JP2005298712A - 磁気記録テープ用ポリエステルフィルム及び磁気記録テープ - Google Patents
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Abstract
【課題】強磁性金属蒸着型磁気記録テープを、固定ヘッドによるリニアー記録の実用に供する。
【解決手段】ポリエステルフィルムの片側表面に微細粒子と有機化合物とを含有する被膜が形成され、当該被膜の表面における高さ120nm以上の表面欠陥個数が0.05〜0.9個/cm2であり、幅方向のヤング率が5700MPa以上であり、幅方向に対する長手方向のヤング率の比が0.75〜1であることを特徴とする磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
【選択図】 なし
【解決手段】ポリエステルフィルムの片側表面に微細粒子と有機化合物とを含有する被膜が形成され、当該被膜の表面における高さ120nm以上の表面欠陥個数が0.05〜0.9個/cm2であり、幅方向のヤング率が5700MPa以上であり、幅方向に対する長手方向のヤング率の比が0.75〜1であることを特徴とする磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
【選択図】 なし
Description
本発明は、磁気記録テープ用ポリエステルフィルム及び磁気記録テープに関する。
磁気記録テープは、録音・録画用途のみならず、コンピューターのハードディスクに記録されているデータのバックアップ用途としても用いられる。
当該用途の磁気記録テープの種類としては、サーバーコンピューター用に1/2インチ幅のDLTテープおよびLTOテープ、パーソナルコンピューター用に1/4インチ幅のQICデータカートリッジテープなどがある。
例えば特許文献1には、DLTテープやLTOテープのベースフィルムとして、厚み5〜6μmの、長手方向に強度の高いポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムを採用することが開示されている。
また例えば特許文献2には、当該用途の磁気記録テープのベースフィルムとして、ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルムを採用することが開示されている。
また例えば特許文献3には、当該用途の磁気記録テープの記録容量を更に増すために、ベースフィルムとして、ポリエステルフィルムの厚さを薄くして、少なくとも片面に補強用の金属薄膜が設けたものを採用して、1巻あたりの磁気テープ長さを増すことが開示されている。
コンピューターのハードディスクの記録容量は非常に速い速度で増大しており、そのデータのバックアップ用途の磁気記録テープにも、記録容量の更なる増大が望まれている。そのために、記録波長が短く、必要なトラック幅も狭くてすむ、Co等の強磁性金属薄膜を真空蒸着により記録層として設けた磁気記録テープ(以下、「強磁性金属蒸着型磁気記録テープ」とも呼ぶ。)の当該用途への適用が期待されている。
しかしながら、これらのベースフィルムにCo等の強磁性金属を真空蒸着により記録層として設けても、ベースフィルムの表面突起形状がそのまま磁気テープの磁性層表面形状となり磁気テープの表面粗さが粗くなり、電磁変換特性が大幅に不良となりコンピューターデータの記録は全く不可能である。
一方、録画用途のデジタルビデオカセット(DVC)テープは、強磁性金属蒸着型磁気記録テープとして実績がある。
例えば特許文献4には、DVCテープのベースフィルムとして、ポリエステルフィルムと、該フィルムの少なくとも片面に密着されたポリマーブレンド体と粒径50〜500オングストロームの微細粒子を主体とした不連続皮膜とからなり、該不連続皮膜には水溶性ポリエステル共重合体が含有され、微細粒子により不連続皮膜上に微細突起が形成されたポリエステルフィルムが開示されている。
しかし、DVCテープのテープ幅をあわせてDLTテープ、LTOテープ、QICテープに適用すると、磁気記録は可能なるも、データ保存の信頼性に問題があった。
コンピューターデータの記録用途においては、エラーレートを低くするために固定ヘッドにより長手方向に信号をリニアーにデジタル記録する方式が採用されるが、テープの長手方向の機械強度が低く、蒸着により設けた磁性金属薄膜層がベースフィルムより剥離し易くなるためと考えられる。
特開平9−235383号公報
米国特許5463015号明細書
特開平11−339251号公報
特公昭63−57238号公報
本発明は、強磁性金属蒸着型磁気記録テープを、固定ヘッドによるリニアー記録の実用に供することを目的とする。
すなわち本発明は、ポリエステルフィルムの片側表面に微細粒子と有機化合物とを含有する被膜が形成され、当該被膜の表面における高さ120nm以上の表面欠陥個数が0.05〜0.9個/cm2であり、幅方向のヤング率が5700MPa以上であり、幅方向に対する長手方向のヤング率の比が0.75〜1であることを特徴とする磁気記録テープ用ポリエステルフィルムである。
また本発明は、本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムの被膜面上にさらに磁性金属薄膜層を設けてなることを特徴とする磁気記録テープである。
本発明によれば、強磁性金属蒸着型磁気記録テープをリニアー記録の実用に供することが可能となり、ひいては近年の大容量化にも対応したハードディスクのバックアップが可能となる。
本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムを主として構成するポリエステルとしては、分子配向により高強度フィルムとなるものであればよいが、ポリエチレンテレフタレートやポリエチレン−2,6−ナフタレートが好ましい。その構成成分の80重量%以上がエチレンテレフタレート、又は、エチレンナフタレートであるものも好ましい。
また、ポリエチレンテレフタレートあるいはポリエチレン−2,6−ナフタレートが互いに共重合したものでもよいし、他の共重合成分を共重合したものでもよい。他の共重合成分としては例えば、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、ネオペンチルグリコール、ポリエチレングリコール、p−キシリレングリコール、1,4−シクロヘキサンジメタノールなどのジオール成分、アジピン酸、セバシン酸、フタル酸、イソフタル酸、5−ナトリウムスルホイソフタル酸などのジカルボン酸成分、トリメリット酸、ピロメリット酸などの多官能ジカルボン酸成分、p−オキシエトキシ安息香酸などが挙げられる。
さらに、上記のポリエステルは、他にポリエステルと非反応性のスルホン酸のアルカリ金属塩誘導体、該ポリエステルに実質的に不溶なポリアルキレングリコールなどを5重量%を越えない程度の少量ならば混合してもよい。
また、後述する、微細粒子と有機化合物とを含有する被膜を設ける側(以下、「A側」とも呼ぶ。)とは反対側(以下、「B側」とも呼ぶ。)に、粗めの粒子を含有するポリエステルの層を積層した構成とすることもできる。当該粒子としては例えば、炭酸カルシウム、シリカ、アルミナ、ポリスチレン、ポリシロキサン、ポリジメチルシロキサン等からなるものを用いることができる。また当該粒子の平均粒子径としては、100〜1000nmが好ましく、より好ましくは150〜900nmである。また当該粒子の当該ポリエステル層に対する添加量としては、0.05〜1.0重量%が好ましく、より好ましくは0.08〜0.8重量%である。
ポリエステルフィルムの片側(A側)には、微細粒子と有機化合物とを含有する被膜が形成されていることが重要である。被膜を設けることにより、テープの表面粗さを抑え、蒸着により記録層を設けても、良好な電磁変換特性を得ることが可能となる。
被膜を構成する微細粒子としては例えば、ポリアクリル酸、ポリスチレン、ポリエチレン、ポリエステル、ポリアクリル酸エステル、ポリメチルメタクリレート、ポリエポキシ樹脂、ポリ酢酸ビニル、アクリル−スチレン共重合体、アクリル系共重合体、各種の変成アクリル系樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体、各種の変成スチレン−ブタジエン共重合体等の有機化合物粒子、シリカ、アルミナ、炭酸カルシウム等の無機粒子を採用することができる。またこれらの微細粒子を核として、さらに有機高分子で被覆したものを採用することができる。微細粒子の核を被覆して微細粒子を形成する有機化合物としては、末端基がエポキシ、アミン、カルボン酸、水酸基等で変成された自己架橋性のものが好ましい。
微細粒子の平均粒径は5〜100nmであることが好ましく、より好ましくは8〜50nmである。5nm以上とすることで、磁気記録テープとしたときの金属薄膜層が平滑となりすぎて磁気記録テープの磁気ヘッドとの走行耐久性が低下するのを防ぐことができる。一方、100nm以下とすることで、磁気記録テープとしたときの金属薄膜層表面が粗れすぎて磁気テープのドロップアウトが増加するのを防ぐことができる。
被膜のマトリックスに使用される有機化合物としてはポリビニルアルコール、トラガントゴム、カゼイン、ゼラチン、セルロース誘導体、水溶性ポリエステル、ポリウレタン、アクリル樹脂、アクリル−ポリエステル樹脂、イソフタル酸エステル樹脂、メタクリル酸エステル樹脂等の有極性高分子、あるいはこれらのブレンド体が使用できる。
被膜の表面の、微細粒子による突起の個数は、300万〜9000万個/mm2であることが好ましく、より好ましくは800万〜7000万個/mm2である。300万個/mm2以上とすることで、磁気テープとしたときの金属薄膜層が平滑となりすぎて磁気記録テープの磁気ヘッドとの走行耐久性が低下するのを防ぐことができる。一方、9000万個/mm2以下とすることで、磁気記録テープとしたときの金属薄膜層の表面が粗れすぎて磁気テープのドロップアウトが増加するのを防ぐことができる。被膜の表面の、微細粒子による突起の個数は、被膜あるいはその塗液に対する微細粒子の添加量により調整することができる。微細粒子の添加量としては、被膜に対して1.0〜15.0重量%が好ましく、より好ましくは3.0〜10.0重量%である。
被膜の表面において、高さ120nm以上の表面欠陥個数が0.05〜0.9個/cm2であることが重要であり、好ましくは0.45個/cm2以下である。表面欠陥には、被膜の表面に外的に付けられる傷や、異物など内的のものによる突起などがあり、「高さ120nm以上の表面欠陥個数」は、後述する実施例にて定義される。高さ120nm以上の表面欠陥個数が0.9個/cm2を越えると、蒸着により形成される磁性金属薄膜層にも同様の表面欠陥が形成され、その部分への磁気記録が困難となり、その部分からの磁気記録の読みとりも困難となり、磁気記録テープの電磁変換特性が不良となる。高さ120nm以上の表面欠陥は少ない方が望ましいが、0.05個/cm2未満とする場合には、電磁変換特性の向上の効果が飽和してくる一方、使用原料の徹底的な異物減少、使用フィルターグレードの高性能化等、非常に管理基準を厳しくしなければならず、製造費用の大幅な上昇となるので、高さ120nm以上の表面欠陥は、0.05個/cm2以上とすることが好ましい。
また、ポリエステルフィルムのもう一方の片側(B側)には、シリコーン等の潤滑剤が含まれたより粗い被覆層を設けることも好ましい。当該「より粗い被覆層」は、前述の「粗めの粒子を含有するポリエステルの層」を設けない場合に代わりに設けるのが、特に有効である。
本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムは、幅方向のヤング率が5700MPa以上であることが重要であり、好ましくは6000MPa以上である。幅方向のヤング率が5700MPaを下回ると、温度変化に対する幅方向の寸法変化が大きくなり、磁気記録テープとした際、データ書き込み時とデータ読みとり時の温度差が大となった場合(例えば30℃を超えた場合)、固定ヘッドでのデータ読みとりエラーが頻発する。一方、幅方向のヤング率の上限としては6500MPa以下が好ましい。そうすることで、磁気記録テープとして高温度で(例えば40℃以上の温度で)放置しても、磁気テープが幅方向に縮んで固定ヘッドでのデータ読みとりエラーが発生しがちとなる傾向を抑えることができる。
本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムの厚みとしては、1メディア製品あたりの記憶容量を増やす観点から、10μm以下が好ましく、より好ましくは9.0μm以下である。一方、強度等を維持する観点からは、3.5μm以上が好ましい。
また本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムは、長手方向のヤング率が4950〜5500MPaであることが好ましい。4950MPa以上とすることで、リニアー記録用磁気テープドライブ内での走行時の引取張力が0.4Nを超える時でも磁気記録テープが伸びるのを抑え、磁性金属薄膜層がベースフィルムから剥離するのを防ぐことができる。また5500MPa以下とすることで、温度が上昇したときのポリエステル分子鎖の配向の緩和を抑え、すなわち温度の上昇に対する寸法変化が顕著に大となるのを抑えることができる。
また本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムは、幅方向に対する長手方向のヤング率の比(長手方向のヤング率/幅方向のヤング率)が0.75〜1.0であることが重要であり、好ましくは0.78〜0.9である。この範囲であることにより、磁気テープドライブ内での温度変化に対して、幅方向の寸法変化が長手方向の寸法変化に比べて大きくならず、磁気記録テープとした際、データ書き込み時とデータ読みとり時との温度差が大となった場合(例えば30℃を超えた場合)でも、固定ヘッドでのデータ読みとりエラーが発生しなくなる。0.75以上とすることで、温度変化に対する長手方向の寸法変化が大きくなりすぎるのを抑えることができ、すなわちデータの長手方向の記録位置が安定するので、読みとりエラーを抑えることができる。また1.0以下とすることで、温度に対する、幅方向のカールの発生を抑え、テープ磁性面と固定ヘッドとの良好な接触を得ることができる。
本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムは、長手方向の100℃での熱収縮率は0.4〜1%であることが好ましく、より好ましくは0.5〜0.9%である。また、幅方向の100℃での熱収縮率は0.3〜0.9%であることが重要であり、好ましくは0.4〜0.8%である。長手方向について1.0%以下、また幅方向について0.9%以下とすることで、磁気テープとしたときに高温度(例えば40℃以上の温度)で放置しておいた場合の、収縮にともなう読みとり位置の変動によるデータ読みとりエラーを防ぐことができる。一方、長手方向について0.4%以上、また幅方向について0.3%以上とすることで、温度変化にともなうカールや反りの発生によるデータ読みとりエラーを抑えることができる。
また、本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムは、B側の表面の算術平均粗さRa値が5〜40nmであることが好ましく、より好ましくは8〜30nmである。5nm以上とすることにより、ポリエステルフィルムを製膜し所定の幅にスリットする際、巻姿の良い製品を採取することができ、また、30nm以下とすることにより、本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムの被膜表面上に磁性金属薄膜を設けた際、巻取りにより表面Bの粗さが被膜面側に転写されて磁性金属薄膜層にうねり状の変形が起きることを最小限に抑えることができる。
次に、本発明の磁気記録テープは、本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムのA側に設けた被膜面上にさらに磁性金属薄膜層を設けてなる。
金属薄膜層としては例えば、鉄、コバルト、ニッケル、またはそれらの合金等の、強磁性体からなるものが好ましい。
金属薄膜層の厚さとしては、好ましくは20〜300nmである。20nm以上とすることで、磁気テープからの再生出力信号が弱すぎて記録信号が読みとれないということを防ぐことができる。300nm以下とすることで、再生出力信号が強すぎてヘッド読み取り信号強度が飽和し記録の読み取りが不可能となるのを防ぐことができる。
また、この金属薄膜上に10nm程度の厚みのダイヤモンド状カーボン膜をコーティングし、さらにその上に、潤滑剤を塗布したものであることも好ましい。
また本発明の磁気記録テープは、積層ポリエステルフィルムの層B側にバックコート層を設けることも好ましい。バックコート層は、固体微粒子および結合剤からなり、また必要に応じて各種添加剤を加えても良く、これらは公知のものを使用できる。バックコート層の厚さは0.3〜1.5μm程度が好ましい。
以下、本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムおよび磁気記録テープの製造方法の一例について説明する。
本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムの単成分の原料として、粒子等を可能な限り除いたポリエステルを用いる。例えば、A側に設ける被膜の表面における高さ120nm以上の表面欠陥個数を0.9個/cm2以下に抑えるにあたり、フィルム内の異物に起因する突起を0.8個/cm2以下とするには、直径0.6μm以上の異物を1個/mg以下にしたポリエステルを用いるとよい。あるいは、溶融押出しの際に溶融ポリエステルを、0.6μmカット(95%カット径)以上の性能を有する高精度フィルター内を通過させることにより、フィルム内の異物を減少させることも好ましい。
ポリエステルを溶融し、キャスティングドラム上で冷却固化して未延伸フィルムシートとし、これを二軸延伸する。
二軸延伸においては例えば、90〜120℃で、
縦方向に、縦延伸倍率(MS)3.2〜3.5倍で延伸し、
横方向に、横延伸倍率(TS1)3.5〜4.5倍で延伸し、
次いで190〜220℃で、
横方向に再横延伸倍率(TS2)1.0〜1.2倍で再横延伸とともに熱固定し、
次いで130〜190℃で幅方向に弛緩率(R)0.2〜1.5%程度に弛緩処理を施すとよい。
縦方向に、縦延伸倍率(MS)3.2〜3.5倍で延伸し、
横方向に、横延伸倍率(TS1)3.5〜4.5倍で延伸し、
次いで190〜220℃で、
横方向に再横延伸倍率(TS2)1.0〜1.2倍で再横延伸とともに熱固定し、
次いで130〜190℃で幅方向に弛緩率(R)0.2〜1.5%程度に弛緩処理を施すとよい。
一方向に延伸後のポリエステルフィルムの平滑なA側に、被膜の固形分を0.1〜6.0重量%、好ましくは0.3〜3.0重量%含む塗液を塗布して表面A側に被覆層を形成させ、表面Aに微細表面突起を形成する。
前述の温度、MS、TS1、TS2、Rを調整することによって、幅方向・長手方向のヤング率や熱収縮率を前述に規定するような所望の範囲内とすることができる。
例えば、長手方向と幅方向のヤング率の比を0.75〜1.0とするには、MS/(TS1×TS2)を0.75〜1.0に調整するとよい。
また幅方向の熱収縮率を小さくするには、Rを大きくするとよい。
また例えば、A側に設ける被膜の表面における高さ120nm以上の表面欠陥を0.9個/cm2以下に抑えるにあたり、表面の傷の個数を0.9個/cm2以下に収めるには、延伸ロール表面に存在する0.3μmを超える高さの傷の個数を、前記MS、TS1、TS2に対して0.9×(MS×TS1×TS2)(個/cm2)以下とすればよい。表面傷個数を安定に0.05個/cm2以下に収めるためには、前記ロール表面の傷の個数を0.05×(MS×TS1×TS2)(個/cm2)以下とし、更に延伸ロール表面を定期的に(例えば8時間毎に)清浄な水で湿した無塵布で清掃するとよい。
本発明の磁気記録テープの製造に際し金属薄膜は、真空蒸着により設けることができる。
またバックコート層は、B側にその溶液を塗布することにより設けることができる。
そして、所定のテープ幅に切断することにより、磁気記録テープとすることができる。
[測定方法]
(1)ポリエステルの固有粘度IV
オルソクロロフェノールを溶媒として25℃で測定した。
(1)ポリエステルの固有粘度IV
オルソクロロフェノールを溶媒として25℃で測定した。
(2)ポリエステル中の異物個数
ポリエステルのチップよりポリエステルを削りとり、その重量をmg単位で計測してから、これを加熱ステージ上のスライドグラス上に乗せ、融点以上の温度に加熱してポリエステルを溶融させ、溶融ポリエステルの上にカバーグラスをのせ、その後すみやかにこのスライドグラスを低温(15℃以下)の金属盤上に移し急冷させ、透明なポリエステル薄膜を調製した。ポリエステル薄膜の重量はmg単位で測定した。
ポリエステルのチップよりポリエステルを削りとり、その重量をmg単位で計測してから、これを加熱ステージ上のスライドグラス上に乗せ、融点以上の温度に加熱してポリエステルを溶融させ、溶融ポリエステルの上にカバーグラスをのせ、その後すみやかにこのスライドグラスを低温(15℃以下)の金属盤上に移し急冷させ、透明なポリエステル薄膜を調製した。ポリエステル薄膜の重量はmg単位で測定した。
透過型光学顕微鏡を用い、暗視野照明にて100倍の観察倍率で観察し、ポリエステル薄膜試料全体を観測し、異物がピカリと光り確認されたとき、その異物を中心として1000倍の倍率に拡大し、面積円相等径を求め、該径が0.6μmを超えるものをカウントした。カウントした異物個数総和を、ポリエステル試料重量で割った。試料数はn=5で測定し、平均値を求めた。
(3)フィルム上の微細表面突起の直径
走査型電子顕微鏡により5万倍の倍率でフィルム表面を5視野(1視野の面積は3.9μm2)観察し、各視野より突起状に見える突起をランダムに10個選び、それぞれ面積円相当径を求め、該径を各突起の直径とし、計50個の突起の直径の平均値をフィルム上の微細表面突起の直径とした。
走査型電子顕微鏡により5万倍の倍率でフィルム表面を5視野(1視野の面積は3.9μm2)観察し、各視野より突起状に見える突起をランダムに10個選び、それぞれ面積円相当径を求め、該径を各突起の直径とし、計50個の突起の直径の平均値をフィルム上の微細表面突起の直径とした。
(4)高さ120nm以上の表面欠陥個数
光学顕微鏡(観測倍率:100倍)を用いて、カットシートフィルム(10cm×10cm)のA側の被膜の表面を観察し、傷状および、表面に突き出した突起状の表面欠陥を観測しマーキングし、マーキングされたそれらの表面欠陥を、キーエンス社製のレーザー顕微鏡(表面形状測定顕微鏡 VF−7500)を用いてその高さが120nm以上であるか否かを確認し、高さ120nm以上の該当表面欠陥個数を数えた。
光学顕微鏡(観測倍率:100倍)を用いて、カットシートフィルム(10cm×10cm)のA側の被膜の表面を観察し、傷状および、表面に突き出した突起状の表面欠陥を観測しマーキングし、マーキングされたそれらの表面欠陥を、キーエンス社製のレーザー顕微鏡(表面形状測定顕微鏡 VF−7500)を用いてその高さが120nm以上であるか否かを確認し、高さ120nm以上の該当表面欠陥個数を数えた。
尚、磁気記録テープから表面欠陥個数を数える場合には、磁気記録した後に、磁性コロイド液(株式会社シグマハイケミカル製シグマーカーQ 合成イソパラフィン系炭化水素/マグネタイト(四三酸化鉄)88〜92重量%/8〜12重量%混合液体)を磁気記録テープの表面に塗布し、光学顕微鏡(観測倍率:100倍)により磁気記録が抜けたと観察される箇所をマーキングし、マーキングされたそれらの欠陥を、キーエンス社製のレーザー顕微鏡(表面形状測定顕微鏡 VF−7500)を用いてその高さが120nm以上であるか否かを確認し、高さ120nm以上の表面欠陥個数を数えることができる。観測したフィルム又は磁気テープの面積に、該当欠陥個数が何個存在するか確認し、1cm2あたりの表面欠陥個数に換算した。
(5)算術平均粗さRa値
原子間力顕微鏡(走査型プローブ顕微鏡)を用いて測定した。セイコーインスツルメント社製の卓上小型プローブ顕微鏡(Nanopics 1000)を用い、ダンピングモードでフィルムの表面を5μm角の範囲で原子間力顕微鏡計測走査を行い、得られる表面のプロファイル曲線よりJIS B0601 Raに相当する算術平均粗さよりRa値を求めた。面内方向の拡大倍率は2万倍、高さ方向の拡大倍率は100万倍程度とした。測定方向はフィルム幅方向とし、測定本数は256本とした。単位はnmで表示した。
原子間力顕微鏡(走査型プローブ顕微鏡)を用いて測定した。セイコーインスツルメント社製の卓上小型プローブ顕微鏡(Nanopics 1000)を用い、ダンピングモードでフィルムの表面を5μm角の範囲で原子間力顕微鏡計測走査を行い、得られる表面のプロファイル曲線よりJIS B0601 Raに相当する算術平均粗さよりRa値を求めた。面内方向の拡大倍率は2万倍、高さ方向の拡大倍率は100万倍程度とした。測定方向はフィルム幅方向とし、測定本数は256本とした。単位はnmで表示した。
(6)ヤング率
ASTM D−882−67に基づき、引張試験測定により得られる応力−ひずみ曲線におけるスタート点の立ち上がり勾配から求めた。サンプル幅は10mm、実効長さは100mm、引張速度は100mm/minとした。また、試料数は、各実施例・比較例の幅方向・長手方向のそれぞれについてn=5とした。
ASTM D−882−67に基づき、引張試験測定により得られる応力−ひずみ曲線におけるスタート点の立ち上がり勾配から求めた。サンプル幅は10mm、実効長さは100mm、引張速度は100mm/minとした。また、試料数は、各実施例・比較例の幅方向・長手方向のそれぞれについてn=5とした。
(7)100℃での熱収縮率
サンプル幅10mm、サンプル長さ20cmの試料に対して、10mm幅あたり3gの荷重をかけて、100℃のオーブン中で30分、熱処理し、原長に対する熱処理後の収縮率を、熱収縮率値とした。試料数は、各実施例・比較例の幅方向・長手方向のそれぞれについてn=5とした。
サンプル幅10mm、サンプル長さ20cmの試料に対して、10mm幅あたり3gの荷重をかけて、100℃のオーブン中で30分、熱処理し、原長に対する熱処理後の収縮率を、熱収縮率値とした。試料数は、各実施例・比較例の幅方向・長手方向のそれぞれについてn=5とした。
(8)磁気記録特性
各実施例・比較例で得た磁気記録テープのDLTカートリッジを用い、市販のDLT磁気テープドライブ(デル製DLT VS80)にてハードディスクより40GBのデータの、10℃での書き込みと、40℃での読み込みを100回ずつ繰り返し、初回のエラーレートと100回目のエラーレートとを測定した。
各実施例・比較例で得た磁気記録テープのDLTカートリッジを用い、市販のDLT磁気テープドライブ(デル製DLT VS80)にてハードディスクより40GBのデータの、10℃での書き込みと、40℃での読み込みを100回ずつ繰り返し、初回のエラーレートと100回目のエラーレートとを測定した。
[実施例1]
(ベースフィルム)
層Aの原料(原料A)として、実質的に異物を含有しない(直径0.6μm以上の異物個数が0.25個/mg)ポリエチレンテレフタレート(固有粘度0.66)を準備した。
(ベースフィルム)
層Aの原料(原料A)として、実質的に異物を含有しない(直径0.6μm以上の異物個数が0.25個/mg)ポリエチレンテレフタレート(固有粘度0.66)を準備した。
また層Bの原料(原料B)として、平均粒径300nmのケイ酸アルミニウムを0.50重量%添加したポリエチレンテレフタレート(固有粘度0.66)を準備した。
また層A側に被覆層を形成するための塗液(塗液C)として、下記組成・濃度の水溶液を調製した。
メチルセルロース(メトキシル基置換度1.8、分子量20000)
:0.10重量%
水溶性ポリエステル(テレフタル酸70モル%、5−ナトリウムスルホイソフタル酸30モル%の酸成分とエチレングリコールとの1:1の共重合体)
:0.25重量%
アミノエチルシランカップリング剤(3−アミノプロピルトリメトキシシラン)
:0.01重量%
微細粒子(平均粒径18nm(長径/短径比1.1、相対標準偏差0.1)のシリカ)
:0.02重量%。
メチルセルロース(メトキシル基置換度1.8、分子量20000)
:0.10重量%
水溶性ポリエステル(テレフタル酸70モル%、5−ナトリウムスルホイソフタル酸30モル%の酸成分とエチレングリコールとの1:1の共重合体)
:0.25重量%
アミノエチルシランカップリング剤(3−アミノプロピルトリメトキシシラン)
:0.01重量%
微細粒子(平均粒径18nm(長径/短径比1.1、相対標準偏差0.1)のシリカ)
:0.02重量%。
また層Bの表面に易滑被覆層を形成するための塗液(塗液D)として、下記組成・濃度の水溶液を調製した。
メチルセルロース(メトキシル基置換度1.8、分子量20000)
:0.30重量%
水溶性ポリエステル(テレフタル酸70モル%、5−ナトリウムスルホイソフタル酸30モル%の酸成分とエチレングリコールとの1:1の共重合体)
:0.40重量%
アミノエチルシランカップリング剤(3−アミノプロピルトリメトキシシラン)
:0.03重量%
ポリジメチルシロキサン(重合度100のジメチルポリシロキサン、202個中のメチル基のうちの2個をアミノ基にかえたもの)
:0.05重量%
原料Aと原料Bとを厚み比92:8の割合で共押出した。A,B合計の吐出量は、ポリエステルフィルムの全体の厚みが後述の目標値(8.0μm)となるように微調整した。また、原料Aの押し出し系には、0.6μmカット(95%カット径)の性能を有する高精度フィルターを設けた。
メチルセルロース(メトキシル基置換度1.8、分子量20000)
:0.30重量%
水溶性ポリエステル(テレフタル酸70モル%、5−ナトリウムスルホイソフタル酸30モル%の酸成分とエチレングリコールとの1:1の共重合体)
:0.40重量%
アミノエチルシランカップリング剤(3−アミノプロピルトリメトキシシラン)
:0.03重量%
ポリジメチルシロキサン(重合度100のジメチルポリシロキサン、202個中のメチル基のうちの2個をアミノ基にかえたもの)
:0.05重量%
原料Aと原料Bとを厚み比92:8の割合で共押出した。A,B合計の吐出量は、ポリエステルフィルムの全体の厚みが後述の目標値(8.0μm)となるように微調整した。また、原料Aの押し出し系には、0.6μmカット(95%カット径)の性能を有する高精度フィルターを設けた。
これを冷却ドラム上に、層Bが密着するようにしてシート化し、ロール延伸法で110℃で3.30倍に縦延伸した。
次いで、A層の表面に塗液Cを、メタリングバー方式にて塗布厚み4.0μmで塗布した。
また、B層の表面に塗液Dを、エアーナイフ方式にて塗布厚み2.5μmで塗布した。
その後、ステンターにて105℃で横方向に4.02倍に延伸し、215℃で熱処理を施すのと同時に1.02倍に再横延伸し、次いで150℃で0.6%の横方向の弛緩処理を施し、中間スプールに巻き、スリッターで小幅にスリットし、円筒コアーにロール状に巻取り、本発明の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムとして厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
製膜工程において、フィルムにふれるすべてのロールの表面傷は傷の高さが0.3μmを超えないように管理した。またすべてのロールの表面は純水で湿した無塵布で8時間毎に清掃した。
(磁気記録テープ)
得られたベースフィルムの層A側の被膜の表面に、強磁性金属薄膜層として、真空蒸着によりコバルト−酸素薄膜を150nmの膜厚で形成した。
得られたベースフィルムの層A側の被膜の表面に、強磁性金属薄膜層として、真空蒸着によりコバルト−酸素薄膜を150nmの膜厚で形成した。
次に、コバルト−酸素薄膜層上に、スパッタリング法によりダイヤモンド状カーボン膜を8nmの厚さで形成させ、フッ素含有脂肪酸エステル系潤滑剤(分子量約500のフッ化エチレン含有ポリエチレングリコールステアリン酸エステル)を2nmの厚さで塗布した。
続いて、表面B上に、カーボンブラック(粒子径23nm、比表面積130m2/mg)、共重合ポリエステル樹脂(ウレタン変成共重合ポリエステル、分子量4万、Tg80℃)、シリコーン(重合度100のジメチルポリシロキサン、メチル基202個中の2個をアミノ基にかえたもの)を重量比率100:50:2としてなるバックコート層を500nmの厚さで設けた。
これを、スリッターにより幅12.65mmにスリットし、600mの巻長さでリールに巻き取り、記録容量40GBの磁気記録テープ(DLTカートリッジテープ)を作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例2]
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子を平均粒径12nm(長径/短径比1.1、相対標準偏差0.1)のものに変更し、また、原料A,Bの合計の吐出量を調整し、その他は実施例1と同様にして、厚さ6.3μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子を平均粒径12nm(長径/短径比1.1、相対標準偏差0.1)のものに変更し、また、原料A,Bの合計の吐出量を調整し、その他は実施例1と同様にして、厚さ6.3μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用い、リールへの巻長さを760mとした以外は実施例1と同様にして、記録容量50GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例3]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bのポリエチレンテレフタレートをポリエチレン−2,6−ナフタレート(固有粘度IV0.68)に変更し、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸温度を135℃とし、また横延伸温度を135℃とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ4.8μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bのポリエチレンテレフタレートをポリエチレン−2,6−ナフタレート(固有粘度IV0.68)に変更し、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸温度を135℃とし、また横延伸温度を135℃とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ4.8μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用い、リールへの巻長さを1000mとした以外は実施例1と同様にして、記録容量67GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は14nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は14nmであった。
[実施例4]
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子を平均粒径4nm(長径/短径比1.1、相対標準偏差0.1)のものとし、また原料A,Bの合計の吐出量を調整し、その他は実施例1と同様にして、厚さ6.3μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子を平均粒径4nm(長径/短径比1.1、相対標準偏差0.1)のものとし、また原料A,Bの合計の吐出量を調整し、その他は実施例1と同様にして、厚さ6.3μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用い、リールへの巻長さを760mとした以外は実施例1と同様にして、記録容量50GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は11nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は11nmであった。
[実施例5]
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子を平均粒径100nmのポリスチレン球にかえ、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。、幅12.65mmのDLTテープを作成した。
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子を平均粒径100nmのポリスチレン球にかえ、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。、幅12.65mmのDLTテープを作成した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例6]
実施例1のベースフィルム製造において、塗液Cの塗布厚みを1.0μmとし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルム製造において、塗液Cの塗布厚みを1.0μmとし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は11nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は11nmであった。
[実施例7]
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子の濃度を0.037重量%とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、塗液Cのシリカ微細粒子の濃度を0.037重量%とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のB面のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のB面のRa値は12nmであった。
[実施例8]
実施例1の磁気記録テープの製造において、コバルト−酸素薄膜を250nmの膜厚で形成し、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムと記録容量40GBのDLTテープを作製した。
実施例1の磁気記録テープの製造において、コバルト−酸素薄膜を250nmの膜厚で形成し、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムと記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例9]
実施例1の磁気テープの製造において、コバルト−酸素薄膜を10nmの膜厚で形成し、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムと記録容量40GBのDLTテープを作製した。
実施例1の磁気テープの製造において、コバルト−酸素薄膜を10nmの膜厚で形成し、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムと記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例10]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.0倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.0倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例11]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.7倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.7倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のB面のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のB面のRa値は12nmであった。
[実施例12]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、横延伸倍率(TS1)を4.6倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、横延伸倍率(TS1)を4.6倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例13]
実施例1のベースフィルムの製造において、弛緩処理比率を0.1%とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、弛緩処理比率を0.1%とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[実施例14]
実施例1のベースフィルムの製造において、弛緩処理比率を1.9%とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、弛緩処理比率を1.9%とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[比較例1]
実施例1のベースフィルムの製造において、縦延伸に用いる延伸ロールに、その表面に高さが0.4μm程度の傷が100cm2あたり1300個程度入っているものを用い、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、縦延伸に用いる延伸ロールに、その表面に高さが0.4μm程度の傷が100cm2あたり1300個程度入っているものを用い、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[比較例2]
実施例1のベースフィルムの製造において、異物個数が1.5個/mgの原料Aを用い、またその押し出し系に設けたフィルターの異物カット性能を2.0μmカット(95%カット径)とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、異物個数が1.5個/mgの原料Aを用い、またその押し出し系に設けたフィルターの異物カット性能を2.0μmカット(95%カット径)とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[比較例3]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、横延伸倍率(TS1)を3.4倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、横延伸倍率(TS1)を3.4倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[比較例4]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.2倍(TS1)、また再横延伸倍率(TS2)を1.15倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.2倍(TS1)、また再横延伸倍率(TS2)を1.15倍とし、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
[比較例5]
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.8倍、横延伸倍率(TS1)を3.5倍とし、再横延伸を省略し、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
実施例1のベースフィルムの製造において、原料A,Bの合計の吐出量を調整しつつ、縦延伸倍率(MS)を3.8倍、横延伸倍率(TS1)を3.5倍とし、再横延伸を省略し、その他は実施例1と同様にして、厚さ8.0μmのベースフィルムを得た。
次いで、このベースフィルムを用いた以外は実施例1と同様にして、記録容量40GBのDLTテープを作製した。
得られたベースフィルム及び磁気記録テープの特性を表1、表2に示す。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
またベースフィルムのB側表面(すなわち易滑被覆層の表面)のRa値は12nmであった。
表1、表2の特性から明らかな様に、本発明によるポリエステルフィルムを用いて製造されたDLTテープは、書き込み時と読み込み時の温度が大きく異なる場合でもエラーレートが低く高品質のDLTテープとなった。厚みの薄いテープでは記録容量の増大が確認できた。
本発明は、エラーレートの低いリニアー記録方式で大容量の記録が可能な蒸着型磁気記録テープに好適である。また、リニアー記録用大容量塗布型磁気記録テープ、回転ヘッドによりテープ長手方向にヘリカルにデジタル記録可能な大容量磁気記録テープなどにも応用することができる。
Claims (10)
- ポリエステルフィルムの片側表面に微細粒子と有機化合物とを含有する被膜が形成され、当該被膜の表面における高さ120nm以上の表面欠陥個数が0.05〜0.9個/cm2であり、幅方向のヤング率が5700MPa以上であり、幅方向に対する長手方向のヤング率の比が0.75〜1であることを特徴とする磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
- ポリエステルフィルムを形成するポリエステルがポリエチレンテレフタレートまたはポリエチレン−2,6−ナフタレートを含む、請求項1記載の磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
- 被膜の微細粒子の平均粒径が5〜100nmである、請求項1または2記載の磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
- 被膜の表面の微細粒子による突起の個数が300万〜9000万個/mm2である、請求項1〜3のいずれか記載の磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
- 長手方向のヤング率が4950〜5500MPaである請求項1〜4のいずれか記載の磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
- 長手方向の100℃での熱収縮率が0.4〜1%であり、幅方向の100℃での熱収縮率が0.3〜0.9%である請求項1〜5のいずれか記載の磁気記録テープ用ポリエステルフィルム。
- 請求項1〜6のいずれか記載の磁気記録テープ用ポリエステルフィルムの被膜面上にさらに磁性金属薄膜層を設けてなることを特徴とする磁気記録テープ。
- 磁性金属薄膜層が強磁性金属からなる、請求項7記載の磁気記録テープ。
- 磁性金属薄膜層の厚みが20〜300nmである、請求項7または8記載の磁気記録テープ。
- 磁気記録信号が固定ヘッドによりテープ長手方向に対してリニアーにデジタル記録される請求項7〜9のいずれか記載の磁気記録テープ。
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ID=35330645
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Country Status (1)
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---|---|---|---|---|
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