JP2005093228A - 電気接続構造及びこれを使用する電子制御装置並びにこれに使用されるコネクタ - Google Patents

電気接続構造及びこれを使用する電子制御装置並びにこれに使用されるコネクタ Download PDF

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Abstract

【課題】 多ピン型接続構造において各ピン端子について適切な接圧が保たれていることを容易に検知可能とする。
【解決手段】 本発明の一局面によれば、先端部32に絶縁材料からなるコーティング材34が被覆されたピン端子30を、導体膜24が形成されたスルーホール22に差し込んで形成される電気接続構造が提供される。コーティング材34は、ピン端子30が適正な接圧下でスルーホール22に差し込まれた際に剥がれ、ピン端子30とスルーホール22の導体膜24との電気的な接続が実現される。
【選択図】 図3

Description

本発明は、ピン状の端子を用いた電気接続構造、及び、電子制御装置、並びに、コネクタに関する。
従来から、端子間の接圧状態を検査するため、接続状態にある雄端子の抜き荷重を計測する検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。また、端子間の接圧の良否を判断するため、端子間の導通状態を電気的に検査することが知られている(例えば、特許文献2参照)。
特開平1−150828号公報 特開2002−40083号公報
ところで、近年では、電子回路の集約化や多機能化に伴い、弾性を有する複数のピンを回路基板の複数のスルーホールに同時に押し込んで電気的な接続を実現することが行われている。このような多ピン型接続構造では、複数のピンが各スルーホール内で弾性変形することで、スルーホール(その内壁にコーティングされた銅箔)との間の所望の接圧が確保されるようになっている。
しかしながら、このような多ピン型接続構造において、複数のピンが複数のスルーホールに差し込まれた状態であっても、各ピン及び各スルーホールの寸法精度等に起因して、各ピンと各スルーホールとの間に適切な接圧が確保されていない事態が生じうる。このような場合、電気的な接続が初期的に確保されている場合でも、接触抵抗が大きく、また、周辺環境(特に、車両等の移動体に搭載されている環境)によっては振動等に起因してピン等に磨耗が発生したりピンの弾性力が経時的に減少し、最終的に電気的な接続が確保されない可能性が生ずる。従って、多ピン型接続構造においては、組み付け後に各ピンの初期的な電気的接触状態を検査する検査方法では不十分であり、各ピン毎に適切な接圧が確保されているかを検査する必要がある。
これに対して、上述の従来技術の如く、組み付け後にピンの抜け荷重や組み付け時の押し込み力を測定することも考えられるが、多ピン型接続構造は複数のピンが各スルーホールに対して略同時に挿抜される構造である故に、複数のピン全体の抜け荷重を測定することができても、個々のピンの抜け荷重を測定することはできない(押し込み力であっても同様)。従って、この場合、全体としての抜け荷重が規定内であっても、あるピンとスルーホールとの間に適切な接圧が確保されていない事態が生じうる。
そこで、本発明は、各ピンについて適切な接圧が保たれていることを容易に検知できる、電気接続構造、及び、電子制御装置、並びに、コネクタを提供することを課題とする。
上記課題を解決するため、本発明の一局面によれば、接触部に絶縁材料からなるコーティング材が被覆されたピン状の端子を、導体膜が形成された穴に差し込んで形成される電気接続構造が提供される。
本局面において、穴の導体膜にも、絶縁材料からなるコーティング材が被覆されていてよい。効果的には、コーティング材は、前記ピン状の端子が適正な接圧下で前記穴に差し込まれた際に剥がれ、ピン状の端子と前記穴の導体膜との電気的な接続が実現される。従って、電気的試験により、容易に、全てのピン状の端子について適正な接圧が維持されていることを検知することができる。
本発明のその他の一局面によれば、ピン状の端子を、導体膜が形成された穴に差し込んで形成される電気接続構造であって、
前記ピン状の端子には、タッピングが形成されている、電気接続構造が提供される。
本局面において、効果的には、前記タッピングは、前記ピン状の端子が適正な接圧下で前記穴に差し込まれた際に前記ピン状の端子が回転するように、形成されている。従って、ピン状の端子の回転を監視することにより、容易に、全てのピン状の端子について適正な接圧が維持されていることを検知することができる。
本発明のその他の一局面によれば、上記各局面による電気接続構造を有する電子制御装置であって、
前記ピン状の端子を備えたコネクタと、
前記穴が形成された回路基板とを有する電子制御装置が提供される。
また、本発明のその他の一局面によれば、上記各局面による電気接続構造で使用される、前記ピン状の端子を備えたコネクタが提供される。
本発明によれば、各ピン状の端子について適切な接圧が保たれていることを容易に検知できる。
以下、図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態の説明を行う。
図1は、本発明に関連するコネクタ10と回路基板20との接続構造を説明する図である。コネクタ10は、内部中空の本体11を有し、内部には他のコネクタ12(複数でもよい)が嵌合接続される接続部(図示せず)を有する。この接続部は、複数の端子(典型的には40個以上)を備え、各端子に対応して接続する各ピン端子30が、本体11外部に設けられる。各ピン端子30は、ある程度の剛性を有し、回路基板(PCB)20に形成されたスルーホール22内に差し込まれる(図中、矢印参照)。コネクタ10の各ピン端子30が回路基板20のスルーホール22内に差し込まれると、回路基板20には保護カバー(図示せず)がかぶせられ、保護カバーからコネクタ10の中空内部(の接続部)のみが露出するような状態とされる。その後、例えば車両の製造ライン等において、コネクタ10の中空内部の接続部に他のコネクタ12(複数でもよい)が嵌合接続され、回路基板20と他のコネクタ12を介した他の電子部品(電気回路や電源)との電気的な接続が実現される。但し、本発明は、特にこのコネクタ10の構造や接続態様に限定されるものでなく、以下で説明するピン端子構造を有するコネクタであれば本発明の範囲内であることは理解されるべきである。尚、回路基板20上には、メモリ等の各種素子を含む電気回路が形成されており、回路基板20は電子制御装置(ECU)として機能する。
図2は、図1のA部の拡大図に相当する。図2には、ピン端子30の先端部32が、それに対応するスルーホール22と共に断面で示されている。ピン端子30は、金属等の導電材料から形成され、図2に示すように、径方向に弾性変形可能な先端部32を有する。一方、スルーホール22は、ピン端子30の先端部32の外径よりも小さいに径に設定されている。このため、ピン端子30は、弾性変形した状態でスルーホール22の周壁に接触し、ピン端子30とスルーホール22との間に生ずる接圧によりスルーホール22内に保持される。スルーホール22には、銅箔等のような導体膜24が被覆されており、この導体膜24とピン端子30の先端部32とが接触することで回路基板20とコネクタ10との間の電気的接続が実現される。尚、図2に示す例では、導体膜24は、スルーホール22の周壁のみならず、スルーホール22周辺の回路基板20両面上にもコーティングされている。
ところで、ピン端子30及びスルーホール22は、組み付け後に上述の如くピン端子30とスルーホール22との間に適切な接圧が生ずるように、設計されている。しかしながら、実際には、各種寸法誤差等に起因してピン端子30とスルーホール22との間に適切な接圧が確保されない事態が生じうる。従って、上述のような複数のピン端子30とスルーホール22とを接続する構造においては、組み付け後にピン端子30とスルーホール22との間に適切な接圧が確保されていることを、全てのピン端子30について保証する必要がある。以下、これに関する本発明の特徴的構成を詳説する。
図3は、本発明の第1実施例に係るピン端子30を示す図であり、図1のA部の拡大図に相当する。図3には、ピン端子30の先端部32が、それに対応するスルーホール22と共に断面で示されている。
本実施例のピン端子30の先端部32には、絶縁性のあるコーティング材34が被覆されている。この場合、コーティング材34は、ピン端子30の先端部32において、スルーホール22(周壁)との接触部を少なくとも覆うようにコーティングされる。図3に示す例では、コーティング材34は、ピン端子30の肩部36より下方の全領域(先端部32)に塗布されている。尚、ピン端子30の肩部36は、ピン端子30のスルーホール22への押し込みの際に治具と係合する部位である。コーティング材34としては、絶縁性が高く、高温でも割れが生じ難い絶縁材料が好ましく、例えばポリアミド樹脂であってよい。
同様に、スルーホール22の導体膜24上にも、コーティング材34が被覆されている。この場合、コーティング材34の被覆範囲は、導体膜24の形成範囲に対応するものであってよい(即ち、少なくとも導体膜24がコーティング材34により覆われるようにする)。
図4は、本実施例のピン端子30がスルーホール22内に差し込まれた状態を示す図であり、図4には、差込後のピン端子30の先端部32が、それに対応するスルーホール22と共に断面で示されている。
ピン端子30がスルーホール22内に差し込まれる際、コーティング材34は、ピン端子30とスルーホール22との間の適正な接圧下で剥がれ、ピン端子30とスルーホール22の導体膜24との間の電気的な接触が実現される(図中C部参照)。一方、寸法誤差等により適正な接圧に達しない関係のピン端子30とスルーホール22に対しては、コーティング材34は、ピン端子30挿入時に上述の如く剥がれることはなく、ピン端子30とスルーホール22の導体膜24との間の電気的な接触が実現されない。
従って、本実施例では、コネクタ10(の各ピン端子30)を回路基板20(の各スルーホール22内)に圧着させた後、所定の電気試験が各ピン端子30に対して実施される。この電気試験は、例えば4端子抵抗計測(2端子を用いて電流を流した際の電圧を別の2端子間で計測する方法)によるものであってよい。この結果、全てのピン端子30において良好な導通状態が確認された場合(例えば、抵抗値が所定レベル以下であった場合)、良品として出荷される。一方、それ以外の場合、接触不良、若しくは、ピン端子30とスルーホール22との間に適切な接圧が確保されていないとして、部品交換後に再度組付けが実施され、若しくは不良品として破棄される。
このように、本実施例によれば、適正な接圧に達した際に剥がれるコーティング材34を導入することで、組み付け後の全てのピン端子30及びスルーホール22間において適切な接圧が確保されていることを、確実且つ容易に保証することができる。この結果、信頼性の高い態様でコネクタ10と回路基板20との間の電気的接続を実現することができる。
また、コーティング材34は、ピン端子30挿入中に力の加わらない部位には残存する。このため、図4に示すように、残存したピン端子30側のコーティング材34及びスルーホール22側のコーティング材34が協働して、ピン端子30とスルーホール22の間への水滴や異物の侵入を防止する機能を果たす(図中、B部参照)。即ち、防滴性能が確保される。また、本実施例では、ピン端子30の最先端部が弾性変形部に比して十分小さく形成されているので(即ち、ピン端子30が先細に形成されている)、ピン端子30挿入中に最先端部のコーティング材34が剥がれることがなく、このため、スルーホール22の両側で防滴性能が確保される。
図5は、本発明の第2実施例に係るピン端子30を示す図であり、図1のA部の拡大図に相当する。図5には、ピン端子30の先端部32が、それに対応するスルーホール22と共に断面で示されている。
本実施例のピン端子30の先端部32(弾性変形部)には、タッピング(ねじ立て、捻り)38が形成されている。タッピング38は、ピン端子30の弾性変形部まわりに螺旋状に形成される。タッピング38は、好ましくは、ピン端子30の弾性変形部まわりに一周以内の適切な範囲内で設定される(例えば、半周若しくは1/4周)。
図6は、本実施例のピン端子30がスルーホール22内に差し込まれた状態を示す図であり、図6には、差込後のピン端子30の先端部32が、それに対応するスルーホール22と共に断面で示されている。
ピン端子30がスルーホール22内に差し込まれる際、ピン端子30は、スルーホール22との間の適正な接圧下で、タッピング38により回転される(図中矢印参照)。即ち、タッピング38がスルーホール周壁の導体膜24に噛み込むため、ピン端子30が挿入されていくにつれてピン端子30が捩じれて回転される(タッピング38の周方向の形成範囲に応じた量の回転が生ずる)。一方、寸法誤差等により適正な接圧に達しない関係のピン端子30とスルーホール22に対しては、タッピング38がスルーホール周壁の導体膜24に噛み込むことがなく、若しくは噛み込みが不十分となり、ピン端子30が捩られて回転することがない。
従って、本実施例では、コネクタ10(の各ピン端子30)を回路基板20(の各スルーホール22内)に圧着させる際の、各ピン端子30の回転量が監視又は事後確認される。この監視等は、作業者による目視によるものであってよく、若しくは、特別な計測器を用いるものであってもよい。この結果、全てのピン端子30において挿入時の回転が確認された場合(例えば、回転量が所定レベル以上であった場合)、良品として出荷される。一方、それ以外の場合、接触不良、若しくは、ピン端子30とスルーホール22との間に適切な接圧が確保されていないとして、部品交換後に再度組付けが実施され、若しくは不良品として破棄される。
このように、本実施例によれば、適正な接圧下でピン端子30の回転を引き起こすタッピング38を導入することで、組み付け後の全てのピン端子30及びスルーホール22間において適切な接圧が確保されていることを、確実且つ容易に保証することができる。この結果、信頼性の高い態様でコネクタ10と回路基板20との間の電気的接続を実現することができる。また、各ピン端子30の回転を目視するだけでよく、検査が非常に容易であり、しかもその場で確認できる。但し、複数のピン端子30の回転を同時に目視することが困難であることを考慮して、例えばピン端子30の肩部36等に目視可能な印(溝等)を形成し、当該印の回転位置を確認して接圧の良否を判定してもよい。
尚、本実施例において、ピン端子30及び/又はスルーホール22に、上述の第1実施例のようなコーティング材を施すことも可能である。この場合、上述の第1実施例と同様、コーティング材による防滴性能を得ることができる。尚、この場合、複数のピン端子30の回転の監視と共に、上述の第1実施例と同様の電気試験を実施してもよい。
以上、本発明の好ましい実施例について詳説したが、本発明は、上述した各実施例に制限されることはなく、本発明の範囲を逸脱することなく、上述した各実施例に種々の変形及び置換を加えることができる。
例えば、上述した実施例では、侵入する水滴等に起因した、隣接する複数のピン端子30同士の望ましくない電気的接続、隣接する複数のスルーホール22(の導体膜24)同士の望ましくない電気的接続、及び、隣接するピン端子30とスルーホール22(の導体膜24)の間の望ましくない電気的接続が生じないように、コーティング材34の被覆範囲が設定されているが、周囲環境や設置箇所に応じて、コーティング材34の被覆範囲を限定することも可能である(例えば、スルーホール22内壁のみ、若しくは、ピン端子30の先端部32のみ)。
また、上述した実施例では、雄側(ピン端子30側)に弾性変形部が設定されているが、それに代わって若しくはそれに加えて、雌側(スルーホール22側)に弾性変形部が設定されてもよい。同様に、上述した第2実施例では、雄側(ピン端子30側)にタッピング38が設定されているが、雌側にタッピングを形成するのも可能である。
また、上述した各実施例において、スルーホール22は回路基板20を貫通する穴であったが、回路基板20を完全に貫通しない穴(即ち、凹部)であってもよい。
本発明に関連するコネクタ10と回路基板20との接続構造を説明する図である。 ピン端子30の先端部32と、それに対応するスルーホール22とを示す断面図である。 第1実施例による、ピン端子30挿入前の接続構造を示す断面図である。 第1実施例による、ピン端子30挿入後の接続構造を示す断面図である。 第2実施例による、ピン端子30挿入前の接続構造を示す断面図である。 第2実施例による、ピン端子30挿入後の接続構造を示す断面図である。
符号の説明
10 コネクタ
11 本体
20 回路基板
22 スルーホール
24 導体膜
30 ピン
32 先端部
34 コーティング材
38 タッピング

Claims (7)

  1. 接触部に絶縁材料からなるコーティング材が被覆されたピン状の端子を、導体膜が形成された穴に差し込んで形成される電気接続構造。
  2. 接触部に絶縁性の材料からなるコーティング材が被覆されたピン状の端子を、絶縁材料からなるコーティング材が被覆されている導体膜を有する穴に差し込んで形成される電気接続構造。
  3. 前記コーティング材は、前記ピン状の端子が適正な接圧下で前記穴に差し込まれた際に剥がれ、前記ピン状の端子と前記穴の導体膜との電気的な接続が実現される、請求項1又は2記載の電気接続構造。
  4. ピン状の端子を、導体膜が形成された穴に差し込んで形成される電気接続構造であって、
    前記ピン状の端子には、タッピングが形成されている、電気接続構造。
  5. 前記タッピングは、前記ピン状の端子が適正な接圧下で前記穴に差し込まれた際に前記ピン状の端子が回転するように、形成されている、請求項4記載の電気接続構造。
  6. 請求項1乃至5記載の電気接続構造を有する電子制御装置であって、
    前記ピン状の端子を備えたコネクタと、
    前記穴が形成された回路基板とを有する電子制御装置。
  7. 請求項1乃至5記載の電気接続構造で使用される、前記ピン状の端子を備えたコネクタ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007535102A (ja) * 2004-04-27 2007-11-29 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング プリント配線板との無はんだの電気的な接続のためのピン、圧入工具ならびに無はんだの電気的な接続を形成するための方法
DE102006027748A1 (de) * 2006-06-16 2007-12-20 Robert Bosch Gmbh Leiterplatte und Verfahren zur Herstellung einer lötfreien elektrischen Verbindung
JP2017069074A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 矢崎総業株式会社 プレスフィット端子

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007535102A (ja) * 2004-04-27 2007-11-29 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング プリント配線板との無はんだの電気的な接続のためのピン、圧入工具ならびに無はんだの電気的な接続を形成するための方法
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