JP2005101105A - 位置決め装置、露光装置、デバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 位置計測部3で被位置制御対象物の位置を計測する。マイクロプロセッサ30は、計測された位置信号に基づいて、複数種類の演算処理を行い、その演算結果を前記被位置制御対象物の位置制御に係る制御信号として出力する。ここで、マイクロプロセッサ30は、位置信号の差分信号を演算する差分演算処理を第1サンプリング周波数で実行し、差分演算処理以外の演算処理を第1サンプリング周波数より低い第2サンプリング周波数で実行する。
【選択図】 図5
Description
1 応答が速いこと(速応性)
2 安定であること(安定性)
3 制御精度がよいこと(定常偏差)
である。
2.差分演算部16bによる、偏差信号ep(n)の偏差差分信号ed(n)の計算
3.和分演算部16aによる、偏差信号ep(n)の偏差和分信号ei(n)の計算
4.偏差信号ep(n)と比例ゲイン14aの積、偏差和分信号ei(n)と積分ゲイン14bの積、偏差差分信号ed(n)と微分ゲイン14Cの積を計算して、それらの和を制御信号u(n)として加算器902で計算する。そして、この計算処理は、所定のサンプリング周期毎に行われる。
尚、差分演算処理で算出する偏差差分信号ed(n)とは、具体的には、直前のサンプリングでの偏差信号の差、つまり、ed(n)=ep(n)−ep(n−1)である。
被位置制御対象物の位置を計測する計測器と、前記計測器で計測された位置信号に基づいて、複数種類の演算処理を行い、その演算結果を前記被位置制御対象物の位置制御に係る制御信号として出力するプロセッサとを備える位置決め装置であって、
当該位置決め装置は、前記位置信号の差分信号を演算する差分演算処理を第1サンプリング周波数で実行し、前記差分演算処理以外の前記演算処理を前記第1サンプリング周波数より低い第2サンプリング周波数で実行する。
前記差分演算処理を前記第1サンプリング周波数で実行する差分演算部を有する第1処理領域と、
前記差分演算処理以外の演算処理を前記第2サンプリング周波数で実行する第2処理領域とを備える。
前記第2処理領域と前記計測器間に接続され、前記位置信号を前記第2サンプリング周波数でA/D変換する第2A/D変換手段と
を更に備える。
前記第2処理領域は、
前記第1処理領域内の差分演算部で演算された前記位置信号の差分信号を、前記第2サンプリング周波数でD/D変換する第1D/D変換手段と、
前記A/D変換手段で変換された位置信号を、前記第2サンプリング周波数でD/D変換する第2D/D変換手段とを備える。
前記差分演算処理を前記第1サンプリング周波数で実行する差分演算部を有する第1プロセッサと、
前記差分演算処理以外の演算処理を前記第2サンプリング周波数で実行する第2プロセッサとを備える。
図5は本発明の実施形態1の露光装置の位置決め装置の構成を示す図である。
2.和分演算部26aによる、偏差信号ep(n)の偏差和分信号ei(n)の計算
3.D/D変換部29cによる、サンプリング周波数B[Hz]の処理領域28で計算された差分信号yd(m)をサンプリング周波数A[Hz]の差分信号yd(n)への変換
4.加算器100による、yd(n)と速度目標値生成部27bが生成する速度目標値rd(n)との差分である偏差差分信号ed(n)の計算
5.偏差信号ep(n)と比例ゲイン24a(P)の積、和分信号ei(n)と積分ゲイン24b(I)の積、差分信号ed(n)と微分ゲイン24C(D)の積を計算して、それらの和を制御信号u(n)として加算器101で計算
つまり、制御信号u(n)=Pep(n)+Iei(n)+Ded(n)を計算する。
実施形態1では、マイクロプロセッサ内で、位置差分信号及び位置偏差差分信号を計算する構成としているが、位置計測部が、ステージに関する位置差分信号をマイクロプロセッサに入力することができる構成であれば、この位置差分信号を利用して、位置偏差差分信号だけをマイクロプロセッサ内で計算する構成としても良い。
次に上記の露光装置を利用した半導体デバイスの製造プロセスを説明する。
1a、11a、21a、61a、71a リニアモータ
2、12、22、62、72 電流増幅部
3、13、23、63 位置計測部
9a、9b、29a、29b、59b、69a、69b A/D変換部
9c、29c、59a、59c、69c、79a、79b D/D変換部
5、25、55、65、75 D/A変換部
6b、16b、26b、56b、66b 差分演算部
6a、16a、26a、56a、66a、76a 和分演算部
7a、17a、27a、57a、67a、77a 位置目標値
7b、27b、57b、67b、77b:速度目標値
4a、14a、24a、54a、64a、74a 比例ゲイン
4b、14b、24b、54b、64b、74b 積分ゲイン
4c、14c、24c、54c、64c、74c 微分ゲイン
18、30、31、68a、68b、78a マイクロプロセッサ
8a、8b ディジタル信号処理領域
73 レーザ干渉計
73a メジャメントボード
100〜102、200〜202、500〜502、600〜602、700〜702 加算器
Claims (9)
- 被位置制御対象物の位置を計測する計測器と、前記計測器で計測された位置信号に基づいて、複数種類の演算処理を行い、その演算結果を前記被位置制御対象物の位置制御に係る制御信号として出力するプロセッサとを備える位置決め装置であって、
当該位置決め装置は、前記位置信号の差分信号を演算する差分演算処理を第1サンプリング周波数で実行し、前記差分演算処理以外の前記演算処理を前記第1サンプリング周波数より低い第2サンプリング周波数で実行する
ことを特徴とする位置決め装置。 - 前記第1サンプリング周波数は、前記第2サンプリング周波数の整数倍であり、かつ双方のサンプリング周期は同期している
ことを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。 - 前記プロセッサは、
前記差分演算処理を前記第1サンプリング周波数で実行する差分演算部を有する第1処理領域と、
前記差分演算処理以外の演算処理を前記第2サンプリング周波数で実行する第2処理領域とを備える
ことを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。 - 前記第1処理領域と前記計測器間に接続され、前記位置信号を前記第1サンプリング周波数でA/D変換する第1A/D変換手段と、
前記第2処理領域と前記計測器間に接続され、前記位置信号を前記第2サンプリング周波数でA/D変換する第2A/D変換手段と
を更に備えることを特徴とする請求項3に記載の位置決め装置。 - 前記第1処理領域と前記計測器間に接続され、前記位置信号を前記第1サンプリング周波数でA/D変換するA/D変換手段とを更に備え、
前記第2処理領域は、
前記第1処理領域内の差分演算部で演算された前記位置信号の差分信号を、前記第2サンプリング周波数でD/D変換する第1D/D変換手段と、
前記A/D変換手段で変換された位置信号を、前記第2サンプリング周波数でD/D変換する第2D/D変換手段とを備える
ことを特徴とする請求項3に記載の位置決め装置。 - 前記プロセッサは、物理的に異なる
前記差分演算処理を前記第1サンプリング周波数で実行する差分演算部を有する第1プロセッサと、
前記差分演算処理以外の演算処理を前記第2サンプリング周波数で実行する第2プロセッサとを備える
ことを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。 - 前記計測器は、計測した前記被位置制御対象物の位置信号の差分信号を算出する算出手段を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。 - 請求項1乃至7のいずれ1項に記載された位置決め装置を用いて、ステージの位置を制御する露光装置。
- 請求項8に記載の露光装置を用いて、半導体デバイスを製造するデバイス製造方法。
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