JP2005009927A - スプリングプローブ - Google Patents

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照永 古川
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    • G01R1/067Measuring probes
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Abstract

【課題】プランジャが円滑に摺動でき、損耗が少なく、通電も確実にでき、寿命が長いスプリングプローブを提供する。
【解決手段】ベリリウム銅素材に金メッキを施した円筒状通電バレル1の内部に内径13mmの中空室1aを設け、同中空室内に外径10mmの円柱状でベリリウム銅素材で金メッキを施した導電プランジャ2を封入するとともに、その一端に接触端子ピン2aを一体的に突出させ、同接触端子ピンを中空室1aの孔1bに嵌入して室外へ突出させ、中空室1a内に導電プランジャ2を付勢して接触端子ピンを室外方向に突出させるスプリング4を設け、導電プランジャ2の上部外周に設けた外周径12mmの丸味のある環状突起の突出部5を設け、同突出部5と中空部1aの内面とを接触させることで導電プランジャ2を傾き少なく、円滑に摺動できるようにする。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測定電気機器のプローブ端子として、2つ又は複数の物品間の脱着自在な接触端子として、回路内の脱着自在な又は外付けの導電部材として、又は脱着自在なスイッチ部品として使用できる物品に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のスイッチプローブは、図12に示すように内部に中空室を有する導電性の金属製バレル10の中空室11内に導電性の金属製の円柱状プランジャ12を嵌装し、プランジャの摺動方向の一端に突出させた接触端子ピン12aを中空室11の孔に嵌入して室外へ突出させ、プランジャ12の接動方向の他端と中空室11の室内壁との間に接触端子ピン12aを突出するように付勢するスプリング13を介在させた構造のスプリングプローブが広く知られている。このスプリングプローブの接触端子ピンをスプリングに抗して導電部材Dに押し付けることで、導電部材D,接触端子ピン12a,プランジャ12外周,中空室11内面,バレル10と導電して導電部材側の電気部品・製品の電気特性を測定可能とするものである。
しかしながら、従来のスプリングプローブでは、中空室11の内径とプランジャ12の外径との差が大きくなると、接触端子ピン12aが導電部材Dに対して直角から傾いて押し付けられるようになり、図13に示すようにプランジャ12の先端・上端の外周端が中空室11の内面とエッジを立てるようにして接触(接触個所C)して摺動し、プランジャ12の外周端,中空室11の内面が切傷状に損耗し、プランジャ12の摺動がエッジによる抵抗及びその損耗傷によって円滑になされなくなり、そのため製品寿命が短い又は導電性が悪くなるという問題点が生じていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
本発明が解決しようとする課題は、従来のこれらの問題点を解消し、プランジャが円滑に摺動でき、損耗が少なく又通電も確実にでき、寿命が長いというスプリングプローブを提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決した本発明の構成は、
1) 内部に中空室を有する導電バレルの同中空室内に導電プランジャを摺動自在に嵌装し、同導電プランジャの端面から摺動方向に突設させた接触端子ピンを中空室の孔に嵌入して室外へ突出させ、同導電プランジャの接触端子ピンを突出する方向に付勢する付勢部材を設け、接触端子ピンの先端を導電部材に押し当てて接触させて導電バレルに通電させるスプリングプローブに於いて、
導電プランジャの外周摺動面の一部に拡径した滑らかな曲面の突出部を設け、同突出部を介して導電プランジャ外周と導電バレルの中空室内面とを接触させて摺動損耗を少なく且つ確実に通電できるようにしたことを特徴とするスプリングプローブ
2) 内部に中空室を有する導電バレルの同中空室内に一対の導電プランジャを摺動自在に嵌装し、各導電プランジャの摺動方向の反対端面から突設させた接触端子ピンを中空室の孔に嵌入して室外へ突出させ、各導電プランジャの間に接触端子ピンを突出する方向に付勢する付勢部材を設け、各接触端子ピンの先端を導電部材に押し当てて接触させて導電バレルを介して接触端子ピン間を通電させるようにするスプリングプローブに於いて、
導電プランジャの外周摺動面の一部に拡径した滑らかな曲面の突出部を設け、同突出部を介して導電プランジャ外周と導電バレルの中空室内面とを接触させて摺動損耗を少なく且つ確実に通電できるようにしたことを特徴とするスプリングプローブ
3) 突出部が、導電プランジャ外周に設けられた滑らかな環状突条である前記1)又は2)記載のスプリングプローブ
4) 突出部が、導電プランジャ外周上端部を導電プランジャの外径より大きい外径の球体形状に突出させて形成された前記1)又は2)記載のスプリングプローブ
5) 突出部が導電プランジャ外周面に小さな小突起を複数設けて形成された前記1)又は2)記載のスプリングプローブ
6) 突出部外周に縦溝を複数設けた前記1)〜5)いずれか記載のスプリングプローブ
にある。
【0005】
【発明の実施の形態】
本発明の導電バレル,導電プランジャ,接触端子ピンは導電性のよい金属等で製作されるか又は導電処理されたものが使用される。
本発明の突出部の形状としては、導電プランジャ外周に設ける環状突起,プランジャの上端に拡径した球面体状突起,導電プランジャ外周に小さな小突起を複数周設するのが代表例であり、いずれも突出部は滑らかな曲面として、導電バレル(プローブ筒状の本体)の中空室の内面とはエッジがたたないように接触させ、摺動を円滑にさせ且つ電気的導電も押圧されて確実に確保できる程度に、突出と滑らかさを保有させることが好ましい。
本発明の付勢部材としては、コイルスプリング、弾性体、板バネ等が使用できる。
本発明の突出部外周の縦溝は、1本・複数本いずれでもよく、又その方向も円周方向,軸方向,傾斜方向等がある。
【0006】
本発明の導電バレル・導電プランジャの導電性は、導電性素材でバレル・プランジャを製作して導電性にする場合や、絶縁性の本体の表面に別素材の導電素材のメッキ(金、白金メッキ等)を施して導電性とする場合等がある。
本発明のスプリングプローブは、中空室に複数のプランジャを嵌装し、反対方向に各プランジャの接触端子ピンを突出させることもできる。又導電バレル,導電プランジャ,付勢手段を一組にして複数組連結し、多接触ピンを有するスプリングプローブとすることもできる。
【0007】
【実施例】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図1は、実施例1の縦断面図である。
図2は、図1のA−A端面図である。
図3は、実施例2の縦断面図である。
図4は、実施例3の縦断面図である。
図5は、図4のB−B端面図である。
図6は、実施例4の縦断面図である。
図7は、実施例5の縦断面図である。
図8は、実施例6の縦断面図である。
図9は、本発明の他の突出部を示す説明図である。
図10は、本発明の他の突出部の断面を示す説明図である。
図11は、本発明の接触端子ピンの先端部形状例を示す説明図である。
【0008】
本発明の実施例1〜6いずれもベリリウム銅素材のバレルとベリリウム銅素材の円柱状プランジャ本体・接触端子ピンの表面に金メッキを施して、良導電性の導電バレル・導電プランジャとしている。本発明の突出部を、実施例1,3,4,6ではプランジャ外周に設けた環状突起で形成し、実施例2,5はプランジャ外周上端部を径の大きい球体形状にした例である。
図1,2に示す実施例1は、プランジャ外周に環状突起を形成し、一つの導電プランジャの例である。
図3に示す実施例2では、導電プランジャ終端(上端)に設けた直径を円柱状導電プランジャ本体の直径より大きくした球体状突起で形成している。
図4,5に示す実施例3では導電プランジャ外周面に小突起を環状に複数周設して形成している。
図6に示す実施例4は、1つの導電バレルの中空室に2つの導電プランジャを摺動自在に封入し、各プランジャの接触端子ピンを反対方向に突出し、導電プランジャ間に付勢するスプリングを介在させた例である。
図7に示す実施例5は、導電プランジャの上端に大小の球体突起を重ねて突出部6とした例であり、
図8に示す実施例6は、図1の実施例の環状突条の突出部5を有するスプリングプランジャを3組組み合わせ、導電バレル1を電気的に導通させ、3点の接触端子ピン2で3点間の電気導通を行える例である。
【0009】
図1〜11中、1は導電バレルであって、ベリリウム銅素材製で製作され、円筒状で外径20mmを有し、外表面を金メッキを施している。1aは同バレルの中空室で内径13mmで内面に金メッキを施している。1bは同中空室1aに開口した孔で接触端子ピン2aを嵌入させている。2は導電プランジャであり、ベリリウム銅素材製で製作され、円柱状で10mmの外径を有し、その外周は金メッキを施している。2aは同導電プランジャの一端に突出させた接触端子ピンで導電プランジャ本体とは同一素材で表面に金メッキが施されている。4は導電プランジャ2の接触端子ピン2aを室外へ付勢する付勢部材であるスプリング、5は実施例1,4,6の外周径12mmの環状突起の突出部、6は実施例2の球体状突起の突出部、7は実施例3の複数の小さな小突起7aからなる突出部、8は実施例5の突出部、9は突出部5,6に設けた浅い縦溝である。Dは検査対象の導電性部材、C1は接触端子ピン2aと導電性部材Dとの接触点、C2は導電プランジャ2の突出部5,6,7と導電バレル1の中空室1aの内面との接触個所、Eは導電バレル1と接続される導電部材である。
【0010】
:実施例1(図1,2参照)
本実施例1では、導電プランジャ2はスプリング4によって付勢され、その接触端子ピン2aは中空室1aから突出するようにされている。この接触端子ピン2aが導電性部材Dに対し傾いて押圧されると、図1に示すように環状突出部5が中空室1aの内面と接触個所C2で接触する。しかもこの接触点C2の突出部5は滑らかであるので導電プランジャ2が摺動しても突出部5外面,中空室1aの内面を損傷させることが少なく、又摺動の抵抗も低く滑らかに移動できる。よって中空室1aの内面及び導電プランジャ2の摺動に伴う損傷は大巾に低減できる。又通電もプランジャ本体、接触個所C2,中空室1aの内面,導電バレル1となされ、接触個所C2がスプリング4で付勢され、確実に内面と接触してよい通電状態となる。
【0011】
:実施例2(図3参照)
図3で示す実施例2では、実施例1の環状突起の突出部5に代え、導電プランジャ2の終端(上端)を球体状に拡巾した突出部6とした例であり、この実施例2でも導電プランジャ2が傾いても同導電プランジャの球体状突出部6が中空室1aの内面と接触する。実施例1と同様に、滑らかな摺動と確実な通電が可能となっている。
【0012】
:実施例3(図4,5参照)
図4,5で示す実施例3では、実施例1の環状突起の突出部5に代え、丸味のある小突起7aを環状に複数個周設して突出部7とした例であり、この実施例3でも、中空室1aの内面との接触はいずれかの小突起7aでなされ、環状突起の突出部5同様に少ない損傷と円滑な摺動を可能とし、又確実な通電を保持できる。
【0013】
:実施例4(図6参照)
図6で示す実施例4は、導電バレル1の1つの中空室1aに実施例1と同様に環状突起の突出部5を有する導電プランジャ2を一対設け、導電プランジャ2間にスプリング4を介在させている。
この実施例4では、2つの導電プランジャ2を保有してスプリングプローブとしている。これは回路間のブリッジ式の脱着自在な通電部材として使用できる。
【0014】
:実施例5(図7参照)
図7に示す実施例5は、図3で示す実施例2において球状体突出部6の上に小さな球状突起が設けられ大小の球状突起からなる突出部8とした例で上の小さい球状突起部分でスプリング4を確実に係止できる他は実施例2と同様である。
【0015】
:実施例6(図8参照)
図8に示す実施例6は、図1に示す実施例1のスプリングプローブを3組直角に連設させた例であり、3個所の導電部材Dと同時に導通できるようにした例であり、各導電バレル1は互いに通電している。各組のスプリングプローブの構造・作用効果は実施例1と同様である。
【0016】
図9,10は、突出部の他の形状例を示すもので図9(a),10(a)は球状突出部6に縦溝9を複数設けた例であり、図9(b),10(b)は環状突出部5に縦溝9を複数設ける例である。他の突出部にも同様な浅い縦溝を設けることができる。
【0017】
図11(a),(b)に示す図面は、接触端子ピン2aの先端の形状例を示すもので(a)図は先細りに、(b)図は先端中央部が陥凹するもので、(b)図の陥凹タイプのものは突出した形状の導電部材Dの場合に使用する。
【0018】
【発明の効果】
以上の様に、本発明によれば導電プランジャの外周に拡径した滑らかな突出部材を設けることで損傷が少なく円滑な摺動を可能とし、又確実な通電を可能にし、結果的に寿命を長いものとできるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の縦断面図である。
【図2】図1のA−A端面図である。
【図3】実施例2の縦断面図である。
【図4】実施例3の縦断面図である。
【図5】図4のB−B端面図である。
【図6】実施例4の縦断面図である。
【図7】実施例5の縦断面図である。
【図8】実施例6の縦断面図である。
【図9】本発明の他の突出部を示す説明図である。
【図10】本発明の他の突出部の断面を示す説明図である。
【図11】本発明の接触端子ピンの先端部形状例を示す説明図である。
【図12】従来のスプリングプローブを示す縦断面図である。
【図13】従来のスプリングプローブの接触状態を示す説明図である。
【符号の説明】
1 導電バレル
1a 中空室
1b 孔
2 導電プランジャ
2a 接触端子ピン
4 スプリング
5,6,7,8 突出部
7a 小突起
9 縦溝
D 導電部材
C1,C2 接触個所

Claims (6)

  1. 内部に中空室を有する導電バレルの同中空室内に導電プランジャを摺動自在に嵌装し、同導電プランジャの端面から摺動方向に突設させた接触端子ピンを中空室の孔に嵌入して室外へ突出させ、同導電プランジャの接触端子ピンを突出する方向に付勢する付勢部材を設け、接触端子ピンの先端を導電部材に押し当てて接触させて導電バレルに通電させるスプリングプローブに於いて、
    導電プランジャの外周摺動面の一部に拡径した滑らかな曲面の突出部を設け、同突出部を介して導電プランジャ外周と導電バレルの中空室内面とを接触させて摺動損耗を少なく且つ確実に通電できるようにしたことを特徴とするスプリングプローブ。
  2. 内部に中空室を有する導電バレルの同中空室内に一対の導電プランジャを摺動自在に嵌装し、各導電プランジャの摺動方向の反対端面から突設させた接触端子ピンを中空室の孔に嵌入して室外へ突出させ、各導電プランジャの間に接触端子ピンを突出する方向に付勢する付勢部材を設け、各接触端子ピンの先端を導電部材に押し当てて接触させて導電バレルを介して接触端子ピン間を通電させるようにするスプリングプローブに於いて、
    導電プランジャの外周摺動面の一部に拡径した滑らかな曲面の突出部を設け、同突出部を介して導電プランジャ外周と導電バレルの中空室内面とを接触させて摺動損耗を少なく且つ確実に通電できるようにしたことを特徴とするスプリングプローブ。
  3. 突出部が、導電プランジャ外周に設けられた滑らかな環状突条である請求項1又は2記載のスプリングプローブ。
  4. 突出部が、導電プランジャ外周上端部を導電プランジャの外径より大きい外径の球体形状に突出させて形成された請求項1又は2記載のスプリングプローブ。
  5. 突出部が導電プランジャ外周面に小さな小突起を複数設けて形成された請求項1又は2記載のスプリングプローブ。
  6. 突出部外周に縦溝を複数設けた請求項1〜5いずれか記載のスプリングプローブ。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008014704A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Enplas Corp コンタクトピン及び電気部品用ソケット
WO2008024124A1 (en) * 2006-08-25 2008-02-28 Interconnect Devices, Inc. Probe with contact ring
JP2010091436A (ja) * 2008-10-08 2010-04-22 Citizen Tohoku Kk コンタクトプローブ。
EP2187224A1 (en) * 2008-11-12 2010-05-19 Interconnect Devices Inc Environmentally sealed contact
US8506307B2 (en) 2010-12-02 2013-08-13 Interconnect Devices, Inc. Electrical connector with embedded shell layer
JP2016125841A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 ヒロセ電機株式会社 同軸プローブ
CN106597301A (zh) * 2016-11-24 2017-04-26 李莉 大电流平面接触导电装置
CN107942109A (zh) * 2017-12-21 2018-04-20 东莞市燊瑞电子科技有限公司 一种用于传输高频信号的测试针
WO2018193832A1 (ja) * 2017-04-21 2018-10-25 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
CN108802435A (zh) * 2018-04-05 2018-11-13 董晨晖 一种电力自动化综合测试装置
CN108808393A (zh) * 2018-08-23 2018-11-13 苏州市博得立电源科技有限公司 电池充放电接插件
JP2022541987A (ja) * 2020-05-22 2022-09-29 アイウィン ソリューション 超高電流用ポゴピン
US11531060B2 (en) 2019-06-11 2022-12-20 Yamaichi Electronics, Co. Ltd. Cylindrical member, contact probe and semiconductor inspection socket

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008014704A (ja) * 2006-07-04 2008-01-24 Enplas Corp コンタクトピン及び電気部品用ソケット
WO2008024124A1 (en) * 2006-08-25 2008-02-28 Interconnect Devices, Inc. Probe with contact ring
JP2010091436A (ja) * 2008-10-08 2010-04-22 Citizen Tohoku Kk コンタクトプローブ。
EP2187224A1 (en) * 2008-11-12 2010-05-19 Interconnect Devices Inc Environmentally sealed contact
US7798867B2 (en) 2008-11-12 2010-09-21 Interconnect Devices, Inc. Environmentally sealed contact
US8506307B2 (en) 2010-12-02 2013-08-13 Interconnect Devices, Inc. Electrical connector with embedded shell layer
JP2016125841A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 ヒロセ電機株式会社 同軸プローブ
CN106597301A (zh) * 2016-11-24 2017-04-26 李莉 大电流平面接触导电装置
KR102156363B1 (ko) 2017-04-21 2020-09-15 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 전기적 접속 장치
KR20190134680A (ko) * 2017-04-21 2019-12-04 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 전기적 접속 장치
WO2018193832A1 (ja) * 2017-04-21 2018-10-25 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
US10768207B2 (en) 2017-04-21 2020-09-08 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connection device
JP2018179934A (ja) * 2017-04-21 2018-11-15 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
CN107942109A (zh) * 2017-12-21 2018-04-20 东莞市燊瑞电子科技有限公司 一种用于传输高频信号的测试针
CN108802435A (zh) * 2018-04-05 2018-11-13 董晨晖 一种电力自动化综合测试装置
CN108802435B (zh) * 2018-04-05 2021-06-22 安徽天赢电气成套设备制造有限公司 一种电力自动化综合测试装置
CN108808393A (zh) * 2018-08-23 2018-11-13 苏州市博得立电源科技有限公司 电池充放电接插件
US11531060B2 (en) 2019-06-11 2022-12-20 Yamaichi Electronics, Co. Ltd. Cylindrical member, contact probe and semiconductor inspection socket
JP2022541987A (ja) * 2020-05-22 2022-09-29 アイウィン ソリューション 超高電流用ポゴピン
KR20220143545A (ko) * 2020-05-22 2022-10-25 (주)아이윈솔루션 초 고전류용 포고핀
JP7240534B2 (ja) 2020-05-22 2023-03-15 アイウィン ソリューション 超高電流用ポゴピン
KR102622471B1 (ko) 2020-05-22 2024-01-09 (주)아이윈솔루션 초 고전류용 포고핀

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