JP2005244240A - 薄膜トランジスタ、これを具備した平板表示装置、薄膜トランジスタの製造方法、平板表示装置の製造方法、及びドナーシートの製造方法 - Google Patents
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 54
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 37
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims abstract description 190
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 74
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 56
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 claims description 51
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 claims description 43
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 41
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 239000002074 nanoribbon Substances 0.000 claims description 12
- 239000002073 nanorod Substances 0.000 claims description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 11
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 7
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 7
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 97
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 12
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 9
- 235000013870 dimethyl polysiloxane Nutrition 0.000 description 9
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 9
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 8
- CXQXSVUQTKDNFP-UHFFFAOYSA-N octamethyltrisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C CXQXSVUQTKDNFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 8
- 238000004987 plasma desorption mass spectroscopy Methods 0.000 description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- -1 and other than that Substances 0.000 description 6
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002585 base Substances 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 2
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910016048 MoW Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000005041 Mylar™ Substances 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 239000002159 nanocrystal Substances 0.000 description 2
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- YOZHUJDVYMRYDM-UHFFFAOYSA-N 4-(4-anilinophenyl)-3-naphthalen-1-yl-n-phenylaniline Chemical compound C=1C=C(C=2C(=CC(NC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=CC=1NC1=CC=CC=C1 YOZHUJDVYMRYDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MBPCKEZNJVJYTC-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(n-phenylanilino)phenyl]aniline Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1C1=CC=C(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 MBPCKEZNJVJYTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IBQKNIQGYSISEM-UHFFFAOYSA-N [Se]=[PH3] Chemical class [Se]=[PH3] IBQKNIQGYSISEM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229940065285 cadmium compound Drugs 0.000 description 1
- 150000001662 cadmium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N copper(II) phthalocyanine Chemical compound [Cu+2].C12=CC=CC=C2C(N=C2[N-]C(C3=CC=CC=C32)=N2)=NC1=NC([C]1C=CC=CC1=1)=NC=1N=C1[C]3C=CC=CC3=C2[N-]1 XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N diethylzinc Chemical compound CC[Zn]CC HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 238000010981 drying operation Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- ZBKIUFWVEIBQRT-UHFFFAOYSA-N gold(1+) Chemical compound [Au+] ZBKIUFWVEIBQRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000002048 multi walled nanotube Substances 0.000 description 1
- 239000002071 nanotube Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000005070 ripening Effects 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001931 thermography Methods 0.000 description 1
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N tributylphosphine Chemical compound CCCCP(CCCC)CCCC TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FKIZDWBGWFWWOV-UHFFFAOYSA-N trimethyl(trimethylsilylselanyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)[Se][Si](C)(C)C FKIZDWBGWFWWOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphane Chemical compound CCCCCCCCP(CCCCCCCC)CCCCCCCC RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- YZYKBQUWMPUVEN-UHFFFAOYSA-N zafuleptine Chemical compound OC(=O)CCCCCC(C(C)C)NCC1=CC=C(F)C=C1 YZYKBQUWMPUVEN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】 少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのP型またはN型ナノ粒子よりなり、P型またはN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、基板上に区画されたP型またはN型ナノ粒子ラインと平行に配列されている。
【選択図】 図4
Description
厚さ20〜40nmのP型Siナノワイヤの場合、商業的に利用可能な単分散金コロイド粒子(British Biocell International Ltd)を触媒としてSiH4とB2H6との熱蒸着で合成される。この時、温度は420〜480℃とし、反応器は8インチのチューブファーネスであり、コンピュータで制御される成長を可能に調節する。全体圧力が30torrである時、シラン分圧は約2torr、反応時間は40分かかる。SiH4とB2H6との比率はドーピングレベルを鑑みて6400:1に調節する。この時、ナノワイヤのドーピング濃度は約4×10E+17cm−3と推定される。ドーピングレベルが高ければ高いほど高温アニーリングプロセスがなくてもコンタクト抵抗が低くなる長所がある。
N型のSiナノワイヤはレーザー触媒成長(Laser−assisted Catalytic Growth;LCG)方法で合成される。簡単にはNd:YAGレーザー(532nm;8nsパルス幅、300mJ/pulse、10Hz)のレーザービームを利用して金ターゲットを剥離する方法を採択する。この時に生成される金ナノクラスター触媒粒子は、反応容器でSiH4ガスと共に反応してSiナノワイヤに成長する。ドーピングを行う場合には、N型の場合Au−Pターゲット(99.5:0.5wt%、Alfa Aesar)と補助赤色蛍光(99%Alfa Aesar)を反応容器のガス入口に置いて生成する。
アンモニアガス(99.99%、Matheson)、ガリウム金属(99.9999%、AlfaAesar)、マグネシウムナイトライド(Mg3N2、99.6%、AlfaAesar)をそれぞれN、Ga、Mgのソースとして利用して金属−触媒CVDで形成する。この時に使用する基板はcプレインサファイアが望ましい。Mg3N2は熱的に分解してMgN2(s)=3Mg(g)+N2(g)のようになり、Mgドーパントを生成し、Gaソースの上流に置かれる。950℃温度条件でGaNナノワイヤが形成され、ニッケルが触媒として使われる。長さはほぼ10〜40μmの分布を持つ。
CdSナノリボンは真空カポー伝達方法で合成される。特に、少量のCdS粉末(100mg以下)を真空管の一端に置いて密封する。CdS粉末の温度が900℃を維持するように真空管を加熱しつつ、他端は50℃以下に維持する。2時間以内に大部分のCdSが冷たい方に移動して真空管の壁に付着する。このような方法で得られた物質は30〜150nmの厚さを持つナノリボンが主であり、この時の幅は0.5〜5μm、長さは10〜200μm程度である。
2.5cm直径のファーネス反応器でH2(総気圧=1atm)を100sccmの流速で流すと同時に、GeH4(10% in He)の流速を10sccm(標準立方センチメートル)に維持しつつ275℃条件で15分間CVDを行って得る。反応基板は、金ナノ結晶(平均20nm直径)をSiO2基板表面に均一に分散した基板を使用する。
InPナノワイヤはLCG方法で形成される。LCGターゲットは大体94%のInP、触媒としての5%Au、ドーピング元素としての1%TeまたはZnで構成されている。成長する間にファーネス温度は800℃(中間)に維持し、ターゲットはファーネスの中間よりは上流端部に位置させる。レーザー条件はNd−YAGレーザー(波長1064nm)のパルスを10分間照射し、この時、ナノワイヤはファーネスの冷たい側の下流端部に捕集される。
ZnOナノロッドは約29.5g(0.13mol)の亜鉛アセテート二水和物(ZnOCOCH3−2H2O))を60℃で125mLのメタノールに溶かした後、65mLのメタノールに14.8g(0.23mol)のポタシウムヒドロキシド(KOH)を溶かした溶液を付加して作る。反応混合物は60℃で数日間攪拌する。数日内にナノロッドが沈殿されれば沈殿物をメタノールで洗浄し、5500rpmで30分間遠心分離する。得られたナノ粒子をエチレングリコール/水2:1の溶媒で希釈させて溶液を作る。3日ほど熟成させる場合、直径15〜30nm、長さ200〜300nm程度のナノロッドを得ることができる。これとは違って、CVD方法を利用すればナノワイヤを得ることもある。
10a 単位画素
20 非発光領域
120 ナノ粒子ライン
120a P型ナノ粒子ライン
120b N型ナノ粒子ライン
121 駆動TFTの活性層
122 スイッチングTFTの活性層
123 CMOS TFTのN型TFTの活性層
124 CMOS TFTのP型TFTの活性層
Claims (46)
- 基板上に位置するものであり、少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのP型またはN型ナノ粒子よりなり、
前記P型またはN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型またはN型ナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする薄膜トランジスタ。 - 前記P型及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記P型及びN型ナノ粒子ラインのうち少なくとも一つはストライプ状であることを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板上に位置し、少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのP型ナノ粒子よりなるP型薄膜トランジスタと、
前記基板上に位置し、少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのN型ナノ粒子よりなるN型薄膜トランジスタと、を含み、
前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする薄膜トランジスタ。 - 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに平行に配列されたことを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交差するように配列されたことを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記P型及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
- 前記P型及びN型ナノ粒子ラインのうち少なくとも一つはストライプ状であることを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
- 基板と、
前記基板上に備えられ、複数個の画素を持つ発光領域と、
前記画素ごとに備えられた複数個の選択駆動回路と、を含み、
前記各選択駆動回路は少なくとも一つの薄膜トランジスタを持つが、
前記各薄膜トランジスタは、
少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのナノ粒子よりなり、
前記ナノ粒子は、その長手方向が、前記基板上に区画されたナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする平板表示装置。 - 前記ナノ粒子ラインは、それぞれ平行に配列されたP型ナノ粒子ラインとN型ナノ粒子ラインとを含み、
前記各選択駆動回路の薄膜トランジスタのナノ粒子は、P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つであり、
前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれ前記P型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに沿って配列されたことを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。 - 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに平行に配列されたことを特徴とする請求項10に記載の平板表示装置。
- 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交互に配列されたことを特徴とする請求項11に記載の平板表示装置。
- 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交差するように配列されたことを特徴とする請求項10に記載の平板表示装置。
- 前記選択駆動回路に連結されたCMOS薄膜トランジスタをさらに具備し、
前記CMOS薄膜トランジスタは、
少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのP型ナノ粒子よりなるP型薄膜トランジスタと、
少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのN型ナノ粒子よりなるN型薄膜トランジスタと、を含み、
前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに平行に配列されたことを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。 - 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに平行に配列されたことを特徴とする請求項14に記載の平板表示装置。
- 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交互に配列されたことを特徴とする請求項15に記載の平板表示装置。
- 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交差するように配列されたことを特徴とする請求項14に記載の平板表示装置。
- 前記各画素は有機電界発光素子を具備し、前記有機電界発光素子は前記選択駆動回路に電気的に連結されたことを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
- 前記P型及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
- 前記P型及びN型ナノ粒子ラインのうち少なくとも一つはストライプ状であることを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
- P型及びN型のうち少なくとも1種類の薄膜トランジスタを複数個持つ発光領域と、
P型及びN型のうち少なくとも1種類の薄膜トランジスタを複数個持つ非発光領域と、を含み、
前記発光領域及び非発光領域の薄膜トランジスタのうち同じ種類の薄膜トランジスタ同士では、各薄膜トランジスタの少なくともチャンネル領域の長手方向が互いに平行に配置されたことを特徴とする平板表示装置。 - 前記P型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向と、前記N型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向とは互いに平行であることを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
- 前記P型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向と、前記N型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向とは互いに交差することを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
- 前記薄膜トランジスタの少なくともチャンネル領域はナノ粒子よりなることを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
- 前記ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項24に記載の平板表示装置。
- 前記発光領域は複数個の有機電界発光素子を具備したことを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
- 半導体の活性層を持つ薄膜トランジスタの製造方法において、
複数個のナノ粒子ラインを区画する段階と、
前記各ナノ粒子ラインに沿って、少なくとも一つのナノ粒子を含むライン上のナノ膜を形成する段階と、
前記ナノ膜をパターニングして活性層を形成する段階と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。 - 前記ナノ粒子ラインはP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインを含み、
前記ナノ膜はP型ナノ膜及びN型ナノ膜よりなり、それぞれ前記P型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに沿って形成されることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。 - 前記ナノ粒子の長手方向が前記ナノ膜の長手方向に平行であることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
- 前記ナノ粒子はナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
- 前記ナノ粒子ラインはストライプ状であることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
- 前記ナノ膜の形成段階は、
P型またはN型ナノ粒子が含まれた溶液を前記ナノ粒子ラインに沿って塗布する段階と、
前記塗布された溶液を乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。 - 前記ナノ膜の形成段階は、
P型またはN型ナノ粒子が整列されたドナーシートを形成する段階と、
前記ドナーシートをアクセプターである基板に整列する段階と、
前記ドナーシートに前記ナノ粒子ラインに沿ってレーザービームを照射する段階と、
前記ドナーシートと基板とを分離する段階と、を含むことを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。 - 前記ドナーシートを形成する段階は、
一面が光熱変換層よりなるフィルムを準備する段階と、
保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、
前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、
前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、
前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項33に記載の薄膜トランジスタの製造方法。 - 複数個の画素を具備した発光領域と、前記画素ごとに備えられた半導体の活性層を持つ薄膜トランジスタを具備した選択駆動回路とを含む平板表示装置の製造方法において、
複数個のナノ粒子ラインを区画する段階と、
前記各ナノ粒子ラインに沿って、少なくとも一つのナノ粒子を含むライン上のナノ膜を形成する段階と、
前記ナノ膜をパターニングして活性層を形成する段階と、を含むことを特徴とする平板表示装置の製造方法。 - 前記ナノ粒子ラインはP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインを含み、
前記ナノ膜はP型ナノ膜及びN型ナノ膜で備えられて、それぞれ前記P型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに沿って形成されることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。 - 前記ナノ粒子の長手方向が前記ナノ膜の長手方向に平行であることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
- 前記ナノ粒子はナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
- 前記ナノ粒子ラインはストライプ状であることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
- 前記ナノ膜の形成段階は、
P型またはN型ナノ粒子が含まれた溶液を前記ナノ粒子ラインに沿って塗布する段階と、
前記塗布された溶液を乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。 - 前記ナノ膜の形成段階は、
P型またはN型ナノ粒子が整列されたドナーシートを形成する段階と、
前記ドナーシートをアクセプターである基板に整列する段階と、
前記ドナーシートに前記ナノ粒子ラインに沿ってレーザービームを照射する段階と、
前記ドナーシートと基板とを分離する段階と、を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。 - 前記ドナーシートを形成する段階は、
一面が光熱変換層であるフィルムを準備する段階と、
保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、
前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、
前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、
前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。 - 前記フィルムはローリングされた状態で備えられて、前記水槽内へ連続して供給されることを特徴とする請求項42に記載の平板表示装置の製造方法。
- 前記各画素に、いずれか一つの電極が前記選択駆動回路に電気的に連結された有機電界発光素子を形成する段階を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
- 一面が光熱変換層であるフィルムを準備する段階と、
保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、
前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、
前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、
前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とするドナーシートの製造方法。 - 前記フィルムはローリングされた状態で備えられて、前記水槽内へ連続して供給されることを特徴とする請求項45に記載のドナーシートの製造方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20040013007 | 2004-02-26 | ||
KR2004-013007 | 2004-02-26 | ||
KR1020040026648A KR100708644B1 (ko) | 2004-02-26 | 2004-04-19 | 박막 트랜지스터, 이를 구비한 평판 표시장치, 박막트랜지스터의 제조방법, 평판 표시장치의 제조방법, 및도너 시트의 제조방법 |
KR2004-026648 | 2004-04-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005244240A true JP2005244240A (ja) | 2005-09-08 |
JP4731950B2 JP4731950B2 (ja) | 2011-07-27 |
Family
ID=34889501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005051653A Active JP4731950B2 (ja) | 2004-02-26 | 2005-02-25 | 半導体基板、これを具備した平板表示装置、半導体基板の製造方法、平板表示装置の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7378711B2 (ja) |
JP (1) | JP4731950B2 (ja) |
KR (2) | KR100625999B1 (ja) |
CN (1) | CN100487918C (ja) |
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US20050189883A1 (en) | 2005-09-01 |
US7579199B2 (en) | 2009-08-25 |
CN100487918C (zh) | 2009-05-13 |
JP4731950B2 (ja) | 2011-07-27 |
KR20050087691A (ko) | 2005-08-31 |
CN1661813A (zh) | 2005-08-31 |
KR20050087692A (ko) | 2005-08-31 |
US20080176349A1 (en) | 2008-07-24 |
KR100625999B1 (ko) | 2006-09-20 |
US7378711B2 (en) | 2008-05-27 |
KR100708644B1 (ko) | 2007-04-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070822 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081125 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20081201 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081217 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090225 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090302 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090323 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091027 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100120 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100706 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101105 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20101119 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110405 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110420 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140428 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4731950 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140428 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140428 Year of fee payment: 3 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140428 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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