JP2005135944A - 基板用搬送器具およびそれを用いて基板を搬送する方法 - Google Patents

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Katsuhiro Tsuji
克浩 辻
Saburo Sekida
三郎 関田
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Abstract

【課題】 極薄の半導体基板を、ある加工ステ−ジより次ぎの加工ステ−ジへ基板を破損させることなく搬送できる基板用搬送器具の提供。
【解決手段】 剛体材料よりなるド−ム状の基板押さえ枠3のド−ム天井板5下面に、上下に連通する流体通路6aを有する剛体製円板状基台6を設けて前記基板押さえ枠3とこの剛体製円板状基台6により流体室40を形成し、前記剛体製円板状基台6の下面に連通気泡の円板状スポンジ11をこの円板状スポンジの下面が基板押さえ枠3の円環状突起枠下面より0.5〜2mm突出するように点接着42または線接着42してスポンジ下面を基板把持面としたヘッド2をア−ム14に旋回または進退移動可能に取り付けた搬送器具1を用い、前記流体室40に洗浄液を供給してスポンジ11を湿潤させ、スポンジを下降させて基板面に当てることにより洗浄液の一部をスポンジより排出して流体室を負圧にし、基板wをスポンジ面に貼合させる。
【選択図】 図4

Description

本発明は、ある加工ステ−ジ上に載置された半導体基板を搬送器具のスポンジシ−トに貼合し、次ぎの加工ステ−ジへと基板を搬送するのに用いる基板用搬送器具およびそれを用いて基板を搬送する方法に関する。
基板の研削装置、研磨装置、エッチング装置、ダイシング装置、洗浄装置等の加工処理機を用い、半導体基板を加工処理するにおいて、仮置台あるいは真空チャック等のステ−ジ上の基板を基板搬送器具の吸着パッド機構に吸着し、吸着パッド機構を回転移動および/または前後移動させて次ぎの加工処理ステ−ジへと搬送する、あるいは真空チャック上で加工処理された基板を基板搬送器具の吸着パッドに吸着し、仮置台または次ぎの加工ステ−ジへと搬送することが行なわれている。
かかる基板の搬送器具として、基板を保持する吸着パッドと、第一の平面に位置付けられるように該吸着パッドを支持する第一の支持機構と、第二の平面に位置付けられるように該吸着パッドを支持する第二の支持機構よりなる支持手段と、前記吸着パッドを前記第一の平面と第二の平面とに選択的に位置付ける進退機構と、前記支持手段を移動させる駆動手段とから構成させる基板搬送器具が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
また、弾性材からなるラッパ状の吸着Vリングの根元部外周に段差部を設け、該吸着Vリングを取り付けるハンド側ア−ム(ベ−ス部材)に、該吸着Vリング凹部およびこの凹部の底部に吸着Vリング先端突出孔を設け、上記吸着Vリング段差部が該吸着Vリング装着凹部の底部に当接シ−ルするように吸着Vリングを挿入し、その裏面から押さえブラケットを介して着脱自在の蓋体にて密閉し、この吸着Vリング装着凹部を空気吸引手段に連通させた基板搬送器具も提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
特開2003−158167号公報 特開2003−225879号公報
前記特許文献1および特許文献2に記載される基板用搬送器具は、吸着パッド下面で基板を押し、基板を吸着パッドに真空ポンプによる減圧を利用して吸着する構造であり、研削ステ−ジから研磨ステ−ジへと平坦な半導体基板を搬送するには適している。しかし、直径200〜450mm、厚みが20〜100μmと極薄の半導体基板においては、吸着パッドや吸着Vリングに残った砥粒や加工屑により基板が破損する問題がある。
本発明は、厚みが20〜100μmと極薄の半導体基板やシリコンベアウエハであっても基板搬送時の基板破損がない基板用搬送器具を提供するものである。本発明の他の目的は、この基板用搬送器具を用いてある加工ステ−ジ上に載置されている基板を、次工程の加工ステ−ジ上へと搬送する方法を提供するものである。
請求項1の発明は、外周縁部に円環状突起枠を有する剛体材料よりなるド−ム状の基板押さえ枠、この基板押さえ枠のド−ム天井板下面に、上下に連通する流体通路を有する剛体製円板状基台を設けて前記基板押さえ枠とこの剛体製円板状基台により形成された流体室、この流体室に液体を供給する液体供給機構およびその開閉バルブ、前記剛体製円板状基台の下面に連通気泡率が50%以上、厚みが1〜5mmの円板状スポンジシ−トをこの円板状スポンジシ−トの下面が基板押さえ枠の円環状突起枠下面より0.5〜2mm突出するように点接着または線接着して設けた基板把持面、前記基板押さえ枠の上部に設けられたア−ム、およびこのア−ムを昇降および旋回または直線進退可能に移動させる移動機構を設けたことを特徴とする、基板搬送用器具を提供するものである。
請求項2の発明は前記の基板用搬送用器具を用い、次ぎの工程を経てある加工ステ−ジ上にある基板を次工程の加工ステ−ジ上へと搬送する方法を提供するものである。
(1)流体室に液体供給機構を用いて液体を供給し、円板状スポンジシ−トを湿潤させた後、開閉バルブを閉じて液体の供給を中止する。
(2)加工ステ−ジ上の基板の上面に基板押さえ枠が位置するように移動機構機構によりア−ムを旋回または前進させて移動させる。
(3)ア−ムを下降させて基板押さえ枠を基板に圧接して円板状スポンジシ−トに含まれていた液体の一部を排出することにより剛体製円板状基台の流体通路または流体室に負圧を生じさせて円板状スポンジシ−トに基板を貼合させる。
(4)ア−ムを上昇させ、旋回または後退させて基板を次工程の加工ステ−ジ上へと移動させる。
(5)ア−ムを下降させて基板押さえ枠を加工ステ−ジ上に接触させる。
(6)開閉バルブを開いて流体室に液体供給機構を用いて液体を供給し、円板状スポンジシ−トを十分に湿潤させた後、ア−ムを上昇させて基板を円板状スポンジシ−ト面から加工ステ−ジ上へと渡す。
基板を貼合する連通気泡を有する円板状スポンジシ−トは、常時、液体により洗浄されるので、砥粒や加工屑等の残跡が極めて少ない。稀に存在していても、連通気泡を有する円板状スポンジシ−トはクッション性に富むので、貼合時に残跡は円板状スポンジシ−ト内に埋没され、ノッチ効果が消滅されるので極薄基板であっても破損することはない。
(実施例1)
以下、図を用いて本発明をさらに詳細に説明する。
図1は本発明の基板用搬送器具の正面図、図2は本発明の基板用搬送器具の平面図、図3は本発明の基板用搬送器具の右側面図、および、図4は基板用搬送器具のヘッド部分の拡大断面図である。
図1乃至図4に示す基板搬送器具1において、2はヘッド部分のパッド機構、3は外周縁底部に円環状突起枠4を有する剛体材料よりなるド−ム状の基板押さえ枠、5はド−ム天井板(天蓋)、6は剛体製円板状基台、6aは流体通路用孔、7は結合材(ユニオン)7aは栓、8,9は流体通路連結管、10は液体供給管、11は連通気泡スポンジ、12は継手、13はポリウレタンコイルチュ−ブ、14はア−ム(柄)、15は固定部材、16はパッドサポ−ト板、17は調整部材、18はボルト、19は固定プレ−ト、20はボルトで前記固定プレ−ト19を調整部材17に固定している。40は流体室、42は接着剤である。
前記基板押さえ枠3のド−ム天井板5の下面には深さ1〜3mm、幅2〜5mmの環状の溝5aが複数条設けられている。
前記剛体製円板状基台6は、基板押さえ枠3の円環状突起枠4内に設けられ、基板押さえ枠3と剛体製円板状基台6とで流体室40を構成する。剛体製円板状基台6は液体が通過できる孔6aが多数、穿孔されている。孔6aを有する剛体製円板状基台6は、液体が透過できる通気性ポ−ラスセラミック製であってもよい。
ド−ム状の基板押さえ枠3、天井板5を構成する剛性材料としては、ポリ(四弗化エチレン)、ポリ(ジフロロ−ジクロロエチレン)、ナイロン6、ナイロン6,10、ポリアセタ−ル、ガラス繊維補強エポキシ樹脂、ガラス繊維補強ポリブチレンテレフタレ−ト、セラミック、アルミニウム、ステンレス等のロックウエル硬度がD50以上のものが好ましい。なかでも、摩擦係数の小さい、ロックウエル硬度がD50〜D55のポリ(四弗化エチレン)が好ましい。外周縁円環状突起4の幅は、3〜12mm、高さは3〜30mm、天井材の厚みは、2.9〜11.9mmが好ましい。
剛体製円板状基台6の下面には、連通(連続)気泡率が50%以上、好ましくは、75%以上、厚みが1〜5mm、好ましくは1.2〜3mmの円板状スポンジシ−トをこの円板状スポンジシ−トの下面が基板押さえ枠の円環状突起枠下面より0.5〜2mm突出するように点接着42または線接着42してスポンジシ−ト下面を基板把持面とする。
スポンジシ−トの素材としては、ポリビニ−ルアルコ−ルスポンジ、尿素樹脂スポンジ、メラミン樹脂スポンジ、低密度ポリエチレン連通気泡発泡体、ウレタンフォ−ム等、気泡の平均径が10〜120μmと細かく、密度が0.01〜0.15g/cmの柔軟性のあるスポンジ(発泡体を含む)を用いる。
ポリウレタンコイルチュ−ブ13は、図1に示すように継手21に結合され、継手21は、図示されていない給水ポンプに連結されている。継手21と給水ポンプ間には開閉バルブが設けられている。この継手21はスクエアFシリンダ22の後方の上部に設けた支持板23を介してボルトで固定されている。このポリウレタンコイルチュ−ブ13に給水ポンプで液体、例えば純水を供給することにより液体は、基板押さえ枠3下面の流体室40、剛体製円板状基台6の孔6aと通り、スポンジ11を湿潤し、過剰な液体はスポンジ表面より溢れ出る。
パッド機構2を支持するア−ム14はスクエアFシリンダ22により図1で示される左右方向に進退可能となっている。このスクエアFシリンダ22の上部をステッピングモ−タ33の下部に設けたア−ムホルダ25に固定する。
前記ア−ムホルダ25中央にはア−ム軸が設けられている。ア−ム軸は小ア−ム軸28、大ア−ム軸34部分よりなる。小ア−ム軸28の上部はステッピングモ−タ33のベアリングケ−ス32下部で軸受け33される。小ア−ム軸28の上部には大ア−ム軸34が連結され、前記下部軸受33と上部軸受35により回転可能に軸受けされている。大ア−ム軸34の上部はステッピングモ−タ33の回転軸36に連結されている。ステッピングモ−タ33の駆動によりア−ム軸28,34が回動され、ホルダ25は小ア−ム軸28回りに回動する。ホルダ25の回動によりホルダに固定されているスクエアFシリンダ22も小ア−ム軸28回りに回動する。よって、スクエアFシリンダ22に支持されている吸着パッド機構2のア−ム14も小ア−ム軸28回りに回動することとなる。
パッド機構2のア−ム14の昇降は、ステッピングモ−タ33を固定するスライダ37をシリンダ38でア−ムを上下に移動することにより行なわれる。
本発明の基板用搬送装置1を用い、ある加工ステ−ジ上に載置された基板を次ぎの加工ステ−ジへと搬送するには、次ぎの工程を経て行う。
(1)流体室40に給水ポンプ(液体供給機構)を用いて液体、例えば純水を供給し、円板状スポンジシ−ト11を湿潤させた後、開閉バルブを閉じて液体の供給を中止する。
(2)加工ステ−ジ上の基板の上面に基板押さえ枠3が位置するように移動機構機構によりア−ム14を旋回または前進させて移動させる。
(3)ア−ム14を下降させて基板押さえ枠3を基板に圧接して円板状スポンジシ−ト11に含まれていた液体の一部を排出することにより剛体製円板状基台の流体通路6aまたは流体室40に負圧を生じさせて円板状スポンジシ−ト11に基板を貼合させる。
(4)ア−ム14を上昇させ、旋回または後退させて基板を次工程の加工ステ−ジ上へと移動させる。
(5)ア−ム14を下降させて基板押さえ枠を加工ステ−ジ上に接触させる。
(6)開閉バルブを開いて流体室40に液体供給機構を用いて液体を供給し、円板状スポンジシ−ト11を十分に湿潤させた後、ア−ムを上昇させて基板を円板状スポンジシ−ト面から加工ステ−ジ上へと渡す。この際、事前に加工ステ−ジの吸着チャックを減圧して基板をチャックに固定してから開閉バルブを開くのが好ましい。
本発明の基板用搬送器具は、直径200〜450mm、厚みが20〜100μmと極薄の半導体基板であっても、基板の貼合面が柔軟性に富む連通気泡のスポンジシ−トであるため、基板が破損することはない。また、スポンジシ−トに液体を供給して基板を貼合するので、スポンジシ−トが常時洗浄され、かつ、湿潤しているので砥粒や加工屑がスポンジシ−トに残ることはない。
本発明の基板用搬送器具の正面図である。 本発明の基板用搬送器具の平面図である。 本発明の基板用搬送器具の右側面図である。 図1に示す基板用搬送器具のパッド機構部分を拡大した図である。
符号の説明
1 基板用搬送器具
w ワ−ク
2 パッド機構
3 ド−ム状の基板押さえ枠
4 円環状突起枠
5 ド−ム天井板
5a 環状溝
6 剛体製円板状基台
6a 孔
7 結合材(ユニオン)
11 連通気泡の円板状スポンジシ−ト
13 ポリウレタンコイルチュ−ブ
14 ア−ム(柄)
22 スクエアFシリンダ
33 ステッピングモ−タ
37 スライダ
38 シリンダ
40 流体室
42 接着剤

Claims (2)

  1. 外周縁部に円環状突起枠を有する剛体材料よりなるド−ム状の基板押さえ枠、この基板押さえ枠のド−ム天井板下面に、上下に連通する流体通路を有する剛体製円板状基台を設けて前記基板押さえ枠とこの剛体製円板状基台により形成された流体室、この流体室に液体を供給する液体供給機構およびその開閉バルブ、前記剛体製円板状基台の下面に連通気泡率が50%以上、厚みが1〜5mmの円板状スポンジシ−トをこの円板状スポンジシ−トの下面が基板押さえ枠の円環状突起枠下面より0.5〜2mm突出するように点接着または線接着して設けた基板把持面、前記基板押さえ枠の上部に設けられたア−ム、およびこのア−ムを昇降および旋回または直線進退可能に移動させる移動機構を設けたことを特徴とする、基板搬送用器具。
  2. 請求項1に記載の基板搬送用器具を用い、次ぎの工程を経てある加工ステ−ジ上にある基板を次工程の加工ステ−ジ上へと搬送する方法。
    (1)流体室に液体供給機構を用いて液体を供給し、円板状スポンジシ−トを湿潤させた後、開閉バルブを閉じて液体の供給を中止する。
    (2)加工ステ−ジ上のウエハの上面に基板押さえ枠が位置するように移動機構機構によりア−ムを旋回または前進させて移動させる。
    (3)ア−ムを下降させて基板押さえ枠をウエハに圧接して円板状スポンジシ−トに含まれていた液体の一部を排出することにより剛体製円板状基台の流体通路または流体室に負圧を生じさせて円板状スポンジシ−トに基板を貼合させる。
    (4)ア−ムを上昇させ、旋回または後退させて基板を次工程の加工ステ−ジ上へと移動させる。
    (5)ア−ムを下降させて基板押さえ枠を加工ステ−ジ上に接触させる。
    (6)開閉バルブを開いて流体室に液体供給機構を用いて液体を供給し、円板状スポンジシ−トを十分に湿潤させた後、ア−ムを上昇させて基板を円板状スポンジシ−ト面から加工ステ−ジ上へと渡す。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008074565A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Nippon Electric Glass Co Ltd 板状物の吸着方法及び吸着パッド

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