JP2005244240A - 薄膜トランジスタ、これを具備した平板表示装置、薄膜トランジスタの製造方法、平板表示装置の製造方法、及びドナーシートの製造方法 - Google Patents

薄膜トランジスタ、これを具備した平板表示装置、薄膜トランジスタの製造方法、平板表示装置の製造方法、及びドナーシートの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 チャンネルにナノ粒子を使用した薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】 少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのP型またはN型ナノ粒子よりなり、P型またはN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、基板上に区画されたP型またはN型ナノ粒子ラインと平行に配列されている。
【選択図】 図4

Description

本発明は薄膜トランジスタ、これを具備した平板表示装置、薄膜トランジスタの製造方法、平板表示装置の製造方法、及びドナーシートの製造方法に係り、さらに詳細には、少なくともチャンネルにナノ粒子を利用した薄膜トランジスタ、これを具備した平板表示装置、薄膜トランジスタの製造方法、平板表示装置の製造方法、及びドナーシートの製造方法に関する。
液晶表示装置や有機電界発光表示装置または無機電界発光表示装置などの平板表示装置は、その駆動方式によって、受動駆動方式のパッシブマトリックス(Passive Matrix:PM)型と、能動駆動方式のアクティブマトリックス(Active Matrix:AM)型とに区分される。
前記PM型は、単純に陽極と陰極とがそれぞれカラムとローとに配列されて、陰極にはロー駆動回路からスキャニング信号が供給され、この時、複数のローのうち一つのローのみ選択される。また、カラム駆動回路には各画素にデータ信号が入力される。
一方、前記AM型は、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下“TFT”)を利用して画素ごとに入力される信号を制御するものであり、ぼう大な量の信号を処理するのに適して動画像を具現するためのディスプレイ装置として多く使われている。
このようにAM型平板表示装置のTFTは、高濃度の不純物でドーピングされたソース/ドレイン領域と、このソース/ドレイン領域の間に形成されたチャンネル領域を持つ半導体活性層を持ち、この半導体活性層と絶縁されて前記チャンネル領域に対応する領域に位置するゲート電極と、前記ソース/ドレイン領域にそれぞれ接触するソース/ドレイン電極とを持つ。
前記半導体活性層は非晶質シリコンまたは多結晶質シリコンが多く使われるが、非晶質シリコンは低温蒸着が可能であるという長所があるものの、電気的特性及び信頼性が低下し、表示素子の大面積化が難しいという短所があるため、最近では多結晶質シリコンを多く使用している。多結晶質シリコンは、数十ないし数百cm/V・sの高い電流移動度を持ち、高周波動作特性及び漏れ電流値が低くて高精細及び大面積の平板表示装置への使用に非常に適している。
ところが、多結晶質シリコンで半導体活性層を製造する場合には、非晶質シリコンを多結晶質シリコンに結晶化する結晶化工程が必要であるが、この結晶化には通常300℃以上の高温工程が存在する。
一方、最近の平板表示装置は、十分な視野角を確保するために所定の張力を加えれば一定程度曲がるようにするか、アームバンド、財布、ノート型パソコンなどの携帯型製品に採用しようとするために、柔軟性への要求が高まりつつある。
ところが、従来の方法で多結晶質シリコンTFTを形成する場合には、柔軟性平板表示装置を得難い。すなわち、柔軟性製品を加工するためには、基板を含む構成品の大部分に、容易に曲がる材料としてアクリル、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエステル、マイラー(mylar)などプラスチック材料を採用せねばならないが、それらプラスチック材料は熱に弱い。
したがって、特に、柔軟性製品に採用される平板表示装置のTFTを加工するためには、プラスチック材料が耐えられる温度以下で製造できる構造及び方法が必要である。
本発明は前記従来技術の問題点を鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、特性が優秀で常温で製造可能なTFT、これを具備した平板表示装置、TFTの製造方法、平板表示装置の製造方法、及びドナーシートの製造方法を提供するところにある。
前記のような課題を達成するために、本発明は、基板上に位置するものであり、少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのP型またはN型ナノ粒子よりなり、前記P型またはN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型またはN型ナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする薄膜トランジスタを提供する。
また本発明は、基板上に位置し、少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのP型ナノ粒子よりなるP型薄膜トランジスタと、前記基板上に位置し、少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのN型ナノ粒子よりなるN型薄膜トランジスタと、を含み、前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする薄膜トランジスタを提供する。
それだけではなく、本発明は、基板と、前記基板上に備えられ、複数個の画素を持つ発光領域と、前記画素ごとに備えられた複数個の選択駆動回路と、を含み、前記各選択駆動回路は少なくとも一つの薄膜トランジスタを持つが、前記各薄膜トランジスタは、少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのナノ粒子よりなり、前記ナノ粒子は、その長手方向が、前記基板上に区画されたナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする平板表示装置を提供する。
本発明はまた、P型及びN型のうち少なくとも1種類の薄膜トランジスタを複数個持つ発光領域と、P型及びN型のうち少なくとも1種類の薄膜トランジスタを複数個持つ非発光領域と、を含み、前記発光領域及び非発光領域の薄膜トランジスタのうち同じ種類の薄膜トランジスタ同士では、各薄膜トランジスタの少なくともチャンネル領域の長手方向が互いに平行に配置されたことを特徴とする平板表示装置を提供する。
本発明はまた、半導体の活性層を持つ薄膜トランジスタの製造方法において、複数個のナノ粒子ラインを区画する段階と、前記各ナノ粒子ラインに沿って、少なくとも一つのナノ粒子を含むライン上のナノ膜を形成する段階と、前記ナノ膜をパターニングして活性層を形成する段階と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
本発明はまた、複数個の画素を具備した発光領域と、前記画素ごとに備えられた半導体の活性層を持つ薄膜トランジスタを具備した選択駆動回路とを含む平板表示装置の製造方法において、複数個のナノ粒子ラインを区画する段階と、前記各ナノ粒子ラインに沿って、少なくとも一つのナノ粒子を含むライン上のナノ膜を形成する段階と、前記ナノ膜をパターニングして活性層を形成する段階と、を含むことを特徴とする平板表示装置の製造方法を提供する。
本発明はまた、一面が光熱変換層であるフィルムを準備する段階と、保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とするドナーシートの製造方法を提供する。
本発明によれば次のような効果を得ることができる。
第1に、TFTのチャンネルにナノ粒子を利用することによって高温工程を経ずとも、常温または低温でTFT及びそれを具備した平板表示装置、特に、有機電界発光表示装置を製造できる。
第2に、これにより、高温熱処理に脆弱なプラスチック材料を平板表示装置、特に、有機電界発光表示装置に利用できる。したがって、フレキシブルな平板表示装置の製造にさらに有利である。
第3に、長手方向に配列されたナノ粒子でチャンネルを形成することによって、モビリティーをさらに向上させうる。
以下、添付された図面を参照して本発明の望ましい実施形態を説明する。
図1は、基板100上に形成された有機電界発光表示装置1の発光領域10及び非発光領域20を示す概略図である。
発光領域10には、有機電界発光素子(Organic Light Emitting Diode:OLED)及び選択駆動回路を持つ複数の副画素が配置される。
非発光領域20には、前記副画素を駆動する水平ドライバ及び/または垂直ドライバが配置される。図1では非発光領域20に垂直ドライバVDのみを図示したが、必ずしもこれに限定されるものではなく、水平ドライバやレベルシフタなど複数の回路が配置されうる。そして、前記非発光領域20には、外部回路に連結される端子部と、少なくとも表示領域10を密封する密封部とが位置する。
図2は、本発明の望ましい一実施形態による有機電界発光表示装置で、発光領域10のいずれかの単位画素の選択駆動回路SCの回路図、及び非発光領域20の垂直ドライバVDのCMOS TFT 21を表す概略的回路図を表したものである。回路図は必ずしもこれに限定されるものではなく、多様な回路構造に以下に説明される本発明が適用されうることはいうまでもない。
図2による本発明の望ましい一実施形態は、基板上にストライプ状に配列されたP型ナノ粒子ライン(PLine)120a及びN型ナノ粒子ライン(NLine)120bが複数の行に延びて区画されており、TFTの少なくともチャンネル領域が、その長手方向が前記ナノ粒子ライン120に沿って平行になるように配置されている。前記P型及びN型のようなナノ粒子ライン120は基板上に区画されている仮想のラインであり、TFTの少なくともチャンネル領域の配置のために区画されたものである。したがって、あらゆるナノ粒子ライン120にTFTが形成される必要はなく、ナノ粒子ライン120に沿ってTFTが形成されることもあり、形成されないこともある。
前記ナノ粒子ライン120に沿って、このナノ粒子ライン120上に半導体活性層のチャンネルの役割をするナノ粒子が配置される。すなわち、ナノ粒子はその製造工程上で前記ナノ粒子ライン120に沿って印刷されうる。これについてのさらに詳細な説明は後述する。
図3は、図2による回路図の断面構造を表したものであり、各単位画素内の選択駆動回路の駆動TFT 11、スイッチングTFT 12を表し、垂直ドライバのCMOS TFT 21を表す。CMOS TFT 21は、N型TFT 22とP型TFT 23とが結合された形態をしている。前述した垂直ドライバVDは必ずしもこのようなCMOS TFT 21のみを具備しているものではなく、多様な種類のTFTと回路素子とが関連されて駆動回路を形成する。
それらTFT 11、12、22、23は基板100上に形成され、前述したようなナノ粒子ライン上で配列される。
前記基板100はアクリル、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリエステル、マイラー、その他のプラスチック材料が使われうるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、ガラス材も使用可能である。この基板100上には、必要に応じて不純物イオンが広がることを防止するためのバッファ層110が選択的に配置されうる。
そして、前記基板100上に配列されたナノ粒子ラインに沿って、予め物理的、化学的方法で製造されたナノ粒子が配列されてパターニングされ、各TFT 11、12、22、23の半導体活性層121、122、123、124の少なくともチャンネルを形成する。
図3に図示されたように、前記それぞれのナノ粒子よりなる複数の活性層121、122、123、124の上部には、酸化ケイ素及び/または窒化ケイ素よりなるゲート絶縁膜130が形成され、その上にMoW、Al、Cr、Al/Cu、Ti/Al/Tiなどの導電性金属膜により各TFT 11、12、22、23のゲート電極141、142、143、144が形成されうる。
ゲート絶縁膜130及びゲート電極141、142、143、144の上部には酸化ケイ素及び/または窒化ケイ素よりなる層間絶縁膜150が形成され、その上に前記ゲート電極141、142、143、144と絶縁されるように形成された各TFT 11、12、22、23のソース/ドレイン電極161、162、163、164が配置される。ソース/ドレイン電極161、162、163、164はMoW、Al、Cr、Al/Cu、Ti/Al/Tiなどの導電性金属膜や導電性ポリマーなどの導電性素材で備えられる。また、ソース/ドレイン電極161、162、163、164は、コンタクトホール150a、150b、150c、150dを通じてそれぞれの活性層121、122、123、124のソース/ドレイン領域にそれぞれ接続される。このように形成することによって本発明によるTFTを形成する。
一方、前記ゲート電極141、142、143、144及びソース/ドレイン電極161、162、163、164の形成時、それらと同じ物質で充電用キャパシタCstを形成できる。
前記ソース/ドレイン電極161、162、163、164の上部には、酸化ケイ素及び/または窒化ケイ素よりなるパッシベーション膜170が形成され、その上にアクリル、BCB、ポリイミドなどによる平坦化膜171が形成される。そして、パッシベーション膜170及び平坦化膜171には、駆動TFT 11のソース及びドレイン電極161のうちいずれか一つが露出されるようにビアホール170aが形成される。前記パッシベーション膜170及び平坦化膜171は必ずしもこれに限定される必要はなく、いずれか1層のみ備えられてもよい。
前記平坦化膜171の上部にはOLEDの下部電極層である画素電極180が形成される。この画素電極180を、ビアホール170aを通じて前記ソース及びドレイン電極161のうちいずれか一つに連結させる。
前記画素電極180の上部には、アクリル、BCB、ポリイミドなどの有機物、または酸化ケイ素、窒化ケイ素などの無機物のような絶縁物により画素定義膜185が形成される。画素定義膜185は図2から見る時、選択駆動回路SCの駆動TFT 11、スイッチングTFT 12などのTFTを覆い、前記画素電極180の所定部分が露出されるように開口部を持つように形成される。
そして、発光層を具備した有機膜190が、少なくとも画素電極180が露出された開口部上に塗布される。有機膜190は、画素定義膜185の全面に形成されることもある。この時、有機膜190の発光層は各画素当り赤、緑、青色でパターニングされてフルカラーを具現できる。
一方、非発光領域20の垂直または水平ドライバが位置した部分上には図3から分かるように、画素定義膜185が形成されないこともあるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、これを覆うように形成されることもある。
前記有機膜190が形成された後には、OLEDの下部電極層である共通電極195が形成される。この共通電極195はあらゆる画素を覆うように形成されうるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、パターニングされることもある。
前記画素電極180と共通電極195とは前記有機膜190により互いに絶縁されており、有機膜190に相異なる極性の電圧を加えて有機膜190で発光させる。
一方、画素電極180はアノード電極として機能し、共通電極195はカソード電極として機能するが、もちろん、それら画素電極180と共通電極195との極性は逆になってもよい。
画素電極180は、透明電極または反射型電極で備えられうるが、透明電極として使われる時にはITO、IZO、ZnO、またはInよりなり、反射型電極として使われる時にはAg、Mg、Al、Pt、Pd、Au、Ni、Nd、Ir、Cr、及びそれらの化合物で反射膜を形成した後、その上にITO、IZO、ZnO、またはInを形成できる。
一方、共通電極195も透明電極または反射型電極で備えられうるが、透明電極として使われる時にはこの共通電極195がカソード電極として使われ、仕事関数の小さな金属、すなわち、Li、Ca、LiF/Ca、LiF/Al、Al、Mg、及びそれらの化合物が有機膜190の方向に向けるように蒸着した後、その上にITO、IZO、ZnO、またはInなどの透明電極形成用物質で補助電極層やバス電極ラインを形成できる。そして、反射型電極として使われる時には前記Li、Ca、LiF/Ca、LiF/Al、Al、Mg、及びそれらの化合物を蒸着して形成する。
前記有機膜190は低分子または高分子有機層が使われうるが、低分子有機層を使用する場合、ホール注入層(HIL:Hole Injection Layer)、ホール輸送層(HTL:Hole Transport Layer)、有機発光層(EML:Emission Layer)、電子輸送層(ETL:Electron Transport Layer)、電子注入層(EIL:Electron Injection Layer)などが単一あるいは複合の構造で積層されて形成され、使用可能な有機材料も、銅フタロシアニン(CuPc:copper phthalocyanine)、N,N−ジ(ナフタレン−1−イル)−N,N’−ジフェニル−ベンジジン(NPB)、トリス−8−ヒドロキシキノリンアルミニウム(Alq3)などをはじめとして多様に適用可能である。それら低分子有機層は真空蒸着の方法で形成される。
高分子有機層の場合には、大体HTL及びEMLよりなる構造を持つことができ、この時、前記HTLとしてPEDOTを使用し、発光層としてPPV(Poly−Phenylenevinylene)系及びポリフルオレン系の高分子有機物質を使用し、これをスクリーン印刷やインクジェット印刷方法で形成できる。
一方、前記のような発光領域10の各画素及び非発光領域20のドライバに備えられるTFT 11、12、22、23の活性層に備えられたナノ粒子は長手方向に長く形成されたナノワイヤになることが望ましく、各TFTの活性層一つ当り少なくとも一つ以上配設され、活性層のチャンネルはこのナノワイヤの長手方向に平行に設計される。
このようなナノ粒子は必ずしもナノワイヤに限定されるものではなく、それ以外にもナノリボン、ナノロッド、ナノチューブなどを使うことができ、長手方向で形成されうるナノ粒子ならばいかなるものでも適用可能である。
本発明において、前記のようなナノ粒子よりなる活性層121、122、123、124は、図4から分かるように、その長手方向がストライプ状のナノ粒子ライン120に沿って配列されている。前記ナノ粒子ライン120は、P型ナノ粒子ライン120aとN型ナノ粒子ライン120bとよりなり、必ずしもストライプ状に備えられる必要はなく、曲線状など多様な形態で備えられうる。
そして、前記P型ナノ粒子ライン120に沿っては駆動TFTの活性層121と、スイッチングTFTの活性層122及びCMOS TFTのP型TFTの活性層124が配列され、N型ナノ粒子ライン120bに沿ってはCMOS TFTのN型TFTの活性層123が配列されうる。
このようなP型とN型との分類は必ずしもこれに限定されるものではなく、これは各単位画素10a内の選択駆動回路の設計と、非発光領域20でのドライバの回路設計とによって多様に変形できることはいうまでもない。すなわち、画素10a内の選択駆動回路に備えられた駆動TFTの活性層121と、スイッチングTFTの活性層122のうちいずれか一つをN型で形成するか、それら全部をN型で形成することもある。そして、選択駆動回路が2個より多数のTFTを使用する場合には、このようなP型とN型とが1単位画素10a内に混在されることもある。この時にも、各TFTの活性層は、図4に図示されたP型ナノ粒子ライン120a及びN型ナノ粒子ライン120bに沿って配設される。
この時、前記P型ナノ粒子ライン120aとN型ナノ粒子ライン120bとは互いに重畳されないように配列されており、望ましくは、P型ナノ粒子ライン120aとN型ナノ粒子ライン120bとが交互に配列されている。したがって、このようなナノ粒子ライン120に沿って配設されるTFTの活性層121、122、123、124は、P型とN型とが一ライン上に配設されなくなる。すなわち、図4から見れば、P型の駆動TFTの活性層121、スイッチングTFTの活性層122、及びCMOS TFTのP型TFTの活性層124はいずれも同じP型ナノ粒子ライン120a上に配設されることもあるが、それらP型の活性層121、122、124と、N型のCMOS TFTのN型TFTの活性層123とは、それぞれ互いに離れているP型ナノ粒子ライン120aとN型ナノ粒子ライン120bとに配設されるようになる。
このように、本発明によれば、発光領域10と非発光領域20のTFTのうち同じ種類のTFT同士では、その少なくともチャンネル領域の長手方向が互いに平行に配置される。すなわち、図4から分かるように、P型TFTの活性層である駆動TFTの活性層121と、スイッチングTFTの活性層122と、CMOS TFTのP型TFTの活性層124とはいずれも互いに平行に配設されており、N型TFTの活性層であるCMOS TFTのN型TFTの活性層123もいずれも互いに平行に配設されている。図面では、発光領域10にP型TFTのみ備えられているが、N型TFTが備えられていても非発光領域のN型TFTとその活性層とが平行に配置される。一方、図4で図示した実施例の場合には、P型とN型とも互いに平行である。
前記のようなナノ粒子ライン120は図5で図示したように、基板100上にP型ナノ粒子ライン120a及びN型ナノ粒子ライン120bに沿ってP型及びN型ナノ粒子よりなるP型ナノ膜125及びN型ナノ膜126を形成し、これを図4のように、発光領域10及び非発光領域20の設計パターンによってパターニングして活性層121、122、123、124を形成できる。このようなP型及びN型ナノ膜125、126は図5で図示されたように、ストライプ状に形成できる。
このように図5で図示されたようなナノ膜125、126は多様な方法により形成されうる。
図6Aは、本発明による有機電界発光表示装置の製造に利用される、微量の流体を塗布するためのPDMS高分子モールド200の概略的斜視図であり、図6Bは、その平面図である。
PDMS高分子モールド200は、例えば、ポリジメチルシロキサンよりなりうるボディフレームであり、図5のようなパターンのP型及びN型ナノ膜125、126を形成するために、長手方向に形成されたスタンピングライン230を下部に持ち、このスタンピングライン230を連結する入口210及び出口220を持つ。前記スタンピングライン230は、入口210を通じて注入されたナノ粒子溶液が印刷されるように下部底面から所定深さに引込まれている。このスタンピングライン230は20〜30μmの幅を持つことができる。
このようなPDMS高分子モールド200を利用したP型及びN型ナノ膜125、126の製造方法は次の通りである。
まず、洗浄された基板100を準備する。この時、基板100には、図3で図示されたようにバッファ層110が形成されていてもよい。
次に、ナノ粒子を持つ微量の流体を準備する。
ナノ粒子は、CdS、CdSe、CdTeを含むIIB−VIA族化合物のうちいずれか一つ、GaAsを含むIIIA−VA族化合物のうちいずれか一つ、Siを含むIVA族元素またはその化合物のうちいずれか一つ、Ni、Co、Fe、Pt、Au、Agを含む金属またはその化合物のうちいずれか一つよりなるコアと、前記化合物のうちいずれか一つで前記コアがコーティングされる合成物でありうる。しかし、必ずしもこれに限定されるものではなく、多様な材質のナノ粒子が使われうる。
このようなナノ粒子はあらかじめ物理的、化学的方法により製造されうるが、ナノ粒子の製造方法の例は次の通りである。
化学的方法で製造されたナノ粒子は、CdS、CdSe、CdTeを含むIIB−VIA族化合物のうちいずれか一つ、GaAsを含むIIIA−VA族化合物のうちいずれか一つ、Siを含むIVA族元素またはその化合物のうちいずれか一つ、Ni、Co、Fe、Pt、Au、Agを含む金属またはその化合物のうちいずれか一つよりなるコアと、前記化合物のうちいずれか一つで前記コアがコーティングされる合成物でありうる。
一例として、(CdSe)ZnSナノ粒子を形成するための最初の段階は、CdSeナノ結晶を準備することである。このナノ粒子の大きさはほぼ23〜55Åの範囲を持ち、大きさの分布の差は約5〜10%程度であると知られている。このCdSeナノ粒子は高温のコロイド成長処理過程及び大きさを選択するための沈殿過程を通じて形成される。ここで、高温のコロイド成長処理過程とは、高温の溶媒に有機金属前駆体を迅速に注射して瞬間的に均質の核を生成させることをいう。Cdソースとして使われる適当な有機金属前駆体はCdMe2のようなアルカリカドミウム合成物を含む。Seソースとして使われる適当な有機金属合成物は、ビス(トリメチルシリル)セレン((TMS)2Se)、(トリ−N−オクシルホスフィン)セレン化物(TOPSe)及び(トリ−N−ブチルホスフィン)セレン化物(TBPSe)のようなトリアルキルポスファインセレン化物などがある。次いで、CdSe粒子を溶媒(例えば、TOP)内に亜鉛(Zn)及び硫黄(S)前駆体を含む溶液として適正温度で塗布する。亜鉛及び硫黄前駆体としては、ダイチルジンク(Ditylzinc)及びヘキサメチルジシラタインを使用する。
物理的な方法には、真空合成、ガス相合成、凝縮相合成、イオン化されたクラスタービームによる高速蒸着、結合、高速製粉、合金処理、蒸着法及びゾル・ゲル方法などの多様な方法がある。
しかし、必ずしも前記のような方法に限定されるものではない。
前記ナノ粒子はナノワイヤ、ナノリボン、ナノロッド、断層壁または多層壁のナノチューブの形態を持つことができる。
このようなナノ粒子の製造方法の例として次のような方法がさらにありうる。
(a)P型Siナノワイヤ
厚さ20〜40nmのP型Siナノワイヤの場合、商業的に利用可能な単分散金コロイド粒子(British Biocell International Ltd)を触媒としてSiHとBとの熱蒸着で合成される。この時、温度は420〜480℃とし、反応器は8インチのチューブファーネスであり、コンピュータで制御される成長を可能に調節する。全体圧力が30torrである時、シラン分圧は約2torr、反応時間は40分かかる。SiHとBとの比率はドーピングレベルを鑑みて6400:1に調節する。この時、ナノワイヤのドーピング濃度は約4×10E+17cm−3と推定される。ドーピングレベルが高ければ高いほど高温アニーリングプロセスがなくてもコンタクト抵抗が低くなる長所がある。
(b)N型Siナノワイヤ
N型のSiナノワイヤはレーザー触媒成長(Laser−assisted Catalytic Growth;LCG)方法で合成される。簡単にはNd:YAGレーザー(532nm;8nsパルス幅、300mJ/pulse、10Hz)のレーザービームを利用して金ターゲットを剥離する方法を採択する。この時に生成される金ナノクラスター触媒粒子は、反応容器でSiHガスと共に反応してSiナノワイヤに成長する。ドーピングを行う場合には、N型の場合Au−Pターゲット(99.5:0.5wt%、Alfa Aesar)と補助赤色蛍光(99%Alfa Aesar)を反応容器のガス入口に置いて生成する。
(c)N型GaNナノワイヤ
アンモニアガス(99.99%、Matheson)、ガリウム金属(99.9999%、AlfaAesar)、マグネシウムナイトライド(Mg、99.6%、AlfaAesar)をそれぞれN、Ga、Mgのソースとして利用して金属−触媒CVDで形成する。この時に使用する基板はcプレインサファイアが望ましい。Mgは熱的に分解してMgN(s)=3Mg(g)+N(g)のようになり、Mgドーパントを生成し、Gaソースの上流に置かれる。950℃温度条件でGaNナノワイヤが形成され、ニッケルが触媒として使われる。長さはほぼ10〜40μmの分布を持つ。
(d)N型CdSナノリボン
CdSナノリボンは真空カポー伝達方法で合成される。特に、少量のCdS粉末(100mg以下)を真空管の一端に置いて密封する。CdS粉末の温度が900℃を維持するように真空管を加熱しつつ、他端は50℃以下に維持する。2時間以内に大部分のCdSが冷たい方に移動して真空管の壁に付着する。このような方法で得られた物質は30〜150nmの厚さを持つナノリボンが主であり、この時の幅は0.5〜5μm、長さは10〜200μm程度である。
(e)Geナノワイヤ
2.5cm直径のファーネス反応器でH(総気圧=1atm)を100sccmの流速で流すと同時に、GeH(10% in He)の流速を10sccm(標準立方センチメートル)に維持しつつ275℃条件で15分間CVDを行って得る。反応基板は、金ナノ結晶(平均20nm直径)をSiO基板表面に均一に分散した基板を使用する。
(f)InPナノワイヤ
InPナノワイヤはLCG方法で形成される。LCGターゲットは大体94%のInP、触媒としての5%Au、ドーピング元素としての1%TeまたはZnで構成されている。成長する間にファーネス温度は800℃(中間)に維持し、ターゲットはファーネスの中間よりは上流端部に位置させる。レーザー条件はNd−YAGレーザー(波長1064nm)のパルスを10分間照射し、この時、ナノワイヤはファーネスの冷たい側の下流端部に捕集される。
(g)ZnOナノロッド
ZnOナノロッドは約29.5g(0.13mol)の亜鉛アセテート二水和物(ZnOCOCH−2HO))を60℃で125mLのメタノールに溶かした後、65mLのメタノールに14.8g(0.23mol)のポタシウムヒドロキシド(KOH)を溶かした溶液を付加して作る。反応混合物は60℃で数日間攪拌する。数日内にナノロッドが沈殿されれば沈殿物をメタノールで洗浄し、5500rpmで30分間遠心分離する。得られたナノ粒子をエチレングリコール/水2:1の溶媒で希釈させて溶液を作る。3日ほど熟成させる場合、直径15〜30nm、長さ200〜300nm程度のナノロッドを得ることができる。これとは違って、CVD方法を利用すればナノワイヤを得ることもある。
前記のように製造されたナノ粒子は、通常の湿式化学的方法を通じてナノ粒子を込めたコロイド溶液として製造される。例えば、ナノ粒子を込めたコロイド溶液は、既に作られたナノワイヤまたはナノリボンをエタノールに入れた後、超音波を利用して均質に混合して製造できる。
このように備えられたナノ粒子コロイド溶液を、極微量ずつ前記PDMS高分子モールド200の入口210に流し入れる。この時、PDMS高分子モールド200のスタンピングライン230は前記P型ナノ粒子ライン120aまたはN型ナノ粒子ライン120bにアラインされており、このラインに沿って、図5のようにP型ナノ膜125またはN型ナノ膜126が形成される。この時、各ナノ膜125、126は相互間にある程度、例えば、一単位画素のピッチ程度は離れていることが望ましい。
このように微量の流体を塗布した後にはこれを乾燥するが、乾燥作業は常温でなされうる。但し、迅速な乾燥のためには、過度に高くない適切な温度で熱処理を行うことが望ましい。それにより、図5のような複数のナノ膜125、126が形成される。
このようにナノ膜125、126が形成された後には、それをパターニングして図4で図示されたように、発光領域10と非発光領域20とのTFTの半導体活性層121、122、123、124を形成する。その後には後続工程を進めて、図3で図示されたような構造の有機電界発光表示装置を形成する。
一方、このようなナノTFTを持つ構造は必ずしも図3のような積層構造を持つ必要はなく、基板100のバッファ層110上にゲート電極141、142、143、144をまず形成した後、これを覆うようにゲート絶縁膜150を形成した後、その上に図5のようなナノ膜125、126を形成することもある。
図5で図示されたようなナノ膜125、126はそれ以外にも多様な方法により形成されうる。
その一例に、基板上にPDMS高分子モールドを利用してスタンピング方法でアミン処理をした後、公知のインクジェット方法で図5のようなパターニングを形成できる。このようなインクジェット方法によれば、パターン幅を20μmまで形成できる。
また、他の例としてレーザー誘導化熱転写法(Laser Induced Thermal Imaging Method、以下、“LITI法”)によっても可能である。
図7Aないし図7Cは、LITI法により図5のようなナノ膜のパターンを形成する方法を図示したものであり、図8は、この時のドナーシートの断面を図示したものである。図9A及び図9Bは、このようなドナーシートを製造する方法の一例を図示したものであり、図10はこのように形成されたドナーシートの平面を図示したものである。
まず、本発明においてLITI法によるナノ膜の形成方法は、図8で図示されたようなドナーシート300を利用する。
このドナーシート300は、フィルム310にナノワイヤ330をその長手方向に平行に配列させて転写層320を形成する。
前記フィルム310は基材となるベースフィルム312と、光熱転換層(Light to Heat Conversion Layer、以下、LTHC層)314とを含む。前記ベースフィルム312にはポリオレフィン系樹脂が使われうる。そして、前記LTHC層314は、アクリルに炭素を攪拌して前記ベースフィルム312にコーティングできるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、レーザーの光を熱に転換させて転写層320に熱を加えて転写層320を転写するか、またはレーザーのアブレーション現象を誘発させるものならばいかなるものでもよい。
このようなドナーシート300は、図9A及び図9Bで図示された方法で製造できる。
水のような溶液351が保存されている水槽350に複数個のナノワイヤ330を混入させる。この時、ナノワイヤ330は前述したP型ナノワイヤまたはN型ナノワイヤであるが、それらは溶液351上に浮いている状態で不規則な方向に配列されている。
この状態で、アライメントバー352を利用し溶液351表面のナノワイヤ330を一側に押せば、ナノワイヤ330はアライメントバー352に押されて一側に集まる。通常のナノワイヤの場合、直径または厚さが30nm程度であり、長さが40ないし50μmであるために、その縦横比が非常に大きい。したがって、一側に集まったナノワイヤ330はほぼ一方向に整列され、この整列方向はナノワイヤ330の長手方向に平行する。
この状態で、図9Bのように、フィルム310を連続して供給しつつ前記ナノワイヤ330をフィルム310の表面に付着させれば、図8及び図10のようなドナーシートを得られる。
すなわち、水槽350に複数個のローラ353を設置し、このローラ353を利用してフィルム310が水槽350を貫通するようにする。この時、フィルム310は図8で図示されたように、ベースフィルム312にLTHC層314が形成されているものであり、LTHC層314にナノワイヤ330が接合されるように、LTHC層314がナノワイヤ330の方向になるように水槽350を通過させる。
このように水槽350を通過させてLTHC層314にナノワイヤ330が接合される時、ナノワイヤ330は水槽350の一側に密集している状態であるため、ほぼ一方向に整列されている。このようなナノワイヤ330は、フィルム310のLTHC層314に接合されてもその整列状態がそのまま保持されうる。このようにナノワイヤ330が整列されたフィルム310を乾燥した後、所定長さに切断すれば、図10で図示されたように、ナノワイヤ330が一方向に整列されたドナーシート300を得ることができる。
このようなドナーシート300の形成方法はフィルム310がインライン状に連続して供給されるので、Roll−to−Roll方式が可能となり、これにより、連続して多くのドナーシート300を形成できる。したがって、生産性をさらに高めうる。
このように得られたドナーシート300を図7Aで図示されたように、バッファ層110が形成された基板100に定着させ、図7Bで図示されたように、互いにラミネーティングして仮接合する。その状態で、パターンを形成する所定部位にレーザービームを照射してドナーシート300と基板100とを分離させれば、図7Cで図示されたように、基板100上に所定パターンが形成される。このようにレーザービームによりパターンを形成するので、図5で図示されたように、P型ナノ膜125及びN型ナノ膜126のうちいずれか一つを形成できる。そして、他の形態のナノワイヤが整列されたドナーシートを利用して、1ラインほどシフトした状態でレーザーパターニングを行えば、他のナノ膜を形成できる。
このように、図5のように、ナノ粒子ライン120に沿ってナノ膜125、126を形成した後には、これをパターニングして図4のような活性層パターンを得て、後続TFT形成工程及びOLEDの形成工程を経て図3で図示されたように、有機電界発光表示装置を形成できる。
このようなLITI法以外にもドナーフィルムに所定のパターンを形成した後、圧力を加えて基板上にパターンを形成する一般的な転写法も使用可能である。
一方、本発明は、図5で図示されたように、ナノライン120に沿うナノ膜125、126を形成した後、これをパターニングして図4のような活性層を形成することもできるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、図5のようなナノ膜125、126の形成なしに直接図4のような活性層をパターニングすることもできる。
すなわち、図6A及び図6Bの方法を使用する場合には、スタンピングライン230を活性層に対応する大きさにパターニングして一部にのみナノ膜を形成でき、インクジェット方法の場合にも、該当ナノ粒子ラインに沿ってノズルが移動しつつ特定活性層の部分にのみナノ膜を形成することによって活性層を製造できる。また、図7Aないし図7CのようなLITI法をはじめとする転写法の場合にも、該当活性層の部分にのみナノ膜を形成することによって活性層の形成が可能となる。
本発明は、また、図4及び図5で図示されたように、P型ナノ粒子ライン120aと、N型ナノ粒子ライン120bとを互いに平行に交互的に配置する外、図11で図示されたように、P型ナノ粒子ライン120aと、N型ナノ粒子ライン120bとが互いに交差するように配置することもできる。この時にはもちろん、駆動TFTの活性層121がP型となり、スイッチングTFTの活性層122がN型となるが、必ずしもこれに限定されるものではなく、これは画素の選択駆動回路設計によって多様に変形できる。
このような本発明によっても、前述したように、発光領域10と非発光領域20とのTFTのうち同じ種類のTFT同士では、その少なくともチャンネル領域の長手方向が互いに平行に配置される。すなわち、図1で図示されたように、P型TFTの活性層である駆動TFTの活性層121と、CMOS TFTのP型TFTの活性層124とはいずれも互いに平行に配設されており、N型TFTの活性層であるスイッチングTFTの活性層122と、CMOS TFTのN型TFTの活性層123ともまたいずれも互いに平行に配設されている。そして、P型とN型とは互いに交差するように配設されている。
このようにP型ナノ粒子ライン120aと、N型ナノ粒子ライン120bとが互いに交差するように配置される場合にも前述した方法がいずれも使われうる。
すなわち、図6A及び図6Bの方法を使用する場合には、スタンピングライン230にパターニングを行って一部にのみナノ膜を形成可能にする。
そして、インクジェット方法の場合にも、該当ナノ粒子ラインに沿ってノズルが移動しつつ特定活性層の部分にのみナノ膜を形成することによって活性層を製造できる。
また、図7Aないし図7CのようなLITI法をはじめとする転写法の場合にも、該当活性層の部分にのみナノ膜を形成することによって活性層形成が可能になる。
以上説明したように、本発明を最も望ましい実施形態を基準として説明したが、前記実施形態は本発明の理解を助けるためのものであり、本発明の内容がそれに限定されるものではない。本発明の構成についての一部構成要素の付加、削減、変更、修正などがあるとしても、特許請求の範囲によって定義される本発明の技術的思想に属するかぎり、本発明の範囲に該当する。
本発明は必ずしも有機電界発光表示装置に限定されるものではなく、液晶表示装置、無機電界発光表示装置、LEDなどTFTを持つことができる多様な形態の平板表示装置に好適に利用できる。
本発明による平板表示装置の平面構造を概略的に示した平面図である。 図1の発光領域及び非発光領域の回路構造を示した回路図である。 図2の回路図による発光領域及び非発光領域の断面構造を示した断面図である。 本発明による平板表示装置の活性層を概略的に示した平面図である。 本発明による活性層を形成するためのナノ膜が形成された状態を示した平面図である。 図5によるナノ膜を形成するための方法のうち、一例として使われるPDMS高分子モールドの概略的斜視図及び平面図である。 図5によるナノ膜を形成するための方法のうち、一例として使われるPDMS高分子モールドの概略的斜視図及び平面図である。 図5によるナノ膜を形成するための方法の他の一例を示した断面図である。 図5によるナノ膜を形成するための方法の他の一例を示した断面図である。 図5によるナノ膜を形成するための方法の他の一例を示した断面図である。 図7Aないし図7Cの方法に使われるドナーシートの断面図である。 図8のドナーシートを製造する方法を順に示した図面である。 図8のドナーシートを製造する方法を順に示した図面である。 図9A及び図9Bの方法によって製造されたドナーシートの平面図である。 本発明の他の実施例による平板表示装置の活性層を概略的に示した平面図である。
符号の説明
10 発光領域
10a 単位画素
20 非発光領域
120 ナノ粒子ライン
120a P型ナノ粒子ライン
120b N型ナノ粒子ライン
121 駆動TFTの活性層
122 スイッチングTFTの活性層
123 CMOS TFTのN型TFTの活性層
124 CMOS TFTのP型TFTの活性層

Claims (46)

  1. 基板上に位置するものであり、少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのP型またはN型ナノ粒子よりなり、
    前記P型またはN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型またはN型ナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする薄膜トランジスタ。
  2. 前記P型及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  3. 前記P型及びN型ナノ粒子ラインのうち少なくとも一つはストライプ状であることを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタ。
  4. 基板上に位置し、少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのP型ナノ粒子よりなるP型薄膜トランジスタと、
    前記基板上に位置し、少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのN型ナノ粒子よりなるN型薄膜トランジスタと、を含み、
    前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする薄膜トランジスタ。
  5. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに平行に配列されたことを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
  6. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交差するように配列されたことを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
  7. 前記P型及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
  8. 前記P型及びN型ナノ粒子ラインのうち少なくとも一つはストライプ状であることを特徴とする請求項4に記載の薄膜トランジスタ。
  9. 基板と、
    前記基板上に備えられ、複数個の画素を持つ発光領域と、
    前記画素ごとに備えられた複数個の選択駆動回路と、を含み、
    前記各選択駆動回路は少なくとも一つの薄膜トランジスタを持つが、
    前記各薄膜トランジスタは、
    少なくともチャンネル領域が、長手方向に配列された少なくとも一つのナノ粒子よりなり、
    前記ナノ粒子は、その長手方向が、前記基板上に区画されたナノ粒子ラインと平行に配列されたことを特徴とする平板表示装置。
  10. 前記ナノ粒子ラインは、それぞれ平行に配列されたP型ナノ粒子ラインとN型ナノ粒子ラインとを含み、
    前記各選択駆動回路の薄膜トランジスタのナノ粒子は、P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つであり、
    前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれ前記P型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに沿って配列されたことを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
  11. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに平行に配列されたことを特徴とする請求項10に記載の平板表示装置。
  12. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交互に配列されたことを特徴とする請求項11に記載の平板表示装置。
  13. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交差するように配列されたことを特徴とする請求項10に記載の平板表示装置。
  14. 前記選択駆動回路に連結されたCMOS薄膜トランジスタをさらに具備し、
    前記CMOS薄膜トランジスタは、
    少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのP型ナノ粒子よりなるP型薄膜トランジスタと、
    少なくともチャンネル領域が長手方向に配列された少なくとも一つのN型ナノ粒子よりなるN型薄膜トランジスタと、を含み、
    前記P型ナノ粒子及びN型ナノ粒子は、それぞれその長手方向が、前記基板上に区画されたP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに平行に配列されたことを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
  15. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに平行に配列されたことを特徴とする請求項14に記載の平板表示装置。
  16. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交互に配列されたことを特徴とする請求項15に記載の平板表示装置。
  17. 前記P型ナノ粒子ラインと前記N型ナノ粒子ラインとは互いに交差するように配列されたことを特徴とする請求項14に記載の平板表示装置。
  18. 前記各画素は有機電界発光素子を具備し、前記有機電界発光素子は前記選択駆動回路に電気的に連結されたことを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
  19. 前記P型及びN型ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
  20. 前記P型及びN型ナノ粒子ラインのうち少なくとも一つはストライプ状であることを特徴とする請求項9に記載の平板表示装置。
  21. P型及びN型のうち少なくとも1種類の薄膜トランジスタを複数個持つ発光領域と、
    P型及びN型のうち少なくとも1種類の薄膜トランジスタを複数個持つ非発光領域と、を含み、
    前記発光領域及び非発光領域の薄膜トランジスタのうち同じ種類の薄膜トランジスタ同士では、各薄膜トランジスタの少なくともチャンネル領域の長手方向が互いに平行に配置されたことを特徴とする平板表示装置。
  22. 前記P型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向と、前記N型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向とは互いに平行であることを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
  23. 前記P型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向と、前記N型薄膜トランジスタのチャンネル領域の長手方向とは互いに交差することを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
  24. 前記薄膜トランジスタの少なくともチャンネル領域はナノ粒子よりなることを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
  25. 前記ナノ粒子のうち少なくとも一つはナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項24に記載の平板表示装置。
  26. 前記発光領域は複数個の有機電界発光素子を具備したことを特徴とする請求項21に記載の平板表示装置。
  27. 半導体の活性層を持つ薄膜トランジスタの製造方法において、
    複数個のナノ粒子ラインを区画する段階と、
    前記各ナノ粒子ラインに沿って、少なくとも一つのナノ粒子を含むライン上のナノ膜を形成する段階と、
    前記ナノ膜をパターニングして活性層を形成する段階と、を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
  28. 前記ナノ粒子ラインはP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインを含み、
    前記ナノ膜はP型ナノ膜及びN型ナノ膜よりなり、それぞれ前記P型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに沿って形成されることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  29. 前記ナノ粒子の長手方向が前記ナノ膜の長手方向に平行であることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  30. 前記ナノ粒子はナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  31. 前記ナノ粒子ラインはストライプ状であることを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  32. 前記ナノ膜の形成段階は、
    P型またはN型ナノ粒子が含まれた溶液を前記ナノ粒子ラインに沿って塗布する段階と、
    前記塗布された溶液を乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  33. 前記ナノ膜の形成段階は、
    P型またはN型ナノ粒子が整列されたドナーシートを形成する段階と、
    前記ドナーシートをアクセプターである基板に整列する段階と、
    前記ドナーシートに前記ナノ粒子ラインに沿ってレーザービームを照射する段階と、
    前記ドナーシートと基板とを分離する段階と、を含むことを特徴とする請求項27に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  34. 前記ドナーシートを形成する段階は、
    一面が光熱変換層よりなるフィルムを準備する段階と、
    保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、
    前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、
    前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、
    前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項33に記載の薄膜トランジスタの製造方法。
  35. 複数個の画素を具備した発光領域と、前記画素ごとに備えられた半導体の活性層を持つ薄膜トランジスタを具備した選択駆動回路とを含む平板表示装置の製造方法において、
    複数個のナノ粒子ラインを区画する段階と、
    前記各ナノ粒子ラインに沿って、少なくとも一つのナノ粒子を含むライン上のナノ膜を形成する段階と、
    前記ナノ膜をパターニングして活性層を形成する段階と、を含むことを特徴とする平板表示装置の製造方法。
  36. 前記ナノ粒子ラインはP型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインを含み、
    前記ナノ膜はP型ナノ膜及びN型ナノ膜で備えられて、それぞれ前記P型ナノ粒子ライン及びN型ナノ粒子ラインに沿って形成されることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  37. 前記ナノ粒子の長手方向が前記ナノ膜の長手方向に平行であることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  38. 前記ナノ粒子はナノワイヤ、ナノロッド、またはナノリボンであることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  39. 前記ナノ粒子ラインはストライプ状であることを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  40. 前記ナノ膜の形成段階は、
    P型またはN型ナノ粒子が含まれた溶液を前記ナノ粒子ラインに沿って塗布する段階と、
    前記塗布された溶液を乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  41. 前記ナノ膜の形成段階は、
    P型またはN型ナノ粒子が整列されたドナーシートを形成する段階と、
    前記ドナーシートをアクセプターである基板に整列する段階と、
    前記ドナーシートに前記ナノ粒子ラインに沿ってレーザービームを照射する段階と、
    前記ドナーシートと基板とを分離する段階と、を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  42. 前記ドナーシートを形成する段階は、
    一面が光熱変換層であるフィルムを準備する段階と、
    保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、
    前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、
    前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、
    前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  43. 前記フィルムはローリングされた状態で備えられて、前記水槽内へ連続して供給されることを特徴とする請求項42に記載の平板表示装置の製造方法。
  44. 前記各画素に、いずれか一つの電極が前記選択駆動回路に電気的に連結された有機電界発光素子を形成する段階を含むことを特徴とする請求項35に記載の平板表示装置の製造方法。
  45. 一面が光熱変換層であるフィルムを準備する段階と、
    保存された溶液にP型またはN型ナノ粒子が浮いているように水槽を準備する段階と、
    前記ナノ粒子を一側に密集させる段階と、
    前記フィルムを前記水槽の溶液に貫通させて、前記フィルムの光熱変換層上に前記ナノ粒子を付着させる段階と、
    前記フィルムを乾燥する段階と、を含むことを特徴とするドナーシートの製造方法。
  46. 前記フィルムはローリングされた状態で備えられて、前記水槽内へ連続して供給されることを特徴とする請求項45に記載のドナーシートの製造方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7528004B2 (en) 2006-03-10 2009-05-05 Panasonic Corporation Method for mounting anisotropically-shaped members
WO2009144902A1 (ja) * 2008-05-29 2009-12-03 ミツミ電機株式会社 電界効果トランジスタおよびその製造方法
US7846786B2 (en) 2006-12-05 2010-12-07 Korea University Industrial & Academic Collaboration Foundation Method of fabricating nano-wire array
US8013331B2 (en) 2006-06-19 2011-09-06 Panasonic Corporation Thin film transistor, method of manufacturing the same, and electronic device using the same
JP4954088B2 (ja) * 2005-12-05 2012-06-13 シャープ株式会社 有機エレクトロルミネセンスパネル及び有機エレクトロルミネセンス表示装置
JP2015181166A (ja) * 2015-04-14 2015-10-15 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US9647137B2 (en) 2008-10-24 2017-05-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
US10036101B2 (en) 2010-05-11 2018-07-31 Qunano Ab Gas-phase synthesis of epitaxial semiconductor wires from seed crystals
KR101923172B1 (ko) * 2011-05-16 2018-11-29 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법
JP2019179932A (ja) * 2009-11-06 2019-10-17 株式会社半導体エネルギー研究所 トランジスタ及び表示装置

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101263078B (zh) * 2004-11-24 2012-12-26 奈米系统股份有限公司 适用于纳米线薄膜的接触掺杂和退火系统以及工艺
US8232722B2 (en) * 2005-02-16 2012-07-31 Massachusetts Institute Of Technology Light emitting devices including semiconductor nanocrystals
KR101117987B1 (ko) * 2005-06-07 2012-03-06 엘지디스플레이 주식회사 평판표시소자의 제조장치 및 방법
KR100759685B1 (ko) * 2005-09-08 2007-09-17 삼성에스디아이 주식회사 레이저 전사용 전사부재 및 이를 이용한 발광소자 및발광소자의 제조방법
US20070069212A1 (en) * 2005-09-29 2007-03-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Flat panel display and method for manufacturing the same
EP1998373A3 (en) 2005-09-29 2012-10-31 Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof
KR100721957B1 (ko) * 2005-12-13 2007-05-25 삼성에스디아이 주식회사 다결정 실리콘층, 상기 다결정 실리콘층을 이용한 평판표시 장치 및 이들을 제조하는 방법
US8178153B2 (en) * 2006-03-31 2012-05-15 International Business Machines Corporation Heat transfer control structures using thermal phonon spectral overlap
WO2007117698A2 (en) 2006-04-07 2007-10-18 Qd Vision, Inc. Composition including material, methods of depositing material, articles including same and systems for depositing material
WO2008111947A1 (en) 2006-06-24 2008-09-18 Qd Vision, Inc. Methods and articles including nanomaterial
US8308886B2 (en) * 2006-07-17 2012-11-13 E I Du Pont De Nemours And Company Donor elements and processes for thermal transfer of nanoparticle layers
US8018568B2 (en) 2006-10-12 2011-09-13 Cambrios Technologies Corporation Nanowire-based transparent conductors and applications thereof
US7511343B2 (en) * 2006-10-12 2009-03-31 Xerox Corporation Thin film transistor
CN101589473B (zh) * 2006-10-12 2011-10-05 凯博瑞奥斯技术公司 基于纳米线的透明导体及其应用
KR101375047B1 (ko) * 2006-12-29 2014-03-26 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 제조방법
CN101689568B (zh) 2007-04-20 2014-02-26 凯博瑞奥斯技术公司 复合透明导体及其形成方法
KR101375833B1 (ko) 2007-05-03 2014-03-18 삼성전자주식회사 게르마늄 나노로드를 구비한 전계효과 트랜지스터 및 그제조방법
KR101672553B1 (ko) 2007-06-25 2016-11-03 큐디 비젼, 인크. 조성물 및 나노물질의 침착을 포함하는 방법
US8080811B2 (en) 2007-12-28 2011-12-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing evaporation donor substrate and light-emitting device
US20090218219A1 (en) * 2008-02-29 2009-09-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing Apparatus
JP5416987B2 (ja) * 2008-02-29 2014-02-12 株式会社半導体エネルギー研究所 成膜方法及び発光装置の作製方法
WO2009107548A1 (en) * 2008-02-29 2009-09-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Deposition method and manufacturing method of light-emitting device
JP5079722B2 (ja) 2008-03-07 2012-11-21 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
JP5238544B2 (ja) * 2008-03-07 2013-07-17 株式会社半導体エネルギー研究所 成膜方法及び発光装置の作製方法
US8182863B2 (en) 2008-03-17 2012-05-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Deposition method and manufacturing method of light-emitting device
US8409672B2 (en) * 2008-04-24 2013-04-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing evaporation donor substrate and method of manufacturing light-emitting device
GB2459895B (en) * 2008-05-09 2011-04-27 Cambridge Display Technology Limited Organic light emissive device
KR101629637B1 (ko) * 2008-05-29 2016-06-13 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 성막방법 및 발광장치의 제조방법
US8354291B2 (en) 2008-11-24 2013-01-15 University Of Southern California Integrated circuits based on aligned nanotubes
KR101570535B1 (ko) * 2009-05-12 2015-11-20 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치의 제조방법
US20100321640A1 (en) * 2009-06-22 2010-12-23 Industrial Technology Research Institute Projection display chip
EP2472497B1 (en) * 2009-08-25 2014-10-01 Sharp Kabushiki Kaisha Display panel, display device, and method for manufacturing same
US20110101302A1 (en) * 2009-11-05 2011-05-05 University Of Southern California Wafer-scale fabrication of separated carbon nanotube thin-film transistors
RU2570900C2 (ru) 2010-12-02 2015-12-20 Оно Фармасьютикал Ко., Лтд. Новое соединение и его применение в медицине
US8692230B2 (en) 2011-03-29 2014-04-08 University Of Southern California High performance field-effect transistors
US8860137B2 (en) 2011-06-08 2014-10-14 University Of Southern California Radio frequency devices based on carbon nanomaterials
CN102299260B (zh) * 2011-06-27 2013-12-25 福州华映视讯有限公司 垂直式有机薄膜晶体管的制作方法
RU2626996C2 (ru) * 2012-02-03 2017-08-02 Конинклейке Филипс Н.В. Устройство на органических светодиодах и его изготовление
KR102108121B1 (ko) 2013-06-10 2020-05-08 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판
US9379327B1 (en) 2014-12-16 2016-06-28 Carbonics Inc. Photolithography based fabrication of 3D structures
KR102571085B1 (ko) * 2016-04-04 2023-08-28 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
US10424670B2 (en) 2016-12-30 2019-09-24 Intel Corporation Display panel with reduced power consumption
KR102498288B1 (ko) * 2017-12-22 2023-02-09 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치 및 이의 제조방법
CN110875417B (zh) * 2018-08-31 2021-04-27 成都辰显光电有限公司 Led显示器件及其制造方法、led显示面板
CN109411522A (zh) * 2018-11-06 2019-03-01 京东方科技集团股份有限公司 一种透明显示面板及其制备方法、显示装置
US11437100B2 (en) 2020-04-06 2022-09-06 Crossbar, Inc. Distinct chip identifier sequence utilizing unclonable characteristics of resistive memory on a chip
US11823739B2 (en) 2020-04-06 2023-11-21 Crossbar, Inc. Physically unclonable function (PUF) generation involving high side programming of bits

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002017362A2 (en) * 2000-08-22 2002-02-28 President And Fellows Of Harvard College Doped elongated semiconductors, growing such semiconductors, devices including such semiconductors and fabricating such devices
WO2004032190A2 (en) * 2002-09-30 2004-04-15 Nanosys, Inc. Integrated displays using nanowire transistors
WO2004032191A2 (en) * 2002-09-30 2004-04-15 Nanosys, Inc. Applications of nano-enabled large area macroelectronic substrates incorporating nanowires and nanowire composites

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2758849B2 (ja) * 1994-03-24 1998-05-28 ユニバーシティ オブ サリー ルミネッセンスシリコン材料及びその形成方法及びルミネッセンス基材の処理方法及びエレクトロルミネッセンスデバイス
JP4410894B2 (ja) 2000-01-21 2010-02-03 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体装置
CN1160797C (zh) 2001-01-15 2004-08-04 中国科学院物理研究所 点接触平面栅型单电子晶体管及其制备方法(二)
US6653653B2 (en) * 2001-07-13 2003-11-25 Quantum Logic Devices, Inc. Single-electron transistors and fabrication methods in which a projecting feature defines spacing between electrodes
KR20030047132A (ko) * 2001-12-07 2003-06-18 삼성전자주식회사 액정표시장치의 스페이서 형성방법
TW531890B (en) * 2002-02-27 2003-05-11 Ind Tech Res Inst Single electron device fabricated from nanoparticle derivatives
US7051945B2 (en) * 2002-09-30 2006-05-30 Nanosys, Inc Applications of nano-enabled large area macroelectronic substrates incorporating nanowires and nanowire composites
KR101145350B1 (ko) * 2003-02-06 2012-05-14 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치 및 표시장치의 제조 방법
US7381579B2 (en) * 2004-02-26 2008-06-03 Samsung Sdi Co., Ltd. Donor sheet, method of manufacturing the same, method of manufacturing TFT using the donor sheet, and method of manufacturing flat panel display device using the donor sheet
US7345307B2 (en) * 2004-10-12 2008-03-18 Nanosys, Inc. Fully integrated organic layered processes for making plastic electronics based on conductive polymers and semiconductor nanowires

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002017362A2 (en) * 2000-08-22 2002-02-28 President And Fellows Of Harvard College Doped elongated semiconductors, growing such semiconductors, devices including such semiconductors and fabricating such devices
JP2004507104A (ja) * 2000-08-22 2004-03-04 プレジデント・アンド・フェローズ・オブ・ハーバード・カレッジ ドープされた細長い半導体、そのような半導体の成長、そのような半導体を含んだデバイス、およびそのようなデバイスの製造
WO2004032190A2 (en) * 2002-09-30 2004-04-15 Nanosys, Inc. Integrated displays using nanowire transistors
WO2004032191A2 (en) * 2002-09-30 2004-04-15 Nanosys, Inc. Applications of nano-enabled large area macroelectronic substrates incorporating nanowires and nanowire composites
JP2006501689A (ja) * 2002-09-30 2006-01-12 ナノシス・インコーポレイテッド ナノワイヤトランジスタを用いる集積ディスプレイ

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4954088B2 (ja) * 2005-12-05 2012-06-13 シャープ株式会社 有機エレクトロルミネセンスパネル及び有機エレクトロルミネセンス表示装置
US7528004B2 (en) 2006-03-10 2009-05-05 Panasonic Corporation Method for mounting anisotropically-shaped members
US8013331B2 (en) 2006-06-19 2011-09-06 Panasonic Corporation Thin film transistor, method of manufacturing the same, and electronic device using the same
US7846786B2 (en) 2006-12-05 2010-12-07 Korea University Industrial & Academic Collaboration Foundation Method of fabricating nano-wire array
WO2009144902A1 (ja) * 2008-05-29 2009-12-03 ミツミ電機株式会社 電界効果トランジスタおよびその製造方法
JP2009289989A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Mitsumi Electric Co Ltd 電界効果トランジスタ及びその製造方法
US8288804B2 (en) 2008-05-29 2012-10-16 Mitsumi Electric Co., Ltd. Field effect transistor and method for manufacturing the same
US10141343B2 (en) 2008-10-24 2018-11-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
US10692894B2 (en) 2008-10-24 2020-06-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
US11594555B2 (en) 2008-10-24 2023-02-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
US9647137B2 (en) 2008-10-24 2017-05-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
US10978490B2 (en) 2008-10-24 2021-04-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
US11107840B2 (en) 2009-11-06 2021-08-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for fabricating a semiconductor device comprising an oxide semiconductor
JP2019179932A (ja) * 2009-11-06 2019-10-17 株式会社半導体エネルギー研究所 トランジスタ及び表示装置
US10868046B2 (en) 2009-11-06 2020-12-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device applying an oxide semiconductor
US11107838B2 (en) 2009-11-06 2021-08-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Transistor comprising an oxide semiconductor
US20210288079A1 (en) 2009-11-06 2021-09-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
US11776968B2 (en) 2009-11-06 2023-10-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising oxide semiconductor layer
US10036101B2 (en) 2010-05-11 2018-07-31 Qunano Ab Gas-phase synthesis of epitaxial semiconductor wires from seed crystals
KR101923172B1 (ko) * 2011-05-16 2018-11-29 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법
JP2015181166A (ja) * 2015-04-14 2015-10-15 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置

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