JP2004504703A - 試験機器に特に有用な接点器具 - Google Patents
試験機器に特に有用な接点器具 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004504703A JP2004504703A JP2002513054A JP2002513054A JP2004504703A JP 2004504703 A JP2004504703 A JP 2004504703A JP 2002513054 A JP2002513054 A JP 2002513054A JP 2002513054 A JP2002513054 A JP 2002513054A JP 2004504703 A JP2004504703 A JP 2004504703A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- center
- contact assembly
- probe
- spacer bushing
- double
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
- H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
- H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2103/00—Two poles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
- H01R24/38—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
- H01R24/40—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
両頭同軸接点組立体は、誘電性センター・スペーサ・ブッシング（１６）のボア中に装架されたセンター・プローブ・ロッド（１２）を有し、センター・プローブ・ロッドの各端部上にプローブ接点組立体を据え付けている。誘電性外側スペーサ・ブッシング（１７）によってプローブ接点組立体と接地スリーブの同軸関係を維持して、センター・プローブ・ロッドが接地スリーブ（１９）で受けられている。ある実施形態では、可動接地プランジャ（１８ｇ、２２）は、接地スリーブの各端部で摺動自在に受けられて、それぞれの接地プランジャ・コイルばね（２５）によって外側に偏倚されている。このような一実施形態では、センター・スペーサ・ブッシング（１６’）は、それぞれのプローブ接点組立体と設置スリーブの間に配置された軸方向に延びるスリーブを備える。
Description
【０００１】
（関連出願）
本出願は、２０００年７月１３日出願の米国仮特許出願第６０／２１７，８３７号の優先権を主張するものである。
（発明の分野）
本発明は、概ね、電気的接点組立体に関し、より詳細には、プリント基板および他の電気器具を試験する試験機器と共に使用される組立体に関する。
【０００２】
（発明の背景）
プリント基板およびその他の電気器具を電気的導通などに関して試験する際に、ばね式接点組立体またはプローブを使用することが習慣的である。通常、センター信号接点と外部シールドまたは接地接点を一般的に含む接点プローブが支持体内に装架されており、回路基板など、試験する装置と相対運動される。試験部位に係合すると、確実に最適な接点係合をするために、選択した距離で相対運動を続ける。たとえば、０．２２９ｃｍ（０．０９０インチ）が、当分野で使用される習慣的な距離である。試験は、電気的導通などを点検するために、試験部位を通して電気信号を送信することによって実施される。
【０００３】
このような接点組立体を使用して試験を実施する際、信号のミス・タイミング、遅れ、および劣化を最小限に抑えることが重要である。接点組立体が、デジタル信号の伝播における遅れが誤った読取りを引き起こすことのある高速器具と併せて使用されるときは特にそうである。
【０００４】
このような接点組立体は、移動部品を有し、本質的に、製造公差および採用する材料の範囲内で、ある程度の不一致を有する。起こり得るどのような不一致も接点組立体の長さに直接関係するので、組立体を長くするほど不一致が大きくなる。
【０００５】
Ｔｈｅｖｅの米国特許第３，４１６，１２５号、Ｌａｎｇｇａｒｄの同第５，１７５，４９３号、Ｓｔｏｗｅｒｓ他の同第５，９３６，４２１号、およびＢｏｙｌｅの同第６，０５３，７７７号に示されるような、両頭同軸接点の使用が知られている。しかし、前述の各接点組立体には、１つまたは複数の制限がある。ＴｈｅｖｅおよびＳｔｏｗｅｒｓ他の特許では、各接点に関する力を独立して選択する手段がなく、内側接点に接点力を与えるために共通ばねを使用し、外側接点に接点力を与えるために別の共通ばねを使用している。Ｌａｎｇｇａｒｄの特許では、両頭プローブ組立体は、バレル内で互いに離された背向関係にある２つのプローブを含み、導電性を維持するためにプローブ間の空隙を埋める導電性エポキシ樹脂などを必要とするので、潜在的な歩留りの問題を引き起こし、信号の完全性に起こり得る悪影響を及ぼす。Ｂｏｙｌｅへの特許では、その図８に示されるように、接点システムが同軸ケーブルの両端に取り付けられている。そのようなシステムは、通常、４５．７２〜６０．９６ｃｍ（１８〜２４インチ）の同軸ケーブルを使用する。試験のセット・アップに使用するすべてのケーブルは、信号の完全性を維持するために同じ長さにしなければならない。特に、絶えず高速になっていく適用例では、より小型の接点組立体を利用可能にし、組立体のいくつかの接点の特別な特徴を提供する、改善された適応性および独立性を組立体に与えることが望ましい。
【０００６】
（発明の概要）
本発明の目的は、従来の装置より小型で、改善されたインピーダンス・マッチングを提供する、高周波数信号試験に特に有用な両頭接点組立体を提供することである。本発明の他の目的は、接地プランジャならびにセンター・プローブ用の、接点チップのスタイルおよびばねの力を独立に選択することを含めて、様々な顧客要件に適合するのにより役立つ両頭同軸接点組立体を提供することである。
【０００７】
簡単に言えば、本発明によれば、センター・プローブ・ロッドは、概ね円筒形のセンター・誘電性スペーサ・ブッシング内に固定して受けられる。センター・プローブ・ロッドの各端部は、その各端部で受けられたそれぞれのセンター・プローブ組立体の偏倚ボールに係合するように、センター・プローブ・ロッドの長手方向軸線に対して傾いた偏倚表面を備えて形成される。センター・スペーサ・ブッシングおよびセンター・プローブ・ロッド・副組立体は、たとえばセンター・スペーサ・ブッシングの外周に形成された環状溝に位置合わせして接地スリーブ内に形成された爪によって副組立体の長手方向軸線位置を接地スリーブに対して適切に固定して、接地シールド・スリーブ内に受入れられている。
【０００８】
選択された接地接点チップ構造体は、接地スリーブの両端に形成される。センター・プローブ・ロッドの各端部は、相対的な滑り運動を制限するために、それぞれのセンター・プローブ・バレルの一端に入れ子式に受け入れられており、そのセンター・プローブ・バレルには、選択した接点チップ構造体を他端に有するセンター・プローブ接点が装架されている。センター・プローブ・ロッドの直径が小さい部分内に受入れられたセンター・プローブ・バレルの爪によって外側方向に制限されたセンター・プローブ・バレルを偏倚させるために、偏倚ばねが、センター・プローブ接点と偏倚ボールの間で各センター・プローブ・バレル内に配置されている。センター・プローブ・バレルも、接地スリーブとの同軸関係を維持するために、それぞれの誘電性外側スペーサ・ブッシング内に受け入れられている。一実施形態では、センター・プローブ・ロッドには、センター・プローブ接点から延びる支柱がその両端で摺動自在に受け入れられる軸方向に延びるボアと、センター・スペーサ・ブッシングとそれぞれのセンター・プローブ・バレルの間でセンター・プローブ・ロッド上に受けられたコイルばねによって外側に偏倚されたセンター・プローブ・バレルとが形成されている。
【０００９】
その他の実施形態では、接地スリーブが、その各端部で摺動自在に受け入れられた管状の接地プランジャ接点を備えており、接地プランジャ接点を外側に偏倚させるために、別個のコイルばねが各接地プランジャ接点とセンター・スペーサ・ブッシングの間に配置されている。好ましい一実施形態では、センター・スペーサ・ブッシングは、接地プランジャ接点が押し下げられた、すなわち、作動位置にあるときに、接地プランジャ接点の内側寄り端部がスリーブの遠位自由端に重なる位置に向かって好ましくは軸方向に延びるスリーブを備える。その他の好ましい実施形態では、一端にＭＭＣＸタイプの同軸コネクタ・プラグを備える両頭接点組立体が形成される。
【００１０】
本発明に従って作製される接点組立体は、従来の装置より長さが短く、たとえば２．５４ｃｍ（１インチ）未満であるので、より小型のシステムが可能になる。組立体の各端部は、他端とは独立して動作し、センター・プローブ・ロッド、および接地スリーブに固定されたセンター・スペーサ・ブッシング・副組立体だけが共通である。こうすることで、同一のセンター・プローブ・ロッドおよびセンター・スペーサ・ブッシング・副組立体を、異なるチップのスタイルおよびばねの力と併せて使用できるようになる。また、可動接地プランジャと併せて使用するときには、接点組立体の２端上に異なるばねの力を使用することができる。
【００１１】
本明細書に組み込まれ、その一部を構成する添付の図面は、本発明の好ましい実施形態を示しており、説明と併せて、発明の目的、利点、および原理について説明するのに役立つ。
【００１２】
（好ましい実施形態の詳細な説明）
図１、図２を参照すると、シールド両頭同軸接点組立体１０が示されており、該組立体は、各端部に、好ましくは選択したタイプのセンター・プローブ接点チップ１１ａを有し、本質的にそれらと共通の外径を形成するセンター・プローブ・バレル１３内に受け入れられた直径の小さい部分を有する、概ね円筒形の信号、すなわち、センター・プローブ接点１１を備えている。銅合金などの適切な導電性材料のプローブ・バレル１３が、貴金属内側接点表面１３ａを備えることが好ましい。プローブ接点１１は、圧入や、図示したようにセンター・プローブ接点１１内に形成された環状の溝で受けられる爪１３ｂなどの適切な手段によって、センター・プローブ・バレル１３に固定して取り付けられている。
【００１３】
センター・プローブ・ロッド１２には、フランジ１２ｂなどの位置機構と共に、円錐台部分１２などの、後で説明する誘電性材料で形成された、センター・スペーサ・ブッシング内に保持するための機構が形成されることが好ましい。センター・プローブ・ロッドは、好都合に２つの部品で形成でき、一方の部品の端部が他方の部品の端部に形成されたボアに圧入されている。センター・プローブ・ロッド１２は、その長手方向軸線に対して傾いた角度を形成する偏倚表面１２ｃを備えて形成された両側の遠位自由端を有する。センター・プローブ・ロッドの各遠位端は、それぞれのセンター・プローブ・バレル１３の一端に受け入れられており、センター・プローブ・ロッド１２の直径が小さい部分で受けられるセンター・プローブ・バレルの爪１３ｃによって滑り運動するようにそこで保持されている。センター・プローブ・ロッドの遠位端の偏倚表面１２ｃは、ボール１５とセンター・プローブ接点１１との間のコイルばね１４の一端でボール１５に接している。プローブ・バレル１３の反対側の端部は、好ましくは貴金属内層１９ｅを有し誘電性材料で形成された接地スリーブ１９内に摺動自在に受入れられた外側スペーサ１７に、固定装架されている。
【００１４】
センター・スペーサ・ブッシング１６および外側スペーサ・ブッシング１７は、ポリテトラフルオロエチレンなどの適切な誘電性材料で形成され、センター・プローブ導体と接地スリーブ１９との間の同軸関係を維持する働きをする。センター・スペーサ・ブッシング１６には、環状溝１６ａが形成されており、該環状溝は、環状溝内に受け入れられた接地スリーブの爪１９ａによって、スペーサ・ブッシングおよびセンター・プローブ・ロッド副組立体を接地スリーブ１９に対して選択した位置に維持する働きをする。
【００１５】
接点組立体１０は、高速信号適用例での使用に特に適している。接地スリーブの内径に対する信号、すなわち、プローブ構成要素の外径は、接点組立体を使用するシステムに応じて選択された特徴的なインピーダンスを生じるように適合されている。従来技術の制限の１つとして、ばね荷重接点装置では、装置の軸方向長さに沿った望ましくないインピーダンス・ミスマッチが起こる。本発明によれば、このようなミスマッチが最小限に抑えられる。誘電性ミスマッチ面積は、誘電性材料、ならびに、センター・プローブ導体の外側の面と接地スリーブの内側の面との間の距離に応じて変化する。図１、図２の組立体では、誘電体および距離は、偏倚ロッド１２の露出部分を除き、長さ全体にわたって本質的に一致している（組立体を作動位置で示す図２を参照）。センター・プローブ・ロッドの直径は、それがセンター・スペーサ・ブッシング１６の高い誘電性特徴を補償するためにセンター・スペーサを通過する場所で小さくなっており、組立体の主な誘電体である空気の誘電率と、センター・プローブ導体を同軸接点組立体の接地導体から離すために使用される絶縁材料の誘電率との間の相違に対するインピーダンス・マッチングを提供する。
【００１６】
図３は、修正されたシールド同軸接点組立体１０を示す。図３の組立体は、図１、図２に示す組立体と同様であるが、センター・プローブ・バレル１３とセンター・スペーサ・ブッシング１６の間で、センター・プローブ・ロッド１２の各端部上で受けられるコイルばね２０をさらに備え、ばね２０の外径がセンター・信号バレル１３の直径に厳密に一致している。ある高い周波数においては、ばねは、それが信号の伝播に及ぼす影響に関して固体シリンダに似ており、したがって改善されたインピーダンス・マッチングを提供する。
【００１７】
図４は、修正されたシールド同軸組立体１０’’を示しており、ばね２０’が図３の実施形態のばね２０と１４の両方の機能を果たしている。センター・プローブ・ロッド２１は、好ましくは貴金属層をその上に有する、長手方向軸線方向に延びるボア２１ｅを備える。プローブ・接点１１’は、冗長接点を提供するセンター・プローブ・ロッドのそれぞれのボアで摺動自在に受け入れられた支柱１１ｃ’を備える。図４の実施形態は、同軸接点組立体の全体的な長さをかなり短縮できる構造を提供するものであり、これは、高周波数適用例で特に有利である。
【００１８】
図５および図６は、図１、図２と同様であるが、可動接地プランジャを組み込むように修正された、センター・プローブ接点を有する接点組立体１０’’’を示す。接点組立体１０’’’は、溝１６ａ’を備えて形成されたセンター・スペーサ・ブッシング１６’を備えており、この溝１６ａ’は、図１、図２に示す溝１６ａと同様にスペーサ・ブッシングの中央で円周の周りを延びているが、本体１６ｂ’は、組立体の安定性を高めるために、前述の実施形態のセンター・スペーサ・ブッシング１６より長手方向軸線に沿ってさらに延びている。センター・スペーサ・ブッシング１６’は、センター・ボア１６ｄ’がセンター・プローブ・ロッド１２’の中央部分１２ｄを受け入れて長手方向に延びており、テフロン（登録商標）などの適切な材料で形成されている。中央部分１２ｄは、その直径が、センター・ボア１６ｄ’の直径に厳密に一致するが、隣接ロッド部分１２ｅより小さく形成される。テフロン（登録商標）材料の特性により、ロッド部分１２ｅをボアに通すことができるので、ロッドの中央部分１２ｄを所定の位置にスナップ嵌めすることができる。この配置により、センター・プローブ・ロッド１２’のための堅固な支持を提供するだけでなく、中央部分１２ｄの小さい直径が、センター・スペーサ・ブッシングの軸方向長さ全体でセンター・スペーサ・ブッシング１６’の高い誘電特性を一様に補償する働きをする。
【００１９】
図１、図２に示すタイプのセンター・プローブ・バレル１３は、それぞれのセンター・プローブ・バレルの外向きの動きを制限するために、センター・プローブ・バレル内の爪１３ｃをセンター・プローブ・ロッド１２’の直径が小さい部分１２ｆで受けており、センター・プローブ・ロッド１２’の各端部で摺動自在に受け入れられている。コイルばね１４は、センター・プローブ・ロッド１２’の各遠位端に形成された斜めの偏倚表面１２ｃと、それぞれのセンター・プローブ接点１１との間で受けられている。センター・プローブ接点１１には、選択した接点チップ構造体１１ａが形成され、その遠位端の外径がセンター・プローブ・バレル１３の外径に一致している。センター・プローブ接点１１は、センター・プローブ・ロッド１２’の直径が小さい部分で受けられた爪１３ｂを使用するなどによって、それぞれのセンター・プローブ・バレル１３に適切に固定されている。
【００２０】
センター・スペーサ・ブッシング１６’、センター・プローブ・ロッド１２’、およびセンター・プローブ組立体は、端部が開放された接地シールド・スリーブ１８内に受け入れられていて、センター・スペーサ・ブッシング１６’の軸方向位置は、センター・スペーサ・ブッシング１６’の円周を延びる溝１６ａ’に受けいれられたスリーブ１８の爪１８ｂなどの適切な手段によって固定されている。管状接地プランジャ１８ｇは、接地シールド・スリーブ１８の各開放端内に摺動自在に受け入れられている。接地シールド・スリーブ内に形成され、接地プランジャ１８ｇ内で軸方向に延びるスロット１８ｋ中に延びている、爪１８ｆなどの適切な手段が、接地プランジャの動きを選択した範囲内に制限する。各センター・プローブ・バレル１３は、外側誘電性スペーサ・ブッシング１７’のボア内で摺動自在に受け入れられている。外側スペーサ・ブッシング１７’は、その周囲を延びる溝を備えており、爪１８ｍが、接地プランジャ１８ｇ内に形成され、外側スペーサ・ブッシング１７’を軸方向位置で固定するために溝の中に受け入れられている。
【００２１】
一体形成された誘電性スリーブ１６ｃ’は、本体部分１６ｂ’の両端から長手方向軸線方向に延び、センター・プローブ・ロッド１２’とセンター・プローブ・バレル１３のクリアランスを与えるための内側ボア１６ｅを備えており、その外径１６ｆ’は、本体部分１６ｂ’からそれぞれの接地プランジャの内向き端に延びる接地プランジャ・コイルばね２５をその上で受けるために、本体部分１６ｂ’の直径より小さい。接地プランジャが正常に押し下げられたとき、すなわち作動位置にあるときに、接地プランジャの内向き端がスリーブの少なくとも一部分に重なって、スリーブ１６ｃ’の遠位自由端がばね２５の位置を越えて延びることが好ましい。スリーブ１６ｃ’は、電気信号を平滑化する働きをする。接地プランジャ１８ｇの外向き端には、選択した接点チップ構造体１８ｈが形成されている。
【００２２】
図７、図８は、静止接地シールド・スリーブ２４内に摺動自在に装架された可動接地プランジャ２２を有する、修正されたシールド同軸組立体１０’’’’を示す。管状接地プランジャ２２は、接地プランジャ・コイルばね２５によって外側に偏倚している。外向きの運動は、接地プランジャ２２のそれぞれの穴２２ｆに圧入された保持プラグ２３などの従来の機構によって制限することもできる。各保持プラグ２３は、接地プランジャ２２を位置決めし保持する接地スリーブ２４のスロット２４ｃ内に摺動自在に受け入れられている。図８から最もよくわかるように、スロット２４ｃは、接地スリーブの長手方向軸線に概ね平行な方向で直線的に延びているが、それが運動すると接地スリーブ接点を回転させる、長手方向軸線に傾いたスロットを形成することは、本発明の範囲内である。外側スペーサ・ブッシング１７’’は、軸方向に延びるボアを短縮する、テーパの端部壁面を有するように修正されている。これが、センター・プローブ・バレル１３上のスペーサの摺動運動に関する摩擦抵抗を軽減する。図では、この実施形態に従って作製された組立体が、取付け板６で受けられ、接地スリーブ２４のフランジ２４ｂを利用して選択した軸方向位置に固定されている。
【００２３】
図９は、センター・プローブ・ロッド２７の一端が標準ＭＭＣＸタイプ同軸コネクタ・プラグ対を成すように適合された、単頭接点組立体１０’’’’’を示す。単頭接点組立体は、前述の実施形態のブッシング１６および１６’の材料など、適切な誘電性材料で形成されたスペーサ・ブッシング１６’’を有する。円錐台部分２７ａおよびフランジ２７ｂは、図１、図２の実施形態の１２ａ、１２ｂの部分に対応する。信号支柱ジャック２７ｄは、ＭＭＣＸタイプのコネクタに嵌合するように直径を選択して形成される。センター・プローブ接点１１およびセンター・プローブ・バレル１３は、図１、図２の実施形態に示すものと同様であるが、センター・プローブ・バレル１３用の修正した誘電性スペーサ・ブッシングが示されている。スペーサ・ブッシング１７’’’は、前述のスペーサ・ブッシング１６、１６’に使用したのと同じものなどの適切な誘電性材料から形成され、インピーダンス・マッチングを改善するために、大きい環状部分と小さい環状部分の間に円錐台形センター・ウェブ部分を備えて形成される。望むなら、この構造を、前述の実施形態のスペーサ１７、１７’、１７’’の代わりにも使用できることが理解されよう。図９に示すように、スペーサ・ブッシングをプローブ・バレルに固定して取り付けるために、スペーサ１７’’’が爪１３ｂに嵌合している。接地プランジャ２２’は、接地シールド・スリーブ２８のボア内に受け入れられて接地プランジャ２２’上を外側に延びるフランジと連動する接地シールド・スリーブ２８内に形成された爪２８ｂによってその外向きの動きを制限され、接地プランジャばね２５’によって外側に偏倚されている。前述の多数の接地部分の実施形態のように、接地シールド・スリーブは、貴金属の内層２８ｅ’を備える。接地シールド・スリーブ２８の外周に形成された環状の溝に受け入れられたインターフェースばね２９が、同軸接点の、対合および標準ＭＭＣＸコネクタ・プラグによる保持を可能にする。
【００２４】
本発明について、そのいくつかの好ましい実施形態に関して説明してきたが、変形および修正が当業者には明らかであろう。したがって、添付の特許請求の範囲は、従来技術に鑑みてできるだけ広く、そのようなすべての変形および修正を含むものと解釈すべきであると意図している。
【図面の簡単な説明】
【図１】
非作動位置で示す、本発明の第１の好ましい実施形態に従って作製されたシールド両頭同軸接点組立体の断面図である。
【図２】
作動位置で示す、図１の組立体の部分断面図である。
【図３】
非作動位置で示す、図１、図２の組立体の修正形態の断面図である。
【図４】
非作動位置で示す、図１、図２の組立体のその他の修正形態の断面図である。
【図５】
非作動位置で示す、可動接地プランジャを含むように修正された、図１、図２に示すタイプのシールド接点組立体の断面図である。
【図６】
図５の部分拡大図である。
【図７】
非作動位置で示す、典型的な取付け板に据え付けた、図５の組立体の修正形態の断面図である。
【図８】
取付け板なしで示す、説明のために４５度回転した、図７の組立体の正面部分断面図である。
【図９】
試験ジャックとして使用するための、本発明に従って作製された単頭接点の断面図である。
（関連出願）
本出願は、２０００年７月１３日出願の米国仮特許出願第６０／２１７，８３７号の優先権を主張するものである。
（発明の分野）
本発明は、概ね、電気的接点組立体に関し、より詳細には、プリント基板および他の電気器具を試験する試験機器と共に使用される組立体に関する。
【０００２】
（発明の背景）
プリント基板およびその他の電気器具を電気的導通などに関して試験する際に、ばね式接点組立体またはプローブを使用することが習慣的である。通常、センター信号接点と外部シールドまたは接地接点を一般的に含む接点プローブが支持体内に装架されており、回路基板など、試験する装置と相対運動される。試験部位に係合すると、確実に最適な接点係合をするために、選択した距離で相対運動を続ける。たとえば、０．２２９ｃｍ（０．０９０インチ）が、当分野で使用される習慣的な距離である。試験は、電気的導通などを点検するために、試験部位を通して電気信号を送信することによって実施される。
【０００３】
このような接点組立体を使用して試験を実施する際、信号のミス・タイミング、遅れ、および劣化を最小限に抑えることが重要である。接点組立体が、デジタル信号の伝播における遅れが誤った読取りを引き起こすことのある高速器具と併せて使用されるときは特にそうである。
【０００４】
このような接点組立体は、移動部品を有し、本質的に、製造公差および採用する材料の範囲内で、ある程度の不一致を有する。起こり得るどのような不一致も接点組立体の長さに直接関係するので、組立体を長くするほど不一致が大きくなる。
【０００５】
Ｔｈｅｖｅの米国特許第３，４１６，１２５号、Ｌａｎｇｇａｒｄの同第５，１７５，４９３号、Ｓｔｏｗｅｒｓ他の同第５，９３６，４２１号、およびＢｏｙｌｅの同第６，０５３，７７７号に示されるような、両頭同軸接点の使用が知られている。しかし、前述の各接点組立体には、１つまたは複数の制限がある。ＴｈｅｖｅおよびＳｔｏｗｅｒｓ他の特許では、各接点に関する力を独立して選択する手段がなく、内側接点に接点力を与えるために共通ばねを使用し、外側接点に接点力を与えるために別の共通ばねを使用している。Ｌａｎｇｇａｒｄの特許では、両頭プローブ組立体は、バレル内で互いに離された背向関係にある２つのプローブを含み、導電性を維持するためにプローブ間の空隙を埋める導電性エポキシ樹脂などを必要とするので、潜在的な歩留りの問題を引き起こし、信号の完全性に起こり得る悪影響を及ぼす。Ｂｏｙｌｅへの特許では、その図８に示されるように、接点システムが同軸ケーブルの両端に取り付けられている。そのようなシステムは、通常、４５．７２〜６０．９６ｃｍ（１８〜２４インチ）の同軸ケーブルを使用する。試験のセット・アップに使用するすべてのケーブルは、信号の完全性を維持するために同じ長さにしなければならない。特に、絶えず高速になっていく適用例では、より小型の接点組立体を利用可能にし、組立体のいくつかの接点の特別な特徴を提供する、改善された適応性および独立性を組立体に与えることが望ましい。
【０００６】
（発明の概要）
本発明の目的は、従来の装置より小型で、改善されたインピーダンス・マッチングを提供する、高周波数信号試験に特に有用な両頭接点組立体を提供することである。本発明の他の目的は、接地プランジャならびにセンター・プローブ用の、接点チップのスタイルおよびばねの力を独立に選択することを含めて、様々な顧客要件に適合するのにより役立つ両頭同軸接点組立体を提供することである。
【０００７】
簡単に言えば、本発明によれば、センター・プローブ・ロッドは、概ね円筒形のセンター・誘電性スペーサ・ブッシング内に固定して受けられる。センター・プローブ・ロッドの各端部は、その各端部で受けられたそれぞれのセンター・プローブ組立体の偏倚ボールに係合するように、センター・プローブ・ロッドの長手方向軸線に対して傾いた偏倚表面を備えて形成される。センター・スペーサ・ブッシングおよびセンター・プローブ・ロッド・副組立体は、たとえばセンター・スペーサ・ブッシングの外周に形成された環状溝に位置合わせして接地スリーブ内に形成された爪によって副組立体の長手方向軸線位置を接地スリーブに対して適切に固定して、接地シールド・スリーブ内に受入れられている。
【０００８】
選択された接地接点チップ構造体は、接地スリーブの両端に形成される。センター・プローブ・ロッドの各端部は、相対的な滑り運動を制限するために、それぞれのセンター・プローブ・バレルの一端に入れ子式に受け入れられており、そのセンター・プローブ・バレルには、選択した接点チップ構造体を他端に有するセンター・プローブ接点が装架されている。センター・プローブ・ロッドの直径が小さい部分内に受入れられたセンター・プローブ・バレルの爪によって外側方向に制限されたセンター・プローブ・バレルを偏倚させるために、偏倚ばねが、センター・プローブ接点と偏倚ボールの間で各センター・プローブ・バレル内に配置されている。センター・プローブ・バレルも、接地スリーブとの同軸関係を維持するために、それぞれの誘電性外側スペーサ・ブッシング内に受け入れられている。一実施形態では、センター・プローブ・ロッドには、センター・プローブ接点から延びる支柱がその両端で摺動自在に受け入れられる軸方向に延びるボアと、センター・スペーサ・ブッシングとそれぞれのセンター・プローブ・バレルの間でセンター・プローブ・ロッド上に受けられたコイルばねによって外側に偏倚されたセンター・プローブ・バレルとが形成されている。
【０００９】
その他の実施形態では、接地スリーブが、その各端部で摺動自在に受け入れられた管状の接地プランジャ接点を備えており、接地プランジャ接点を外側に偏倚させるために、別個のコイルばねが各接地プランジャ接点とセンター・スペーサ・ブッシングの間に配置されている。好ましい一実施形態では、センター・スペーサ・ブッシングは、接地プランジャ接点が押し下げられた、すなわち、作動位置にあるときに、接地プランジャ接点の内側寄り端部がスリーブの遠位自由端に重なる位置に向かって好ましくは軸方向に延びるスリーブを備える。その他の好ましい実施形態では、一端にＭＭＣＸタイプの同軸コネクタ・プラグを備える両頭接点組立体が形成される。
【００１０】
本発明に従って作製される接点組立体は、従来の装置より長さが短く、たとえば２．５４ｃｍ（１インチ）未満であるので、より小型のシステムが可能になる。組立体の各端部は、他端とは独立して動作し、センター・プローブ・ロッド、および接地スリーブに固定されたセンター・スペーサ・ブッシング・副組立体だけが共通である。こうすることで、同一のセンター・プローブ・ロッドおよびセンター・スペーサ・ブッシング・副組立体を、異なるチップのスタイルおよびばねの力と併せて使用できるようになる。また、可動接地プランジャと併せて使用するときには、接点組立体の２端上に異なるばねの力を使用することができる。
【００１１】
本明細書に組み込まれ、その一部を構成する添付の図面は、本発明の好ましい実施形態を示しており、説明と併せて、発明の目的、利点、および原理について説明するのに役立つ。
【００１２】
（好ましい実施形態の詳細な説明）
図１、図２を参照すると、シールド両頭同軸接点組立体１０が示されており、該組立体は、各端部に、好ましくは選択したタイプのセンター・プローブ接点チップ１１ａを有し、本質的にそれらと共通の外径を形成するセンター・プローブ・バレル１３内に受け入れられた直径の小さい部分を有する、概ね円筒形の信号、すなわち、センター・プローブ接点１１を備えている。銅合金などの適切な導電性材料のプローブ・バレル１３が、貴金属内側接点表面１３ａを備えることが好ましい。プローブ接点１１は、圧入や、図示したようにセンター・プローブ接点１１内に形成された環状の溝で受けられる爪１３ｂなどの適切な手段によって、センター・プローブ・バレル１３に固定して取り付けられている。
【００１３】
センター・プローブ・ロッド１２には、フランジ１２ｂなどの位置機構と共に、円錐台部分１２などの、後で説明する誘電性材料で形成された、センター・スペーサ・ブッシング内に保持するための機構が形成されることが好ましい。センター・プローブ・ロッドは、好都合に２つの部品で形成でき、一方の部品の端部が他方の部品の端部に形成されたボアに圧入されている。センター・プローブ・ロッド１２は、その長手方向軸線に対して傾いた角度を形成する偏倚表面１２ｃを備えて形成された両側の遠位自由端を有する。センター・プローブ・ロッドの各遠位端は、それぞれのセンター・プローブ・バレル１３の一端に受け入れられており、センター・プローブ・ロッド１２の直径が小さい部分で受けられるセンター・プローブ・バレルの爪１３ｃによって滑り運動するようにそこで保持されている。センター・プローブ・ロッドの遠位端の偏倚表面１２ｃは、ボール１５とセンター・プローブ接点１１との間のコイルばね１４の一端でボール１５に接している。プローブ・バレル１３の反対側の端部は、好ましくは貴金属内層１９ｅを有し誘電性材料で形成された接地スリーブ１９内に摺動自在に受入れられた外側スペーサ１７に、固定装架されている。
【００１４】
センター・スペーサ・ブッシング１６および外側スペーサ・ブッシング１７は、ポリテトラフルオロエチレンなどの適切な誘電性材料で形成され、センター・プローブ導体と接地スリーブ１９との間の同軸関係を維持する働きをする。センター・スペーサ・ブッシング１６には、環状溝１６ａが形成されており、該環状溝は、環状溝内に受け入れられた接地スリーブの爪１９ａによって、スペーサ・ブッシングおよびセンター・プローブ・ロッド副組立体を接地スリーブ１９に対して選択した位置に維持する働きをする。
【００１５】
接点組立体１０は、高速信号適用例での使用に特に適している。接地スリーブの内径に対する信号、すなわち、プローブ構成要素の外径は、接点組立体を使用するシステムに応じて選択された特徴的なインピーダンスを生じるように適合されている。従来技術の制限の１つとして、ばね荷重接点装置では、装置の軸方向長さに沿った望ましくないインピーダンス・ミスマッチが起こる。本発明によれば、このようなミスマッチが最小限に抑えられる。誘電性ミスマッチ面積は、誘電性材料、ならびに、センター・プローブ導体の外側の面と接地スリーブの内側の面との間の距離に応じて変化する。図１、図２の組立体では、誘電体および距離は、偏倚ロッド１２の露出部分を除き、長さ全体にわたって本質的に一致している（組立体を作動位置で示す図２を参照）。センター・プローブ・ロッドの直径は、それがセンター・スペーサ・ブッシング１６の高い誘電性特徴を補償するためにセンター・スペーサを通過する場所で小さくなっており、組立体の主な誘電体である空気の誘電率と、センター・プローブ導体を同軸接点組立体の接地導体から離すために使用される絶縁材料の誘電率との間の相違に対するインピーダンス・マッチングを提供する。
【００１６】
図３は、修正されたシールド同軸接点組立体１０を示す。図３の組立体は、図１、図２に示す組立体と同様であるが、センター・プローブ・バレル１３とセンター・スペーサ・ブッシング１６の間で、センター・プローブ・ロッド１２の各端部上で受けられるコイルばね２０をさらに備え、ばね２０の外径がセンター・信号バレル１３の直径に厳密に一致している。ある高い周波数においては、ばねは、それが信号の伝播に及ぼす影響に関して固体シリンダに似ており、したがって改善されたインピーダンス・マッチングを提供する。
【００１７】
図４は、修正されたシールド同軸組立体１０’’を示しており、ばね２０’が図３の実施形態のばね２０と１４の両方の機能を果たしている。センター・プローブ・ロッド２１は、好ましくは貴金属層をその上に有する、長手方向軸線方向に延びるボア２１ｅを備える。プローブ・接点１１’は、冗長接点を提供するセンター・プローブ・ロッドのそれぞれのボアで摺動自在に受け入れられた支柱１１ｃ’を備える。図４の実施形態は、同軸接点組立体の全体的な長さをかなり短縮できる構造を提供するものであり、これは、高周波数適用例で特に有利である。
【００１８】
図５および図６は、図１、図２と同様であるが、可動接地プランジャを組み込むように修正された、センター・プローブ接点を有する接点組立体１０’’’を示す。接点組立体１０’’’は、溝１６ａ’を備えて形成されたセンター・スペーサ・ブッシング１６’を備えており、この溝１６ａ’は、図１、図２に示す溝１６ａと同様にスペーサ・ブッシングの中央で円周の周りを延びているが、本体１６ｂ’は、組立体の安定性を高めるために、前述の実施形態のセンター・スペーサ・ブッシング１６より長手方向軸線に沿ってさらに延びている。センター・スペーサ・ブッシング１６’は、センター・ボア１６ｄ’がセンター・プローブ・ロッド１２’の中央部分１２ｄを受け入れて長手方向に延びており、テフロン（登録商標）などの適切な材料で形成されている。中央部分１２ｄは、その直径が、センター・ボア１６ｄ’の直径に厳密に一致するが、隣接ロッド部分１２ｅより小さく形成される。テフロン（登録商標）材料の特性により、ロッド部分１２ｅをボアに通すことができるので、ロッドの中央部分１２ｄを所定の位置にスナップ嵌めすることができる。この配置により、センター・プローブ・ロッド１２’のための堅固な支持を提供するだけでなく、中央部分１２ｄの小さい直径が、センター・スペーサ・ブッシングの軸方向長さ全体でセンター・スペーサ・ブッシング１６’の高い誘電特性を一様に補償する働きをする。
【００１９】
図１、図２に示すタイプのセンター・プローブ・バレル１３は、それぞれのセンター・プローブ・バレルの外向きの動きを制限するために、センター・プローブ・バレル内の爪１３ｃをセンター・プローブ・ロッド１２’の直径が小さい部分１２ｆで受けており、センター・プローブ・ロッド１２’の各端部で摺動自在に受け入れられている。コイルばね１４は、センター・プローブ・ロッド１２’の各遠位端に形成された斜めの偏倚表面１２ｃと、それぞれのセンター・プローブ接点１１との間で受けられている。センター・プローブ接点１１には、選択した接点チップ構造体１１ａが形成され、その遠位端の外径がセンター・プローブ・バレル１３の外径に一致している。センター・プローブ接点１１は、センター・プローブ・ロッド１２’の直径が小さい部分で受けられた爪１３ｂを使用するなどによって、それぞれのセンター・プローブ・バレル１３に適切に固定されている。
【００２０】
センター・スペーサ・ブッシング１６’、センター・プローブ・ロッド１２’、およびセンター・プローブ組立体は、端部が開放された接地シールド・スリーブ１８内に受け入れられていて、センター・スペーサ・ブッシング１６’の軸方向位置は、センター・スペーサ・ブッシング１６’の円周を延びる溝１６ａ’に受けいれられたスリーブ１８の爪１８ｂなどの適切な手段によって固定されている。管状接地プランジャ１８ｇは、接地シールド・スリーブ１８の各開放端内に摺動自在に受け入れられている。接地シールド・スリーブ内に形成され、接地プランジャ１８ｇ内で軸方向に延びるスロット１８ｋ中に延びている、爪１８ｆなどの適切な手段が、接地プランジャの動きを選択した範囲内に制限する。各センター・プローブ・バレル１３は、外側誘電性スペーサ・ブッシング１７’のボア内で摺動自在に受け入れられている。外側スペーサ・ブッシング１７’は、その周囲を延びる溝を備えており、爪１８ｍが、接地プランジャ１８ｇ内に形成され、外側スペーサ・ブッシング１７’を軸方向位置で固定するために溝の中に受け入れられている。
【００２１】
一体形成された誘電性スリーブ１６ｃ’は、本体部分１６ｂ’の両端から長手方向軸線方向に延び、センター・プローブ・ロッド１２’とセンター・プローブ・バレル１３のクリアランスを与えるための内側ボア１６ｅを備えており、その外径１６ｆ’は、本体部分１６ｂ’からそれぞれの接地プランジャの内向き端に延びる接地プランジャ・コイルばね２５をその上で受けるために、本体部分１６ｂ’の直径より小さい。接地プランジャが正常に押し下げられたとき、すなわち作動位置にあるときに、接地プランジャの内向き端がスリーブの少なくとも一部分に重なって、スリーブ１６ｃ’の遠位自由端がばね２５の位置を越えて延びることが好ましい。スリーブ１６ｃ’は、電気信号を平滑化する働きをする。接地プランジャ１８ｇの外向き端には、選択した接点チップ構造体１８ｈが形成されている。
【００２２】
図７、図８は、静止接地シールド・スリーブ２４内に摺動自在に装架された可動接地プランジャ２２を有する、修正されたシールド同軸組立体１０’’’’を示す。管状接地プランジャ２２は、接地プランジャ・コイルばね２５によって外側に偏倚している。外向きの運動は、接地プランジャ２２のそれぞれの穴２２ｆに圧入された保持プラグ２３などの従来の機構によって制限することもできる。各保持プラグ２３は、接地プランジャ２２を位置決めし保持する接地スリーブ２４のスロット２４ｃ内に摺動自在に受け入れられている。図８から最もよくわかるように、スロット２４ｃは、接地スリーブの長手方向軸線に概ね平行な方向で直線的に延びているが、それが運動すると接地スリーブ接点を回転させる、長手方向軸線に傾いたスロットを形成することは、本発明の範囲内である。外側スペーサ・ブッシング１７’’は、軸方向に延びるボアを短縮する、テーパの端部壁面を有するように修正されている。これが、センター・プローブ・バレル１３上のスペーサの摺動運動に関する摩擦抵抗を軽減する。図では、この実施形態に従って作製された組立体が、取付け板６で受けられ、接地スリーブ２４のフランジ２４ｂを利用して選択した軸方向位置に固定されている。
【００２３】
図９は、センター・プローブ・ロッド２７の一端が標準ＭＭＣＸタイプ同軸コネクタ・プラグ対を成すように適合された、単頭接点組立体１０’’’’’を示す。単頭接点組立体は、前述の実施形態のブッシング１６および１６’の材料など、適切な誘電性材料で形成されたスペーサ・ブッシング１６’’を有する。円錐台部分２７ａおよびフランジ２７ｂは、図１、図２の実施形態の１２ａ、１２ｂの部分に対応する。信号支柱ジャック２７ｄは、ＭＭＣＸタイプのコネクタに嵌合するように直径を選択して形成される。センター・プローブ接点１１およびセンター・プローブ・バレル１３は、図１、図２の実施形態に示すものと同様であるが、センター・プローブ・バレル１３用の修正した誘電性スペーサ・ブッシングが示されている。スペーサ・ブッシング１７’’’は、前述のスペーサ・ブッシング１６、１６’に使用したのと同じものなどの適切な誘電性材料から形成され、インピーダンス・マッチングを改善するために、大きい環状部分と小さい環状部分の間に円錐台形センター・ウェブ部分を備えて形成される。望むなら、この構造を、前述の実施形態のスペーサ１７、１７’、１７’’の代わりにも使用できることが理解されよう。図９に示すように、スペーサ・ブッシングをプローブ・バレルに固定して取り付けるために、スペーサ１７’’’が爪１３ｂに嵌合している。接地プランジャ２２’は、接地シールド・スリーブ２８のボア内に受け入れられて接地プランジャ２２’上を外側に延びるフランジと連動する接地シールド・スリーブ２８内に形成された爪２８ｂによってその外向きの動きを制限され、接地プランジャばね２５’によって外側に偏倚されている。前述の多数の接地部分の実施形態のように、接地シールド・スリーブは、貴金属の内層２８ｅ’を備える。接地シールド・スリーブ２８の外周に形成された環状の溝に受け入れられたインターフェースばね２９が、同軸接点の、対合および標準ＭＭＣＸコネクタ・プラグによる保持を可能にする。
【００２４】
本発明について、そのいくつかの好ましい実施形態に関して説明してきたが、変形および修正が当業者には明らかであろう。したがって、添付の特許請求の範囲は、従来技術に鑑みてできるだけ広く、そのようなすべての変形および修正を含むものと解釈すべきであると意図している。
【図面の簡単な説明】
【図１】
非作動位置で示す、本発明の第１の好ましい実施形態に従って作製されたシールド両頭同軸接点組立体の断面図である。
【図２】
作動位置で示す、図１の組立体の部分断面図である。
【図３】
非作動位置で示す、図１、図２の組立体の修正形態の断面図である。
【図４】
非作動位置で示す、図１、図２の組立体のその他の修正形態の断面図である。
【図５】
非作動位置で示す、可動接地プランジャを含むように修正された、図１、図２に示すタイプのシールド接点組立体の断面図である。
【図６】
図５の部分拡大図である。
【図７】
非作動位置で示す、典型的な取付け板に据え付けた、図５の組立体の修正形態の断面図である。
【図８】
取付け板なしで示す、説明のために４５度回転した、図７の組立体の正面部分断面図である。
【図９】
試験ジャックとして使用するための、本発明に従って作製された単頭接点の断面図である。
Claims (9)
- 長手方向軸線および中央部分と両端部分とを有する円筒形の導電性センター・プローブ・ロッドと、
センター・プローブ・ロッドの各端部上にスライド可能に装架されたプローブ接点組立体であって、各プローブ接点組立体が内側寄り端部と外側寄り端部を有し、内側寄り端部がセンター・プローブ・ロッドの端部上にスライド可能に装架されたセンター・プローブ・バレルと、センター・プローブ・バレルの外側寄り端部に配設されたセンター・プローブ接点チップと、センター・プローブ・バレル内でセンター・プローブ・ロッドとセンター・プローブ接点チップの間に配設され、センター・プローブ・バレルを長手方向軸線に沿った方向でセンター・プローブ・ロッドから離れるように押圧するコイルばねとを有した、プローブ接点組立体と、
中央に配設された長手方向に延びるボアを有し、センター・プローブ・ロッドの中央部分が該ボア中に受入れられた、誘電性センター・スペーサ・ブッシングと、
開放端導電性接地スリーブであって、前記センター・スペーサ・ブッシング、センター・プローブ・ロッド、およびプローブ接点組立体をその中に受入れ、スリーブに対するセンター・スペーサ・ブッシングの位置が固定されている開放端導電性接地スリーブとを備える両頭同軸電気接点組立体。 - 請求項１に記載の両頭同軸電気接点組立体であって、該組立体が、各プローブ接点組立体に対して、中央に配設された長手方向に延びるボアを有する外側誘電性スペーサ・ブッシングをさらに備え、それぞれのセンター・プローブ・バレルの外側寄り端部が外側スペーサ・ブッシングのボア内に受入れられており、外側スペーサ・ブッシングが、それぞれのセンター・プローブ・バレルおよび接地スリーブの一方に固定され、他方に対してはスライド可能である、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項１に記載の両頭同軸電気接点組立体であって、該組立体が、外側の非作動位置と内側の作動位置との間で、接地スリーブの各開放端内にスライド可能に受入れられた管状接地プランジャと、各接地プランジャとセンター・スペーサ・ブッシングの間に配設された、接地プランジャを接地スリーブから外の方向に押圧する接地プランジャ・コイルばねとをさらに備える、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項３に記載の両頭同軸電気接点組立体であって、該組立体が、各プローブ接点組立体に対して、中央に配設された長手方向に延びるボアを有する外側誘電性スペーサ・ブッシングをさらに備え、それぞれのセンター・プローブ・バレルの外側寄り端部が外側スペーサ・ブッシングのボア内で受入れられており、外側スペーサ・ブッシングが、それぞれのセンター・プローブ・バレルおよび接地プランジャの一方に固定され、他方に対してはスライド可能である、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項１に記載の両頭同軸電気接点組立体において、センター・プローブ・ロッドの中央部分が、隣接するロッド部分に比べて小さい直径に形成され、センター・スペーサ・ブッシングのボアの直径が、センター・プローブ・ロッドの中央部分の直径に厳密に一致するように選択されている、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項３に記載の両頭同軸電気接点組立体において、センター・スペーサ・ブッシングが両端面部分を備える本体を有し、センター・スペーサ・ブッシングに一体形成され各面部分から長手方向軸線に沿って本体から離れる方向に延びる誘電性スリーブをさらに備え、それぞれの接地プランジャばねが誘電性スリーブ上に受けられている、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項６に記載の両頭同軸電気接点組立体において、接地プランジャが作動位置に動くとき、各接地プランジャがそれぞれのセンター・スペーサ・ブッシング誘電性スリーブに重なる、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項１に記載の両頭同軸電気接点組立体において、センター・プローブ・ロッドの各端部が、偏倚表面として働くように、センター・プローブ・ロッドの長手方向軸線に対して傾いた端部表面を有する、両頭同軸電気接点組立体。
- 請求項７に記載の両頭同軸電気接点組立体において、センター・プローブ・ロッドの中央部分が、センター・プローブ・ロッドの隣接部分に比べて小さい直径に形成され、センター・スペーサ・ブッシングのボアの直径が、センター・プローブ・ロッドの中央部分の直径に厳密に一致するように選択されている、両頭同軸電気接点組立体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US21783700P | 2000-07-13 | 2000-07-13 | |
| PCT/US2001/022216 WO2002007265A1 (en) | 2000-07-13 | 2001-07-11 | Contact apparatus particularly useful with test equipment |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004504703A true JP2004504703A (ja) | 2004-02-12 |
Family
ID=22812718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002513054A Pending JP2004504703A (ja) | 2000-07-13 | 2001-07-11 | 試験機器に特に有用な接点器具 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6652326B2 (ja) |
| JP (1) | JP2004504703A (ja) |
| AU (1) | AU2001282891A1 (ja) |
| TW (1) | TW531938B (ja) |
| WO (1) | WO2002007265A1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007087857A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 導電性接続装置 |
| JP2007248133A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Hioki Ee Corp | プローブおよび測定装置 |
| JP2014521951A (ja) * | 2011-08-30 | 2014-08-28 | Ｌｅｅｎｏ工業株式会社 | 同軸プローブ |
| JP2015227845A (ja) * | 2014-06-02 | 2015-12-17 | 日本発條株式会社 | プローブユニットおよびコンタクトプローブ |
Families Citing this family (41)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6331836B1 (en) * | 2000-08-24 | 2001-12-18 | Fast Location.Net, Llc | Method and apparatus for rapidly estimating the doppler-error and other receiver frequency errors of global positioning system satellite signals weakened by obstructions in the signal path |
| US6822542B2 (en) * | 2001-07-26 | 2004-11-23 | Xytrans, Inc. | Self-adjusted subminiature coaxial connector |
| DE60315813T2 (de) * | 2002-03-05 | 2008-05-21 | Rika Denshi America, Inc., Attleboro | Vorrichtung für eine schnittstelle zwischen elektronischen gehäusen und testgeräten |
| US6921299B2 (en) * | 2003-01-06 | 2005-07-26 | R & R Home Networking | Coupling device for coaxial cable and communication applications |
| TWI241757B (en) * | 2003-05-16 | 2005-10-11 | Parry Chen | RF coaxial conductor |
| FR2862355B1 (fr) * | 2003-11-18 | 2006-02-10 | Ecl | Systeme de liaison de deux arbres en translation |
| CN2682641Y (zh) * | 2003-11-20 | 2005-03-02 | 上海莫仕连接器有限公司 | 压接式导电端子 |
| US7321234B2 (en) * | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
| US20230204626A1 (en) * | 2003-12-31 | 2023-06-29 | Microfabrica Inc. | Pin-Type Probes for Contacting Electronic Circuits and Methods for Making Such Probes |
| US6927332B1 (en) * | 2004-03-22 | 2005-08-09 | Motorola, Inc. | Flexible test cable |
| WO2006007440A1 (en) * | 2004-06-16 | 2006-01-19 | Rika Denshi America, Inc. | Electrical test probes, methods of making, and methods of using |
| JP5185625B2 (ja) * | 2004-12-13 | 2013-04-17 | インテスト コーポレイション | 反射低減信号モジュール |
| US7116121B1 (en) * | 2005-10-27 | 2006-10-03 | Agilent Technologies, Inc. | Probe assembly with controlled impedance spring pin or resistor tip spring pin contacts |
| US7598757B2 (en) * | 2005-12-06 | 2009-10-06 | Unitechno Inc. | Double ended contact probe |
| KR100734296B1 (ko) * | 2005-12-19 | 2007-07-02 | 삼성전자주식회사 | 자체 클리닝 기능이 있는 검사장치용 소켓핀 및 이를포함하는 검사장치 |
| US7545159B2 (en) * | 2006-06-01 | 2009-06-09 | Rika Denshi America, Inc. | Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same |
| US7695322B2 (en) * | 2006-06-12 | 2010-04-13 | Southwest Microwave, Inc. Arizona Corporation | Coaxial connector |
| US7728613B2 (en) * | 2006-11-20 | 2010-06-01 | Analog Devices, Inc. | Device under test pogo pin type contact element |
| CN201029138Y (zh) * | 2007-02-08 | 2008-02-27 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器端子 |
| JP4999079B2 (ja) * | 2007-04-10 | 2012-08-15 | サンユー工業株式会社 | プローブ |
| US7847191B2 (en) | 2007-11-06 | 2010-12-07 | Xerox Corporation | Electrical component, manufacturing system and method |
| MY151561A (en) * | 2007-12-06 | 2014-06-13 | Test Tooling Solutions M Sdn Bhd | Eco contactor |
| EP2144338A1 (en) * | 2008-07-11 | 2010-01-13 | Tyco Electronics Nederland B.V. | Coaxial probe |
| US7922529B1 (en) * | 2009-11-23 | 2011-04-12 | Neocoil, Llc | High mating cycle low insertion force coaxial connector |
| DE102010014940B4 (de) * | 2010-04-14 | 2013-12-19 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungshalbleitermodul mit Anschlusselementen |
| US8758066B2 (en) * | 2012-02-03 | 2014-06-24 | Interconnect Devices, Inc. | Electrical connector with insulation member |
| US9627814B2 (en) * | 2012-04-04 | 2017-04-18 | Holland Electronics Llc | Moving part coaxial connectors |
| CN104184003B (zh) * | 2013-05-20 | 2016-03-23 | 中航光电科技股份有限公司 | 一种射频同轴转接器 |
| CN104865425B (zh) * | 2014-02-24 | 2018-07-20 | 旺矽科技股份有限公司 | 具有弹簧套筒式探针的探针装置 |
| US9933455B2 (en) | 2015-05-04 | 2018-04-03 | Qualcomm Incorporated | Known good die testing for high frequency applications |
| KR101954086B1 (ko) | 2017-11-07 | 2019-03-06 | 리노공업주식회사 | 검사 프로브 조립체 및 검사 소켓 |
| JP7096095B2 (ja) * | 2018-07-27 | 2022-07-05 | 株式会社エンプラス | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
| CN109030887A (zh) * | 2018-08-10 | 2018-12-18 | 浙江金连接科技有限公司 | 一种测试探针用铍青铜皇冠顶柱头 |
| US11973301B2 (en) | 2018-09-26 | 2024-04-30 | Microfabrica Inc. | Probes having improved mechanical and/or electrical properties for making contact between electronic circuit elements and methods for making |
| US11994535B2 (en) * | 2018-11-27 | 2024-05-28 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
| CA3121476A1 (en) | 2018-11-30 | 2020-06-04 | Corning Optical Communications Rf Llc | Compressible electrical contacts with divaricated-cut sections |
| WO2021108080A1 (en) * | 2019-11-30 | 2021-06-03 | Corning Optical Communications Rf Llc | Connector assemblies |
| USD936611S1 (en) | 2019-11-30 | 2021-11-23 | Corning Optical Communications Rf Llc | Compressible electrical contact |
| USD936610S1 (en) | 2019-11-30 | 2021-11-23 | Corning Optical Communications Rf Llc | Compressible electrical contact |
| US11563294B2 (en) * | 2020-05-22 | 2023-01-24 | Corning Optical Communications Rf Llc | Spring-loaded interconnects having pre-configured flexible cable |
| CN113805001A (zh) * | 2021-09-09 | 2021-12-17 | 湖南电科院检测集团有限公司 | 一种具有保护措施的高压产品试验装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6114383U (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-28 | 株式会社ヨコオ | コンタクトプロ−ブ |
| JPS62123568U (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-05 | ||
| JPS63200777U (ja) * | 1987-06-15 | 1988-12-23 | ||
| WO1999035715A1 (en) * | 1998-01-05 | 1999-07-15 | Rika Electronics International, Inc. | Coaxial contact assembly apparatus |
| WO2000031835A1 (en) * | 1998-11-25 | 2000-06-02 | Rika Electronics International, Inc. | Electrical contact system |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3416125A (en) | 1966-10-20 | 1968-12-10 | Ostby & Barton Co | Co-axial connector |
| US5157325A (en) * | 1991-02-15 | 1992-10-20 | Compaq Computer Corporation | Compact, wireless apparatus for electrically testing printed circuit boards |
| US5175493A (en) | 1991-10-11 | 1992-12-29 | Interconnect Devices, Inc. | Shielded electrical contact spring probe assembly |
| US5936421A (en) | 1994-10-11 | 1999-08-10 | Virginia Panel Corporation | Coaxial double-headed spring contact probe assembly and coaxial surface contact for engagement therewith |
-
2001
- 2001-07-11 WO PCT/US2001/022216 patent/WO2002007265A1/en active Application Filing
- 2001-07-11 AU AU2001282891A patent/AU2001282891A1/en not_active Abandoned
- 2001-07-11 US US09/903,206 patent/US6652326B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-11 JP JP2002513054A patent/JP2004504703A/ja active Pending
- 2001-10-09 TW TW090124872A patent/TW531938B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6114383U (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-28 | 株式会社ヨコオ | コンタクトプロ−ブ |
| JPS62123568U (ja) * | 1986-01-29 | 1987-08-05 | ||
| JPS63200777U (ja) * | 1987-06-15 | 1988-12-23 | ||
| WO1999035715A1 (en) * | 1998-01-05 | 1999-07-15 | Rika Electronics International, Inc. | Coaxial contact assembly apparatus |
| JP2002501289A (ja) * | 1998-01-05 | 2002-01-15 | ライカ エレクトロニクス インターナショナル、 インコーポレイテッド | 同軸接点組立体装置 |
| WO2000031835A1 (en) * | 1998-11-25 | 2000-06-02 | Rika Electronics International, Inc. | Electrical contact system |
| JP2002530841A (ja) * | 1998-11-25 | 2002-09-17 | リカ エレクトロニクス インターナショナル インコーポレイテッド | 電気的接触装置 |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007087857A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Seiko Epson Corp | 導電性接続装置 |
| JP4632133B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2011-02-16 | セイコーエプソン株式会社 | 導電性接続装置 |
| JP2007248133A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Hioki Ee Corp | プローブおよび測定装置 |
| JP2014521951A (ja) * | 2011-08-30 | 2014-08-28 | Ｌｅｅｎｏ工業株式会社 | 同軸プローブ |
| US9250264B2 (en) | 2011-08-30 | 2016-02-02 | Leeno Industrial Inc. | Coaxial probe |
| JP2015227845A (ja) * | 2014-06-02 | 2015-12-17 | 日本発條株式会社 | プローブユニットおよびコンタクトプローブ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2002007265A1 (en) | 2002-01-24 |
| US20020013085A1 (en) | 2002-01-31 |
| AU2001282891A1 (en) | 2002-01-30 |
| TW531938B (en) | 2003-05-11 |
| US6652326B2 (en) | 2003-11-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2004504703A (ja) | 試験機器に特に有用な接点器具 | |
| US6275054B1 (en) | Electrical contact system | |
| US6053777A (en) | Coaxial contact assembly apparatus | |
| KR100833637B1 (ko) | 검사 유닛 | |
| KR100638694B1 (ko) | 검사용 동축 프로브 및 그것을 이용한 검사 유닛 | |
| US6815963B2 (en) | Probe for testing a device under test | |
| US7259577B2 (en) | Shielded probe apparatus for probing semiconductor wafer | |
| US5157337A (en) | Dielectric constant measurement probe assembly and apparatus and method | |
| WO2004107401A3 (en) | Probe for testing a device under test | |
| JP2002504995A (ja) | 広域インピーダンス整合プローブ | |
| TWI788461B (zh) | 探針頭 | |
| US20160178664A1 (en) | Single-ended test probe having ground and signal tips | |
| JP3165066B2 (ja) | 管状ばねを持つ弾性コネクタ | |
| US6717398B2 (en) | Signal launch connecting techniques | |
| JPH0260066B2 (ja) | ||
| JPH09152447A (ja) | 両端可動形同軸コンタクトプローブ | |
| US6798229B2 (en) | Wide-bandwidth coaxial probe | |
| JPH10221368A (ja) | 同軸プロ−ブ | |
| JP3091009B2 (ja) | 位置検出プローブ | |
| JPH0637337Y2 (ja) | プロ−ブ装置 | |
| WO2018003639A1 (ja) | 検査用同軸コネクタ及び中心導体 | |
| CN220797141U (zh) | 一种高频率弹性测试连接器 | |
| JP2001091538A (ja) | 接触ピン | |
| JPH0427873A (ja) | プローブ | |
| JP2003121462A (ja) | 同軸ケーブル式プローブ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050729 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050909 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071220 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080108 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080606 |