JP2005274925A - ピント調整方法、ピント調整装置 - Google Patents

ピント調整方法、ピント調整装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005274925A
JP2005274925A JP2004087580A JP2004087580A JP2005274925A JP 2005274925 A JP2005274925 A JP 2005274925A JP 2004087580 A JP2004087580 A JP 2004087580A JP 2004087580 A JP2004087580 A JP 2004087580A JP 2005274925 A JP2005274925 A JP 2005274925A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
imaging surface
lens unit
unit
focus adjustment
focus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004087580A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhisa Miyata
靖久 宮田
Masahiro Nakabashi
正洋 中橋
Mitsuhiro Kanakubo
光宏 金久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pioneer Corp
Pioneer FA Corp
Original Assignee
Pioneer FA Corp
Pioneer Electronic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pioneer FA Corp, Pioneer Electronic Corp filed Critical Pioneer FA Corp
Priority to JP2004087580A priority Critical patent/JP2005274925A/ja
Priority to CNA200510058906XA priority patent/CN1673792A/zh
Priority to US11/087,738 priority patent/US20050212951A1/en
Publication of JP2005274925A publication Critical patent/JP2005274925A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/001Miniaturised objectives for electronic devices, e.g. portable telephones, webcams, PDAs, small digital cameras
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/62Optical apparatus specially adapted for adjusting optical elements during the assembly of optical systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • H04N23/671Focus control based on electronic image sensor signals in combination with active ranging signals, e.g. using light or sound signals emitted toward objects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

【課題】 MTFによるピント調整と同等の精度及び撮像面の全体に対するピント調整評価が可能で、ピント調整のための装置を小型化できる。
【解決手段】 ピント調整装置は、レーザビーム照射部11,ビームスポット面積計測部12,レンズユニット調整部13を備える。レーザビーム照射部11は、1本の平行光レーザビームLB1をレンズユニット2の中央部分に照射して撮像面1Aの中央付近に集光させると共に、複数本の平行光レーザビームLB2〜LB5をレンズユニット2の中央部分に斜めに照射して撮像面1Aの周辺付近に集光させる。ビームスポット面積計測部12は、平行光レーザビームLB1〜LB5の集光によって撮像面1A上に形成された複数のビームスポットs1〜s5の面積を撮像素子1の出力を画像処理することによって計測する。レンズユニット調整部13は、レンズユニット2の撮像面1Aに対する距離と姿勢の一方又は両方が調整できる機構を備えている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ピント調整方法、ピント調整装置に関するものである。
CCD等の撮像素子とレンズユニットとのピント調整は各種の画像入力装置等で必要になるが、特に、カメラモジュールの製造において重要な工程である。カメラモジュールは、CCD等の撮像素子が実装された基板と撮像用のレンズユニットとを一体化した部品であって、デジタルカメラは勿論のこと、カメラ機能付きの各種携帯型電子機器(携帯電話、携帯型PC、PDA等)に搭載されている。このカメラモジュールを製造する際には、レンズユニットを撮像素子の撮像面にピント調整しながら保持し、ピント調整された状態でレンズユニットと撮像素子基板とを一体化に固定することがなされている。
このようなカメラモジュールの製造においてレンズユニットのピント調整を行う方法としては、撮像面の中心部分だけでなく、撮像面の四隅で全体的にピントが合った状態にすることが望まれ、また、レンズから離れた位置にある被写体を撮像面に結像させることができるようなピント合わせが行われている。このために従来は、中央部と四隅にチャート部を有するテストチャートを用いて、レンズユニットをスキャンしながらこのテストチャートを撮像し、この撮像のMTFを各チャート部のチャート像毎に算出することによって、最適なピント位置を検出することが行われていた(下記特許文献1参照)。
特開2002−267923号公報
近年の携帯電子機器に搭載されるカメラモジュールは、小型でありながらも高精細な画像を撮影できることが望まれており、高い分解能を有する撮像素子が採用されることが多くなっている。そして、このような高い分解能を有する撮像素子に対して、従来のMTFによるピント調整を適切な精度で且つ前述の要求に適うように行うためには、チャートを大きくしてレンズユニットからかなり離さざるを得ないことになる。実際に、2メガピクセルクラスの撮像素子に対してピント調整を行う際には、2m□サイズのテストチャートをレンズユニットから2m離した状態でピント調整の作業を行っている。これによると、テストチャートを保持する機構などを含めてピント調整のための装置が巨大化してしまい、大きな作業スペースが必要になるという問題が生じる。また、撮像素子の検出光量に基づく簡易なピント調整方法等はあるが、前述したMTFによるピント調整に比べると精度が悪く、また撮像面全体に対して充分なピント合わせ状態の評価を行うことができないという問題がある。
本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、カメラモジュール等におけるピント調整方法及びピント調整装置において、従来のMTFによるピント調整と同等の精度及び撮像面の全体に対するピント調整評価が可能であること、遠距離にある被写体に対して良好なピント合わせが可能であること、更には、ピント調整のための装置を小型化できること、等が本発明の目的である。
このような目的を達成するために、本発明は、以下の各独立請求項に係る構成を少なくとも具備するものである。
[請求項1]撮像素子の撮像面に対してレンズユニットのピント位置を調整するピント調整方法において、1本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に照射して前記撮像面の中央付近に集光させると共に、複数本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に斜めに照射して前記撮像面の周辺付近に集光させる手順と、前記平行光レーザビームの集光によって前記撮像面上に形成された複数のビームスポットの面積を計測する手順と、前記複数のビームスポットの面積に基づいて、前記レンズユニットの前記撮像面に対する距離と姿勢の一方又は両方を調整する手順と、を有することを特徴とするピント調整方法。
[請求項5]撮像素子の撮像面に対してレンズユニットのピント位置を調整するピント調整装置において、1本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に照射して前記撮像面の中央付近に集光させると共に、複数本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に斜めに照射して前記撮像面の周辺付近に集光させるレーザビーム照射手段と、前記平行光レーザビームの集光によって前記撮像面上に形成された複数のビームスポットの面積を前記撮像素子の出力を画像処理することによって計測するビームスポット面積計測手段と、前記ビームスポット面積計測手段の計測結果に基づいて、前記レンズユニットの前記撮像面に対する距離と姿勢の一方又は両方が調整可能なレンズユニット調整手段とを備えることを特徴とするピント調整装置。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施形態に係るピント調整装置を示す説明図である。本発明の実施形態に係るピント調整装置は、レーザビーム照射部(レーザビーム照射手段)11、ビームスポット面積計測部(ビームスポット面積計測手段)12、レンズユニット調整部(レンズユニット調整手段)13を備えるものであって、撮像素子1の撮像面1Aに対してレンズユニット2のピント位置を調整するものである。
レーザビーム照射部11は、1本の平行光レーザビームLB1をレンズユニット2の中央部分に照射して撮像面1Aの中央付近に集光させると共に、複数本の平行光レーザビームLB2〜LB5をレンズユニット2の中央部分に斜めに照射して撮像面1Aの周辺付近に集光させるものである。平行光レーザビームLB2〜LB5を形成するために、このレンズ照射部11は、レーザ光源L1〜L5とこのレーザ光源L1〜L5から出射したレーザビームを平行光にするコリメータレンズC1〜C5とを備えている。
ビームスポット面積計測部12は、平行光レーザビームLB1〜LB5の集光によって撮像面1A上に形成された複数のビームスポットs1〜s5の面積を撮像素子1の出力を画像処理することによって計測するものである。
具体的には、このビームスポット面積計測部12では、撮像素子1からの出力が撮像素子ドライバ等を有する画像取り込み部12Aに取り込まれ、その出力が画像処理機能を有する演算処理装置12Bに送られて、この演算処理装置12Bでビームスポット面積を計測する画像処理がなされる。また、演算処理装置12Bにはモニタ装置(モニタ手段)12Cが接続されており、演算処理装置12Bによって求められたビームスポット面積の計測結果が逐次モニタ装置12Cの表示画面に出力されるようになっている。
レンズユニット調整部13は、レンズユニット2の撮像面1Aに対する距離と姿勢(レンズの煽り)の一方又は両方が調整できる機構を備えている。このレンズユニット調整部13による調整を行うと、設定された平行光レーザビームL1〜L5の状態に対して前述のビームスポットs1〜s5の面積が調整に応じて変化するが、ビームスポット面積計測部12ではこの調整に応じた計測結果をモニタ装置12Cに表示できるようにしている。
これによって、ビームスポットs1〜s5の面積の計測結果をモニタ装置12Cで確認しながらレンズユニット調整部13の調整操作を行うことによって、レンズユニット2のピント位置をマニアル調整することができる。また、演算処理装置12Cに、計測結果が最適化されるようにレンズユニット調整部13を調整する調整制御機能を加えて、この演算処理装置12Cからの出力によってレンズユニット調整部13を自動調整可能にすることもできる。
このようなピント調整装置を用いたピント調整方法を説明すると、基本的には、レンズユニット2に入射した全ての平行光レーザビームLB1〜LB5が撮像面1A上で点状に集光されるようにピント調整が行われる。これによって無限遠の被写体が撮像面に結像する状態にレンズ位置を設定することができる。
具体的には、レーザビーム照射部11によって、1本の平行光レーザビームLB1をレンズユニット2の中央部分に照射して撮像面1Aの中央付近に集光させると共に、4本の平行光レーザビームLB2〜LB5をレンズユニット2の中央部分に斜めに照射して撮像面1Aの四隅に集光させる。
そして、ビームスポット面積計測部12によって、平行光レーザビームLB1〜LB5の集光によって撮像面1A上に形成された複数のビームスポットs1〜s5の面積を計測し、この計測結果をモニタ手段12Cの画面に表示させる。
図2は、その表示形態の一例を示したものである。同図(a)は、撮像面1Aに対応した表示画面の領域を形成して、その領域に撮像面1A全体の出力状態を表示させたものである。これによると、この表示領域には、中央にビームスポットs1の形成状態が表示され、その四隅にビームスポットs2〜s5の形成状態が表示されることになるので、レンズユニット2の調整に応じてビームスポットs1〜s5の面積がどのように変化するかを目視で確認することができる。また、その上にはビームスポットs1〜s5に対する面積の計測結果が数値で示されており、これによって、各ビームスポットs1〜s5の面積の細かい比較が可能になる。
同図(b)は、レンズユニット2を軸方向にスキャンさせて、レンズ位置(x)に対する各ビームスポットs1〜s5の面積(S)を求めて、その変化をグラフ化したものである。これによると各ビームスポットs1〜s5の面積が最小になるレンズ位置を把握することができるので、これに基づいてレンズユニット2の調整を行うことができる。
この際に、全てのビームスポットs1〜s5の面積が最小になるレンズ位置を求めることはできないので、例えば、撮像面1Aの中央付近に形成されるビームスポットs1の面積がより小さくなり、撮像面1Aの周辺付近に形成される複数のビームスポットs2〜s5の面積が相互に等しくなるように、レンズユニット2の調整を行う。特に、レンズユニット2の姿勢を3次元的に調整(煽り調整)しながら複数のビームスポットs2〜s5の面積比較をすることで、適正なレンズユニット2の姿勢を得ることができる。
このような実施形態に係るピント調整装置及びピント調整方法によると、レーザビームを用いた精度の高い平行光をレンズユニット2に入射してレンズの焦点位置を撮像面1Aに一致させることができるので、無限遠の被写体を撮像面1Aに結像させるピント調整を高精度に行うことができる。また、撮像面1Aの中央付近だけでなく、その四隅を含む周辺付近でのピント合わせを考慮したレンズの位置決めを行うことができる。これによって、従来行われていたMTFによるピント調整と同様の評価が可能なピント調整を、装置を大型化することなく実行することが可能になる。
図3は、本発明の他の実施形態を示すものである。図1に示した例では、レーザビーム照射部11は、5つのレーザ光源L1〜L5とその光源のそれぞれに設けられるコリメータレンズC1〜C5によって構成されているが、これによると、レーザ光源L1〜L5とコリメータレンズC1〜C5との調整を各レーザ光源とコリメータレンズ毎に行う必要があり、精度の高い平行光を得るためにはこの調整を精密に行う必要があるので、初期設定に手間と時間を要するという難点がある。
これを解消するために、図3に示す実施形態では、少なくとも一つのレーザ光源L23の出射光から複数本の平行光レーザビームを形成するビーム分岐手段を設けている。すなわち、この実施形態では、一つのレーザ光源L23からの出射光をコリメータレンズC23で平行光にしてこれをハーフミラー3で分岐し、一方をミラー4で反射させて前述の平行光レーザビームLB2としてレンズユニット2に入射し、他方を前述の平行光レーザビームLB3としてレンズユニット2に入射させている。
このようなビーム分岐手段を備えた実施形態によると、前述した実施形態と同様の作用を得ることができ、しかも、レーザ光源の数を減らすことができると同時に、レーザ光源とコリメータレンズとの調整を減らすことができる。これによって初期設定が容易になるという利点がある。
図4は、前述したピント調整方法を採用して、カメラモジュールの製造を行う実施例を示したものである。カメラモジュールは、CCDまたはCMOSといった撮像素子1が実装された基板10にレンズユニット2を位置決めしたレンズホルダ20を一体化させたものである。ここでは、レンズホルダ20には予めレンズユニット2の他に開口部21aを有する絞り21や光学フィルタ22が組み込まれている。
先ず、同図(a)に示すように、レンズホルダ20の上面に前述したレンズユニット調整部13におけるレンズユニット保持具13Aを吸着させて、レンズホルダ20を保持する。また、撮像素子1が実装された基板10の上には接着位置に紫外線硬化型の接着剤30を塗布する。
次に、同図(b)に示すように、レンズユニット保持具13Aで保持されたレンズホルダ20を基板10上の接着位置まで移動させ、この状態で、レンズユニット保持具13A或いは絞り21の開口部21aを介して、前述した平行光レーザビームLB1〜LB5を入射する。そして、前述したビームスポットs1〜s5の面積をモニタしながら、レンズユニット保持具13Aを上下又は揺動方向に移動させてレンズユニット2のピント位置を検出する。
最適なピント位置が検出されたところで、レンズユニット保持具13Aを固定し、接着剤30に紫外線を照射して接着剤30を硬化させて、レンズホルダ20を基板10上に固定する。これによって、適正なピント調整がなされたカメラモジュールを得ることができる。
このような実施例によると、無限遠の被写体に対するピント位置を正確に検出したピント調整が可能であり、また、撮像素子1の撮像面1A全体に対して適正なピント合わせを行うことが可能になる。更には、分解能の高い撮像素子1に対してピント調整を行う際にも、ピント調整の作業スペースを省スペース化することができる。
本発明の一実施形態に係るピント調整装置を示す説明図である。 実施形態のピント調整装置におけるモニタ装置の表示形態の一例を示した説明図である。 本発明の他の実施形態を示した説明図である。 本発明の実施例を示した説明図である。
符号の説明
1 撮像素子
1A 撮像面
2 レンズユニット
3 ハーフミラー
4 ミラー
10 基板
11 レーザビーム照射部(レーザビーム照射手段)
12 ビームスポット面積計測部(ビームスポット面積計測手段)
12A 画像取り込み部
12B 演算処理装置
12C モニタ装置(モニタ手段)
13 レンズユニット調整部(レンズユニット調整手段)
L1〜L5 レーザ光源
C1〜C5 コリメータレンズ
LB1〜LB5 平行光レーザビーム
s1〜s5 ビームスポット

Claims (9)

  1. 撮像素子の撮像面に対してレンズユニットのピント位置を調整するピント調整方法において、
    1本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に照射して前記撮像面の中央付近に集光させると共に、複数本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に斜めに照射して前記撮像面の周辺付近に集光させる手順と、
    前記平行光レーザビームの集光によって前記撮像面上に形成された複数のビームスポットの面積を計測する手順と、
    前記複数のビームスポットの面積に基づいて、前記レンズユニットの前記撮像面に対する距離と姿勢の一方又は両方を調整する手順と、を有することを特徴とするピント調整方法。
  2. 前記複数のビームスポットの面積は前記撮像素子の出力を画像処理することによって計測されることを特徴とする請求項1に記載されたピント調整方法。
  3. 前記撮像面の中央付近に形成されるビームスポットの面積が小さくなり、前記撮像面の周辺付近に形成される複数のビームスポットの面積が相互に等しくなるように、前記レンズユニットの調整がなされることを特徴とする請求項1又は2に記載されたピント調整方法。
  4. 前記撮像面の周辺付近に集光される複数本の平行光レーザビームは、前記撮像面の四隅に集光される4本のレーザビームからなることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載されたピント調整方法。
  5. 撮像素子の撮像面に対してレンズユニットのピント位置を調整するピント調整装置において、
    1本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に照射して前記撮像面の中央付近に集光させると共に、複数本の平行光レーザビームを前記レンズユニットの中央部分に斜めに照射して前記撮像面の周辺付近に集光させるレーザビーム照射手段と、
    前記平行光レーザビームの集光によって前記撮像面上に形成された複数のビームスポットの面積を前記撮像素子の出力を画像処理することによって計測するビームスポット面積計測手段と、
    前記ビームスポット面積計測手段の計測結果に基づいて、前記レンズユニットの前記撮像面に対する距離と姿勢の一方又は両方が調整可能なレンズユニット調整手段とを備えることを特徴とするピント調整装置。
  6. 前記ビームスポット面積計測手段は、前記レンズユニット調整手段による調整に応じた前記計測結果を表示するモニタ手段を備えることを特徴とする請求項5に記載されたピント調整装置。
  7. 前記計測結果が最適化されるように前記レンズユニット調整手段を調整する調整制御手段を備えることを特徴とする請求項5又は6に記載されたピント調整装置。
  8. 前記レーザビーム照射手段は、レーザ光源と該レーザ光源から出射したレーザビームを平行光にするコリメータレンズとを備えることを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記載されたピント調整装置。
  9. 前記レーザビーム照射手段は、少なくとも一つのレーザ光源の出射光から前記複数本の平行光レーザビームを形成するビーム分岐手段を備えることを特徴とする請求項5〜8のいずれかに記載されたピント調整装置。
JP2004087580A 2004-03-24 2004-03-24 ピント調整方法、ピント調整装置 Pending JP2005274925A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004087580A JP2005274925A (ja) 2004-03-24 2004-03-24 ピント調整方法、ピント調整装置
CNA200510058906XA CN1673792A (zh) 2004-03-24 2005-03-24 焦点调整方法、焦点调整装置
US11/087,738 US20050212951A1 (en) 2004-03-24 2005-03-24 Focus adjusting method and focus adjusting apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004087580A JP2005274925A (ja) 2004-03-24 2004-03-24 ピント調整方法、ピント調整装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005274925A true JP2005274925A (ja) 2005-10-06

Family

ID=34989332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004087580A Pending JP2005274925A (ja) 2004-03-24 2004-03-24 ピント調整方法、ピント調整装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20050212951A1 (ja)
JP (1) JP2005274925A (ja)
CN (1) CN1673792A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015504162A (ja) * 2012-01-05 2015-02-05 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング カメラを測定するための装置および方法
CN114077046A (zh) * 2020-08-17 2022-02-22 夏普福山激光株式会社 出射光调整装置及出射光调整方法

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100384222C (zh) * 2005-11-04 2008-04-23 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种调整摄像机位置的方法及装置
US20070133969A1 (en) * 2005-12-12 2007-06-14 Ess Technology, Inc. System and method for measuring and setting the focus of a camera assembly
JP5145673B2 (ja) * 2006-08-30 2013-02-20 住友電気工業株式会社 レーザ加工方法およびレーザ加工装置
US8646689B2 (en) * 2007-12-28 2014-02-11 Cognex Corporation Deformable light pattern for machine vision system
US8134116B2 (en) 2009-01-12 2012-03-13 Cognex Corporation Modular focus system for image based code readers
US8422005B2 (en) * 2010-07-14 2013-04-16 Raytheon Company Method and apparatus for multiple field-angle optical alignment testing
US10498933B2 (en) 2011-11-22 2019-12-03 Cognex Corporation Camera system with exchangeable illumination assembly
US11366284B2 (en) 2011-11-22 2022-06-21 Cognex Corporation Vision system camera with mount for multiple lens types and lens module for the same
US8947590B2 (en) 2011-11-22 2015-02-03 Cognex Corporation Vision system camera with mount for multiple lens types
US9535257B2 (en) * 2014-03-27 2017-01-03 Goodrich Corporation Multiple collimator unit
PL3076148T3 (pl) 2015-03-31 2019-10-31 Trioptics Gmbh Urządzenie i sposób pomiaru właściwości odwzorowania optycznego systemu odwzorowującego
US10223793B1 (en) * 2015-08-05 2019-03-05 Al Incorporated Laser distance measuring method and system
US10354364B2 (en) * 2015-09-14 2019-07-16 Intel Corporation Automatic perspective control using vanishing points
FR3042610B1 (fr) * 2015-10-14 2018-09-07 Quantificare Dispositif et procede pour reconstruire en trois dimensions la tete et le corps
CN107589513A (zh) * 2017-10-17 2018-01-16 歌尔股份有限公司 光学模组组装方法及装置
CN107589514A (zh) * 2017-10-17 2018-01-16 歌尔股份有限公司 光学模组组装方法及装置
CN107589512A (zh) * 2017-10-17 2018-01-16 歌尔股份有限公司 光学模组组装方法及装置
CN107806462A (zh) * 2017-11-23 2018-03-16 广东弘景光电科技股份有限公司 摄像模组自动调焦装配设备
CN107830032A (zh) * 2017-11-23 2018-03-23 广东弘景光电科技股份有限公司 摄像模组自动调焦装配方法
CN109270652A (zh) * 2018-11-28 2019-01-25 信利光电股份有限公司 一种光学镜头镜片组装系统
US11169354B2 (en) * 2019-03-15 2021-11-09 Facebook Technologies, Llc System and method for automatic lens assembling and testing
US11397417B2 (en) * 2019-11-23 2022-07-26 Automation Engineering Inc. Hybrid wide field of view target system
CN114731370B (zh) * 2020-02-26 2023-08-29 株式会社Pfa 相机模块制造装置
DE102020125064A1 (de) * 2020-09-25 2022-03-31 Trioptics Gmbh MTF-Prüfgerät und dessen Verwendung
CN113740317A (zh) * 2021-08-09 2021-12-03 合肥金星机电科技发展有限公司 基于光斑面积的激光聚焦点位置自动定位方法及系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6360089A (ja) * 1986-08-28 1988-03-16 Mitsubishi Electric Corp 光ビ−ムの焦点位置検出装置
JPH07140373A (ja) * 1993-11-12 1995-06-02 Olympus Optical Co Ltd 画像入力装置
JP2003117702A (ja) * 2001-10-04 2003-04-23 Olympus Optical Co Ltd レンズ鏡筒加工装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3201872B2 (ja) * 1993-05-14 2001-08-27 富士写真フイルム株式会社 レンズ検査装置
JP5033291B2 (ja) * 2000-04-07 2012-09-26 ピルツ ゲーエムベーハー アンド コー.カーゲー 危険区域の安全防護のための保護装置およびその装置の機能的信頼性をチェックする方法
US6512587B1 (en) * 2000-10-27 2003-01-28 Eastman Kodak Company Measurement method and apparatus of an external digital camera imager assembly
US7280149B2 (en) * 2001-12-21 2007-10-09 Flextronics Sales & Marketing (A-P) Ltd. Method and apparatus for detecting optimum lens focus position
EP1463342A1 (en) * 2003-03-27 2004-09-29 Dialog Semiconductor GmbH Test system for camera modules
US7330211B2 (en) * 2003-07-08 2008-02-12 Micron Technology, Inc. Camera module with focus adjustment structure and systems and methods of making the same
KR100547362B1 (ko) * 2003-08-14 2006-01-26 삼성전기주식회사 영상 평가 차트 및 이를 이용한 성능 검사 방법
US7136157B2 (en) * 2003-08-22 2006-11-14 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for testing image sensors

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6360089A (ja) * 1986-08-28 1988-03-16 Mitsubishi Electric Corp 光ビ−ムの焦点位置検出装置
JPH07140373A (ja) * 1993-11-12 1995-06-02 Olympus Optical Co Ltd 画像入力装置
JP2003117702A (ja) * 2001-10-04 2003-04-23 Olympus Optical Co Ltd レンズ鏡筒加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015504162A (ja) * 2012-01-05 2015-02-05 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング カメラを測定するための装置および方法
CN114077046A (zh) * 2020-08-17 2022-02-22 夏普福山激光株式会社 出射光调整装置及出射光调整方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1673792A (zh) 2005-09-28
US20050212951A1 (en) 2005-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2005274925A (ja) ピント調整方法、ピント調整装置
KR102408322B1 (ko) 자동-초점 시스템
US7697124B2 (en) Apparatus for measuring stray light in lens module
US7301620B2 (en) Inspecting apparatus, image pickup apparatus, and inspecting method
JP4939843B2 (ja) 欠陥検査方法及びその装置
JP2008502929A (ja) 反射または透過赤外光による微細構造の検査装置または検査方法
JP2006319544A (ja) 撮像素子の傾き測定装置及びその測定方法
WO2006028183A1 (ja) レンズ系調整装置およびそれを用いたレンズ系調整方法、並びに、撮像装置の製造装置および撮像装置の製造方法
JP6729960B2 (ja) カメラモジュール調整装置及びカメラモジュール調整方法
WO2014199685A1 (ja) 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
JP2012049381A (ja) 検査装置、及び、検査方法
JP2007103787A (ja) 固体撮像素子の検査装置
JP2014062940A (ja) 検査装置
JP2007047586A (ja) カメラモジュールの組立調整装置および組立調整方法
KR101447857B1 (ko) 렌즈 모듈 이물 검사 시스템
JP2010107355A (ja) 光学フィルタ調整方法およびムラ検査装置
JP2011085494A (ja) 表面検査装置
JP5708501B2 (ja) 検出方法および検出装置
JP2006165883A (ja) フォーカス調整装置、及びフォーカス調整方法
JP2008032401A (ja) 赤外カットフィルタの検査方法及び装置
JP5019507B2 (ja) レーザ加工装置および加工対象物の位置検出方法
JP2008292221A (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2008175768A (ja) 表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法
TWI688820B (zh) 光罩玻璃基板上之透光薄膜雜質去除組件
JP2013140187A (ja) 検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070220

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100302

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100305

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100810