JP2005210297A - ノイズ検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 PLLが備える位相比較器の出力を用いてノイズ検出を行う形態であり、基準信号を発生する基準信号発生器と、入力電圧により出力周波数を制御する電圧制御発振器と、基準信号と電圧制御発振器から出力される信号の位相を比較する位相比較器を有し、基準信号に同期した信号を電圧制御発振器から出力するPLLと、このPLLの位相比較器からの出力を測定する第1測定手段とを備える。位相比較器は基準信号と電圧制御発振器の出力との位相差に基づいた信号を出力する。この位相差は、ノイズがPLLに与えた影響を反映しており、ノイズの波高値や周波数成分等のノイズ自体の特性の他、PLLのノイズに対する耐性を反映するものであり、実際にシステムを誤動作させ得る危険性を判定することができる。
【選択図】 図1
Description
従来のノイズ検出方法としては、例えば、電機機器や電子機器が備える回路内の信号値の振れをA/Dコンバータでデジタル信号に変換し、その電圧値を所定値と比較することにより検出する方法がある(例えば、特許文献1参照)。
また、検出したノイズがシステムにとって致命的かどうかを判断することが難しいという問題がある。
また、前記各要素に加えてシステム全般においても、ノイズの大きさ、ノイズの周波数、外乱ノイズがシステム内に侵入する場所、回路構成のノイズに対する耐性などの様々な要素により、システムに対するノイズ影響の度合い(致命度)が異なる。これは、システムにはノイズに強い場所と弱い場所があり、ノイズに強い場所に大きなノイズがのってもシステムは誤動作しないが、弱い場所では小さなノイズでも誤動作することがあるなど、多く条件が関わるため、単に一つの構成回路要素についてノイズの電圧レベルを検出することでは、システムに対するノイズの影響を検出することは困難であり、実際にシステムを誤動作させ得る危険性が有るのか否かの判定が難しいという問題がある。
そこで、本発明は、上記した従来の課題を解決して、ノイズ検出において、実際にシステムを誤動作させ得る危険性が有るのか否かを判定することを目的とする。
また、本発明はPLLを用いることにより以下の利点を有する。
本発明は、ノイズ検出装置、及びこのノイズ検出装置を備える電子機器の態様とすることができる。
また、本発明のノイズ検出装置の第3の形態は、ジッタ量に基づいた信号を出力する形態であって、PLLの出力を用いてジッタ量を測定してノイズ検出を行う形態である。
PLLはASIC(application specific integrated circuit)に実装され、ASICの特定用途向けに設定されたPLL、及び/又はノイズ検出用に設定されたPLLとすることができる。ASICは特定用途向けのICであり、各用途に応じてここに回路設計される。したがって、ASICの設計時に各用途に基づいて設定されたPLLをノイズ検出として兼用して用いることができる。また、ノイズ検出用に設定することもできる。
この構成により、システムがアラームを検出したとき、そのアラーム発生時点及び/又はアラームが発せられる前の時点のノイズ情報を表示することができる。
本発明のノイズ検出装置によれば、システム内で最もノイズに対して敏感なPLLを用いるため、システムに致命的なノイズを検出できる。またPLLはシステムで使用されるほとんどのASICに内蔵され、かつ僅かな回路の追加でノイズの検出回路が実現できるため、コストアップなくシステムの多くのポイントでノイズの検出が可能となる。
図1は本発明のノイズ検出装置の概要を説明するための概略図である。図1において、回路基板上にはPLLが設けられる。発明のノイズ検出装置は、この回路基板上に設けられたPLLからの出力を用いてノイズ検出を行う。ノイズ検出に用いるPLLは、回路基板上に回路構成要素として設けたPLLを兼用することも、あるいはノイズ検出用として設けることもできる。
ジッタ量は、ノイズの波高値や周波数成分等のノイズ自体の特性の他、PLLのノイズに対する耐性を反映するものであり、実際にシステムを誤動作させ得る危険性を判定することができる。
位相比較器においてノイズが発生した場合(図5では斜線部で示している)、このノイズ成分は、ループフィルタで直流化され、電圧制御発振器の周波数(周期)を調整する。図中の(a),(b)はノイズによって位相遅れが生じた場合を示している。位相比較器はこの電圧制御発振器の出力の位相遅れを基準信号と比較して位相差信号として出力し、ループフィルタはこの位相遅れ分の位相差を直流化する。電圧制御発振器は、この位相比信号に基づいて周波数(周期)を調整し、基準信号と一致させる。
ループフィルタにおいてノイズが発生した場合(図6では斜線部で示している)、このノイズ成分は、電圧制御発振器の周波数(周期)を調整する。図中の(a),(b)はノイズによって位相遅れが生じた場合を示している。位相比較器はこの電圧制御発振器の出力の位相遅れを基準信号と比較して位相差信号として出力し、ループフィルタはこの位相遅れ分の位相差を直流化する。電圧制御発振器は、この位相比信号に基づいて周波数(周期)を調整し、基準信号と一致させる。
電圧制御発振器においてノイズが発生した場合、このノイズ成分は、位相比較器で基準信号と比較して位相差信号として出力され、ループフィルタはこの位相差を直流化する。電圧制御発振器は、この位相比信号に基づいて周波数(周期)を調整し、基準信号と一致させる。
ノイズ判断手段21の判断結果やノイズ測定手段22の測定結果は、図8,図9に示すように画面表示手段31に表示する他、保存手段32に保存することができる。なお、図8,図9ではノイズ判断手段21のみを示し、ノイズ測定手段22については表示を略している。
なお、PLLのみを複数設置し、基準信号発生器や測定手段やノイズ判断手段は共通して使用することもできる。
また、ノイズ分布をアラーム発生と組み合わせて求める構成とすることもできる。図13は、アラーム発生時のノイズ分布を測定する構成例の概略図である。
2,2A〜2N PLL
2a 位相比較器
2b,2b1,2b2 ループフィルタ
2c 電圧制御発振器
2d 分周回路
2e 切替手段
10A〜10N 測定手段
11 出力測定手段
12 ジッタ量測定手段
21 ノイズ判断手段
22 ノイズ測定手段
31 画面表示手段
32,32A〜32N 保存手段
33 位置判断手段
34 アラーム判断手段
35 ノイズ分布作成手段
Claims (14)
- 基準信号を発生する基準信号発生器と、入力電圧により出力周波数を制御する電圧制御発振器と、前記基準信号と電圧制御発振器から出力される信号の位相を比較する位相比較器を有し、前記基準信号に同期した信号を電圧制御発振器から出力するPLLと、
前記PLLの位相比較器からの出力を測定する第1測定手段とを備えることを特徴とするノイズ検出装置。 - 基準信号を発生する基準信号発生器と、入力電圧により出力周波数を制御する電圧制御発振器と、前記基準信号と電圧制御発振器から出力される信号の位相を比較する位相比較器と、前記位相比較器の出力から直流分を抽出して電圧制御発振器の制御電圧を出力するループフィルタとを有し、前記基準信号に同期した信号を電圧制御発振器から出力するPLLと、
前記ループフィルタからの出力を測定する第2測定手段とを備えることを特徴とするノイズ検出装置。 - 基準信号を発生する基準信号発生器と、入力電圧により出力周波数を制御する電圧制御発振器と、前記基準信号と電圧制御発振器から出力される信号の位相を比較する位相比較器を有し、前記基準信号に同期した信号を電圧制御発振器から出力するPLLと、
前記PLLの出力信号からジッタ量を測定する第3測定手段とを備えることを特徴とするノイズ検出装置。 - 前記PLLはASICに実装され、
当該ASICの特定用途向けに設定されたPLL、及び/又はノイズ検出用に設定されたPLLであることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載のノイズ検出装置。 - 前記測定手段の出力に基づき、ノイズの有無を判断する判断手段を備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一つに記載のノイズ検出装置。
- 前記測定手段の出力に基づき、ジッタの規模、あるいは位相のズレの大きさを測定するノイズ値測定手段を備えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一つに記載のノイズ検出装置。
- 前記第1測定手段乃至第3測定手段、前記判断手段、前記ノイズ値測定手段の各出力の少なくとも何れか一つを表示する表示手段を備えることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一つに記載のノイズ検出装置。
- 前記表示手段は、前記出力の少なくとも何れか一つが所定のレベルを超えた場合に警告表示を行うことを特徴とする請求項7に記載のノイズ検出装置。
- 前記測定手段のノイズ情報を保存する保存手段を備えることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一つに記載のノイズ検出装置。
- ノイズ感度特性を異にする複数のPLLを同一基板上に設けることを特徴とする請求項1乃至9の何れか一つに記載のノイズ検出装置。
- 前記PLLのノイズ感度特性を変更する変更手段を備えることを特徴とする前記請求項1乃至10の何れか一つに記載のノイズ検出装置。
- 前記変更手段は、特性を異にする複数のループフィルタと、当該複数のループフィルタの何れか一つを選択して切り換える切換手段とを特徴とすることを特徴とする請求項11に記載のノイズ検出装置。
- 前記ノイズ検出装置を複数有し、各ノイズ検出装置が備えるノイズ判断手段からの出力に基づいてノイズが検出された位置を検出する位置検出手段を備えることを特徴とする電子機器。
- システムアラーム発生前及び/又は発生時において、前記複数のノイズ検出装置が検出したノイズ情報をシステム内部に保存する保存手段と、
システムアラーム発生時に、前記保存手段に保存するノイズ情報に基づいてノイズレベルが規定の大きさを上回る大きさの場合に、当該ノイズの検出位置を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする請求項13に記載の電子機器。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010096607A (ja) * | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Yazaki Corp | 基板の冷却器及び高周波信号の測定器 |
JP2010516195A (ja) * | 2007-01-11 | 2010-05-13 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 位相ロック・ループ内のジッターを決定するためのオンチップ位相誤差計測のための装置。 |
US8390268B2 (en) | 2007-06-20 | 2013-03-05 | Advantest Corporation | Noise measurement apparatus and test apparatus |
JP2014116646A (ja) * | 2012-12-06 | 2014-06-26 | Renesas Mobile Corp | 半導体装置、無線通信端末及び半導体装置の制御方法 |
KR20170102548A (ko) * | 2015-12-31 | 2017-09-11 | 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 캐패시턴스 감지 회로 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7881608B2 (en) * | 2007-05-10 | 2011-02-01 | Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd | Methods and apparatuses for measuring jitter in a transceiver module |
US20100109787A1 (en) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | Alcatel Lucent | Method and apparatus for oscillator stability verification |
TW201106645A (en) * | 2009-08-14 | 2011-02-16 | Ralink Technology Corp | Method for detecting continuous channel noise and apparatus for using the same |
FR2963180B1 (fr) | 2010-07-26 | 2012-08-10 | Sagem Defense Securite | Systeme de reference de frequence non affecte de micro-sauts de frequence |
US8977222B2 (en) * | 2012-11-19 | 2015-03-10 | Broadcom Corporation | Phase-noise reduction technique using frequency-to-current conversion with baseband integration |
CN104865877B (zh) * | 2015-06-05 | 2018-01-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电子设备 |
US9743206B2 (en) * | 2015-06-22 | 2017-08-22 | Audyssey Laboratories, Inc. | Background noise measurement from a repeated stimulus measurement system |
JP6444851B2 (ja) * | 2015-12-24 | 2018-12-26 | ファナック株式会社 | ノイズの発生原因を検出する学習機能を有する制御装置 |
US10148272B2 (en) * | 2017-05-03 | 2018-12-04 | Ping-Ying Wang | Frequency generating circuit using quartz crystal resonator |
CN106990367B (zh) * | 2017-05-22 | 2019-08-06 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | SoC片上电源噪声监测系统 |
US11181396B2 (en) * | 2018-04-10 | 2021-11-23 | Hemy8 Sa | Noise-resistant intermittently operating incremental position sensor |
CN110335447A (zh) * | 2019-07-26 | 2019-10-15 | 广东中检检测技术有限公司 | 一种室内噪音监控报警系统 |
CN113701874A (zh) * | 2021-07-14 | 2021-11-26 | 福建九五检测技术服务有限公司 | 一种带有安装结构的噪声检测装置及其检测方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN85202661U (zh) * | 1985-07-04 | 1986-04-23 | 清华大学 | 高速低相噪锁相环式频率合成器 |
JPH01307316A (ja) | 1988-06-06 | 1989-12-12 | Nec Corp | 位相同期発振器 |
JPH06164380A (ja) | 1992-06-05 | 1994-06-10 | Nec Corp | 位相同期検出回路 |
DE4417115C1 (de) | 1994-05-16 | 1996-03-14 | Inst Rundfunktechnik Gmbh | Schaltungsanordnung zur Messung des Jitters in einem System, das serielle Daten hoher Bitrate, insbesondere digitale Fernsehsignale über ein Koaxialkabel überträgt |
CN1065397C (zh) * | 1998-08-05 | 2001-05-02 | 国家科学技术委员会高技术研究发展中心 | 低相位噪声调谐器及其实现方法 |
JP4087976B2 (ja) | 1999-03-12 | 2008-05-21 | 株式会社エー・アンド・デイ | 電気的外乱ノイズを検出する電子秤 |
US6476396B1 (en) * | 1999-04-09 | 2002-11-05 | Keith W. Forsyth | Electro-optical, non-contact measurement of electrical discharges |
US6696828B2 (en) * | 1999-11-30 | 2004-02-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Integrated circuit and lot selection system therefor |
JP2001274679A (ja) | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Pll回路 |
US6356158B1 (en) * | 2000-05-02 | 2002-03-12 | Xilinx, Inc. | Phase-locked loop employing programmable tapped-delay-line oscillator |
JP3925160B2 (ja) * | 2001-10-31 | 2007-06-06 | セイコーエプソン株式会社 | ノイズ検出装置および半導体集積回路 |
JP2003287555A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Advantest Corp | 位相雑音測定方法及びその方法を用いた位相雑音測定装置 |
JP2003332442A (ja) | 2002-05-08 | 2003-11-21 | Nec Corp | ノイズ検出方法と該ノイズ検出方法による基板 |
KR100510487B1 (ko) * | 2002-05-28 | 2005-08-26 | 삼성전자주식회사 | 넓은 동기 범위를 갖는 위상동기루프 회로 및 이를 구비한반도체 집적회로 장치 |
-
2004
- 2004-01-21 JP JP2004013234A patent/JP4070725B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-01-19 US US11/037,003 patent/US7519113B2/en not_active Expired - Fee Related
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010516195A (ja) * | 2007-01-11 | 2010-05-13 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 位相ロック・ループ内のジッターを決定するためのオンチップ位相誤差計測のための装置。 |
US8736323B2 (en) | 2007-01-11 | 2014-05-27 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for on-chip phase error measurement to determine jitter in phase-locked loops |
US8390268B2 (en) | 2007-06-20 | 2013-03-05 | Advantest Corporation | Noise measurement apparatus and test apparatus |
JP5161878B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2013-03-13 | 株式会社アドバンテスト | 雑音測定装置及び試験装置 |
JP2010096607A (ja) * | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Yazaki Corp | 基板の冷却器及び高周波信号の測定器 |
JP2014116646A (ja) * | 2012-12-06 | 2014-06-26 | Renesas Mobile Corp | 半導体装置、無線通信端末及び半導体装置の制御方法 |
KR20170102548A (ko) * | 2015-12-31 | 2017-09-11 | 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 캐패시턴스 감지 회로 |
KR101964539B1 (ko) * | 2015-12-31 | 2019-04-01 | 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 캐패시턴스 감지 회로 |
US10520533B2 (en) | 2015-12-31 | 2019-12-31 | Shenzhen GOODIX Technology Co., Ltd. | Capacitance sensing circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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