JP2005300310A - 走査型蛍光顕微鏡装置 - Google Patents
走査型蛍光顕微鏡装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005300310A JP2005300310A JP2004115681A JP2004115681A JP2005300310A JP 2005300310 A JP2005300310 A JP 2005300310A JP 2004115681 A JP2004115681 A JP 2004115681A JP 2004115681 A JP2004115681 A JP 2004115681A JP 2005300310 A JP2005300310 A JP 2005300310A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- fluorescent
- photons
- fluorescent photons
- polarization
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6445—Measuring fluorescence polarisation
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【解決手段】試料12にパルス励起光を照射しつつ走査し、パルス励起光によって試料12から放出される蛍光光子をカウントし、カウントした蛍光光子数をもとに蛍光寿命を測定する走査型蛍光顕微鏡装置100において、蛍光光子が通る光路に配置され、蛍光光子を所定の比率で分離するハーフミラー16と、ハーフミラー16によって分離された各蛍光光子を検出する光検出器19a,19bと、検出された各蛍光光子数をカウントする信号処理部21a,21bと、信号処理部21a,21bによってカウントされた各蛍光光子数に対して所定の補正を行う補正部22a,22bと、補正部22a,22bによって補正された各蛍光光子数を加算する加算部23と、加算部23によって加算された蛍光光子数をもとに蛍光寿命を演算する演算部24と、を備える。
【選択図】 図1
Description
図1は、この発明の実施の形態1である走査型蛍光顕微鏡装置100の概要構成を示すブロック図である。図1において、この走査型蛍光顕微鏡装置100は、レーザ光源1と、コリメーターレンズ2と、ダイクロイックミラー3と、ガルバノ4と、瞳投影レンズ5と、ミラー6と、観察鏡筒7と、結像レンズ8と、観察照明ユニット9と、ハーフミラー10と、対物レンズ11と、試料12と、測定ユニット13と、制御部20と、表示部25とを有している。
また、rが1以上とすると、式(1)から式(2)が導き出される。
励起光の照射をN回行い、時間ゲートΔTにおいて測定された蛍光光子数をk個とすると、時間ゲートΔTにおいて測定された平均の蛍光光子数(カウントレート)xは、x=k/Nとなる。一方、時間ゲートΔTにおいて蛍光光子が入射しない確率p(0,μ)は、カウントレートxを用いて以下の式(3)で表せる。
また、同様に時間ゲートΔTにおいて蛍光光子が入射しない確率p(0,μ)は、式(1)から以下の式(4)によって表せる。
したがって、式(3),(4)から時間ゲートΔTにおいて入射する平均蛍光光子数μは、以下の式(5)によって表せる。
ここで、時間ゲートΔTにおいて入射する蛍光光子数をm個とすると、mは以下の式(6)のように、励起光の照射回数Nと時間ゲートΔTにおいて入射した平均蛍光光子数μとの乗算値になる。
つまり補正部22a,22bは、レーザ光源1が照射する照射回数Nと信号処理部21a,21bから入力する測定された蛍光光子数kとによって式(6)を演算し、測定された蛍光光子数k個を実際に入射した蛍光光子数m個に補正する。
つぎに、この実施の形態2について説明する。実施の形態1では、ハーフミラー16を配置して蛍光光子数の測定時間を短くするようにしていたが、この実施の形態2では、偏光ビームスプリッタを配置し、蛍光光子の測定時間を短くするとともに、試料中の蛍光分子の配向も測定できるようにしている。
つぎに、この実施の形態3について説明する。実施の形態1では、ハーフミラー16を配置し、実施の形態2では、偏光ビームスプリッタ30を配置し、蛍光光子を分割して蛍光光子数の測定時間を短くするようにしていたが、この実施の形態3では、ハーフミラーと偏光ビームスプリッタとを組み合わせて配置し、蛍光光子数の測定時間を短くするとともに、蛍光分子の配向も観察できるようにしている。
2 コリメーターレンズ
3 ダイクロイックミラー
4 ガルバノ
5 瞳投影レンズ
6 ミラー
7 観察鏡筒
8 結像レンズ
9 観察照明ユニット
10,16,16a,16b ハーフミラー
11 対物レンズ
12 試料
13,13A,13B,13C,13D 測定ユニット
14 集光レンズ
15 ピンホール
17a,17b,17c,17d,17e,17f,17g,17h 吸収フィルタ
18c,18d,18e,18f,18g,18h アナライザ
19a,19a1,19a2,19b,19b1,19b2,19c,19d,19e,19f,19g,19h 光検出器
20,20A,20B,20C,20D 制御部
21a,21b,21e,21f,21g,21h 信号処理部
22a,22b,22e,22f,22g,22h 補正部
23,23c 加算部
23a,23b 加算器
24 演算部
25 表示部
26 ポラライザ
27,27a,27b 偏光演算部
28 波長板制御部
29 1/2波長板
30,30a,30b 偏光ビームスプリッタ
211a,211b,212a,212b 波高分別器
213a,213b,214a,214b カウンタ
100,200,300,400,500 走査型蛍光顕微鏡装置
Claims (10)
- 試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに少なくとも蛍光寿命を測定する走査型蛍光顕微鏡装置において、
前記蛍光光子が通る光路に配置され、前記蛍光光子を所定の比率で分離する分離手段と、
前記分離手段によって分離された各蛍光光子を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された各蛍光光子数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段によってカウントされた各蛍光光子数に対して所定の補正を行う補正手段と、
前記補正手段によって補正された各蛍光光子数を加算する加算手段と、
前記加算手段によって加算された前記蛍光光子数をもとに蛍光寿命を演算する演算手段と、
を備えたことを特徴とする走査型蛍光顕微鏡装置。 - 試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに少なくとも蛍光寿命を測定する走査型蛍光顕微鏡装置において、
前記蛍光光子が通る光路に配置され、前記蛍光光子を所定の偏光成分ごとに偏向させて分離する偏光分離手段と、
前記偏光分離手段によって分離された各蛍光光子を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された各蛍光光子数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段によってカウントされた各蛍光光子数に対して所定の補正を行う補正手段と、
前記補正手段によって補正された各蛍光光子数をもとに前記試料の配向を演算する偏光演算手段と、
を備えたことを特徴とする走査型蛍光顕微鏡装置。 - 試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに少なくとも蛍光寿命を測定する走査型蛍光顕微鏡装置において、
前記蛍光光子が通る光路に配置され、前記蛍光光子を所定の偏光成分ごとに偏向させて分離する偏光分離手段と、
前記偏光分離手段によって分離された各蛍光光子を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された各蛍光光子数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段によってカウントされた各蛍光光子数に対して所定の補正を行う補正手段と、
前記補正手段によって補正された各蛍光光子数をもとに前記試料の配向を演算する偏光演算手段と、
前記補正手段によって補正された各蛍光光子数を加算する加算手段と、
前記加算手段によって加算された前記蛍光光子数をもとに蛍光寿命を演算する演算手段と、
を備えたことを特徴とする走査型蛍光顕微鏡装置。 - 試料にパルス励起光を照射しつつ走査し、前記パルス励起光によって励起された前記試料から放出される蛍光光子をカウントし、該カウントした蛍光光子数をもとに少なくとも蛍光寿命を測定する走査型蛍光顕微鏡装置において、
前記蛍光光子が通る光路に配置され、前記蛍光光子を所定の比率で分離する分離手段と、
前記分離手段によって分離された前記蛍光光子を所定の偏光成分ごとに偏向させて分離する偏光分離手段と、
前記偏光分離手段によって分離された各蛍光光子を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された各蛍光光子数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段によってカウントされた各蛍光光子数に対して所定の補正を行う補正手段と、
前記補正手段によって補正された各蛍光光子数をもとに前記試料の配向を演算する偏光演算手段と、
前記補正手段によって補正された各蛍光光子数を加算する加算手段と、
前記加算手段によって加算された前記蛍光光子数をもとに蛍光寿命を演算する演算手段と、
を備えたことを特徴とする走査型蛍光顕微鏡装置。 - 前記補正手段は、前記カウント手段によってカウントされた前記蛍光光子数が時間に対してポアソン分布に従う補正を行うことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の走査型蛍光顕微鏡装置。
- 前記分離手段は、前記蛍光光子を等分比で反射し、前記蛍光光子を等分比で透過させるハーフミラーであることを特徴とする請求項1,4または5に記載の走査型蛍光顕微鏡装置。
- 前記分離手段は、前記ハーフミラーを複数接続し、前記蛍光光子を少なくとも3以上に等分するものであることを特徴とする請求項1または4〜6のいずれか一つに記載の走査型蛍光顕微鏡装置。
- 前記偏光分離手段は、前記蛍光光子のS偏光成分を反射し、前記蛍光光子のP偏光成分を透過させる偏光ビームスプリッタであることを特徴とする請求項2〜5のいずれか一つに記載の走査型蛍光顕微鏡装置。
- 入射した光を所定の偏光角の直線偏光光に偏光するポラライザを前記励起光が通る光路に配置することを特徴とする請求項2〜5または8のいずれか一つに記載の走査型蛍光顕微鏡装置。
- 前記試料と前記偏光分離手段との間に前記蛍光光子の偏光角を回転させる偏光方向回転手段を配置し、前記分離手段に入射する前記蛍光の各偏光成分が略等分に分離される偏光角になるように制御することを特徴とする請求項2〜4,8または9のいずれか一つに記載の走査型蛍光顕微鏡装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004115681A JP4323369B2 (ja) | 2004-04-09 | 2004-04-09 | 走査型蛍光顕微鏡装置 |
US11/101,053 US7365344B2 (en) | 2004-04-09 | 2005-04-06 | Scanning fluorescent microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004115681A JP4323369B2 (ja) | 2004-04-09 | 2004-04-09 | 走査型蛍光顕微鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005300310A true JP2005300310A (ja) | 2005-10-27 |
JP4323369B2 JP4323369B2 (ja) | 2009-09-02 |
Family
ID=35059630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004115681A Expired - Fee Related JP4323369B2 (ja) | 2004-04-09 | 2004-04-09 | 走査型蛍光顕微鏡装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7365344B2 (ja) |
JP (1) | JP4323369B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012150301A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Hitachi Ltd | 光学装置 |
JP2012530947A (ja) * | 2009-06-26 | 2012-12-06 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー | 顕微鏡画像における蛍光事象の評価方法 |
WO2014129643A1 (ja) * | 2013-02-25 | 2014-08-28 | オリンパス株式会社 | 走査型観察装置 |
KR20180062412A (ko) * | 2016-11-30 | 2018-06-08 | 단국대학교 산학협력단 | 광학현미경의 광 검출방법 |
JP2019518952A (ja) * | 2016-05-25 | 2019-07-04 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 高められた光強度を許容する時間相関単一光子計数による蛍光寿命顕微鏡検査法 |
CN111826422A (zh) * | 2019-04-22 | 2020-10-27 | 康岭有限公司 | 检测荧光偏振的光学系统以及偏振度测量单元 |
JP2020176967A (ja) * | 2019-04-22 | 2020-10-29 | 康嶺有限公司Health Peak Limited | 蛍光偏光を検出する光学系及び偏光度測定ユニット |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4418362B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2010-02-17 | オリンパス株式会社 | 画像処理装置 |
JP5608529B2 (ja) * | 2010-12-08 | 2014-10-15 | オリンパス株式会社 | 蛍光顕微鏡 |
DE102012009780A1 (de) * | 2012-05-18 | 2013-11-21 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe |
US10281399B2 (en) * | 2015-02-05 | 2019-05-07 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Systems and methods for particle tracking using spatiotemporal offset light beams |
CN111175263B (zh) * | 2020-01-15 | 2021-08-20 | 广州市凯佳光学科技有限公司 | 多光子荧光显微成像系统及成像方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL49622A0 (en) * | 1976-05-21 | 1976-07-30 | Elscint Ltd | A method and apparatus for classifying biological cells |
US4827125A (en) * | 1987-04-29 | 1989-05-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services | Confocal scanning laser microscope having no moving parts |
US5127730A (en) * | 1990-08-10 | 1992-07-07 | Regents Of The University Of Minnesota | Multi-color laser scanning confocal imaging system |
JPH08254654A (ja) | 1995-03-17 | 1996-10-01 | Hitachi Ltd | 共焦点偏光顕微鏡 |
WO1998013676A1 (fr) * | 1996-09-24 | 1998-04-02 | Laboratory Of Molecular Biophotonics | Procede et dispositif pour mesurer la polarisation |
US6710871B1 (en) * | 1997-06-09 | 2004-03-23 | Guava Technologies, Inc. | Method and apparatus for detecting microparticles in fluid samples |
US6376843B1 (en) * | 1999-06-23 | 2002-04-23 | Evotec Oai Ag | Method of characterizing fluorescent molecules or other particles using generating functions |
US6690463B2 (en) * | 2000-02-10 | 2004-02-10 | Evotec Biosystems Ag | Fluorescence intensity and lifetime distribution analysis |
US7130057B2 (en) * | 2002-12-20 | 2006-10-31 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for controlling the position of a probe location relative to a fixed reference point of a probe processing equipment |
JP3793531B2 (ja) * | 2003-10-07 | 2006-07-05 | オリンパス株式会社 | 蛍光寿命測定装置 |
-
2004
- 2004-04-09 JP JP2004115681A patent/JP4323369B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-04-06 US US11/101,053 patent/US7365344B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012530947A (ja) * | 2009-06-26 | 2012-12-06 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー | 顕微鏡画像における蛍光事象の評価方法 |
US8988771B2 (en) | 2009-06-26 | 2015-03-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Method for evaluating fluorescence results in a microscope image |
JP2012150301A (ja) * | 2011-01-20 | 2012-08-09 | Hitachi Ltd | 光学装置 |
WO2014129643A1 (ja) * | 2013-02-25 | 2014-08-28 | オリンパス株式会社 | 走査型観察装置 |
JP2014164096A (ja) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Olympus Corp | 走査型観察装置 |
US9513223B2 (en) | 2013-02-25 | 2016-12-06 | Olympus Corporation | Scanning observation apparatus |
JP7004675B2 (ja) | 2016-05-25 | 2022-02-10 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 高められた光強度を許容する時間相関単一光子計数による蛍光寿命顕微鏡検査法 |
JP2019518952A (ja) * | 2016-05-25 | 2019-07-04 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH | 高められた光強度を許容する時間相関単一光子計数による蛍光寿命顕微鏡検査法 |
KR20180062412A (ko) * | 2016-11-30 | 2018-06-08 | 단국대학교 산학협력단 | 광학현미경의 광 검출방법 |
KR102021488B1 (ko) | 2016-11-30 | 2019-09-16 | 단국대학교 산학협력단 | 광학현미경의 광 검출방법 |
CN111826422A (zh) * | 2019-04-22 | 2020-10-27 | 康岭有限公司 | 检测荧光偏振的光学系统以及偏振度测量单元 |
JP2020176967A (ja) * | 2019-04-22 | 2020-10-29 | 康嶺有限公司Health Peak Limited | 蛍光偏光を検出する光学系及び偏光度測定ユニット |
CN111826422B (zh) * | 2019-04-22 | 2024-03-26 | 康岭有限公司 | 检测荧光偏振的光学系统以及偏振度测量单元 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050224721A1 (en) | 2005-10-13 |
JP4323369B2 (ja) | 2009-09-02 |
US7365344B2 (en) | 2008-04-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4323369B2 (ja) | 走査型蛍光顕微鏡装置 | |
JP4315794B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP5092104B2 (ja) | 分光測定装置、及び分光測定方法 | |
JP4487078B2 (ja) | 蛍光顕微鏡及び観察方法 | |
JP6230957B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP6446432B2 (ja) | 顕微分光装置 | |
CN110376125A (zh) | 一种瞬态吸收光谱测量系统和方法 | |
JPWO2007037253A1 (ja) | 光信号解析装置および光信号解析方法 | |
EP3798608A1 (en) | Normal incidence ellipsometer and method for measuring optical properties of sample by using same | |
JP4224640B2 (ja) | 蛍光分光分析装置 | |
WO2017169788A1 (ja) | パルス光生成装置、光照射装置、光加工装置、光応答測定装置、顕微鏡装置、及びパルス光生成方法 | |
JPWO2015004917A1 (ja) | 観察方法、細胞シート製造方法、細胞シート製造装置、および細胞シート観察装置 | |
US20150304552A1 (en) | Confocal microscope | |
JP5887766B2 (ja) | 顕微鏡制御装置、画像処理装置、顕微鏡装置およびプログラム | |
JP4735758B2 (ja) | 共焦点顕微鏡装置 | |
JP4311936B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP4408523B2 (ja) | 蛍光相関法 | |
US8542439B2 (en) | Method and device for scanning-microscopy imaging of a specimen | |
JP6260391B2 (ja) | 共焦点顕微鏡装置及び共焦点観察方法 | |
JP2008292210A (ja) | 光学式測定装置 | |
JP4186189B2 (ja) | 光学測定装置 | |
Hong et al. | Development of a low-cost microscope using a DVD optical pickup head | |
JP6065517B2 (ja) | 蛍光顕微鏡、蛍光検出方法、及び蛍光検出ユニット | |
JPH11119107A (ja) | 干渉顕微鏡装置 | |
JP2016180675A (ja) | 光検出機構、アライメント機構、観測システム、及び観測方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070327 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090512 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090604 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120612 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120612 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130612 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |