja) | 顕微鏡 | |
JP5117966B2 (ja) | 試料分析装置 | |
EP3575778B1 (en) | Multi-wavelength laser inspection | |
US20050024637A1 (en) | Detector and method for detecting weak fluorescent radiation with a microscope system | |
JP2009058405A (ja) | 光分析装置 | |
JP2012522980A (ja) | 蛍光寿命イメージング |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080116 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100113 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100119 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100315 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100601 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110309 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4704052 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |