JP2005101029A - 基板処理装置および基板処理装置のための機能ブロック組合せシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 基板処理装置は、インデクサブロック1、バークブロック2、レジスト塗布ブロック3、現像処理ブロック4、インターフェイスブロック5、検査ブロックIBに各処理ブロックに機械的に区分される。各処理ブロックは、搬送ロボット(TR1〜TR5)および基板載置部(PASS1〜PASS8)を基板搬送手段としてそれぞれ有している。基板載置部PASS1〜PASS8は全て同じ構造であり、各処理ブロックの搬送ロボットは、隣に接続されたブロックの基板載置部にアクセス可能である。
【選択図】 図4
Description
図1は、本発明の実施の形態の基板処理装置の構成の一例を示す平面図である。本実施形態の基板処理装置は、半導体ウェハ等の基板に反射防止膜やフォトレジスト膜を塗布形成するとともに、パターン露光後の基板に現像処理を行う装置である。なお、本発明に係る基板処理装置の処理対象となる基板は半導体ウェハに限定されるものではなく、液晶表示器用のガラス基板等であっても良い。また、本発明に係る基板処理装置の処理内容は塗布膜形成や現像処理に限定されるものではなく、エッチング処理や洗浄処理であっても良い。
検査ブロックIBは、インデクサブロック1、バークブロック2、レジスト塗布ブロック3、現像処理ブロック4の間であればどの場所にも接続可能である。また、基板検査を行う必要が無い場合には、当該基板処理装置から検査ブロックIBを取り外して使用することもできる。以下、そのような作用が得を得るための各処理ブロック間の基板受け渡し境界構造について説明する。
以上の実施の形態では、基板処理装置の各処理ブロックの機械的な区分を図4の如く、基板載置部PASS1,PASS2をバークブロック2の一部として含ませ、基板載置部PASS3,PASS4をレジスト塗布ブロック3の一部として含ませ、基板載置部PASS5,PASS6を検査ブロックIBの一部として含ませ、基板載置部PASS7,PASS8を現像処理ブロック4の一部として含ませて構成していた。しかし本発明の適用は、その構成に限定されるものではない。
2 バークブロック
3 レジスト塗布ブロック
4 現像処理ブロック
5 インターフェイスブロック
12 基板移載機構
IB 検査ブロック
81 検査用バッファ
82 マクロ欠陥検査ユニット
83 膜厚検査ユニット
84 CD検査ユニット
85 オーバーレイ検査ユニット
86 検査用操作部
PASS1〜PASS8 基板載置部
TR1〜TR5 搬送ロボット
Claims (12)
- 第1の基板処理ブロックと、
第2の基板処理ブロックと、
基板検査ブロックとを備え、
前記第1と第2の基板処理ブロックの少なくとも一方と、前記基板検査ブロックとにそれぞれ基板搬送手段が設けられ、
相互に着脱可能であるとともに、相互に突き合わせ接続したときに相補的に連結されることによって所定の基板受渡し境界構造が形成される第1と第2の端部構造が規定されており、
前記第1の基板処理ブロックの特定の端部が前記第1の端部構造を有し、
前記第2の基板処理ブロックの特定の端部が前記第2の端部構造を有するとともに、
前記基板検査ブロックが、前記第1の端部構造を有する第1端部と、前記第2の端部構造を有する第2端部とを有する
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記第1の端部構造を有する第1の端部と、前記第2の端部構造を有する第2の端部とをそれぞれが有する、少なくとのひとつの他の基板処理ブロックをさらに備え、
前記基板検査ブロックと前記第1の基板処理ブロックの間、および
前記基板検査ブロックと前記第2の基板処理ブロックの間、
の少なくとも一方に、前記少なくとのひとつの他の基板処理ブロックのうちの1以上のものが介挿されて、前記第1と第2の端部構造の突き合わせ接続を用いてブロック間が接続されている
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1または請求項2に記載の基板処理装置であって、
前記第1の端部構造は、
前記第2の端部構造と接続されたときに、当該第2の端部構造が属するブロック内の基板搬送手段からアクセス可能な位置に基板載置部を備える
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項3に記載の基板処理装置であって、
前記検査用搬送手段は、
前記第1の基板処理ブロックの前記第1の端部構造が前記基板検査ブロックの前記第2の端部構造に接続されたときに、前記第1の基板処理ブロックの前記第1の端部構造内の基板載置部にアクセス可能な搬送ロボットを備える
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1から請求項4のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記基板検査ブロックは、所定の基板処理を行う基板検査ユニットを含み、
前記基板検査ユニットは、水平方向にスライド可能である
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項5に記載の基板処理装置であって、
前記基板検査ユニットは、
水平方向にスライドさせることにより、前記基板検査ブロックの筐体フレーム外へ引き出し可能である
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1から請求項6のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記基板検査ブロックは、
検査対象となる基板を一時的に収納可能な検査用バッファをさらに備える
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1から請求項7のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記基板検査ブロックは、前記基板検査ブロックでの基板検査に関する操作を行うための操作部をさらに備える
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記第1の基板処理ブロックおよび前記第2の基板処理ブロックのうちの一方は、未処理の基板を取り出すと共に、処理済みの基板を収納するインデクサブロックである
ことを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記第1の基板処理ブロックおよび前記第2の基板処理ブロックのうちの一方は、基板に対してレジスト膜を塗布するレジスト塗布ブロックであり、
前記第1の基板処理ブロックおよび前記第2の基板処理ブロックのうちの他方は、基板に対して現像処理を行う現像処理ブロックである
ことを特徴とする基板処理装置。 - 複数の基板処理ブロックと、
基板検査ブロックとを備え、
相互に着脱可能であるとともに、相互に突き合わせて接続したときに相補的に連結されることによって所定の基板受渡し境界構造が形成される第1と第2の端部構造のペアが規定されており、
(a)前記複数の基板処理ブロック間の突き合わせ接続部分と、
(b)各基板処理ブロックと前記基板検査ブロックとの間の突き合わせ接続部分と、
のいずれにも前記第1と第2の端部構造のペアが共通して採用されていることによって、
前記複数の基板処理ブロックと前記基板検査ブロックとのうちの2以上を用いた任意の組合せでの突き合わせ接続が可能である
ことを特徴とする、基板処理装置のための機能ブロック組合せシステム。 - 請求項12に記載の機能ブロック組合せシステムであって、
前記第1の端部構造はブロック端面から部分的に突出した基板載置部を備える一方、
前記第2の端部構造はブロック端面から部分的に凹没した凹部を備え、
前記第1と第2の端部構造が相互に連結されたときに、前記基板載置部が当該第2の端部構造の凹部に挿入状態となる
ことを特徴とする、基板処理装置のための機能ブロック組合せシステム。
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