JP2005040408A - 発熱素子 - Google Patents
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Abstract
【課題】 半田接続層と加熱体が挟持された絶縁体との密着性を向上させて高信頼性をもたせると共に、発熱体から被加熱体への熱伝導性を向上させることの可能な発熱素子を提供する。
【解決手段】 ニッケルクロム又は高融点金属からなる発熱体7を、酸化物あるいは窒化物からなる絶縁体2,3で挟持し、発熱体の細長部7aに対応する絶縁体2の表面に、バッファ層としてのニッケル層8aと半田融合層としてのニッケルめっき層9aとからなる半田接続層5aを形成して発熱素子1を構成する。
【選択図】 図3
【解決手段】 ニッケルクロム又は高融点金属からなる発熱体7を、酸化物あるいは窒化物からなる絶縁体2,3で挟持し、発熱体の細長部7aに対応する絶縁体2の表面に、バッファ層としてのニッケル層8aと半田融合層としてのニッケルめっき層9aとからなる半田接続層5aを形成して発熱素子1を構成する。
【選択図】 図3
Description
この発明は、被加熱体へ熱供給するため半田又はロウ付け層により接着される発熱素子に関し、特に発熱素子の加熱部の構造に関する。
従来、内視鏡の処置具としての焼灼止血装置に関して、特開平9−322901号公報には、高融点金属薄膜抵抗加熱ヒータを用いた発熱素子が開示されている。図9及び図10は、上記公報に開示されている発熱素子の発熱部の一部省略して透視して示す斜視図と側面断面図であり、図11は図9のA−A′線に沿った断面図である。図12は、被加熱体を接合した発熱素子発熱部を示す側面図である。
図9及び図10に示すように、前記公報開示の発熱素子においては、半導体もしくは二酸化珪素もしくはセラミックからなる厚さ 0.2mm〜3.0mm の発熱素子基板101 の一主面に、絶縁材料、好ましくは二酸化珪素やポリイミドなどの高分子材料からなる厚さ 0.3μm〜 100μmの絶縁保護膜102 が被着形成されている。この絶縁体である絶縁保護膜102 は、発熱素子基板101 が誘電体の場合には必要はない。
図11に示すように、絶縁保護膜102 上には、パターニングされたチタンやモリブデンあるいはタングステン等の厚さ 0.1μm〜50μmの高融点金属薄膜、もしくはその高融点金属の合金薄膜からなるヒーター103 が被着形成されており、このヒーター103 の発熱する部分は、線幅 0.1μm〜 100μmと細くし高抵抗化して局所的に発熱しやすくしている。前記ヒーター103 及び絶縁保護膜102 上には、パターニングされたアルミニウムや銅などの低抵抗金属薄膜、もしくはその低抵抗金属の合金薄膜からなる厚さ 0.1μm〜50μmの配線104 が被着形成されており、ヒーター103 と配線104 の接触部分は電気的に接続されている。前記配線104 を配設する理由は、発熱素子基板101 の中央部分での通電による発熱を防止するためである。
前記ヒーター103 上の発熱する部分には、絶縁性を有する材料の中で熱伝導率が比較的高い窒化アルミニウム,酸化アルミニウムなどを材料とした、厚さ 0.3μm〜50μmの熱伝導絶縁膜105 が被着形成されており、熱伝導絶縁膜105 の縁部105a部と配線104 及び絶縁保護膜102 上には、厚さ 0.3μm〜 100μmの絶縁保護膜106 が被着形成されている。前記熱伝導絶縁膜105 上には、発熱素子から被加熱体への接着が高温耐性半田の場合、半田の密着性を確保するために、ニッケル等の金属材料を使用した半田接続層107 が配設してある。ここで、発熱素子側半田接続層107 は、単にニッケル等の金属材料を使用することとなっている。
図12に示すように、被加熱体108 と半田接続層107 の間には、高温耐性半田もしくは高熱耐性があり熱伝導率が良い接着材を材料とした接着層109 が配設されており、発熱素子発熱部から被加熱体108 への熱伝導を容易にしている。
特開平9−322901号公報
上記公報に開示されている発熱素子発熱部の半田接続層107 は、高温にさらされる。したがって、単にニッケル等の金属材料を使用して形成するのみでは、半田接続層107 は、熱伝導絶縁膜105 と半田接続層107 及び絶縁保護膜102 の線熱膨張係数差による歪みなどが原因で、半田接続層107 下の熱伝導絶縁膜105 との密着性が悪化して半田接続層107 が剥がれ、被加熱体108 への熱伝達能力の低下という問題が発生する。
本発明は、従来の発熱素子における上記問題点を解決するためになされたもので、半田接続層と発熱体が挟持された絶縁体との密着性を向上させて、半田接続層が剥がれにくくして高信頼性をもたせると共に、発熱体から被加熱体への熱伝導性を向上させた発熱部を備えた発熱素子を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、絶縁体に挟持された発熱体と、前記絶縁体表面に形成された半田接続層とを有する発熱素子において、前記半田接続層は積層構造であることを特徴とするものである。
請求項2に係る発明は、請求項1に係る発熱素子において、前記半田接続層は、少なくとも1層以上からなるバッファ層と半田融合層とからなることを特徴とするものである。
請求項3に係る発明は、請求項2に係る発熱素子において、前記バッファ層は、金属層であることを特徴とするものである。
請求項4に係る発明は、請求項2又は3に係る発熱素子において、前記半田融合層は、ニッケルめっき層あるいは銅めっき層であることを特徴とするものである。
請求項5に係る発明は、請求項1〜4のいずれか1項に係る発熱素子において、前記半田接続層は、前記絶縁体の少なくとも一面に形成されていることを特徴とするものである。
上記請求項1に係る発熱素子の構成とすることにより、半田接続層と絶縁体との密着性を確保して高信頼性のある発熱部を備えた発熱素子が実現可能となる。請求項2〜4に係る発熱素子の構成とすることにより、半田融合層並びに絶縁体の両方に十分な密着性がある高信頼性の半田接続層を備え、同時に熱伝導性を向上させることが可能な発熱素子を提供することができる。請求項5に係る発熱素子の構成とすることにより、発熱素子と被加熱体との間の熱伝導性が向上し、効率よい発熱素子が実現可能となる。
次に、図面を参照して、本発明を実施するための最良形態について説明する。
まず、実施例1について説明する。図1及び図2は、実施例1に係る発熱素子1の発熱部1aの構造を示す斜視図で、図1は半田接続層5aを分離している態様を示している。図1及び図2において、2及び3は酸化物あるいは窒化物からなる絶縁体、7はニッケルクロムあるいは高融点金属であるモリブデン,タングステンなどからなる発熱体で、絶縁体2及び3に挟持され、発熱部1a内では幅Wを狭くすると共に長くして、グリッド状に細長部7aを形成している。このような形状とするのは、発熱部1a内での抵抗値を上げて発熱を容易にするためである。更に、発熱体7の細長部7aに対応する絶縁体2の表面には、発熱部1aの半田接続層5aが形成され、発熱素子1が構成されている。ここで、半田接続層5aは、発熱部1aに対応して同じ大きさでもよいし、あるいは発熱部1aを広く覆うように形成してもよい。なお、図1及び図2においては、絶縁体2及び3は、説明の便宜上透明な物体として表示している(以下同様)。
次に、発熱部1aの断面構造について説明する。図3に、図2に示した発熱素子におけるB−B′線に沿った断面図を示す。図3に示すように、発熱体7が挟持された絶縁体2の表面に、バッファ層としてのニッケル層8a及び半田融合層としてのニッケルめっき層9aを形成して半田接続層5aが構成されている。ここで、バッファ層であるニッケル層8aは、絶縁体2への密着性の確保という役割と、後述する電解もしくは無電解方法により形成するニッケルめっき層9aの成膜種という役割をもっている。詳しく説明すると、ニッケル層8aは、酸化物もしくは窒化物などの絶縁体2との接触部において、ニッケル酸化物もしくはニッケル窒化物を形成し、これらがニッケル層8aと絶縁体2との密着性を高めるので、半田接続層5aの剥離を抑える働きをする。また、ニッケル層8aはニッケルめっき層9aの成膜種としても適しており、主成分が同一金属であることから、ニッケル層(バッファ層)8aとニッケルめっき層(半田融合層)9a間の密着性がよい。
次に、半田接続層5aの形成方法について簡単に説明する。まず、発熱素子1における絶縁体2の発熱部1aに対応する表面に、蒸着方法ないしスパッタリング方法にて、厚さ10nm〜500nm のニッケル層8aをバッファ層として形成する。このとき、ニッケル層(バッファ層)8aのパターニングは、蒸着ないしスパッタリング時に、所望の形状にパターニングされた遮蔽マスクを用いて堆積とパターニングを同時に行う方法、もしくは絶縁体2の表面全面にニッケル層(バッファ層)を堆積した後にフォトエッチングを行い、ニッケル層8aを形成する方法にて行う。なお、ニッケル層8aの成膜直前に、アルゴンなどの不活性ガスにより絶縁体2の表面にプラズマクリーニングを施すことが望ましい。これは、ニッケル層(バッファ層)8aと絶縁体2の間の密着性を阻害する不純物を除去するためである。
続いて、ニッケル層8a上に、電解もしくは無電解法により、 500nm〜50μmの厚さで、ボロンを含有するニッケルめっき層(以下、Ni-B層と略す)9aを形成する。これは、Ni-B層中に含まれるボロンが発熱時における、窒化珪素、窒化アルミニウムもしくは酸化アルミニウムなどからなる絶縁体2及び3の腐食を発生しにくくするためである。なお、ニッケルめっき層9aの成膜直前に、アルゴンなどの不活性ガスによるニッケル層(バッファ層)8aの表面のプラズマクリーニングを施すか、もしくは、ニッケル層(バッファ層)8aの表面に対してニッケルエッチング液にて5nm〜10nm程度のエッチングを施して、ニッケル層(バッファ層)8aとニッケルめっき層9aとの間の密着性を阻害する不純物を除去することが望ましい。以上により、半田接続層5aが完成するが、半田接続層5aの表面を覆う最外皮層として、ニッケルめっき層9aの酸化防止膜となるフラッシュ金などを形成してもよい。
このような構成により、半田融合層(ニッケルめっき層)並びに絶縁体の両方に十分な密着性があり高信頼性の半田接続層5aを備え、同時に熱伝導性の向上が可能な発熱素子が得られる。また、この構成により、半田接続層5a及び絶縁体2間の線熱膨張係数差による歪みに十分対抗しうる半田接続層5aと絶縁体2間の高い密着性が確保でき、発熱素子及び被加熱体を半田ないしロウ材を用いて接続した発熱装置においての高信頼性が図れる。
次に、実施例2について説明する。本実施例における全体の構成は、実施例1と同様であり、半田接続層の構成が異なるのみなので、半田接続層のみについて説明する。図4に本実施例に係る発熱素子の断面図を示す。図4に示すように、半田接続層5aは、バッファ下層としての金属層10aとバッファ上層としてのニッケル層11aと半田融合層としてのニッケルめっき層12aとで構成される。
ここで、金属層(バッファ下層)10aを形成する材料としては、絶縁体2及びニッケル層(バッファ上層)11aとの密着性のよい金属材料が好ましく、例えば、酸化物あるいは窒化物生成の自由エネルギーがニッケルより小さいチタンやクロムなどがある。これらの金属は、バッファ上層であるニッケル層11aとの合金層を形成し、金属層(バッファ下層)10aとニッケル層(バッファ上層)11aとの密着性を高める。一方、絶縁体2に対しては、金属層(バッファ下層)10aと絶縁体2の間に金属層(バッファ下層)10aの酸化物もしくは窒化物を形成して、金属層(バッファ下層)10aと絶縁体2との密着性を高める。また、バッファ上層であるニッケル層11aは、半田融合層としてのニッケルめっき層12aの成膜種になるもので、主成分が同一金属であることから、ニッケル層(バッファ上層)11aとニッケルめっき層(半田融合層)12aとの密着性が向上する。
次に、この実施例2における半田接続層5aの形成方法について簡単に説明する。まず、発熱体7が挟持された絶縁体2の発熱部1aに対応する表面に、蒸着方法ないしスパッタリング方法にて厚さ10nm〜500nm の厚さでバッファ下層となる金属層10aを、例えばチタンあるいはクロムで形成する。ここで、金属層(バッファ下層)10aの成膜直前にアルゴンなどの不活性ガスにより絶縁体2の表面にプラズマクリーニングを施して、金属層(バッファ下層)10aと絶縁体2の間の合金化を阻害し、密着性を阻害する不純物を除去することが望ましい。
次に、金属層(バッファ下層)10a上に、蒸着方法ないしスパッタリング方法にて厚さ10nm〜500nm のニッケル層11aをバッファ上層として形成する。ここで、ニッケル層(バッファ上層)11aの成膜直前に、アルゴンなどの不活性ガスにより金属層(バッファ下層)10aの表面にプラズマクリーニングを施し、金属層(バッファ下層)10aとニッケル層(バッファ上層)11aの間の合金化を阻害し、密着性を阻害する不純物を除去することが望ましい。
なお、上記金属層(バッファ下層)10a及びニッケル層(バッファ上層)11aのパターニングは、蒸着ないしスパッタリング時に所望の形状にパターニングされた遮蔽マスクを用いて金属層(バッファ下層)10a及びニッケル層(バッファ上層)11aを堆積とパターニングを同時に行ってもよいし、もしくは、絶縁体2の表面全面に金属層(バッファ下層)10a及びニッケル層(バッファ上層)11aを堆積した後にフォトエッチングする方法で行ってもよい。また、金属層(バッファ下層)10a及びニッケル層(バッファ上層)11aは、同一の装置で連続して成膜してもよい。
続いて、ニッケル層11a上に電解もしくは無電解法により、 500nm〜50μmの厚さで、ボロンを含有するニッケルめっき層(Ni-B層)12aを半田融合層として形成する。これは、Ni-B層中に含まれるボロンが発熱時における、窒化珪素,窒化アルミニウムもしくは酸化アルミニウムなどからなる絶縁体2及び3の腐食を発生しにくくするためである。なお、ニッケルめっき層12aの成膜直前に、アルゴンなどの不活性ガスによるニッケル層(バッファ上層)11aの表面のプラズマクリーニングを施すか、もしくは、ニッケル層(バッファ上層)11aの表面に対してニッケルエッチング液にて5nm〜10nm程度のエッチングを施して、ニッケル層(バッファ上層)11aとニッケルめっき層12aとの間の密着性を阻害する不純物を除去することが望ましい。以上により、半田接続層5aの表面を覆う最外皮層として、ニッケルめっき層12aの酸化防止膜となるフラッシュ金などを形成してもよい。
このような構成により、実施例1の構成よりバッファ層(金属層及びニッケル層)と絶縁体との間の密着性に関して、更なる向上が図れ、半田接続層及び絶縁体間の線熱膨張係数差による歪みに十分対抗しうる半田接続層と絶縁体間の高い密着性が確保でき、発熱素子及び被加熱体を半田ないしロウ材を用いて接続した発熱装置においての高信頼性が図れる。
次に、実施例3について説明する。本実施例における全体の構成は、実施例1と同様であり、半田接続層の構成が異なるのみなので、半田接続層のみについて説明する。図5に本実施例に係る発熱素子の断面図を示す。図5に示すように、半田接続層5aは、バッファ下層としての金属層13aとバッファ上層としての銅層14aと半田融合層としての銅めっき層15aとで構成される。
ここで、金属層(バッファ下層)13aを形成する材料としては、絶縁体2及び銅層(バッファ上層)14aとの密着性のよい金属材料が好ましく、例えば、酸化物あるいは窒化物生成の自由エネルギーがニッケルより小さいチタンやクロムなどがある。これらの金属は、バッファ上層である銅層14aとの合金層を形成し、金属層(バッファ下層)13aと銅層(バッファ上層)14aとの密着性を高める。一方、絶縁体2に対しては、金属層(バッファ下層)13aと絶縁体2の間に金属層(バッファ下層)13aの酸化物もしくは窒化物を形成して、金属層(バッファ下層)13aと絶縁体2との密着性を高める。また、バッファ上層である銅層14aは、半田融合層としての銅めっき層15aの成膜種になるもので、主成分が同一金属であることから、銅層(バッファ上層)14aと銅めっき層(半田融合層)15aとの密着性が向上する。
次に、この実施例3における半田接続層15aの形成方法について簡単に説明する。まず、発熱体7が挟持された絶縁体2の発熱部1aに対応する表面に、蒸着方法ないしスパッタリング方法にて厚さ10nm〜200nm の厚さでバッファ下層となる金属層13aを、例えばチタンあるいはクロムで形成する。ここで、金属層(バッファ下層)13aの成膜直前に、アルゴンなどの不活性ガスにより絶縁体2の表面にプラズマクリーニングを施して、金属層(バッファ下層)13aと絶縁体2の間の合金化を阻害し、密着性を阻害する不純物を除去することが望ましい。
次に、金属層(バッファ下層)13a上に、蒸着方法ないしスパッタリング方法にて厚さ10nm〜200nm の銅層14aをバッファ上層として形成する。ここで、銅層(バッファ上層)14aの成膜直前に、アルゴンなどの不活性ガスにより金属層(バッファ下層)13aの表面にプラズマクリーニングを施し、金属層(バッファ下層)13aと銅層(バッファ上層)14aの間の合金化を阻害し、密着性を阻害する不純物を除去することが望ましい。
なお、上記金属層(バッファ下層)13a及び銅層(バッファ上層)14aのパターニングは、蒸着ないしスパッタリング時に所望の形状にパターニングされた遮蔽マスクを用いて金属層(バッファ下層)13a及び銅層(バッファ上層)14aを堆積とパターニングを同時に行ってもよいし、もしくは、絶縁体2の表面全面に金属層(バッファ下層)13a及び銅層(バッファ上層)14aを堆積した後にフォトエッチングする方法で行ってもよい。また、金属層(バッファ下層)13a及び銅層(バッファ上層)14aは、同一の装置で連続して成膜してもよい。
続いて、銅層14a上に電解もしくは無電解法により、 500nm〜50μmの厚さで、銅めっき層15aを半田融合層として形成する。ここで、銅めっき層15aはニッケルめっき層と比較して、高温では半田ないしロウ材の半田接続層への拡散が低いため、半田ないしロウ材と半田接続層間の密着性の寿命延長が図れる。以上により、半田接続層5aが完成するが、半田接続層5aの表面を覆う最外皮層として、銅めっき層15aの酸化防止膜となるフラッシュ金などを形成してもよい。
このような構成により、半田ないしロウ材と半田接続層5aとの間の密着性の寿命延長が図れ、実施例1の構成よりバッファ層(金属層及び銅層)と絶縁体との間の密着性に関して、更なる向上が図れ、半田接続層及び絶縁体間の線熱膨張係数差による歪みに十分対抗しうる半田接続層と絶縁体間の高い密着性が確保でき、発熱素子及び被加熱体を半田ないしロウ材を用いて接続した発熱装置においての高信頼性が図れる。
なお、上記実施例2及び実施例3においては、半田接続層のバッファ層を2層で構成する例について説明したが、バッファ層は2層に限定されるものではなく、3層以上で構成してもよい。このとき、バッファ層としては、線熱膨張係数が絶縁体及び半田融合層(ニッケルめっき層又は銅めっき層)の線熱膨張係数と大きく異なることはなく、その中間の値を有する材質を選択することが望ましい。
次に、実施例4について説明する。本実施例では、半田接続層を発熱体を挟持した絶縁体の両面に形成した発熱素子、及びその発熱素子を用いた加熱方法について説明する。図6及び図7に本実施例に係る発熱素子の斜視図を示す。なお、図6では半田接続層を分離した状態で示している。また、図8に発熱素子を被加熱体に実装した例を示す。
図6及び図7に示すように、発熱体7を挟持した絶縁体2及び3の両面に、半田接続層5a及び5bを形成した発熱素子1を、図8に示すように、被加熱体4a,4bに実装している。ここで、発熱素子1と被加熱体4a,4b,すなわち半田接続層5a及び5bと被加熱体4a,4bとの接続は、熱伝導層6a,6bにて接続されている。この熱伝導層6a,6bは、熱伝導性がよい金属合金である半田もしくはロウ材であり、発熱素子1の発熱部1aの発熱による熱を効率よく被加熱体4a,4bへ伝達している。一方、前述したように、絶縁体2及び3に挟持された、例えばニッケルクロムや高融点金属であるモリブデン,タングステンなどの発熱体7は、発熱部1a内では幅Wを狭くすると共に長くして細長部7aとし、抵抗値を上げ発熱素子1における発熱部1a領域での発熱を容易にしている。
このように、発熱体7を絶縁体2,3の両面に半田接続層5a,5bを設け、半田接続層5a,5bと被加熱体4a,4bとを熱伝導層6a,6bにて接続することにより、被加熱体4a,4bへの熱伝導面積が大きくなり、効率よい熱伝導が行われ、被加熱体4a,4bへの熱伝導性が向上する。また、被加熱体4a,4bの高い温度立ち上がり性が図れる。
以上のように、本発明によれば、半田接続層を積層構造とすることにより、半田融合層並びに絶縁体の両方に十分な密着性があり高信頼性の半田接続層を備え、同時に熱伝導性の向上が可能な発熱素子が実現できる。また、半田ないしロウ材からなる熱伝導層を用いた発熱素子と被加熱体との接続によって、熱伝導層と半田接続層及び絶縁体間の線熱膨張係数差による歪みに十分対抗しうる半田接続層と絶縁体間の高い密着性が確保できる。また発熱素子の発熱部両面に半田接続層と熱伝導層とを設けることにより、被加熱体への熱伝導性を向上することができると共に、被加熱体の高い温度立ち上がり性と、発熱素子及び被加熱体を接続している発熱装置における高信頼性が得られる。
1 発熱素子
1a 発熱部
2,3 絶縁体
4a,4b 被加熱体
5a,5b 半田接続層
6a,6b 熱伝導層
7 発熱体
7a 発熱体の細長部
8a ニッケル層(バッファ層)
9a ニッケルめっき層(半田融合層)
10a 金属層(バッファ下層)
11a ニッケル層(バッファ上層)
12a ニッケルめっき層(半田融合層)
13a 金属層(バッファ下層)
14a 銅層(バッファ上層)
15a 銅めっき層(半田融合層)
1a 発熱部
2,3 絶縁体
4a,4b 被加熱体
5a,5b 半田接続層
6a,6b 熱伝導層
7 発熱体
7a 発熱体の細長部
8a ニッケル層(バッファ層)
9a ニッケルめっき層(半田融合層)
10a 金属層(バッファ下層)
11a ニッケル層(バッファ上層)
12a ニッケルめっき層(半田融合層)
13a 金属層(バッファ下層)
14a 銅層(バッファ上層)
15a 銅めっき層(半田融合層)
Claims (5)
- 絶縁体に挟持された発熱体と、前記絶縁体表面に形成された半田接続層とを有する発熱素子において、前記半田接続層は積層構造であることを特徴とする発熱素子。
- 前記半田接続層は、少なくとも1層以上からなるバッファ層と半田融合層とからなることを特徴とする請求項1に係る発熱素子。
- 前記バッファ層は、金属層であることを特徴とする請求項2に係る発熱素子。
- 前記半田融合層は、ニッケルめっき層あるいは銅めっき層であることを特徴とする請求項2又は3に係る発熱素子。
- 前記半田接続層は、前記絶縁体の少なくとも一面に形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に係る発熱素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003278727A JP2005040408A (ja) | 2003-07-24 | 2003-07-24 | 発熱素子 |
DE602004014685T DE602004014685D1 (de) | 2003-07-24 | 2004-07-12 | Heizvorrichtung |
EP04016362A EP1500379B1 (en) | 2003-07-24 | 2004-07-12 | Heating device |
US10/890,208 US7145113B2 (en) | 2003-07-24 | 2004-07-14 | Heating device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003278727A JP2005040408A (ja) | 2003-07-24 | 2003-07-24 | 発熱素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005040408A true JP2005040408A (ja) | 2005-02-17 |
Family
ID=33487701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003278727A Pending JP2005040408A (ja) | 2003-07-24 | 2003-07-24 | 発熱素子 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7145113B2 (ja) |
EP (1) | EP1500379B1 (ja) |
JP (1) | JP2005040408A (ja) |
DE (1) | DE602004014685D1 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US10143511B2 (en) | 2012-12-27 | 2018-12-04 | Olympus Corporation | Therapeutic treatment device |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070138167A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Nitai Friedman | Heated food warmer |
WO2016103420A1 (ja) * | 2014-12-25 | 2016-06-30 | オリンパス株式会社 | 治療用処置装置 |
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- 2003-07-24 JP JP2003278727A patent/JP2005040408A/ja active Pending
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2004
- 2004-07-12 DE DE602004014685T patent/DE602004014685D1/de active Active
- 2004-07-12 EP EP04016362A patent/EP1500379B1/en active Active
- 2004-07-14 US US10/890,208 patent/US7145113B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE602004014685D1 (de) | 2008-08-14 |
US20050016992A1 (en) | 2005-01-27 |
EP1500379B1 (en) | 2008-07-02 |
EP1500379A1 (en) | 2005-01-26 |
US7145113B2 (en) | 2006-12-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060621 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080805 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080919 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090120 |