JP6230957B2 - 検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
<検査装置の構成>
図1は、本発明の第1の実施形態による検査装置の全体構成例を示す図である。検査装置1は、検査対象物20に光を照射する光照射部10と、レーザ光路13と、検査対象物20からの画像を撮像する可視カメラ30と、集光/フィルタ部40と、分光検出部60と、付着物推定部70と、画像処理部80と、照射範囲検出部50と、合成部90と、を有している。光照射部10は、スキャンミラー11と、レーザ光源12と、を含む。可視カメラ30は、カメラレンズ32と、撮像素子31と、撮像処理33と、を含む。集光/フィルタ部40は、レンズ41及び43と、レイリー光除去フィルタ42と、を含む。分光検出部60は、分光器61と、検出器62と、を含む。なお、分光器60の前段(集光/フィルタ部40の内部或いは前段でも良い)に可視光(外光)を除去するためのフィルタを設けても良い。
図2は、スキャンミラー11により検査対象物20に対して行うレーザ照射の例を示す図である。図2に記載された可視画像(1,1)は、ある任意の時刻tでの可視カメラ30の出力画像を示し、可視画像(1,n)は、時刻tから数えて(1×n)フレーム目の可視カメラ30の出力画像を示している。フレーム数が増えるにつれて、スキャンミラー11は、左上からレーザ光のスキャンを開始し、右下に向かってスキャンを実施している。当該実施形態では可視カメラ30で撮影される全ての撮影領域でスキャンを実施しているが、検査すべき部分が予め判明している場合は、検査すべき部分に限定しても良い。また、スキャン方法も検査すべき部分にレーザが照射されれば順番や照射点の重複があっても可視カメラ30の画像からレーザ照射位置を特定しているため考慮する必要がない。このように可視画像でレーザスポット位置を確認しながらラマン散乱光による画像を生成することにより可視画像における付着物画像の位置が明確になるので、レーザ照射の際の位置に関するキャリブレーションが不要であり、また、顕微鏡構造を採用する必要がないため、大きな検査対象物に対しても測定できるようになる。また、検査対象物に応じてレーザ照射の径を拡大又は縮小することにより、撮影する画像、即ちフレーム数を最適化することができるため、測定時間を短縮することもできる。なお、本実施形態では、可視カメラを用いているが、使用するレーザ光を撮影できるカメラであれば、可視光の波長領域に限定しなくても良い。
図3及び4は、分光検出部60の出力の例を示す図である。図5は可視カメラ30の出力画像を示し、図6は画像処理部80の出力画像を示し、図7は合成部90で生成された画像の例を示す図である。
図8、9及び10は、照射範囲検出部50の動作を説明するための図である。図8及び9における格子状の細かい枠は、撮像素子31内の受光素子を表しており、水平及び垂直に番号を付け、受光素子の位置を示している。また、レーザ光スポット35及びレーザ光スポット37は、レーザ光のスポットを撮像面で受光している様子を表している。尚、破線で示したレーザ光スポット34及びレーザ光スポット36は、1フィールド前のレーザ光のスポット位置を表している。
<検査装置の構成>
図11は、本発明の第2の実施形態による検査装置1の全体構成を示す図である。図11において、図1と重複する部分には同一の番号を付け、説明を省略する。第2の実施形態による検査装置1は、第1の実施形態による検査装置1(図1)の構成に加えて、第2の光を照射する手段である可視光照明100と、制御部170と、特徴点抽出/強調処理部160と、基準画像データベース120と、相関性比較部130と、遮光筐体(遮光領域)110と、を有している。第2の実施形態による検査装置1では、検査対象物20、光照射部10、可視光照明100、可視カメラ30、及び集光/フィルタ部40を、遮光筐体110により他の部分から分離し、外光の影響を排除する構成になっている。
図12A乃至Cは、第2の実施形態による検査装置1の動作の詳細を説明するための図である。図12Aは、検査装置1の動作を説明するためのフローチャートである。図12Bは、検査対象物内で検査範囲を絞り込む際に光照射部10から照射した光の位置を表す図である。図12Cは、検査範囲が絞り込まれた後の詳細検査時に光照射部10から照射した光の位置を、図12Bに加えて表した図である。図12B及びCのグレーの丸い模様は、レーザ光照射位置を示し、検査の際にレーザ光を照射した全ての位置を撮像面の上に表している。また、細かい格子状の枠は、図8と同様、撮像素子31内の受光素子を表している。
図13は、第2の実施形態における光照射部10及び可視光照明100の点灯及び消灯のタイミングを示す図である。第2の実施形態では、最初に可視光照明100のみを点灯させ、可視カメラ30から可視の画像を取得する。次に、可視光照明100を消灯し、光照射部10からレーザを照射、該レーザの照射位置を変えながらラマン散乱光を取得し、付着物の画像、或いは、画像データを作成している。このようにすることで、ラマン散乱光を取得時に含まれる外光を減じて測定精度を向上させることが可能となる。本実施形態によれば、第1の実施形態(図1)と同様に、撮像素子31の画素位置と対応して付着物の画像或いは画像データを作成しているので、第1の実施形態と同様の効果を期待することができる。また、本実施形態では、検査対象物の範囲で検査が必要な部分を先に判定し、該判定部分に関して検査を行うことにより、検査の高速化を実現することができる。さらに、本実施形態では、図8及び9で示した場合に比べて、グレーで示した丸い範囲が若干大きくなっている。これは、撮像素子31内の受光素子の位置で付着物の画像或いは画像データを作ることは変わらないが、該画像或いは画像データの画像自身の解像度を若干落とすことで高速化を実現している。このように、調べる場所の限定と合わせレーザのスポット径を目的に応じて最適化することで検査の高速化を実現できる。
<検査装置の構成>
図14は、本発明の第3の実施形態による検査装置1の全体構成を示す図である。図14では、図1及び11と重複する部分には同一の番号を付け、説明を省略する。
図15及び16は、当該実施形態による検査装置1の動作を説明するための図である。
図17は、第3の実施形態の構成に加えて、熱センサ200を有する検査装置1の構成を示す図である。
第3及び第4の実施形態では、ネットワーク140を介して検査装置1に接続されるデータセンタ150内に基準画像データベース120が格納されているが、第2の実施形態のように、ネットワークを介さずに基準画像データベース120が検査装置1に接続されていても良い。従って、ネットワーク140を介して基準画像データベースに接続されているため、フィルタ44を設けているのではないことに留意すべきである。
10・・・光照射部
11・・・スキャンミラー
12・・・レーザ光源
13・・・レーザ光路
20・・・検査対象物
31・・・撮像素子
32・・・カメラレンズ
33・・・撮像処理
30・・・可視カメラ
40・・・集光/フィルタ部
41・・・レンズ
42・・・レイリー光除去フィルタ
43・・・レンズ
44・・・光学フィルタ
50・・・照射範囲検出部
60・・・分光検出部
61・・・分光器
62・・・検出器、
70・・・付着物推定部
80・・・画像処理部
90・・・合成部
100・・可視光照明
110・・遮光筐体
120・・基準画像データベース
130・・相関性比較部
140・・ネットワーク
150・・データセンタ
160・・特徴点抽出/強調処理部
170・・制御部
200・・熱センサ
Claims (14)
- 検査対象物の少なくとも一部に特定の波長を主成分とする光を、照射範囲を変更しながら照射する光照射部と、
前記検査対象物における前記特定の波長を主成分とする光の照射位置と前記検査対象物の画像とを撮像する撮像部と、
前記光照射部によって前記検査対象物に照射された光の散乱光を分光する分光器と、
前記分光器により分光された前記散乱光の強度を検出する検出器と、
前記検出器が検出した光の強度から、前記検査対象物の付着物の付着状態を検出する付着状態推定部と、
前記撮像部で撮像された前記特定の波長を主成分とする光の照射位置と前記撮像された画像から、前記特定の波長を主成分とする光の照射位置と前記撮像部の画素とを関連付けることにより照射範囲情報を生成する照射範囲検出部と、
前記付着物の付着状態と前記照射範囲情報とに基づいて、前記撮像部の画素が撮像する範囲に存在する前記付着物の画像を生成する画像処理部と、
前記撮像された画像と前記付着物の画像とを合成して合成画像を生成する合成部と、
を有することを特徴とする検査装置。 - 請求項1において、
さらに、前記検査対象物に可視光を照射するための可視光照射部と、
前記可視光と前記特定の波長を主成分とする光の照射タイミングを制御する制御部と、
前記光照射部と、前記可視光照射部と、前記撮像部と、前記検査対象物と、を外光から遮断する遮光手段と、
を有することを特徴とする検査装置。 - 請求項2において、
前記制御部は、前記可視光の照射と前記特定の波長を主成分とする光の照射を切り替えることを特徴とする検査装置。 - 請求項1において、
さらに、前記検査対象物に可視光を照射するための可視光照射部と、
前記散乱光から可視光を除去するための可視光除去フィルタと、
前記光照射部と、前記可視光照射部と、前記撮像部と、前記検査対象物と、前記可視光除去フィルタと、を外光から遮断する遮光手段と、
を有することを特徴とする検査装置。 - 請求項1において、
さらに、前記付着物の画像と、基準画像データベースに格納されている複数の基準付着物画像とを比較する比較部を有することを特徴とする検査装置。 - 請求項5において、
さらに、前記光照射部による前記照射範囲を制御する制御部を有し、
前記制御部は、前記光照射部を制御して前記検査対象物に離散的に前記特定の波長を主成分とする光を照射して前記画像処理部で第1の付着物画像を生成し、当該第1の付着物画像に基づいて分析すべき範囲を特定し、前記光照射部を前記分析すべき範囲に光を照射するように制御し、前記画像処理部で第2の付着物画像を生成し、前記比較部で前記第2の付着物画像と前記複数の基準付着物画像とを比較することを特徴とする検査装置。 - 請求項1において、
さらに、前記特定の波長を主成分とする光を照射する際の前記検査対象物の温度を計測する温度センサと、
前記温度センサによる計測温度に基づいて、前記光照射部による前記特定の波長を主成分とする光の照射を制御する制御部と、
を有することを特徴とする検査装置。 - 検査対象物の付着物を検査する検査方法であって、
前記検査対象物の少なくとも一部に特定の波長を主成分とする光を、照射範囲を変更しながら照射する工程と、
前記検査対象物における前記特定の波長を主成分とする光の照射位置と前記検査対象物の画像とを撮像装置で撮像する工程と、
前記検査対象物に照射された光の散乱光を分光する工程と、
前記分光された前記散乱光の強度を検出する工程と、
前記検出した光の強度から、前記検査対象物の付着物の付着状態を検出する工程と、
前記撮像された前記特定の波長を主成分とする光の照射位置と前記撮像された画像から、前記特定の波長を主成分とする光の照射位置と前記撮像装置の画素とを関連付けることにより照射範囲情報を生成する工程と、
前記付着物の付着状態と前記照射範囲情報とに基づいて、前記撮像装置の画素が撮像する範囲に存在する前記付着物の画像を生成する工程と、
前記撮像された画像と前記付着物の画像とを合成して合成画像を生成する工程と、
を有することを特徴とする検査方法。 - 請求項8において、
さらに、前記検査対象物に可視光を照射する工程と、
前記可視光と前記特定の波長を主成分とする光の照射タイミングを制御する工程と、を有し、
前記光を照射する工程と、前記可視光を照射する工程と、前記撮像装置で画像を撮像する工程とは、外光から遮断されて実行されることを特徴とする検査方法。 - 請求項9において、
前記制御する工程において、前記可視光と前記特定の波長を主成分とする光は切り替えながら照射されることを特徴とする検査方法。 - 請求項8において、
さらに、前記検査対象物に可視光を照射する工程と、
可視光除去フィルタによって前記散乱光から可視光を除去する工程と、を有し、
前記光を照射する工程と、前記可視光を照射する工程と、前記撮像装置で画像を撮像する工程とは、外光から遮断されて実行されることを特徴とする検査方法。 - 請求項8において、
さらに、前記付着物の画像と、基準画像データベースに格納されている複数の基準付着物画像とを比較する工程を有することを特徴とする検査方法。 - 請求項12において、
さらに、前記照射範囲を制御する工程を有し、
当該照射範囲を制御する工程では、前記検査対象物に離散的に前記特定の波長を主成分とする光を照射して第1の付着物画像を生成し、当該第1の付着物画像に基づいて分析すべき範囲を特定し、前記分析すべき範囲に光を照射するように制御して第2の付着物画像を生成し、
前記比較する工程では、前記第2の付着物画像と前記複数の基準付着物画像とを比較することを特徴とする検査方法。 - 請求項8において、
さらに、温度センサにより前記特定の波長を主成分とする光を照射する際の前記検査対象物の温度を計測する工程と、
前記温度センサによる計測温度に基づいて、前記特定の波長を主成分とする光の照射を制御する工程と、
を有することを特徴とする検査方法。
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