JP2005285207A - 書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

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【課題】
新たな記録ヘッドや記録方式を必要とすることなく、現行の記録ヘッドで書き込みができる、書き込み容易な、外部磁場による擾乱に極めて安定な高保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体の製造方法を提供する。
【解決手段】
表面温度が650℃〜850℃である基板上に、スパッタ法によりL10構造を有する
FePt磁性薄膜を成膜し、前記FePt磁性薄膜に4KOe〜10KOeの磁場を印加して40KOe以上の保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体を得る。
【選択図】 図9

Description

この出願の発明は、書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法に関するものである。さらに詳しくは、この出願の発明は、書き込みが容易で、一旦書き込めば外部磁場による擾乱により容易に消去されない高い保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体の製造方法に関するものである。
情報化社会の発展にともない大量の情報を処理・記憶することのできる超高密度磁気記録媒体の開発が切望されている。記録媒体の高密度化には10nm以下の強磁性微粒子を非磁性マトリックス中に均一に分散させる必要がある。しかし、現行のCoCr基媒体では、微粒子のサイズが10nm以下になると熱擾乱により磁化反転が起こる。一方、L10構造を有するFePt規則相はCoCr基合金よりも1桁大きい7×107erg/ccもの大きな異方性を有するため、ナノサイズの超微細粒子であっても熱擾乱により磁化反転を起こさない。このため次世代の超高密度磁気記録媒体として期待されている。本発明者らは、この材料で結晶配向させた孤立単磁区粒子を分散させることにより、簡便なプロセスで40kOe以上の高い保磁力を持つ高配向磁性薄膜の製造方法(特許文献1)を提案している。また、この材料で単磁区粒子を作製することによって、保磁力が120kOeにも達すると理論的に考えられており、実験的には約70kOeの大きな保磁力が実現されている。
特開2003−289005号公報
しかしながら、高保磁力を有する上記のような単磁区微粒子の媒体を記録媒体に応用した場合、情報の書き込み(磁化の反転)に対して50kOe以上の大きな磁場が必要となる。現在のところ、このような大きな磁場を発生させることのできる書き込み用磁気ヘッドの開発はされていない。また、別の記録方式として、記録媒体をレーザー光などで局所的に加熱することにより、キュリー温度付近まで磁性体の温度を上昇させ、保磁力が小さくなったところで書き込みを行う熱アシスト型磁気記録などの光磁気記録の技術が提案されている。しかし、この技術は現在開発中であり、未だ実用化には至っていない。
そこで、この出願の発明は、以上の通りの背景から、新たな記録ヘッドや記録方式を必要とすることなく、現行の記録ヘッドで書き込みができる、書き込み容易な、外部磁場による擾乱に極めて安定な高保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体の製造方法を提供することを課題としている。
表面温度が650℃〜850℃である基板上に、スパッタ法によりL10構造を有する
FePt磁性薄膜を成膜し、前記FePt磁性薄膜に4KOe〜10KOeの磁場を印加して40KOe以上の保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体を得ることを特徴とする書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法を提供する。
第2には、基板上に成膜されるFePt磁性薄膜の膜厚が、25nm〜40nmであることを特徴とする書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法を提供する。
第3には、FePt磁性薄膜におけるFePt相の合金組成がFe1-xPtx(0.4<x<0.6)であることを特徴とする書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法を提供する
第4には、FePt磁性薄膜を成膜する基板が、MgO(001)、NaCl(001)、GaAs(001)、およびSi(001)のうちのいずれから選択されることを特徴とする書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法を提供する。
第5には、FePt磁性薄膜を成膜する基板がガラス製であり、FePt磁性薄膜の下地層としてMgO、ZnO、Cr、Ptのうちのいずれから選択されることを特徴とする書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法を提供する。
この出願の第1の発明によれば、新たな記録ヘッドや記録方式を必要とすることなく、現行の記録ヘッドで書き込みができる、書き込み容易な、外部磁場による擾乱に極めて安定な高保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体を得ることができる。
第2の発明によれば、上記第1の発明の効果とともに、磁気的に孤立した微粒子構造のFePt磁性薄膜とすることができ、微粒子内に磁壁を導入することができる。
第3の発明によれば、上記第2の発明の効果とともに、磁気記録媒体用の合金として重要な、FePt相が安定に存在できる特定の構成のものが実現される。
第4、第5の発明によれば、上記第3の発明の効果とともに、格子のミスフィットが小さい基板上にエピタキシャル成長させることにより、より高い規則度およびより大きい膜面垂直方向に一軸磁気異方性を有するL10構造のFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒
体とすることができる。
この出願の発明は、上記のとおりの特徴をもつものであるが、以下、さらに詳しく発明の実施の形態について説明する。
この出願の発明は、表面温度が650℃〜850℃である基板上に、スパッタ法によりFePt磁性薄膜を成膜し、前記FePt磁性薄膜に4KOe〜10KOeの磁場を印加して40KOe以上の保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体の製造方法である。
この出願の発明では、薄膜が(1)核生成→(2)島状→(3)連続状という初期成長過程を経て成長することに着目し、基板温度を上昇させて原子拡散の活発な温度領域において、基板上にFePt磁性薄膜をスパッタ成膜するものである。工業的に広く用いられているスパッタ法や蒸着法などの気相急冷法などによりFePt磁性薄膜を成膜すると、磁気異方性の小さい不規則相であるfcc合金相のFePt磁性薄膜が形成されることになる。完全に規則化したFePt微粒子を島状に成長させるためには、スパッタ成膜時の基板の表面温度を650℃〜850℃にする必要がある。これによって、L10構造を有
するFePt磁性薄膜とすることができ、FePt微粒子は島状となって形成される。
また、基板とエピタキシャル成長させることにより、膜面に垂直方向に一軸磁気異方性を有するL10構造を持つFePt磁性薄膜が得られる。
このFePt磁性薄膜を、4KOe〜10KOeの低磁場で印加すると、FePt微粒子の磁壁移動により容易に磁化反転がおこる。一旦磁化反転が起こると、40KOe以上の保磁力を備えることになり、印加磁場の方向を逆向きにしても磁化反転が起こりにくく
なる。このため、このFePt磁性薄膜を磁気記録層とした磁気記録媒体は、書き込みが容易で、外部磁場による擾乱に極めて安定な、高保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体を得ることになる。
低磁場印加で高保磁力を示すFePt磁性薄膜を得るには、島状のFePt微粒子中に磁壁を導入する必要があるため、FePt磁性薄膜の膜厚を25nm〜40nmとなるようにスパッタ成膜されることが好ましい。
スパッタリングそのもののプロセスについては公知のものをはじめとして各種の装置や条件を適宜に採用することができる。ターゲットとしても、たとえば合金を構成する各々の純金属を用いた同時スパッタリングでもよく、組成が予備的に調整された合金ターゲットを用いてもよい。
基板上に成膜されるFePt磁性薄膜のFePt相の合金組成は、Fe1-xPtx(0.4<x<0.6)となるように成膜を行うことが好ましい。合金組成比をこの範囲に設定したとき、成膜されるFePt磁性薄膜は、高い一軸磁気異方性定数を示し、極めて高い保磁力が得られる。
さらに、この出願の発明は、基板の結晶配向の制御を行うことで、基板上に成膜される合金薄膜に磁気異方性を付与する。すなわち、エピタキシャル成長可能な、格子のミスフィットが小さい基板として、NaCl(001)、GaAs(001)、および、Si(001)のうちのいずれかから選択することで、磁化容易軸をより高い規則度で垂直方向に配向させることが可能となる。また、基板がガラス製の場合には、FePt磁性薄膜の下地層としてMgO、ZnO、Cr、Ptのうちのいずれから選択することで、磁化容易軸を垂直方向に配向させることも可能となる。
以上より、この出願の発明は、低磁場で一旦磁化反転すると容易に磁化反転が起こりにくくなり、外部磁場による擾乱に極めて安定な高保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体を製造することができる。この磁気記録媒体は、新たな記録ヘッドや記録方式を必要とすることなく、現行の記録ヘッドで書き込みができ、一旦書き込めば外部磁場による擾乱により容易に消去されることはない。
この出願の発明は、以上の特徴を持つものであるが、以下に実施例を示し、さらに具体的に説明する。
<実施例1>
MgO(001)単結晶基板上に、高純度(99.99%)のFeとPtの共ターゲットを用いて、マルチDCスパッタ装置において、FePt磁性薄膜を成膜し、磁気記録媒体を得た。基板温度は780℃とし、FePt磁性薄膜の膜厚を25nmとした。真空圧は〜6.0×10-7Paに排気し、0.1PaのArガスを導入した。
図1には、FePt磁性薄膜の面内の電子顕微鏡像(TEM)を示す。FePtの微粒子の形状が島状になっていることが確認され、個々の島はお互いに孤立していることから、これらは磁気的にも孤立した粒子であると考えられる。平均粒子サイズは約200nm程度であることが観察された。制限視野電子回折像からは、FePtはMgO単結晶基板上にエピタキシャル成長をしており、なおかつc軸が面直に向いていることがわかる。
図2には、FePt磁性薄膜の断面の電子顕微鏡像(TEM)を示す。この図から、ほとんどのFePtの微粒子は約25nmと同じ高さを示し、粒子の形状はテーブル状、す
なわちメサ形状を示していることがわかる。
図3には、FePt磁性薄膜の断面の高分解能電子顕微鏡像(HREM)を示す。L10構造の[001]方向、すなわち膜面垂直方向にFeおよびPtが交互に積層したコント
ラストが観察される。また、双晶や結晶粒界などの構造欠陥はみられず、粒子の表面は原子オーダーで平坦であることがわかる。
図4(a)(b)から図8(a)(b)には、FePt磁性薄膜の磁化曲線を示す。FePt磁性薄膜に最初に印加する磁場を+2kOe(図4(a)(b))、+3kOe(図5(a)(b))、+4kOe(図6(a)(b))、+5kOe(図7(a)(b))、+6kOe(図8(a)(b))と徐々に増加させ、その後、逆方向に磁場を印加したものである。各図(a)は全体図であり、(b)は、(a)の低磁場部分の拡大図である。最初に印加する磁場が+2kOe(図4(a)(b))、+3kOe(図5(a)(b))のときは、−数kOeの磁場において磁場が容易に反転することがわかる。+4kOe(図6(a)(b))の印加磁場では、プラスに方向に磁化されたFePt粒子が容易に反転しなくなり、保磁力が50kOeを示すようになる。さらに印加磁場を、+5kOe(図7(a)(b))、+6kOe(図8(a)(b))と増加させると、ほとんどのFePt粒子が磁化されるようになることがわかる。ここで、一度磁化したFePt粒子はSQUIDの印加磁場である55kOeでは反転せず、結果として非対称な磁化曲線を示す(図8(a)(b))。
図9には、FePt磁性薄膜の最初に印加した磁場に対して得られる保磁力を示す。試料は同一のものである。この図から、+3kOeまでの印加磁場では、保磁力は数kOe程度しか得られないが、+4kOe以上の印加磁場では、ほぼ50kOeに達しており、磁気記録媒体に一旦書き込みすると容易に消去されないことを示している。
<実施例2>
実施例1と同様にして、780℃のMgO(001)単結晶基板上に膜厚10nm〜40nmのFePt磁性薄膜を成膜し、磁気記録媒体を得た。
図10は、膜厚10nm,20nm,30nm,40nmのFePt磁性薄膜の磁化曲線を示す。この図から、各膜厚でのFePt磁性薄膜の保磁力は50kOe程度と非常に大きく、磁気記録媒体に一旦書き込みすると容易に消去されないことを示している。
図11は、膜厚25nm,30nm,40nmのFePt磁性薄膜の初磁化曲線を示す。この図から、低い磁場で書き込みができることがわかる。
この出願の発明は以上の例に限定されるものではなく、細部については様々な態様が可能であることは言うまでもない。
基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜の面内の電子顕微鏡像(TEM)である。 基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜の断面の電子顕微鏡像(TEM)である。 基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜の断面の高分解能電子顕微鏡像(HREM)である。 (a)基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜に、最初に印加する磁場を+2kOeとしたときの磁化曲線の全体図である。(b)(a)の低磁場部分を拡大した図である。 (a)基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜に、最初に印加する磁場を+3kOeとしたときの磁化曲線の全体図である。(b)(a)の低磁場部分を拡大した図である。 (a)基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜に、最初に印加する磁場を+4kOeとしたときの磁化曲線の全体図である。(b)(a)の低磁場部分を拡大した図である。 (a)基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜に、最初に印加する磁場を+5kOeとしたときの磁化曲線の全体図である。(b)(a)の低磁場部分を拡大した図である。 (a)基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜に、最初に印加する磁場を+6kOeとしたときの磁化曲線の全体図である。(b)(a)の低磁場部分を拡大した図である。 基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25nmFePt磁性薄膜の最初に印加した磁場に対して得られる保磁力を示した図である。 基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚10〜40nmのFePt磁性薄膜の磁化曲線である。 基板温度を780℃としてMgO単結晶基板上に作製された膜厚25〜40nmのFePt磁性薄膜の初磁化曲線である。

Claims (5)

  1. 表面温度が650℃〜850℃である基板上に、スパッタ法によりL10構造を有する
    FePt磁性薄膜を成膜し、前記FePt磁性薄膜に4KOe〜10KOeの磁場を印加して40KOe以上の保磁力を有するFePt磁性薄膜を備えた磁気記録媒体を得ることを特徴とする書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法。
  2. 基板上に成膜されるFePt磁性薄膜の膜厚が、25nm〜40nmであることを特徴とする請求項1に記載の書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法。
  3. FePt磁性薄膜におけるFePt相の合金組成がFe1-xPtx(0.4<x<0.6)であることを特徴とする請求項1または2に記載の書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法。
  4. FePt磁性薄膜を成膜する基板が、MgO(001)、NaCl(001)、GaAs(001)、およびSi(001)のうちのいずれから選択されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法。
  5. FePt磁性薄膜を成膜する基板がガラス製であり、FePt磁性薄膜の下地層としてMgO、ZnO、Cr、Ptのうちのいずれから選択されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の書き込み容易な磁気記録媒体の製造方法。
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