TWM564717U - Micro coaxial test pin - Google Patents

Abstract

本創作提供一種微型同軸測試針，具有一探針，其特徵在於微型同軸測試針更具有一模組化元件及至少一限位件，模組化元件為中空圓柱體，並套設於探針外側，且探針之兩端分別凸出於模組化元件之兩端，並模組化元件與探針為非導通狀態；限位件位於探針及模組化元件之間，並模組化元件係對應限位件設有複數擋抵部，或探針對應限位件設有至少一擋抵部，以透過擋抵部與限位件接觸達到限制探針位移之功效。藉此提供模組化之測試針產品，而可免於依序植針之不便組裝程序，且可提升測試針之適用度，尤針對高頻測試更是具有極佳之干擾阻卻效能。

Description

微型同軸測試針

本創作係與測試探針領域相關，尤其是一種模組化而易於組裝，同時具有極佳遮罩效果以利高頻訊號測試之微型同軸測試針。

各類電子元件於製作完成後，皆須進行相關之電性或訊號傳輸檢測程序，以確保電子元件之各參數狀態，於該領域中則常見以探針作為測試元件之應用。

視電子元件種類與屬性，測試時之需求亦有所不同。探針結構據此可區分如懸臂探針或垂直探針，並進一步依據應用領域分為如ICT探針、高頻探針、開關探針、半導體探針或電池探針等。以測試高速高頻訊號之探針為例，目前採用之方式係需將探針之零組件，依序裝配至一座體中始能進行測試，前述座體上需開設多個與探針尺寸相符之穿孔以利植針者將探針零組件依序置入，此種方式造成組裝上之不便以及工時過長之問題；且由於穿孔需與探針尺寸配合，因此需精準控制座體之尺寸公差，並當探針有所設變時，座體之穿孔尺寸亦須一併調整，種種不便之下大幅增加了加工與設計成本。另一方面，隨著微型化發展，電子元件之尺寸亦隨之縮減，故用以搭配檢測之探針必然須縮小，在整體尺寸已屬極微小化之情況下，遑論用以構成其結構之各零組件尺寸，在此情況下依據前述方式進行組裝時，更是容易遭遇組裝不善進而影響檢測效能之情況。

有鑑於此，本創作人係集結多年來從事相關行業之經驗，提出一種微型同軸測試針，希冀可解決習用探針之缺失。

本創作之一目的，旨在提供一種微型同軸測試針，其係提供模組化之測試針產品，除可單一使用外亦可任意搭配治具進行檢測作業，進而提升測試針之共用性與組裝便利性。

為達上述目的，本創作揭露一種微型同軸測試針，具有一探針，其特徵在於：該微型同軸測試針更具有一模組化元件及至少一限位件，該模組化元件為中空圓柱體，並套設於該探針外側，且該探針之兩端分別凸出於該模組化元件之兩端，並該模組化元件與該探針為非導通狀態；該限位件係相對設置且設於該探針外側，進而位於該探針及該模組化元件之間，該模組化元件對應該限位件具有複數擋抵部，且至少一該擋抵部鄰近該模組化元件之一端設置，至少一該擋抵部鄰近該模組化元件之另端設置，以供與該限位件相互接觸進而達到限制該探針位置之功效。藉此，單一之該微型同軸測試針即可具有同軸效果，而可直接用於檢測，除可免除測試時依序植針之不便，減縮組裝工時外，亦可進一步搭配各種相關檢測治具使用。

於另一實施例中，該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且分別為一弧形凸點；或該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且分別為一環狀凸肋，以與該限位件接觸達到限位功效。並較佳者，該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且該模組化元件外側對應該等擋抵部位置係為凹陷狀態。

基於前述各實施例內容，於一較佳實施態樣下，該限位件對應該擋抵部形成有一接觸部，且該接觸部係為一斜面，以提升該等擋抵部與該限位件之擋抵效能。

此外，為符合微型化電子元件之檢測需求，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm，以更為適用於現今的微型待測物件。

或於另一實施例中，亦可使該模組化元件之直徑係由兩端朝中央方向漸增，而於該模組化元件之二端分別形成該擋抵部，以利用漸減之管徑相對該限位件形成擋抵限位效能。

或亦可使該模組化元件具有二個該擋抵部，該模組化元件之直徑由中央朝其中一端漸減而形成任一該擋抵部，另一該擋抵部則位於該模組化元件鄰近另一端開口處之內側面，同樣可相對限位件形成擋抵限位效能。

又一較佳實施例中，該探針具有一第一針軸、一第二針軸、一導管及一彈性件，該第一針軸及該第二針軸分設於該導管之兩端，該彈性件係設於該導管內且位於該第一針軸與該第二針軸之間，且該第一針軸一側係延伸接觸該第二針軸以形成通路；或使該第二針軸一側係延伸接觸該第一針軸以形成通路，藉此形成雙通路。

為使該等限位件可更為穩固地設置，於一實施例中，該探針具有至少一固定槽，供以固設該限位件。

此外，為提升該微型同軸測試針與待測物件之接觸效能，於一實施例中揭露該第一針軸係具有複數尖銳接點。

本創作亦揭示一種微型同軸測試針，具有一探針，其特徵在 於：該微型同軸測試針更具有一模組化元件及二限位件，該模組化元件為中空圓柱體，並套設於該探針外側，且該探針之兩端分別凸出於該模組化元件之兩端，並該模組化元件與該探針為非導通狀態；該等限位件係相對設置，且各該限位件之一端係與該模組化元件之開口連接設置，該探針係對應該等限位件具有至少一擋抵部，以與該等限位件相互接觸進而達到限制該探針位置之功效。藉此，單一之該微型同軸測試針即可具有同軸效果，而可直接用於檢測，除可免除測試時依序植針之不便，減縮組裝工時外，亦可進一步搭配各種相關檢測治具使用。

同樣地，一實施例中係揭示該等擋抵部係分別為一環狀凸肋；或亦可使該等擋抵部分別為一弧形凸肋，且任一該限位件係供與複數之該擋抵部相互接觸，皆可使該等限位件與該等擋抵部形成較佳之限位功效。

又為符合微型化電子元件之檢測需求，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm，以更為適用於現今的微型待測物件。

同樣地，一較佳實施例中，該探針具有一第一針軸、一第二針軸、一導管及一彈性件，該第一針軸及該第二針軸分設於該導管之兩端，該彈性件係設於該導管內且位於該第一針軸與該第二針軸之間，且該第一針軸一側係延伸接觸該第二針軸以形成通路；或使該第二針軸一側係延伸接觸該第一針軸以形成通路，藉此形成雙通路。

為提升該微型同軸測試針與待測物件之接觸效能，於一實施例中揭露該第一針軸係具有複數尖銳接點。

綜上所述，本創作之該微型同軸測試針係提供模組化之產 品，而可達到單一測試針即具有同軸測試效能，同時可進一步任意搭配治具進行測試，無順序與安裝步驟的問題，而可消除逐一植針之不便以及相對降低對應治具之生產難度。進一步地，視應用需求，該等擋抵部可以前述各實施方式與態樣所設置，以利與該等限位件接觸而防止該探針脫離該模組化元件。

1‧‧‧微型同軸測試針

10‧‧‧探針

101‧‧‧第一針軸

1011‧‧‧尖銳接點

102‧‧‧第二針軸

103‧‧‧導管

104‧‧‧彈性件

11‧‧‧模組化元件

12‧‧‧限位件

121‧‧‧接觸部

13‧‧‧擋抵部

第1圖，為本創作第一實施例之分解示意圖。

第2圖，為本創作第一實施例之剖面示意圖。

第3圖，為本創作第一實施例之應用示意圖。

第4圖，為本創作第一實施例另一實施態樣之分解示意圖。

第5圖，為本創作第一實施例另一實施態樣之剖面示意圖。

第6圖，為本創作第一實施例次一實施態樣之立體示意圖。

第7圖，為本創作第一實施例又一實施態樣之剖面示意圖。

第8圖，為本創作第一實施例再一實施態樣之立體示意圖。

第9圖，為本創作第二實施例之分解示意圖。

第10圖，為本創作第二實施例之剖面示意圖。

第11圖，為本創作第二實施例另一實施態樣之剖面示意圖。

為使 貴審查委員能清楚了解本創作之內容，謹以下列說明搭配圖式，敬請參閱。

請參閱第1、2及3圖，其係為本創作第一實施例之分解示 意圖、剖面示意圖及應用示意圖。本創作係揭示一種微型同軸測試針1，其具有一探針10，並該微型同軸測試針1係可應用於高速、高頻訊號傳輸測試如Data Rate、HDMI等，或進行RF或IC如藍芽、GPS、LTE、Wireless測試等。

該微型同軸測試針1之特徵在於其更具有一模組化元件11及至少一限位件12，該模組化元件11係為中空圓柱體，並套設於該探針10外側，且該探針10之兩端係分別凸出於該模組化元件11之兩端，以供進行檢測，該模組化元件11並與該探針10為非導通狀態以避免造成短路情況，並為維持微型同軸測試針1之結構強度，該模組化元件11係屬非可形變之元件。該限位件12係設於該探針10外側，進而位於該探針10及該模組化元件11之間，且較佳係為絕緣材質。該模組化元件11並對應該限位件12形成有複數擋抵部13，且至少一該擋抵部13鄰近該模組化元件11之一端設置，至少一該擋抵部13鄰近該模組化元件11之另端設置，以供與該限位件12相互接觸進而達到限制該探針10位置之功效，防止該探針10自該模組化元件11內掉出，亦即該限位件12可對應該探針10之中央區域設置，並使其兩端可分別與該擋抵部13接觸達到限位作用即可。藉此，透過模組化之設計，單一之該微型同軸測試針1即可快速進行檢測，或亦可直接裝配於各種座體治具進行檢測，並透過模組化設計免除於測試時依序植入探針零件之不便，而相較於習知單純之探針結構更易於安裝於座體治具之穿孔內。

尤當應用於高頻訊號測試時，該模組化元件11係提供極佳之遮罩效果，以防止干擾進而有效提升測試效率與品質。此外，透過該限 位件12除可利於該探針10與該模組化元件11之組配，使用絕緣材質製成時更可增進該模組化元件11之材料選擇性，例如在使用金屬之該模組化元件11時，則可利於免除該探針10之短路情況，同時達到限制該探針10位移之功效，避免於組裝後或測試時造成該探針10脫落。於此重述該微型同軸測試針1之技術重點在於解決探針目前遭遇設變時衍生之諸多不便，以及組裝不易、測試干擾等問題，而據此設計出模組化且確實可進行使用之產品，且亦符合電性與通訊類檢測之相關規範，故本創作並非簡易透過元件組合即可完成，係有其設計上的考量。並於此重述，該模組化元件11係與該探針10組配為一體，而不受搭組之基座所限制，進而具有單一探針檢測產品模組化之優點，而利於量產組裝。

為符合現今之微型化檢測需求，較佳者，該微型同軸測試針1之最大長度係小於3.7mm，以適用於大部分之微型電子元件檢驗。此外，於本實施例中，係以設置有二個該限位件12為例說明，該等限位件12係相對設置，以與對應之該等擋抵部13接觸達到限位作用，防止該探針10掉出。該等擋抵部13係位於該模組化元件11之內側面，且分別為一弧形凸點，於此並以該模組化元件11相對兩端分別設有四個該擋抵部13為例，故各該限位件12係可與多個該擋抵部13所接觸以形成限位作用。其中，於製造組裝時，係可先使對應任一該限位件12之該擋抵部13成形，並於該探針10及該等限位件12置於該模組化元件11內後，再透過如沖壓、焊接等加工方式使對應另一該限位件12之該擋抵部13成形。並為提升該等限位件12與該等擋抵部13之限位強度，各該限位件12對應該擋抵部13係形成有一接觸部121，且該接觸部121係為一斜面。

此外，於本實施例中，該探針10具有一第一針軸101、第二針軸102、一導管103及一彈性件104，該第一針軸101及該第二針軸102分設於該導管103之兩端，該彈性件104係設於該導管103內且位於該第一針軸101與該第二針軸102之間，並該第一針軸101及該第二針軸102相對該導管103之組設狀態係可為固設或活動設置。更進一步地，為增進與待測物件之接觸，該第一針軸101係具有複數尖銳接點1011。

為可使該等限位件12之設置更為穩固，該探針10係具有至少一固定槽1031，供以固設該限位件12，較佳者該等限位件12係為環形結構，而分別套設於該固定槽1031，於本實施例中係以該探針10具有二個該固定槽1031為例。當然，除前述方式外，各該限位件12亦可透過如灌膠固定或雷射點焊固定等方式直接設置於該探針10。

應用時，係將待測物件對應該第一針軸101設置，該第二針軸102側則連接一檢驗機台，待測物件施壓於第一針軸101時，即使該探針10整體形成導通狀態，進而開始進行檢測。同時，鄰近該第二針軸102設置之該限位件12因該探針10下移而與對應之該等擋抵部13接觸，達到限位作用。待檢測完畢移除待測物件後，該第一針軸101處失去下壓力量而帶動該探針10復位，此時鄰近該第一針軸101設置之該限位件12即與對應之該等擋抵部13接觸而限制該探針10之位移，防止該探針10自該模組化元件11掉出。當然，亦可採用將該微型同軸測試針1設置於具穿孔之座體治具內進行測試之方式，惟用以檢測之座體治具已為業界習知技藝，故於此不再加以贅述。

請參閱第4及5圖，其係為本創作第一實施例另一實施態樣 之分解示意圖及剖面示意圖。於本實施態樣中，該等擋抵部13亦位於該模組化元件11之內側面，且分別為一環狀凸肋，以利與該等限位件12相互接觸實現限位效果。同樣地，於本實施態樣中，該等限位件12亦對應該擋抵部形成有具該斜面1211之該接觸部121。其餘相同之細部技術特徵，請復參閱前述內容。

此外，於本實施態樣中，該探針10亦具有該第一針軸101、該第二針軸102、該導管103及該彈性件104，該探針10之該第一針軸101係固設於該導管103，且該第一針軸101一側延伸接觸該第二針軸102以形成通路，並夾設於該第一針軸101及該第二針軸102間之該彈性件104可形成另一導通通路，藉此係形成雙通路結構之方式實施。而另種實施態樣為該第一針軸101固設於該導管103，該第二針軸102一側係延伸接觸該第一針軸101以形成通路，此結構態樣亦可實現上述具雙通路之探針。於本實施例中係以該第二針軸102一側延伸接觸該第二針軸101之態樣為例。除如前述方式，亦可使該第二針軸102固設於該導管103，並該第一針軸101一側延伸接觸該第二針軸102以形成通路，或使該第二針軸102一側係延伸接觸該第一針軸101以形成通路之結構實施。

請參閱第6、7及8圖，其係為本創作第一實施例次一實施態樣之立體示意圖、又一實施態樣之剖面示意圖及再一實施態樣之立體示意圖。除如前述內容，該模組化元件11之該等擋抵部13亦可如下所述之各種態樣實施。如第6圖所示，該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且該模組化元件11外側對應該等擋抵部13位置係為凹陷狀態，相對使該等擋抵部13成形於該模組化元件11內側。或如第7圖所示，該模組化元件 11之直徑係由兩端朝中間漸增，而於該模組化元件11之二端分別形成該擋抵部13，藉此透過漸縮之該模組化元件11口徑，而可達到限制該探針10位移量之功效，於檢測時或非檢測時，皆可藉由該等擋抵部13與該等限位件12之接觸達到防止該探針10掉出之情況。而於製造及組裝時，係可先將該探針10及該等限位件12置入該模組化元件11內，再透過加工使該模組化元件11兩端漸縮進而形成該擋抵部13。或如第8圖所示，該模組化元件11具有二個該擋抵部13，該模組化元件11之直徑由中央朝其中一端漸減而形成任一該擋抵部13，另一該擋抵部13則位於該模組化元件11鄰近另一端開口處之內側面。其餘相同之細部技術特徵，請復參閱前述內容。

請參閱第9及10圖，其係為本創作第二實施例之分解示意圖及剖面示意圖。承第一實施例，相同之細部技術特徵於此即不再贅述，且相同元件係以相同之元件符號表示之。於本實施例中，該微型同軸測試針1亦具有一探針10，並該微型同軸測試針1更具有一模組化元件11及二限位件12，該模組化元件11為中空圓柱體，並套設於該探針10外側，且該探針10之兩端分別凸出於該模組化元件11之兩端，該模組化元件11並與該探針10為非導通狀態。該等限位件12係相對設置，且各該限位件12之一端係與該模組化元件11之開口連接設置，另端係位於該模組化元件11內，較佳者該等限位件12為絕緣材料。該探針10係對應該等限位件12具有至少一擋抵部13，以與該等限位件12相互接觸進而達到限制該探針10位置之功效，亦即可於該探針10鄰近中央區域設置該擋抵部13，該擋抵部13兩端即可供與該等限位件12接觸。藉此，透過模組化設計即可以單一該微型同軸測試針1進行測試，係可免除需搭配座體治具而造成之組裝不便， 且該微型同軸測試針1亦可搭配各種座體治具進行測試，並因其模組化設計而易於安裝。尤當應用於高頻訊號測試時，該模組化元件11更提供極佳之遮罩效果，以防止干擾進而有效提升測試效率與品質。而該等限位件12選用絕緣材料時，即可防止該探針10與該模組化元件11之間產生短路現象，同時與該探針10之該等擋抵部13配合接觸係可防止該探針10自該模組化元件11內掉出，達到限位之作用。

較佳者，於本實施例中，該擋抵部13係為一環狀凸肋，其中，該擋抵部13對應接觸該限位件12之側係可呈平面設置，以具有較大之接觸面積進而提升擋抵效能。

為符合微型化電子元件之測試需求，該微型同軸測試針1之尺寸亦須隨之減縮，於本實施例中係揭示該微型同軸測試針1之最大長度係小於3.7mm，以適用於微小電子元件之檢測。

此外，該探針10係具有一第一針軸101、一第二針軸102、一導管103及一彈性件104，該第一針軸101及該第二針軸102分設於該導管103之兩端，該彈性件104係設於該導管103內且位於該第一針軸101與該第二針軸102之間，於檢測時該第一針軸101係可透過該彈性件104與該第二針軸102形成導通，並該第一針軸101及該第二針軸102相對該導管103之組設狀態係可為固設或活動設置。較佳者，該第一針軸101係具有複數尖銳接點1011，以與待測物件具有更佳之接觸效果。應用時，待測物件係對應該第一針軸101設置，檢測機構則連接於該第二針軸102處，當該微型同軸測試針1之該第一針軸101接觸待測物件後該探針10係受力導通，藉此即可檢驗待測物件之電性或訊號傳輸狀態，並該擋抵部13係與鄰近該 第二針軸102設置之該限位件12相互接觸而達到限位效果。當檢測完畢後，該探針10復位時該擋抵部13則可藉由與鄰近該第一針軸101設置之該限位件12接觸而形成限位。當然，亦可採用將該微型同軸測試針1設置於具穿孔之座體治具內進行測試之方式，惟用以檢測之座體治具已為業界習知技藝，故於此不再加以贅述。

請參閱第11圖，其係為本創作第二實施例另一實施態樣之剖面示意圖。於本實施態樣中，該擋抵部13係呈複數設置，而該探針10亦具有該第一針軸101、該第二針軸102、該導管103及該彈性件104，並其組設關係同於前述內容，該第一針軸102係固設於該導管103，且該第一針軸101一側係延伸接觸該第二針軸102以形成通路，藉此係可形成雙通路態樣，而可適用於大電流之檢測需求。亦可使該第一針軸102係固設於該導管103，且該第二針軸102一側係延伸接觸該第一針軸101以形成通路之結構態樣，同樣可如前述使該探針10具有雙通路。除如前述方式，亦可使該第二針軸102固設於該導管103，並該第一針軸101一側延伸接觸該第二針軸102以形成通路，或使該第二針軸102一側係延伸接觸該第一針軸101以形成通路之結構實施。此外，於本實施態樣中，該等擋抵部13分別為一弧形凸肋，且任一該限位件12係供與複數之該擋抵部13相互接觸。較佳者，亦可使鄰近該第一針軸101及該第二針軸102處係設有多個該擋抵部13，且該等擋抵部13係可呈環狀間隔排列設置，以相對該限位件12形成較佳之接觸限位效能。

綜上所述，本創作之該微型同軸測試針1係提供了模組化之測試針產品，而可達到單一測試針即具有同軸測試效能，並可進一步任意 搭配治具進行測試，無順序與安裝步驟的問題，消除習知逐一植針之不便以及相對降低對應治具之生產難度。進一步地，視應用需求，該等擋抵部13可以前述各實施方式與態樣所設置，以利與該等限位件12接觸而防止該探針10自該模組化元件11掉出。

惟，以上所述者，僅為本創作之較佳實施例而已，並非用以限定本創作實施之範圍；故在不脫離本創作之精神與範圍下所作之均等變化與修飾，皆應涵蓋於本創作之專利範圍內。

Claims (28)

1. 一種微型同軸測試針，係具有一探針，其特徵在於：該微型同軸測試針更具有一模組化元件及至少一限位件，該模組化元件為中空圓柱體，並套設於該探針外側，且該探針之兩端係分別凸出於該模組化元件之兩端，並該模組化元件與該探針為非導通狀態；該限位件係設於該探針外側並位於該探針及該模組化元件之間，該模組化元件對應該限位件具有複數擋抵部，以供與該限位件相互接觸進而達到限制該探針位置之功效。
2. 如申請專利範圍第1項所述之微型同軸測試針，其中，該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且分別為一弧形凸點。
3. 如申請專利範圍第2項所述之微型同軸測試針，其中，該限位件對應該擋抵部形成有一接觸部，且該接觸部係具有一斜面。
4. 如申請專利範圍第3項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm。
5. 如申請專利範圍第1項所述之微型同軸測試針，其中，該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且分別為一環狀凸肋。
6. 如申請專利範圍第5項所述之微型同軸測試針，其中，該限位件對應該擋抵部形成有一接觸部，且該接觸部係為一斜面。
7. 如申請專利範圍第6項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm。
8. 如申請專利範圍第1項所述之微型同軸測試針，其中，該等擋抵部係位於該模組化元件之內側面，且該模組化元件外側對應該等擋抵部位置係 為凹陷狀態。
9. 如申請專利範圍第8項所述之微型同軸測試針，其中，該限位件對應該擋抵部形成有一接觸部，且該接觸部係為一斜面。
10. 如申請專利範圍第9項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm。
11. 如申請專利範圍第1項所述之微型同軸測試針，其中，該模組化元件之直徑係由兩端朝中央方向漸增，而於該模組化元件之二端分別形成該擋抵部。
12. 如申請專利範圍第11項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm。
13. 如申請專利範圍第1項所述之微型同軸測試針，其中，該模組化元件具有二個該擋抵部，該模組化元件之直徑由中央朝其中一端漸減而形成任一該擋抵部，另一該擋抵部則位於該模組化元件鄰近另一端開口處之內側面。
14. 如申請專利範圍第13項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm。
15. 如申請專利範圍第1至14項其中任一項所述之微型同軸測試針，其中，該探針具有至少一固定槽，供以固設該限位件。
16. 如申請專利範圍第15項所述之微型同軸測試針，其中，該探針具有一第一針軸、一第二針軸、一導管及一彈性件，該第一針軸及該第二針軸分設於該導管之兩端，該彈性件係設於該導管內且位於該第一針軸與該第二針軸之間，且該第一針軸一側係延伸接觸該第二針軸以形成通路。
17. 如申請專利範圍第16項所述之微型同軸測試針，其中，該第一針軸係具有複數尖銳接點。
18. 如申請專利範圍第15項所述之微型同軸測試針，其中，該探針具有一第一針軸、一第二針軸、一導管及一彈性件，該第一針軸及該第二針軸分設於該導管之兩端，該彈性件係設於該導管內且位於該第一針軸與該第二針軸之間，且該第二針軸一側係延伸接觸該第一針軸以形成通路。
19. 如申請專利範圍第18項所述之微型同軸測試針，其中，該第一針軸係具有複數尖銳接點。
20. 一種微型同軸測試針，係具有一探針，其特徵在於：該微型同軸測試針更具有一模組化元件及二限位件，該模組化元件為中空圓柱體，並套設於該探針外側，且該探針之兩端分別凸出於該模組化元件之兩端，並該模組化元件與該探針為非導通狀態；該等限位件係相對設置，且各該限位件之一端係與該模組化元件之開口連接設置，並該探針係對應該等限位件具有至少一擋抵部，供與該等限位件相互接觸進而達到限制該探針位置之功效。
21. 如申請專利範圍第20項所述之微型同軸測試針，其中，該等擋抵部係分別為一環狀凸肋。
22. 如申請專利範圍第21項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測試針之最大長度小於3.7mm。
23. 如申請專利範圍第20項所述之微型同軸測試針，其中，該等擋抵部分別為一弧形凸肋，且任一該限位件係供與複數之該擋抵部相互接觸。
24. 如申請專利範圍第23項所述之微型同軸測試針，其中，該微型同軸測 試針之最大長度小於3.7mm。
25. 如申請專利範圍第20至24項其中任一項所述之微型同軸測試針，其中，該探針具有一導管、一彈性件、一第一針軸及一第二針軸，該第一針軸及該第二針軸分設於該導管之兩端，該彈性件係設於該導管內且位於該第一針軸與該第二針軸之間，且該第一針軸一側係延伸接觸該第二針軸以形成通路。
26. 如申請專利範圍第25項所述之微型同軸測試針，其中，該第一針軸係具有複數尖銳接點。
27. 如申請專利範圍第20至24項其中任一項所述之微型同軸測試針，其中，該探針具有一導管、一彈性件、一第一針軸及一第二針軸，該第一針軸及該第二針軸分設於該導管之兩端，該彈性件係設於該導管內且位於該第一針軸與該第二針軸之間，且該第二針軸一側係延伸接觸該第一針軸以形成通路。
28. 如申請專利範圍第27項所述之微型同軸測試針，其中，該第一針軸係具有複數尖銳接點。