JP2008175768A - 表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】表示パネルの欠陥検査を表示パネルの画像形成面等に限られることなく実施でき、かつ欠陥検出の精度を大きく向上させることができ、そのうえ、小型化および低コスト化が可能な検査装置および検査方法の提供。
【解決手段】被検査パネル2の欠陥検査において、集光レンズ13からの平行光束PLを被検査パネル2の画像領域に透過させ、被検査パネル2の画像領域における欠陥がCCDセンサー25に直接的に投影される構成とした。つまり、投射光学系や撮像レンズが使用されないので、撮像画像が劣化することを大幅に低減でき、また、被検査パネル2の画像形成面など一部だけに撮像対象が限定されることがない。すなわち、被検査パネル2の欠陥検出精度を大きく向上させることができる。また、集光レンズ13およびCCDセンサー25のみを主要構成として欠陥検査装置を構成できるため、欠陥検査装置を小型化、低コスト化できる。
【選択図】図2
【解決手段】被検査パネル2の欠陥検査において、集光レンズ13からの平行光束PLを被検査パネル2の画像領域に透過させ、被検査パネル2の画像領域における欠陥がCCDセンサー25に直接的に投影される構成とした。つまり、投射光学系や撮像レンズが使用されないので、撮像画像が劣化することを大幅に低減でき、また、被検査パネル2の画像形成面など一部だけに撮像対象が限定されることがない。すなわち、被検査パネル2の欠陥検出精度を大きく向上させることができる。また、集光レンズ13およびCCDセンサー25のみを主要構成として欠陥検査装置を構成できるため、欠陥検査装置を小型化、低コスト化できる。
【選択図】図2
Description
本発明は、液晶パネル等の各種表示パネルにおける欠陥を検査する検査装置および検査方法に関する。
従来、プロジェクターなどに利用される投影型液晶パネルの製造時に画素欠陥、異物欠陥などを検査する検査工程では、プロジェクターと同等の投影光学系を使用して検査していた(例えば、特許文献1、2)。
すなわち、特許文献1の図1に示すフロント投射型のプロジェクターに搭載される液晶パネルでは、検査対象である液晶パネルをプロジェクターに挿入し、前方のスクリーンに投射レンズで拡大投影された画像を撮像レンズを有するCCD(charge coupled device;電荷結合素子)カメラで撮像し、その画像を画像処理することによって欠陥検査していた。
また、特許文献2の図5に示すリアプロジェクションに搭載される液晶パネルの場合では、液晶パネルで形成された画像をスクリーンの後方から投射レンズで拡大投影し、フロント投射型プロジェクターと同様、スクリーンの表示画像を撮像レンズを有するCCDカメラで撮像して欠陥検査していた。
一方、投影光学系を使用せず、液晶パネルの画像領域における点灯状態を直接、CCDカメラで撮像して欠陥検査することも提案されていた(特許文献1の図12)。この場合、液晶パネルの画像形成面を撮像レンズを介してCCDカメラで撮像する。液晶パネルとCCDカメラとの間には、減衰手段が配置されている。
すなわち、特許文献1の図1に示すフロント投射型のプロジェクターに搭載される液晶パネルでは、検査対象である液晶パネルをプロジェクターに挿入し、前方のスクリーンに投射レンズで拡大投影された画像を撮像レンズを有するCCD(charge coupled device;電荷結合素子)カメラで撮像し、その画像を画像処理することによって欠陥検査していた。
また、特許文献2の図5に示すリアプロジェクションに搭載される液晶パネルの場合では、液晶パネルで形成された画像をスクリーンの後方から投射レンズで拡大投影し、フロント投射型プロジェクターと同様、スクリーンの表示画像を撮像レンズを有するCCDカメラで撮像して欠陥検査していた。
一方、投影光学系を使用せず、液晶パネルの画像領域における点灯状態を直接、CCDカメラで撮像して欠陥検査することも提案されていた(特許文献1の図12)。この場合、液晶パネルの画像形成面を撮像レンズを介してCCDカメラで撮像する。液晶パネルとCCDカメラとの間には、減衰手段が配置されている。
ここで、特許文献1の図1、および特許文献2の図5のような検査方式では、投射レンズを含む投影光学系、スクリーン、および撮像レンズにおいて画像劣化が発生するため、高精度な検査の実現が困難であった。また、スクリーンに投影することによって、検査装置が大型化し、且つ高価となっていた。
一方、特許文献1の図12のように、液晶パネルの画像領域を直接検査する方式では、液晶パネルの画像形成面のみに撮像レンズの焦点が合致し、撮像面がその画像形成面のみとなるから、その画像形成面の前後に存在する異物などを検出することができない。
一方、特許文献1の図12のように、液晶パネルの画像領域を直接検査する方式では、液晶パネルの画像形成面のみに撮像レンズの焦点が合致し、撮像面がその画像形成面のみとなるから、その画像形成面の前後に存在する異物などを検出することができない。
そこで、本発明の目的は、液晶パネル等の表示パネルの欠陥検査を表示パネルの画像形成面等に限られることなく実施でき、かつ欠陥検出の精度を大きく向上させることができること、また、小型化および低コスト化が可能であることの少なくともいずれかを実現可能な検査装置および検査方法を提供することにある。
本発明の表示パネル欠陥検査装置は、光源と、前記光源からの光束を平行化してその平行光束を表示パネルに射出する平行光束射出手段と、前記表示パネルを透過した前記平行光束を受光して前記表示パネルの画像領域を撮像する撮像素子とを備えることを特徴とする。
この発明によれば、平行光束射出手段からの平行光束が表示パネルの画像領域を透過し、画像領域における欠陥が撮像素子に直接的に投影される構成のため、投射光学系や、撮像レンズが使用されない。仮に、投射レンズやスクリーン、撮像レンズ等が表示パネルと撮像素子との間に介在した場合には、レンズやスクリーンに存在する異物によって合焦位置がずれたり、色収差が生じることによって撮像画像の劣化が生じるが、本発明ではこのような画像劣化を大幅に低減でき、画像劣化に伴う誤検出も生じない。すなわち、表示パネルを高精度に撮像して欠陥検査の精度を向上させることができる。
ここで、本発明では撮像レンズが使用されず、平行光束射出手段からの平行光束によって表示パネルの画像領域が撮像素子に直接的に投影されるため、入射光束が液晶等で光変調された画像形成面など、表示パネルの一部だけに撮像対象が限定されない。つまり、表示パネルの基板表面や対向基板間で生じている欠陥や、表示パネルと一体にモジュール化等されている防塵ガラス・光学素子等で生じ得る欠陥を漏れなく検出することができる。
ここで、本発明では撮像レンズが使用されず、平行光束射出手段からの平行光束によって表示パネルの画像領域が撮像素子に直接的に投影されるため、入射光束が液晶等で光変調された画像形成面など、表示パネルの一部だけに撮像対象が限定されない。つまり、表示パネルの基板表面や対向基板間で生じている欠陥や、表示パネルと一体にモジュール化等されている防塵ガラス・光学素子等で生じ得る欠陥を漏れなく検出することができる。
以上により、撮像画像が劣化せず、撮像画像には表示パネルに起因しない欠陥は含まれないことと、撮像対象が表示パネルの画像形成面等に限られないこととによって、表示パネル単体の欠陥検出精度を大きく向上させることができる。
また、表示パネルが組み込まれる製品において、表示パネルの欠陥と、他の光学系における欠陥とを切り離してそれぞれを高精度に検査することが可能となり、欠陥検査を効率化できる。
以上に加えて、光源、平行光束射出手段および撮像素子のみによって検査装置を構成できるため、検査装置を小型化、低コスト化することが可能となる。
また、表示パネルが組み込まれる製品において、表示パネルの欠陥と、他の光学系における欠陥とを切り離してそれぞれを高精度に検査することが可能となり、欠陥検査を効率化できる。
以上に加えて、光源、平行光束射出手段および撮像素子のみによって検査装置を構成できるため、検査装置を小型化、低コスト化することが可能となる。
本発明の表示パネル欠陥検査装置では、前記撮像素子を含む撮像手段は、前記撮像素子に入射する前記平行光束の光強度を調整する光強度調整手段を有することが好ましい。
この発明によれば、光源の光強度を表示パネルが組み込まれる製品で用いられる光強度としつつ、平行光束の光強度を光強度調整手段によって撮像素子の感度範囲に納めることが可能となる。例えば、プロジェクター等で用いられる高輝度の光源ランプによる表示パネルの形成画像を、実機に即した環境で検査することが可能となる。
なお、光強度調整手段としては、例えばNDフィルター等を用いることができる。
なお、光強度調整手段としては、例えばNDフィルター等を用いることができる。
本発明の表示パネル欠陥検査装置では、前記撮像素子により計測される前記表示パネルの画像領域の明るさに応じて、前記光源の明るさおよび/または前記撮像素子の受光時間を調整する明るさ制御手段を備えることが好ましい。
この発明によれば、光源の明るさ調整および/または撮像素子の受光時間の調整を通じて、撮像画像における表示パネル画像領域の明るさに基づくフィードバック制御が実現するので、撮像素子への入射光束の光強度を撮像素子の感度範囲に対応させることが可能となる。
本発明の表示パネル欠陥検査装置では、前記撮像素子を含む撮像手段は、前記表示パネルの画像領域に対応する範囲内の前記平行光束のみを透過させ、それ以外の前記平行光束を遮蔽する遮光マスクを有することが好ましい。
この発明によれば、遮光マスクによって表示パネル画像領域の周りへの漏れ光を防止でき、画像領域のみを抽出した状態の撮像画像が得られるので、欠陥検出精度を向上させることができる。
本発明の表示パネル欠陥検査装置では、前記表示パネルを一定温度に加熱する恒温加熱手段を備えることが好ましい。
この発明によれば、恒温加熱手段により、表示パネルなどを実際の使用状態における一定温度に加熱できるため、使用環境に即した検査が可能となる。
本発明の表示パネル欠陥検査方法は、表示パネルの画像領域に平行光束を透過させ、この平行光束を撮像素子に結像素子を介在させることなく直接的に入射させることにより、前記表示パネルの画像領域を撮像することを特徴とする。
この発明によれば、前述と同様に、投射光学系や、撮像レンズを使用しないため、撮像画像が投射レンズやスクリーン、撮像レンズによって劣化することを大幅に低減でき、また、表示パネルの一部だけに撮像対象が限定されることがない。これにより、検査対象である表示パネルの画像領域のみを精度良く撮像でき、欠陥検出精度を大きく向上させることができる。
また、表示パネルが組み込まれる製品において、表示パネルの欠陥と、他の光学系における欠陥とを切り離してそれぞれを高精度に検査することが可能となる。
加えて、平行光束射出手段および撮像素子のみによって検査装置を構成できるため、検査装置を小型化、低コスト化することが可能となる。
また、表示パネルが組み込まれる製品において、表示パネルの欠陥と、他の光学系における欠陥とを切り離してそれぞれを高精度に検査することが可能となる。
加えて、平行光束射出手段および撮像素子のみによって検査装置を構成できるため、検査装置を小型化、低コスト化することが可能となる。
以下、本発明の一実施形態を図面を参照して説明する。
図1は、本実施形態の欠陥検査装置1の光学系概略を示すブロック図である。欠陥検査装置1は、液晶パネル等の表示パネルを検査対象とし(被検査パネル2)、被検査パネル2に平行光束を射出する平行光源部10と、被検査パネル2の画像領域を撮像する撮像部20とを備えてコンパクトに構成されている。なお、欠陥検査装置1の内部は外部に対して遮光され、かつ遮温されている。
図1は、本実施形態の欠陥検査装置1の光学系概略を示すブロック図である。欠陥検査装置1は、液晶パネル等の表示パネルを検査対象とし(被検査パネル2)、被検査パネル2に平行光束を射出する平行光源部10と、被検査パネル2の画像領域を撮像する撮像部20とを備えてコンパクトに構成されている。なお、欠陥検査装置1の内部は外部に対して遮光され、かつ遮温されている。
被検査パネル2は、本実施形態ではTFT(Thin Film Transistor)液晶パネルとされ、詳しい図示を省略するが、対向配置された基板間に液晶が封入され、基板間からは配線2Aが延びている。なお、被検査パネル2はTFTパネルに限らず、その他のダイオード素子を用いた液晶パネル等であってもよい。本実施形態では、被検査パネル2はプロジェクターに組み込まれるものとされている。
被検査パネル2の基板には偏光板や位相差板、視野角拡大板、防塵ガラスなどが重ねられ、これらはモジュール化されている。
被検査パネル2の基板には偏光板や位相差板、視野角拡大板、防塵ガラスなどが重ねられ、これらはモジュール化されている。
図2は、欠陥検査装置1における光学系を構成する各光学素子と、欠陥検査装置1を構成するパターンジェネレーター31、直流安定化電源32、定温度ヒーター33、および検査制御装置34とを示す。
平行光源部10は、ハロゲンランプ等の光源ランプ11と、光源ランプ11から放射される光束を所定の絞り量で絞る光学絞り12と、光学絞り12から射出される光束を平行化する集光レンズ13とを有して構成されている。
光源ランプ11は、プロジェクターに用いられる高輝度のタイプとされ、直流安定化電源32を介して接続された検査制御装置34によって光強度が可変に調整されるようになっている。
集光レンズ13の光束が透過する開口サイズ(口径)は、被検査パネル2の画像領域のサイズよりも大きく形成されている。例えば、被検査パネルが15mmに対して集光レンズ13は60mmなどと、4倍以上の口径とされている。
集光レンズ13は、平行光束射出手段として機能し、被検査パネル2の画像領域に略直交する方向に沿って、集光レンズ13から平行光束PLを射出する。
平行光源部10は、ハロゲンランプ等の光源ランプ11と、光源ランプ11から放射される光束を所定の絞り量で絞る光学絞り12と、光学絞り12から射出される光束を平行化する集光レンズ13とを有して構成されている。
光源ランプ11は、プロジェクターに用いられる高輝度のタイプとされ、直流安定化電源32を介して接続された検査制御装置34によって光強度が可変に調整されるようになっている。
集光レンズ13の光束が透過する開口サイズ(口径)は、被検査パネル2の画像領域のサイズよりも大きく形成されている。例えば、被検査パネルが15mmに対して集光レンズ13は60mmなどと、4倍以上の口径とされている。
集光レンズ13は、平行光束射出手段として機能し、被検査パネル2の画像領域に略直交する方向に沿って、集光レンズ13から平行光束PLを射出する。
撮像部20は、被検査パネル2に対向する側から、遮光マスク21と、光強度調整手段としてのNDフィルター22と、赤外線を減衰させるIRカットフィルター23と、空間フィルター24と、被検査パネル2の解像度よりも高解像度であるCCDセンサー25と、CCDセンサー25を駆動する撮像回路26とを有して構成されている。光学素子等21〜26は筐体20Aの内部に収容されている。
遮光マスク21は、被検査パネル2と同等の大きさとされ被検査パネル2の画像領域の周辺領域を遮光するマスク部を有している。これにより、被検査パネル2の画像領域に対応する範囲内の平行光束PLのみを透過させ、実表示領域以外の光束を遮光するようになっている。
NDフィルター22は、CCDセンサー25に入射する平行光束PLの光強度を減衰させるものとされている。また、NDフィルター22は、IRカットフィルター23の表面(蒸着面等とされる)を保護している。
空間フィルター24は、CCDセンサー25の分解能以下である微細な画像成分を除去する。
空間フィルター24は、CCDセンサー25の分解能以下である微細な画像成分を除去する。
検査制御装置34には、パターンジェネレーター31、直流安定化電源32、および撮像回路26がそれぞれ接続されている。この検査制御装置34により、光源ランプ11の明るさ制御、パターンジェネレーター31によるパターン発生制御、撮像素子を構成するCCDセンサー25および撮像回路26の制御、およびCCDセンサー25および撮像回路26から取り込まれた画像の画像処理がそれぞれ行われる。
なお、検査制御装置34は記憶手段を備え、記憶手段には予め、光源ランプ11の制御電圧とCCDセンサー25の露光時間との対応関係を保持するテーブルデータが記憶されている。
なお、検査制御装置34は記憶手段を備え、記憶手段には予め、光源ランプ11の制御電圧とCCDセンサー25の露光時間との対応関係を保持するテーブルデータが記憶されている。
パターンジェネレーター31は、明るさの異なる複数の検査パターン(ラスターパターンなど)を生成し、各検査パターンをそれぞれ被検査パネル2に入力する。
定温度ヒーター33は、プロジェクターの使用温度である約50℃に被検査パネル2等が保たれるように恒温加熱する。
定温度ヒーター33は、プロジェクターの使用温度である約50℃に被検査パネル2等が保たれるように恒温加熱する。
以上の構成の欠陥検査装置1では、平行光源装置10から射出された平行光束PLにより、被検査パネル2の画像領域がCCDセンサー25に投影されることとなる。このとき、被検査パネル2の画像領域における欠陥部は影となってCCDセンサー25および撮像回路26により画像に変換され、また光強度(明るさ)が計測され、このCCDセンサー25および撮像回路26で撮像した画像に基づいて欠陥検査が行われることとなる。
図3は、欠陥検査装置1による被検査パネル2の欠陥検査工程を示し、検査制御装置34により、各工程S1〜S9を順次行う。
この欠陥検査工程では、画像取り込み後の画像処理の前段階として、被検査パネル2の所定の特性のバラツキを検査する特性検査工程S1と、パターンジェネレーター31で検査パターンを発生させて被検査パネル2に入力するパターン発生工程S2と、CCDセンサー25で検知した明るさを計測する明るさ計測工程S3と、光源ランプ11の明るさおよびCCDセンサー25の露光時間を制御するランプ明るさ・露光時間制御工程S4とを備える。
この欠陥検査工程では、画像取り込み後の画像処理の前段階として、被検査パネル2の所定の特性のバラツキを検査する特性検査工程S1と、パターンジェネレーター31で検査パターンを発生させて被検査パネル2に入力するパターン発生工程S2と、CCDセンサー25で検知した明るさを計測する明るさ計測工程S3と、光源ランプ11の明るさおよびCCDセンサー25の露光時間を制御するランプ明るさ・露光時間制御工程S4とを備える。
まず、特性検査工程S1において、被検査パネル2の液晶の配向不良を検知し易いように、検査パターン(ラスターパターン)を補正し、この補正した検査パターンP1を被検査パネル2に入力して被検査パネル2の画像領域に表示させる(パターン発生工程S2)。この検査パターンには複数の階調があり、それぞれP1,P2,,Pnとする。
ここで、検査パターンP1が表示された被検査パネル2の画像領域をCCDセンサー25で撮像し、この撮像画像における明るさがCCDセンサー25によって計測されることとなる(明るさ計測工程S3)。
ここで、検査パターンP1が表示された被検査パネル2の画像領域をCCDセンサー25で撮像し、この撮像画像における明るさがCCDセンサー25によって計測されることとなる(明るさ計測工程S3)。
そして、検査パターンP1の撮像画像において、被検査パネル2の画像領域主要部の平均明るさが例えば当該CCDセンサー25の量子化ダイナミックレンジの例えば70%〜90%に入るかどうか、検査制御装置34で検定を行い、このレンジ外であれば、検査制御装置34により、光源ランプ11、およびCCDセンサー25・撮像回路26を制御する(ランプ明るさ・露光時間制御工程S4)。
具体的には、画像領域主要部の平均明るさと、検査制御装置34に記憶されている前記のテーブルデータとから、最適なランプ制御電圧が直流安定化電源32に通知され、また、最適な露光時間が撮像回路26に通知される。
具体的には、画像領域主要部の平均明るさと、検査制御装置34に記憶されている前記のテーブルデータとから、最適なランプ制御電圧が直流安定化電源32に通知され、また、最適な露光時間が撮像回路26に通知される。
以上により、CCDセンサー25に入射する平行光束PLの明るさがCCDセンサー25の感度内となり、かつ被検査パネル2の欠陥を検知し易い状態で、被検査パネル2の画像領域がCCDセンサー25に投影されるようになる。
従って、CCDセンサー25で撮像した被検査パネル2の画像領域の撮像画像を検査制御装置34内の画像処理部に送信して画像を取り込み(画像取り込み工程S5)、この画像に対して各種フィルターを用いて処理を重ねていくことにより、被検査パネル2の欠陥検査が可能となる。
すなわち、前処理・均一性処理工程S6では、被検査パネル2のブラックマスク部の画像除去処理を行い、且つ面内の均一性処理を行う。
そして、所定のフィルターにより、各画素の輝度を二値化などして強調処理を行い(工程S7)、その強調画像における特徴量を所定の検定値と比較して欠陥検定を行う(工程S8)。
ここまでで、検査パターンP1における欠陥検定が終了し、検査パターンP2,,Pnにて順次、各工程S2〜S8を繰り返す。
最後に、各検査パターンP1,P2,,Pnにおける検定結果を総合して被検査パネル2の検定結果を出し(工程S9)、その結果をモニターなどに表示したり、記録をとって統計する。
従って、CCDセンサー25で撮像した被検査パネル2の画像領域の撮像画像を検査制御装置34内の画像処理部に送信して画像を取り込み(画像取り込み工程S5)、この画像に対して各種フィルターを用いて処理を重ねていくことにより、被検査パネル2の欠陥検査が可能となる。
すなわち、前処理・均一性処理工程S6では、被検査パネル2のブラックマスク部の画像除去処理を行い、且つ面内の均一性処理を行う。
そして、所定のフィルターにより、各画素の輝度を二値化などして強調処理を行い(工程S7)、その強調画像における特徴量を所定の検定値と比較して欠陥検定を行う(工程S8)。
ここまでで、検査パターンP1における欠陥検定が終了し、検査パターンP2,,Pnにて順次、各工程S2〜S8を繰り返す。
最後に、各検査パターンP1,P2,,Pnにおける検定結果を総合して被検査パネル2の検定結果を出し(工程S9)、その結果をモニターなどに表示したり、記録をとって統計する。
本実施形態によれば、次のような効果が得られる。
(1)被検査パネル2の欠陥検査において、集光レンズ13からの平行光束PLを被検査パネル2の画像領域に透過させ、結像素子が介在することなく、被検査パネル2の画像領域における欠陥がCCDセンサー25に直接的に投影される構成としたため、投射光学系や、撮像レンズが使用されない。本実施形態と比較するために、図5に従来例を示す。
すなわち、図5では、光源部からの光束により被検査パネル2で形成した表示画像が投射レンズを介してスクリーンSに拡大投射され、スクリーンS上に合焦された撮像レンズを介してスクリーンSの投影画像を撮像し、検査する。このような場合、カメラ部で得られる撮像画像が投射レンズやスクリーンS、撮像レンズによって大きく劣化することを免れ得ないのに対し、本実施形態では図1のように、投射レンズ、スクリーン、撮像レンズが用いられないため、CCDセンサー25による撮像画像の劣化を大幅に低減でき、画像劣化に伴う欠陥の誤検出も防止できる。すなわち、被検査パネル2を高精度に撮像して欠陥検査の精度を向上させることができる。
(1)被検査パネル2の欠陥検査において、集光レンズ13からの平行光束PLを被検査パネル2の画像領域に透過させ、結像素子が介在することなく、被検査パネル2の画像領域における欠陥がCCDセンサー25に直接的に投影される構成としたため、投射光学系や、撮像レンズが使用されない。本実施形態と比較するために、図5に従来例を示す。
すなわち、図5では、光源部からの光束により被検査パネル2で形成した表示画像が投射レンズを介してスクリーンSに拡大投射され、スクリーンS上に合焦された撮像レンズを介してスクリーンSの投影画像を撮像し、検査する。このような場合、カメラ部で得られる撮像画像が投射レンズやスクリーンS、撮像レンズによって大きく劣化することを免れ得ないのに対し、本実施形態では図1のように、投射レンズ、スクリーン、撮像レンズが用いられないため、CCDセンサー25による撮像画像の劣化を大幅に低減でき、画像劣化に伴う欠陥の誤検出も防止できる。すなわち、被検査パネル2を高精度に撮像して欠陥検査の精度を向上させることができる。
また、撮像レンズが使用されないため、被検査パネル2の一部だけに撮像対象が限定されず、被検査パネル2の基板と一体にモジュール化されている防塵ガラス・光学素子等も含めて被検査パネル2全体の任意の箇所で生じ得る欠陥を漏れなく検出することができる。
すなわち、上述のように、撮像画像が劣化せず、撮像画像には被検査パネル2に起因しない欠陥は含まれないことと、撮像対象が被検査パネル2の画像形成面等に限られないこととによって、被検査パネル2単体の欠陥検出精度を大きく向上させることができる。
すなわち、上述のように、撮像画像が劣化せず、撮像画像には被検査パネル2に起因しない欠陥は含まれないことと、撮像対象が被検査パネル2の画像形成面等に限られないこととによって、被検査パネル2単体の欠陥検出精度を大きく向上させることができる。
加えて、図1に示すように、平行光源部10および撮像部20のみを主要構成として欠陥検査装置1を構成できるため、欠陥検査装置1を小型化、低コスト化することが可能となる。図5の従来例との差は歴然である。
(2)さらに、撮像部20がNDフィルター22を有することにより、平行光源部10の光強度を被検査パネル2が組み込まれる製品(本実施形態ではプロジェクター)で用いられる光強度としつつ、平行光束PLの光強度をCCDセンサー25の感度範囲に納めることが可能となる。これにより、製品の使用環境で検査することが可能となる。
(3)撮像部20が遮光マスク21を有し、被検査パネル2の画像領域の周りへの漏れ光を防止できるので、CCDセンサー25により画像領域のみを抽出した状態の撮像画像が得られ、欠陥検出精度を向上させることができる。
(4)定温度ヒーター33により、被検査パネル2などを実際の使用状態における一定温度に加熱することが可能であるため、使用環境に即した検査が可能となる。
なお、以上の実施形態では、プロジェクターに搭載される被検査パネル2の欠陥検査を示したが、本発明はそれ以外にも広範囲に応用可能である。
例えば、表示パネルの組み立て前の対向基板や、アレイ基板等も、本発明の欠陥検査装置および欠陥検査方法の検査対象とすることが可能である。
例えば、表示パネルの組み立て前の対向基板や、アレイ基板等も、本発明の欠陥検査装置および欠陥検査方法の検査対象とすることが可能である。
また、図4は、本発明の変形例を示し、ここでは、ビデオカメラ等のビューファインダー用表示装置に用いられる被検査パネル2´を検査対象としている。つまり、ビューファインダーは接眼レンズを備えるが、このビューファインダーのモジュールから接眼レンズを外した状態とし、その代わりに撮像レンズ2Bを配置して検査を行う。このように検査すれば、接眼レンズが付いた状態で検査する場合のように接眼レンズに起因して撮像画像の劣化が生じることなく、被検査パネル2´に存在する異物等を検出可能となる。
なお、図4の構成において、図2と同様に定温度ヒーター33を設けてもよい。
なお、図4の構成において、図2と同様に定温度ヒーター33を設けてもよい。
本発明において光源は、前述したハロゲンランプに限らず、メタルハライドランプ、高圧水銀ランプ、あるいはLED(light emitting diode)など、各種光源を使用できる。
また、平行光束射出手段や撮像素子についても、各種、適宜採用できる。
また、平行光束射出手段や撮像素子についても、各種、適宜採用できる。
本発明を実施するための最良の構成、方法などは、以上の記載で開示されているが、本発明は、これに限定されるものではない。すなわち、本発明は、主に特定の実施形態に関して特に図示され、かつ、説明されているが、本発明の技術的思想および目的の範囲から逸脱することなく、以上述べた実施形態に対し、形状、材質、数量、その他の詳細な構成において、当業者が様々な変形を加えることができるものである。
したがって、上記に開示した形状、材質などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものではないから、それらの形状、材質などの限定の一部もしくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。
したがって、上記に開示した形状、材質などを限定した記載は、本発明の理解を容易にするために例示的に記載したものであり、本発明を限定するものではないから、それらの形状、材質などの限定の一部もしくは全部の限定を外した部材の名称での記載は、本発明に含まれるものである。
1・・・欠陥検査装置、2・・・被検査パネル、10・・・平行光源部、11・・・光源ランプ(光源)、13・・・集光レンズ(平行光束射出手段)、20・・・撮像部(撮像手段)、21・・・遮光マスク、22・・・NDフィルター(光強度調整手段)、25・・・CCDセンサー、26・・・撮像回路、33・・・定温度ヒーター(恒温加熱手段)、34・・・検査制御装置(明るさ制御手段として機能)、PL・・・平行光束、S2・・・パターン発生工程、S3・・・明るさ計測工程、S4・・・ランプ明るさ・露光時間制御工程(明るさ制御工程)。
Claims (6)
- 光源と、
前記光源からの光束を平行化してその平行光束を表示パネルに射出する平行光束射出手段と、
前記表示パネルを透過した前記平行光束を受光して前記表示パネルの画像領域を撮像する撮像素子とを備える
ことを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。 - 請求項1に記載の表示パネルの欠陥検査装置において、
前記撮像素子を含む撮像手段は、前記撮像素子に入射する前記平行光束の光強度を調整する光強度調整手段を有する
ことを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。 - 請求項1または2に記載の表示パネルの欠陥検査装置において、
前記撮像素子により計測される前記表示パネルの画像領域の明るさに応じて、前記光源の明るさおよび/または前記撮像素子の受光時間を調整する明るさ制御手段を備える
ことを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。 - 請求項1から3のいずれかに記載の表示パネルの欠陥検査装置において、
前記撮像素子を含む撮像手段は、前記表示パネルの画像領域に対応する範囲内の前記平行光束のみを透過させ、それ以外の前記平行光束を遮蔽する遮光マスクを有する
ことを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。 - 請求項1から4のいずれかに記載の表示パネルの欠陥検査装置において、
前記表示パネルを一定温度に加熱する恒温加熱手段を備える
ことを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。 - 表示パネルの画像領域に平行光束を透過させ、この平行光束を撮像素子に結像素子を介在させることなく直接的に入射させることにより、前記表示パネルの画像領域を撮像する
ことを特徴とする表示パネルの欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007011416A JP2008175768A (ja) | 2007-01-22 | 2007-01-22 | 表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
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JP (1) | JP2008175768A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011096583A1 (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-11 | 住友化学株式会社 | 偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥検査方法 |
CN115791837A (zh) * | 2023-01-29 | 2023-03-14 | 深圳蓝普视讯科技有限公司 | 一种Micro-LED缺陷光线检测探头及缺陷检测方法 |
CN116642670A (zh) * | 2023-07-27 | 2023-08-25 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置 |
-
2007
- 2007-01-22 JP JP2007011416A patent/JP2008175768A/ja not_active Withdrawn
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CN116642670A (zh) * | 2023-07-27 | 2023-08-25 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种用于微型显示器检测的光学成像方法和装置 |
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