JP2005140778A - マクロ欠陥検出のためのシステム - Google Patents

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Abstract

【課題】 マクロ欠陥の検出にマイナスに影響を及ぼすことのない条件を有するシステムを創出する。
【解決手段】 システムはケース(50)によって取り囲まれており、第1区域(6)、第2区域及(8)び第3区域(10)に小分けされている。第2区域(8)には、X方向とY方向に変位可能なステージ(2)が備えられ、その上にウェーハ(25)が置かれている。第1区域(6)に、吸引された空気を空気誘導部(37)を介して第2区域(8)内に案内する吸引装置(36)がある。空気案内部(37)は、空気流がウェーハ(25)上を平行に誘導されるように、複数の空気案内パネル(38)を有する。
【選択図】 図5

Description

本発明は、マクロ欠陥の検出のためのシステムに関するものである。
DE4310149C2 ドイツ特許DE19538040C2 EP0335752
半導体製造において、ウェーハは製造プロセスの間に複数のプロセスステップにて順次加工処理される。集積密度が増すにつれ、ウェーハに構成される特徴/機能のクオリティーに関する要求が高くなっている。構成された特徴/機能のクオリティーをチェックするのを可能にするために、また欠点を見つけるのを可能にするために、ウェーハを扱うプロセスステップやコンポーネントのクオリティー、精度及び再現性に関して相応した条件がある。これは、多数のプロセスステップ及び適用されるべき複数のホトレジスト層などを有したウェーハの製造において、個々の特徴/機能における欠陥・瑕疵の確かで時宣を得た検出が特に重要であることを意味する。複数の等しい繰返しパターン要素がパターン化された半導体基板やウェーハに備えられる。
特許文献1は、特定場所のクリーンルームの処理面にてディスク状物体を取り扱うための装置を開示する。同様に、処理面との関連で垂直に調整可能なマガジン置き場が備えられている。処理あるいは点検目的のためのワークステーションが処理面に位置する。処理面はクリーンルームを上下に位置する二つの小空間に小分けする中間フロアの上方に配置されている。クリーンルームでは空気流の一つの空気流成分が中間フロアの上方の小空間から、中間層の下方にあって駆動部品を含む小空間内へ導かれる。空気流は、駆動部品によって生じる磨減材料が処理面におけるワークステーションに移動することを防ぐ。空気調整システムはケースを備えて成り、その空気出口は空気案内パネルを有した扇形状切り抜きによって構成される。ケース内での空気流の特定の方向、誘導及び/又は方向付けに関しては何も記載されていない。
特許文献2は、特定場所のクリーンルームに供給すべく浄化された空気乱流を発生するための装置を開示する。特定場所のクリーンルームはケースによって取り囲まれている。ケースは側壁に空気用入口を有する。当該入口の後方にラジアルファンが備えられ、それによって空気が装置の内側空間に強制送風される。空気出口は入口を有した壁と反対側に配された壁に備えられている。クリーンルームの内部における空気の流れ分布は記載されておらず、考慮されていない。
特許文献3は、クリーンルーム条件下での半導体製造のためのシステムを開示する。当該システムは壁に取り囲まれた構築物を備えて成り、当該構築物の一部にクリーンルーム条件が存在する。空気はフィルターを介してクリーンルーム内に搬送される。クリーンルームのフロアにおける孔はクリーンな空気を例えば設備の他の部分へ導く。ここには空気流の案内や誘導に関して何ら開示されていない。
本発明の課題は、マクロ欠陥の検出にマイナスに影響を及ぼすことのない条件を有するシステムを創出することにある。
本発明によれば、この課題は請求項1の特徴構成によって達成される。
上記システムがケースによって取り囲まれ、第1区域、第2区域及び第3区域に小分けするならば特に有利である。第2区域にはX方向とY方向に変位可能でウェーハが置かれるステージが備えられる。第1区域には空気誘導部を介して第2区域内に吸引空気を導く吸引装置が備えられ、空気誘導部は複数の空気案内パネルを取り囲んで、空気流をウェーハ上に平行に導いている。
第1区域は第2区域から取付板によって分けられている。第2区域は同じように第3区域から分離板によって分けられている。第1区域は第1領域と第2領域に小分けされ、第2領域にはシステム空気のための吸引装置がある。
第1区域の第1領域には、実質的に複数の照明装置と少なくとも1つの検出装置が配置され、第1領域は更に照明装置と検出装置のための電子制御システムを含んでいる。
取付板は複数の通過孔を有し、これを通って空気流の第1部分が第2区域から出て第1区域の第1領域内へ移動する。分離板は同じように少なくとも1つの通過孔を有し、これを通って空気流の第2部分が第2区域から出て第3区域内へ移動する。第2区域は、隣接する第1区域内や隣接する第3区域内よりも約1Pa高いの空気圧である。システムのケースはフロアを含み、空気流の第2部分はフロアを通ってケースと第3区域を離れる。
空気流の第1部分は第1区域の第1領域における電子制御システムを冷却し、空気流の第2部分はシステムの第3区域における制御ユニットを冷却する。
本発明のサブジェクトマターは図面に概略的に描かれ、図面に関連して以下に記載される。
図1はウェーハの点検のための全体システム100におけるステージ2の配置を描写する。システム100はケース4によって囲まれ、第1区域6、第2区域8及び第3区域10に小分けされている。ケース4は壁(図示せず)によって外表面全てを締め切られ、特定な気候条件若しくはクリーンルーム条件がケース4の内部で実現する。ケース4の第1区域6において実質的に複数の照明装置12と少なくとも1つの検出装置14が収容されている。検出装置14は普通一般にはCCDカメラである。第1区域6は取付板16によって第2区域8から分けられている。照明装置12の光は光学手段18を介して取付板16を通って点検されるべきウェーハの表面上に導かれる。X方向とY方向に可動なステージ2が第2区域8に備えられている。ステージ2は、第2区域8と第3区域を互いに分ける分離板22に取り付けられている。第3区域10は、システム100及びシステム100の個々のコンポーネントを制御、監視及び調整する役目を果たす複数のコンピュータ又は制御ユニット20を有する。更に同じくデータを取得可能で、それらをもって評価可能である。
図2はステージ2の側面図である。ウェーハ25が置き場(レセプタクル)24上に置かれている。当該置き場24は回転軸26回りに回転可能である。ステージ2は第1ステージ要素2aと第2ステージ要素2bを備えている。第1ステージ要素2aは、複数のエアノズル27と少なくとも1つの第1レール28と共働する。エアノズル27を介してガスが一般的な標準圧よりも高い圧力で吹き出る。それで、第1ステージ要素2aが第1レール28に沿ってほぼ摩擦なく摺動できるエアクッションがエアノズル27と第1レール28の間に生じる。第1ステージ要素2aの動きはストッパー29によって両端で制限される。図3は図1におけるY方向に平行なステージ2の側面図である。第2ステージ要素2bは第2レール30に沿って変位可能である。第2レール30は、第2ステージ要素2bに備えられた複数のエアノズル31と共に働く。エアノズル31は圧力下に発するガスのため、エアクッションを生じ、第2ステージ要素2bが第2レール30に沿って摺動可能となる。第2ステージ要素2bの動きはストッパー29によって両端で限定される。ステージ2は更に制御ユニット33を含み、これによって、電気要素と、第1、第2ステージ要素2a,2bのエアノズル27,31への空気搬送とが制御調整される。例えば図3に描写されるように、フレキシブルベルト34が第2ステージ要素2bに案内される。制御ユニット33から第2ステージ要素2b及びそのエアノズル31までの対応する電気ライン及び空気ラインがフレキシブルベルト34に備えられる。
図4はX方向、Y方向に可動なステージ2周りの領域におけるシステムの詳細図である。第1区域6は第1領域6aと第2領域6bに小分けされている。照明装置のための電子制御システム35が第1領域6aに備えられている。電子制御システム35に加えて、照明装置12と検出装置(又はカメラ)14とが同じく第1領域6aに備えられている。第2領域6bはシステム100の周囲空気のための吸引装置36を含んでいる。当該吸引装置36は第2区域8で終端している。空気は吸引装置36を出て、第2区域内への空気誘導部37を介して第2区域8内に導かれる。空気誘導部は、空気を適切に第2区域8内に導く複数の空気誘導パネル38を含んでいる。ステージ2は第2区域8においてウェーハ25用の置き場24の真下にある。取付板16が第1区域6を第2区域8から分けている。当該取付板16に通過孔40が構成され、これらを通って照明装置12からの光と第2区域8からの光とが検出装置14内に戻っていく。通過孔40は透明な窓40aによって遮ることが可能である。検出装置14の前の通過孔が透明窓なしに構成されていれば特に有利である。通過孔40が窓を備えている場合、粒子がその上に留まり、検出装置14による画像形成にマイナスに作用し得る。ステージ2は、第2区域を第3区域から分ける分離板22によって担持されている。分離板22は、少なくとも1つの通過孔42が第2区域8と第3区域10の間に形成されるように構成されている。
図5はシステム100内での本発明に係る空気流60とその誘導を概略的に描写する。全システムはケース50によって囲まれている。ケース50は外側からシステム100を遮る複数の壁から構成されている。図4の記載において既に述べたように、空気流60は吸引装置36から空気誘導パネル38を介してシステム100の第2区域8内へ導かれる。空気は吸引装置36によって鉛直空気導管52に送り込まれる。鉛直空気導管52において、空気誘導パネル38は、第2区域8内の空気流60が水平に偏向され、ウェーハ25上を水平に導かれるように、挿入されている。ウェーハ25は第2区域8内でステージ2の置き場24上に置かれている。全システム100の足跡(footprint)を減らすために、最高のクリーンルームクラス(例えばDIN ISO クラス3)を有した第2区域8は可能な限り最小のスペースに限定される。この最小のスペースは第2区域8内に存在する。第2区域8において、空気圧は隣接する範囲(第1区域6と第3区域10)におけるよりも約1Pa高い。これによってウェーハ25が位置する第2区域8の外部からの汚染が防がれる。電子システム、光源、光学システム、可動機構及び他の機器は、可能な最大の程度で第2区域8の外側に配される。相対的に低いクリーンルームクラス(例えばDIN ISO クラス6)は第1区域6と第3区域10に存在する。第2区域8は上面で取付板16によって第1区域6に向かって境界を画している。照明・画像形成光学システムがこの取付板16上に据え付けられている。この取付板16において、窪んだ及び/又は取り付けられた光学要素(例えばガラスパネル、ミラーなど)を有する通過孔40乃至42によって、空気流にマイナスに作用することなくウェーハ25の表面に画像場(image field)の照明と画像形成とが可能である。電子・光学システム、光源及び調整要素が第1区域6において取付板16の上方に収容されている。X方向とY方向に可能なステージ2は、当該ステージ2が動く際に可能な限り少ない粒子が起こるにすぎないように構成され第2区域8内でウェーハ2の真下に配される。ステージ2は底部で(幾つかの通過孔42を除いて)第2区域8を遮る分離板22に乗っている。制御ユニット33(電子機器、コンピュータなど)が第3区域10内で分離板22の下方に位置している。通過孔42を備えることによって、空気流がシステム100の第3区域10内に主として送られる。空気流の第1部分60aがまた取付板16を介して第1区域6内に流れる。この構成で、第2区域8内の空気流60が最適化し、ウェーハ25の汚染を最小限度に抑える。空気流の第1部分60aと空気流の第2部分60bが同時に第1区域6と第3区域10における電子システム並びに第1区域6における照明装置12を冷却する。照明装置12は発光表面(luminous surface)12cを有するフラッシュランプ12aとして具現化されている。光がフラッシュランプ12aから光誘導ファイバー12bを介して発光表面12cに誘導される。フラッシュランプ12aはユーザーによって選択可能なスペクトル成分とパルス寿命を有する光を発する。第1区域6は更に、フラッシュランプ12aを制御するのに供され検出装置14で得た信号を評価するのに供される電子システムを有する。ケース50は脚部64で立ち、フロア62が据え付け表面から間隔をおかれている。
ウェーハの点検とマクロ欠陥の検出のための全体システムの構成を概略的に描写する図である。 X方向に平行なステージの側面図である。 Y方向に平行なステージの側面図である。 X方向とY方向に可動なステージ周りの領域におけるシステムの詳細図である。 システム範囲内の空気流とその誘導を概略的に描写する図である。
符号の説明
2 ステージ
6 第1区域
8 第2区域
10 第3区域
25 ウェーハ
36 吸引装置
37 空気誘導部
50 ケース

Claims (10)

  1. マクロ欠陥の検出のためのシステムにして、
    −第1区域、第2区域及び第3区域に小分けされているケース、
    −X方向とY方向に変位可能で上記第2区域内に備えられウェーハを置くステージ、
    −上記第1区域に備えられ吸引された空気を空気誘導部を介して第2区域内に案内する吸引装置、
    −空気流がウェーハ上を平行に誘導されるように上記空気誘導部内に備えられる複数の空気案内パネル、
    を備えて成るシステム。
  2. 第1区域が取付板によって第2区域から分けられていることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
  3. 第2区域が分離板によって第3区域から分けられていることを特徴とする請求項2に記載のシステム。
  4. 第1区域が第1領域と第2領域に小分けされ、第2領域には吸引装置がシステムの空気のために含まれることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
  5. 取付板が複数の通過孔を有し、これらを通って空気流の第1部分が第2区域を出て第1区域内へ移動することを特徴とする請求項1に記載のシステム。
  6. 分離板が少なくとも1つの通過孔を有し、これを通って空気流の第2部分が第2区域を出て隣接する第3区域内へ移動することを特徴とする請求項1に記載のシステム。
  7. 第2区域にて、空気圧が隣接する第1区域内及び隣接する第3区域内よりも約1Pa高いことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
  8. 第1区域又は第3区域よりも高いクリーンルームクラスが第2区域内に存在することを特徴とする請求項1に記載のシステム。
  9. マクロ欠陥の検出のためのシステムにして、
    −第1区域、第2区域及び第3区域に小分けされ、第1区域が取付板によって第2区域から分けられ、第2区域が分離板によって第3区域から分けられているケース、
    −X方向とY方向に変位可能で上記第2区域内に備えられウェーハを置くステージ、
    −上記第1区域に備えられ吸引された空気を空気誘導部を介して第2区域内に案内する吸引装置、
    −空気流がウェーハ上を平行に誘導され第2区域内にて空気圧が隣接する第1区域や隣接する第3区域よりも約1Pa高いように上記空気誘導部内に備えられる複数の空気案内パネル、
    を備えて成るシステム。
  10. マクロ欠陥の検出のためのシステムにして、
    −第1区域、第2区域及び第3区域に小分けされ、第1区域が取付板によって第2区域から分けられ、第2区域が分離板によって第3区域から分けられているケース、
    −空気流の第1部分が第2区域を出て第1区域内に移動する取付板の複数の通過孔、
    −空気流の第2部分が第2区域を出て隣接する第3区域内に移動する少なくとも1つの通過孔、
    −X方向とY方向に変位可能で上記第2区域内に備えられウェーハを置くステージ、
    −上記第1区域に備えられ吸引された空気を空気誘導部を介して第2区域内に案内する吸引装置、
    −空気流がウェーハ上を平行に誘導されるように上記空気誘導部内に備えられる複数の空気案内パネル、
    を備えて成るシステム。
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