JP2005203707A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】大きなESD耐量を有する表面型ダイオードを備える半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体基板11の表層部において、隣接して配置されるn導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13とを有し、n導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13の界面でPN接合部Sが形成されてなる表面型ダイオード100dを備える半導体装置100とする。上記の構造を有する表面型ダイオード100dは、n導電型不純物拡散領域12およびp導電型不純物拡散領域13の拡散深さや表面不純物濃度を適宜設定することで、大きなESD耐量を持つように設計することができる。これによって、表面型ダイオード100dを備える半導体装置100は、ESDやサージ電圧・電流による破壊が抑制された半導体装置とすることができる。
【選択図】 図1
【解決手段】半導体基板11の表層部において、隣接して配置されるn導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13とを有し、n導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13の界面でPN接合部Sが形成されてなる表面型ダイオード100dを備える半導体装置100とする。上記の構造を有する表面型ダイオード100dは、n導電型不純物拡散領域12およびp導電型不純物拡散領域13の拡散深さや表面不純物濃度を適宜設定することで、大きなESD耐量を持つように設計することができる。これによって、表面型ダイオード100dを備える半導体装置100は、ESDやサージ電圧・電流による破壊が抑制された半導体装置とすることができる。
【選択図】 図1
Description
本発明は、表面型ダイオードを備える半導体装置に関する。
静電気放電(Electro Static Discharge、ESD)やサージ電圧・電流によるMOSトランジスタ等の破壊を防止するため、入出力保護用のダイオードを備える半導体装置が、例えば、特開平2−58262号公報(特許文献1)に開示されている。
図6は、特許文献1に開示されているESD保護ダイオード90の斜視断面図である。
図6に示すように、ESD保護ダイオード90は、p型不純物基板91上に形成されたn型不純物ウェル92内のn型不純物拡散領域93とp型不純物拡散領域94によって構成される表面型ダイオードである。ウェル92のn型不純物のドーピング・レベルは、拡散領域93のn型不純物のドーピング・レベルよりはるかに低い。
特開平2−58262号公報
図6のダイオード90におけるESD耐量等のESD保護に関する特性は、n型不純物拡散領域93およびp型不純物拡散領域94の不純物濃度や拡散深さに依存する。また、図中に示した隣接するn型不純物拡散領域93とp型不純物拡散領域94の間隔Lや、間隔Lにあるn型不純物拡散領域93とp型不純物拡散領域94の長さWにも依存する。
そこで本発明は、大きなESD耐量を有する表面型ダイオードを備える半導体装置を提供することを目的としている。
請求項1に記載の発明は、半導体基板の表層部において、隣接して配置されるn導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域とを有し、前記n導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域の界面でPN接合部が形成されてなる表面型ダイオードを備える半導体装置とすることを特徴としている。
上記の構造を有する表面型ダイオードは、n導電型不純物拡散領域およびp導電型不純物拡散領域の拡散深さや表面不純物濃度を適宜設定することで、大きなESD耐量を持つように設計することができる。従って、当該表面型ダイオードを備える半導体装置は、ESDやサージ電圧・電流による破壊が抑制された半導体装置とすることができる。
請求項2に記載の発明は、前記n導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域の拡散深さが、2.6[μm]以上であることを特徴としている。
これにより、前記表面型ダイオードのESD耐量を、大きく向上することができる。
請求項3に記載の発明は、前記n導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域の表面不純物濃度が、5×1017[/cm3]以上であることを特徴としている。
これによっても、前記表面型ダイオードのESD耐量を、大きく向上することができる。
請求項4に記載の発明は、前記n導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域とが、マスクを用いたイオン注入により形成され、前記隣接する領域にあるn導電型不純物拡散領域のマスク開口部とp導電型不純物拡散領域のマスク開口部の間隔が、3.0[μm]以上、4.4[μm]以下であり、前記間隔にあるn導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域のマスク開口部の周部長さが、20000[μm]以上であることを特徴としている。
これによれば、当該表面型ダイオードにおいて、16.5V以上のDC耐圧が確保できると共に、15kV以上のESD耐量を確保することができる。
請求項5に記載の発明は、前記周部長さが、30000[μm]以上であることを特徴としている。
これによれば、当該表面型ダイオードにおいて、16.5V以上のDC耐圧が確保できると共に、25kV以上のESD耐量を確保することができる。
請求項6に記載のように、前記n導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域の平面形状は、短冊形状であることが好ましい。
これによれば、単純な平面形状であるため、前記隣接する領域にあるn導電型不純物拡散領域のマスク開口部とp導電型不純物拡散領域のマスク開口部の間隔や、前記間隔にあるn導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域のマスク開口部の周部長さを容易に設定できる。従って、当該平面型ダイオードの設計が容易であり、単純な平面形状であるため、占有面積も小さくすることができる。
請求項7に記載の発明は、前記半導体基板上にLOCOSが配置され、半導体基板の表面における前記PN接合部が、前記LOCOSの下に配置されてなることを特徴としている。
これによれば、当該平面型ダイオードのPN接合部を、LOCOSにより保護することができる。また、PN接合部の不純物濃度が初期設定値からずれにくく、所望のDC耐圧およびESD耐量が確保された平面型ダイオードとすることができる。
請求項8に記載のように、本発明の半導体装置は、前記半導体基板における前記表面型ダイオードの形成部位以外の領域に、MOSトランジスタが形成されてなる半導体装置に好適である。
MOSトランジスタは、種々の半導体装置に用いられているが、ESDやサージ電圧・電流によって破壊され易い。本発明の半導体装置は、上記のように大きなESD耐量を有する表面型ダイオードを備えているため、同じ半導体基板の別領域にMOSトランジスタが形成されていても、ESDやサージ電圧・電流によるこれらの破壊を効果的に抑制することができる。
請求項9に記載のように、本発明の半導体装置は、車戴用の半導体装置に好適である。
車載用の半導体装置は、自動車用バッテリー電圧である16.5Vに対応するため、DC耐圧として、16.5V以上が必要である。また、人から発せられる静電気がキーを通して入力されることを想定して、ESD耐量として、一般的に、15kV以上が必要である。さらに、事故等により配線被服が破れる等の最悪の場合を想定した時には、ESD耐量として、25kV以上が必要である。上記のように、本発明の半導体装置は、これらの厳しい規格をクリアすることができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態を、図に基づいて説明する。
図1は、本発明の半導体装置の基本的な構成を模式的に示した、斜視断面図である。
図1に示す半導体装置100は、半導体基板11の表層部に形成されたp導電型ウェル11w内おいて、隣接して配置されるn導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13とを有し、n導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13の界面でPN接合部Sが形成されてなる表面型ダイオード100dを備える半導体装置である。
図1の半導体装置100では、半導体基板11における表面型ダイオード100dの形成部位以外の領域に、MOSトランジスタ(図示省略)等が形成される。一般的にMOSトランジスタは種々の半導体装置に用いられているが、ESDやサージ電圧・電流によって破壊され易い。図1の半導体装置では、表面型ダイオード100dが後述するように大きなESD耐量を有しており、この表面型ダイオード100dが、別領域に形成されたMOSトランジスタ等をESDやサージ電圧・電流に対して保護し、これらによる破壊を効果的に抑制することができる。
表面型ダイオード100dの主な構成要素であるn導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13は、マスクを用いたイオン注入により形成される。図1に示した符号LはPN間距離で、隣接する領域にあるn導電型不純物拡散領域12のマスク開口部とp導電型不純物拡散領域13のマスク開口部の間隔である。また、図1に示した符号Wは接合幅で、間隔Lにあるn導電型不純物拡散領域12もしくはp導電型不純物拡散領域13のマスク開口部の周部長さである。表面型ダイオードを構成するn導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域は、互いに等間隔で交互に複数個配置するようにしてもよい。この場合には、接合幅Wは、PN間距離Lにあるn導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域のマスク開口部における周部長さの総和になる。
図1に示すn導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13の平面形状は短冊形状であり、単純な平面形状であるため、図1におけるPN間距離Lや接合幅Wを容易に設定できる。従って、平面型ダイオード100dの設計は容易であり、単純な平面形状であるため、占有面積も小さくすることができる。尚、n導電型不純物拡散領域12とp導電型不純物拡散領域13内の表面にある符号12cと13cの部分は、それぞれ、金属電極(図示省略)とオーミックコンタクトを取るために形成されたn導電型高濃度不純物拡散領域とp導電型高濃度不純物拡散領域である。
また、図1では図示を省略しているが、半導体基板11上にはLOCOSが配置され、半導体基板11の表面におけるPN接合部Sは、LOCOSの下に配置される。これによって、平面型ダイオード100dのPN接合部Sを、LOCOSにより保護することができる。また、PN接合部Sの不純物濃度が初期設定値からずれにくく、所望のDC耐圧およびESD耐量が確保された平面型ダイオードとすることができる。
図1にある表面型ダイオード100dにおいて、ESD耐量等のESD保護に関する特性は、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnと表面不純物濃度Ynの値に大きく依存する。
図2は、図1にある表面型ダイオード100dにおいて、ESD耐量とn導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnの関係を調べた結果である。尚、図2の試験において、p導電型不純物拡散領域13の表面不純物濃度Ypは、5.0×1018[/cm3]とし、p導電型不純物拡散領域13の拡散深さXpは、2.9[μm]としている。p導電型ウェル11wの表面不純物濃度Ypwellは、約6.5×1016[/cm3]としている。また、PN間距離Lは、3.6[μm]とし、接合幅Wは、20160[μm]としている。ESD耐量は、150pFの容量と150Ωの抵抗を用いた接触放電により評価し、素子破壊が起きる電圧を測定した。
図2の結果に見られるように、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnが2.6[μm]まではほぼ一定の電圧15kVで素子破壊が起きたが、拡散深さXnが2.6[μm]以上になると、ESD耐量が増大している。これは、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnを大きくしていくと、隣接するp導電型不純物拡散領域13との界面に形成されるPN接合部Sの面積が増大するためであると考えられる。以上のようにして、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnを2.6[μm]以上とすることで、表面型ダイオード100dのESD耐量を、大きく向上することができる。
以上のように、図1に示す表面型ダイオード100dにおけるn導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnや表面不純物濃度Ynを適宜設定することで、大きなESD耐量を持つように設計することができる。従って、図1の表面型ダイオード100dを備える半導体装置100は、ESDやサージ電圧・電流による破壊が抑制された半導体装置とすることができる。尚、図1の表面型ダイオード100dはp導電型ウェル11w内に形成された表面型ダイオードであり、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnや表面不純物濃度Ynを適宜設定することで、大きなESD耐量が得られた。同様にして、n導電型ウェル内に形成された表面型ダイオードについても、同様のことが言える。
図3は、図1にある表面型ダイオード100dにおいて、ESD耐量とn導電型不純物拡散領域12の表面不純物濃度Ynの関係を調べた結果である。尚、図3の試験において、p導電型不純物拡散領域13の表面不純物濃度Yp等の条件は、図2の場合と同様である。
図3の結果に見られるように、n導電型不純物拡散領域12の表面不純物濃度Ynが5×1017[/cm3]まではほぼ一定の電圧15kVで素子破壊が起きたが、表面不純物濃度Ynが5×1017[/cm3]以上になると、ESD耐量が増大している。これは、n導電型不純物拡散領域12の表面不純物濃度Ynを大きくしていくと、結果的に前記拡散深さXnを深くしていくのと同様の効果が生じ、隣接するp導電型不純物拡散領域13との界面に形成されるPN接合部Sの面積が増大するためであると考えられる。以上のようにして、n導電型不純物拡散領域12の表面不純物濃度Ynを5×1017[/cm3]以上とすることによっても、表面型ダイオード100dのESD耐量を、大きく向上することができる。
図4は、図1にある表面型ダイオード100dにおいて、ESD耐量と接合幅Wの関係を調べた結果である。図4の試験は、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnが2.6[μm]で表面不純物濃度Ynが5×1017[/cm3]の場合と、拡散深さXnが3.7[μm]で表面不純物濃度Ynが1.7×1019[/cm3]の場合について行っている。その他の条件は、図2の場合と同様である。
図4の結果に見られるように、表面型ダイオード100dにおけるESD耐量は、上記のいずれの場合についても、接合幅Wに比例して単調に増大する。このため、ESD耐量だけであれば、接合幅Wを大きくすることで、必要なESD耐量を確保することができる。一方、接合幅Wに比例して表面型ダイオード100dの素子面積も増大するため、小型化のためには、接合幅Wは小さいほうが好ましい。従って、ESD耐量の確保と小型化を両立させるためには、n導電型不純物拡散領域12の拡散深さXnと表面不純物濃度Yn、および接合幅Wを最適化する必要がある。
図5は、図1にある表面型ダイオード100dにおいて、DC耐圧およびESD耐量とPN間距離Lの関係を調べた結果である。図5の試験は、接合幅Wが20160[μm]の場合と31200[μm]の場合について行っている。尚、DC耐圧については、接合幅Wに依存しないため、一本のグラフで示されている。
図5の結果に見られるように、表面型ダイオード100dにおいて、DC耐圧は、PN間距離Lの増加に伴って増大する。逆に、ESD耐量は、PN間距離Lの増加に伴って減少する。従って、DC耐圧とESD耐量を共に確保するためには、PN間距離Lと接合幅Wを最適化する必要がある。
図1の半導体装置100を車載用として用いる場合、自動車用バッテリー電圧である16.5Vに対応するため、DC耐圧として、16.5V以上が必要である。また、人から発せられる静電気がキーを通して入力されることを想定して、ESD耐量として、一般的に、15kV以上が必要である。さらに、事故等により配線被服が破れる等の最悪の場合を想定した時には、ESD耐量として、25kV以上が必要である。
図5の結果に見られるように、PN間距離Lが3.0[μm]以上、4.4[μm]以下であり、接合幅Wが20000[μm]以上の場合には、16.5V以上のDC耐圧が確保できると共に、15kV以上のESD耐量を確保することができる。また、PN間距離Lが3.0[μm]以上、4.4[μm]以下であり、接合幅Wが30000[μm]以上の場合には、16.5V以上のDC耐圧が確保できると共に、25kV以上のESD耐量を確保することができる。これによって、PN間距離Lと接合幅Wがこれらの範囲にある場合には、上記の車載用半導体装置に対する厳しい規格をクリアすることができる。従って、図1に示す表面型ダイオード100dを備える半導体装置100は、車戴用の半導体装置に好適である。
100 半導体装置
100d 表面型ダイオード
11 半導体基板
11w p導電型ウェル
12 n導電型不純物拡散領域
13 p導電型不純物拡散領域
S PN接合部
L PN間距離
W 接合幅
12c n導電型高濃度不純物拡散領域
13c p導電型高濃度不純物拡散領域
Xn n導電型不純物拡散領域の拡散深さ
Yn n導電型不純物拡散領域の表面不純物濃度
100d 表面型ダイオード
11 半導体基板
11w p導電型ウェル
12 n導電型不純物拡散領域
13 p導電型不純物拡散領域
S PN接合部
L PN間距離
W 接合幅
12c n導電型高濃度不純物拡散領域
13c p導電型高濃度不純物拡散領域
Xn n導電型不純物拡散領域の拡散深さ
Yn n導電型不純物拡散領域の表面不純物濃度
Claims (9)
- 半導体基板の表層部において、隣接して配置されるn導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域とを有し、前記n導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域の界面でPN接合部が形成されてなる表面型ダイオードを備えることを特徴とする半導体装置。
- 前記n導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域の拡散深さが、2.6[μm]以上であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記n導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域の表面不純物濃度が、5×1017[/cm3]以上であることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置。
- 前記n導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域とが、マスクを用いたイオン注入により形成され、
前記隣接する領域にあるn導電型不純物拡散領域のマスク開口部とp導電型不純物拡散領域のマスク開口部の間隔が、3.0[μm]以上、4.4[μm]以下であり、
前記間隔にあるn導電型不純物拡散領域もしくはp導電型不純物拡散領域のマスク開口部の周部長さが、20000[μm]以上であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記周部長さが、30000[μm]以上であることを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
- 前記n導電型不純物拡散領域とp導電型不純物拡散領域の平面形状が、短冊形状であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の半導体装置。
- 前記半導体基板上にLOCOSが配置され、
前記半導体基板の表面における前記PN接合部が、前記LOCOSの下に配置されてなることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の半導体装置。 - 前記半導体基板における前記表面型ダイオードの形成部位以外の領域に、MOSトランジスタが形成されてなることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の半導体装置。
- 前記半導体装置が、車戴用の半導体装置であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の半導体装置。
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