JP2004325451A - 小型コンタクタピン - Google Patents

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Abstract

【課題】テスト対象となるDUTとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。
【解決手段】接触テストは、複数の対向面と、ハウジングにて同対向面間に延びる1つ以上のスロットとを備える。同セットの使用中、第1の面はDUTに近接し、第2の面はテストサイトにおけるロードボードに近接する。1つのスロットには1つのコンタクトが収容され、各コンタクトはDUTのリードに係合可能な第1の端部を有する。各コンタクトの第2の端部は対応する端子と係合される。各コンタクトは、DUTの対応するリードに係合されない第1の配向位置と、DUTがDUTの対応するリードに係合されスロット内に向けて付勢される第2の配向位置との間を移動可能である。エラストマは第1の配向位置に向けてコンタクトを付勢する。
【選択図】図1

Description

本願は、米国特許法第111条(b)項に基づいて2003年4月23日に提出された仮出願第60/465,022号の、同第119条(e)(1)項に基づく優先権を主張し、同第111条(a)項に基づいて提出される通常出願である。
本発明は、集積回路とICテストデバイスとのインターフェーシングを実現するコネクタデバイスに関する。より詳細には、本発明は、テスト対象となるICデバイス(DUT)とテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、現行のテストデバイスにて用いられる非常に小型のコネクタの確実な規制とを容易にする電気的接続システムを提供する。
テスト対象となるデバイスの集積回路リードを、テスタのロードボードに、迅速且つ一時的に接続するために、多くの異なるテストサイト構造が考えられている。特に、自動テストデバイスは、このような構造を多数用いている。ある1つの構造では、コンタクトのプローブチップを変形させロードボードにパッドを係合させるために、ICのリードとロードボードとの間に配置されたコンタクトに作用すべく付与される力が用いられる。また、別の構造では、エラストマエレメントによってコンタクトに付与される位置付勢力を解消すべくスロット内に設けられたコンタクトを回転させるために、ICによって付与される係合力が用いられる。ICに係合される一端に対向するコンタクト端部は、ICとテストサイトが一緒にされた際に、ロードボードのパッドに接触する。
このような構造は、DUTのリードとテストデバイスの対応するリードとの確実な接続に備えるものであり、確実な接続を確保するためにはDUTとテストサイトとの初期の係合に依存するものである。
電気的な接続をより確実にするためには、DUTとテストデバイスとの初期の係合によりもたらされる力に加えて、更なる所定の力を供与するシステムを提供することが望ましい。更に、DUTとテストサイトとの間には、過剰な力が必要とされないことが望ましい。
本発明は、先行技術におけるこのような要求に向けられたものである。本発明は、これらの要求に応じるものである。
本発明は、集積回路のリードをロードボードの対応する端子に接続することを容易にすべく、ハウジング内に配置された小型ピンコンタクタ構造である。同ハウジングは、典型的には、対応する複数のコンタクトをそれぞれ1つずつ収容すべく、互いに略平行に延びる複数のスロットを備える。各コンタクトは、ハウジングの一端にて対応するスロットから延びる始端と、ハウジングの対向端にて対応するスロットから延びる終端とを備える。コンタクトは、略S字状に形成されている。前部エラストマは、コンタクトの始端が同前部エラストマ上にて屈曲するように、スロットに略直交する軸線に沿って、ハウジング内に延びる。同様に、後部エラストマは、コンタクトの終端が同後部エラストマの周囲にて屈曲するように、スロットに略直交する軸線に沿って延びる。
コンタクトの始端は、集積回路のリードに係合されるべき曲面を有する。コンタクトの終端は、ロードボードの端子パッドと係合するための平坦部を備える。
使用時には、集積回路のリードは、曲面をもってコンタクトの始端に係合される。この動作により、前部エラストマは圧縮される。コンタクトは、終端を貫通する軸線により画定される曲面の周りを回転する。曲面に隣接する終端の直線状接触面は、ロードボードの端子パッドに平行に延びると共に同パッドに係合している。このコンタクト構造は、ロードボードの端子パッドに対するコンタクトの摺動を、実質的に消失させる傾向にある。コンタクトにおける端子パッドとの係合部は、コンタクトの回動によって前方に移動し、同時に終端と端子パッドとの間の摺動を阻止する。
コンタクト終端のターミナスは、また、ハウジングの壁面に係合する面を有する。同面は、ハウジングに対するコンタクトの相対位置を保持することによって、コンタクトがロードボードの端子に沿って摺動することを確実に防止すべく作用する。前部エラストマもまた、コンタクトの終端をハウジングの壁面に向かって付勢し、コンタクトを壁面に対して支持された状態に保持することによって、上記の事柄を達成する一助となる。
従って、本発明は、先行技術における問題点の多くを解決するコンタクトセットアセンブリである。同アセンブリは、複数の電気的な経路に沿って、確実な接触を実現することが可能でありながら、ロードボードのリードの腐食を最小限にする。
本発明の目的及び特徴は、同一の参照番号により、同一の部分又は特徴が示される図面を参照した下記の説明により、当業者にとってより明らかなものとなろう。
図1に示されるように、コンタクタアセンブリ5は、ハウジング10に収容される。ハウジング10は、対を成す複数の対向縁部に対して基本的に直交すると共に、互いに平行に延びると共に対向する略平面状側面22を有する。ハウジング10は、集積回路デバイス(DUT)14のロードボード12への電気的な接続を実現すべく構成される。デバイス14は複数のリード17を備え、ロードボード12は、ハウジング10に収容された複数のコンタクト18に電気的に接続される複数の端子又はパッド16を備える。
ハウジング10の互いに平行に延びる複数の側面は、それぞれ対応するコンタクト18を収容するための、略等間隔をもって離間すると共に互いに平行な複数のスロット20を有する。
各スロット20が1つのコンタクト18を収容するように意図されている。複数のコンタクト18は、略平面状の面を有し、薄型である。各々は、協働して略S字形状の構造を成す始端26と終端28とを備える。始端26は、デバイス14のリード17に接触すべく1つの側面を超えてハウジング10から突出するように、より大きい外方延出部を提供するため、図示の通り、終端28よりも大きく形成されている。終端28は、リードボード12の端子16への確実な電気的接続を実現するために、直線状部分29を備えている。
略管状を成す複数のチャネル31,33が、複数のスロット20により画定される複数の面に略直交する軸線に沿って、ハウジング10内に延びる。前部チャネル31は、係合される始端26と終端28の縁部の対応する凹状部分によりよく適合するために、後部チャネル33よりも大きく形成されている。円筒形状を有する前部エラストマ30は前部チャネル31内に収容され、円筒形状を有する後部エラストマ32は後部チャネル33内に収容される。
始端26は、前部エラストマ30に係合すると共に同エラストマ30に対して支持される凹状内縁部25を有する。同様に、終端28は、後部エラストマ32に係合すると共に同エラストマ32に対して支持される凹状内縁部42を有する。前部チャネル31及び後部チャネル33は、ロードボード12まで延びる対応する複数の連通孔33,35を備える。チャネル33,35の近接する側部は、それぞれのチャネル31,33の直径に等しい距離よりも短い間隔をもって離間される。このため、エラストマ30,32をそれぞれの孔33,35内に付勢することによって、同エラストマ30,32をチャネル31,33に挿入することが可能になる。このことにより、エラストマ30,32は定位置に収容される。
アライナ(alignor)36は、コンタクト18の始端26に近接するハウジング10の外部に延びる。コンタクト18に対向するアライナ26の部分は、ストップ38を形成している。アライナ36は、リード17がコンタクト18の対応する始端26の外方延出部に対向するようにDUT14の1つの縁部を配置し、更に、リード17をコンタクト18に平行に延びるように配向する。また、ストップ38は、コンタクト18の外方延出部を規制する。
DUT14は、図示の位置及び配向をもって、ハウジング10に近接して位置決めされる。図示しない装置によって、各リード17が1つのコンタクト18に直接的に対向するように、ハウジング10の面19に対するデバイス14の精確な相対位置を決定する。その後、DUT14は、図示の通り、ハウジング10に更に近接する位置に移動される。このことによって、デバイス14と対応するコンタクト18の始端との係合が実現する。従って、コンタクト18は回転され、その始端26は対向するリード17に係合され、終端28は端子16と係合する。更に、コンタクト18の回転により、図において矢印44で示すように、コンタクトが反時計方向に回動するにつれ、それぞれの平坦部29が一端にてやや立ち上がることになる。
このような動作によって、前部エラストマ30及び後部エラストマ32はいずれも圧縮される。これらエラストマの直径及び特性は選択可能であるため、エラストマを圧縮するのに必要な力の強さは、予め選択可能である。この力は、リード及び端子間に良好な電気的接続をもたらすのに十分な強さであるように選択される。
図示のデュアルエラストマ構造において、前部エラストマ30は、コンタクト終端28を壁面6に係合された状態に保持することの補助に加えて、デバイス14による接触力の制御における順応性を供与する。同構造では、前部エラストマ30は、完全に圧縮された状態にある。前部エラストマ30が圧縮されるに従って、移動された材料はエラストマリリーフ領域8まで膨満する。後部エラストマ32は、引っ張り又は圧縮状態のいずれにおいても構成及び使用可能である。
前部エラストマ30は、置換(implacement)の実施後のように、コンタクトがDUT14に係合されていない状態のとき、コンタクト18がハウジング10から容易に外れてしまうことを阻止するうえで重要な役割を果たし得る。コンタクト18は時計方向に回転され、次に、コンタクト18は前部エラストマ30とアライナ36との間に挟持される。コンタクト18が底部から取り外されるのに際して、前部及び後部エラストマ30,32は、いずれも、コンタクトが両者の間を通過できるように圧縮される必要がある。
このコンタクタシステムは、ロードボード12に対する接触変換相対運動(contact translational relative motion)(摺動)を阻止すべく設計されたものである。摺動によって、望ましくない特徴であるロードボードパッドの磨耗が生じる。ハウジング壁面15と係合状態にあるコンタクト終端6の斜面状ターミナスは、コンタクト18がロードボード12に沿って摺動することを阻止するための一助となる。前部エラストマ30は、また、ハウジング10の壁面15に対して支持された状態に保持される方向にコンタクト18を付勢することによって、このような目的を達成する補助となる。
従来のコンタクタのコンタクトのようにリード16に沿って摺動するのではなく、本発明におけるコンタクトの動作は回動である。コンタクト18が両エラストマを圧縮するのに伴い、リード16とコンタクト終端28との接触点は、ロードボード12において前方に移動(水平に変換)し、下部コンタクトアーク13に沿って移動する。
コンタクト終端デザイン28の平坦部29は、図示のように、コンタクト始端26が非圧縮状態にて予め荷重を受けることを許容する一方で、コンタクト始端26の位置を規制する。コンタクト終端28の平坦部29は、コンタクト18が究極的な回動平衡位置に達することを阻止し、終端28がロードボード12に対して摺動することなく、前部エラストマ30の部分圧縮を許容する。このことによって、コンタクタシステムの有効コンプライアンス範囲(動作範囲)を増大させるロードボード12における直接的な接触力が実現される。
コンタクト終端28の平坦部29に代えて、コンタクト始端26の位置を規制し、コンタクト18の始端26に予め荷重を与えることを容易にするのに必要な規制を実現するために、アライナ38を用いてもよい。
本発明の設計は、また、シングルエラストマシステムとして構成されてもよい。この構造においては、後部エラストマ32は、コンタクト始端26及びコンタクト終端28の両方において必要とされる付与可能な力を規定することになる。ハウジング10とコンタクト18の設計は、この構造のオプションを容易にするように図示のものから変更される。この場合も、後部エラストマ32は引っ張り又は圧縮状態のいずれにされてもよい。
以上の開示は、多くの観点において、単なる例証であることが理解されよう。本発明の範囲を超越することなく、特に、形状、寸法、材料、及び部材の配置に関して、詳細に変更を加えることが可能である。従って、本発明の範囲は、添付された請求項の文言において定義される通りである。
本発明の断面図である。

Claims (4)

  1. 複数の対向面を備えるハウジングと、第1の面はテスト対象となる集積回路により近接可能であり、第2の面はロードボードに近接することと、1つのスロットが、対向面のうちの第1の面から同対向する面のうちの第2の面までハウジングを通って延びることと、
    リードに係合可能な第1の端部と、端子と係合される第2の端部とを備えるとともに前記スロットに収容可能なコンタクトと、同コンタクトは、集積回路のリードに係合されない第1の配向位置と、コンタクトの第1の端部が集積回路のリードに係合され、かつ、スロット内に向けて付勢される第2の配向位置との間で移動可能であることと、
    コンタクトを第1の配向位置に付勢するための手段とを備え、
    テスト対象となる集積回路のリードをテストサイトのロードボードの対応する端子に電気的に接続するための装置であって、
    コンタクトが第1の配向位置と第2の配向位置との間で移動される際に、同コンタクトの第2の端部の前記端子に対する摺動を阻止する装置。
  2. 前記コンタクトは略S字形状を有する請求項1に記載の装置。
  3. 前記付勢手段は前記コンタクトの第1の端部とインターフェースする第1のエラストマと、同コンタクトの第2の端部とインターフェースする第2のエラストマとを備える請求項2に記載の装置。
  4. 前記コンタクトの第2の端部は突出部を備え、前記ハウジングは、同コンタクトの第2の端部が端子にて摺動することを阻止すべく、同突出部によって係合される1つの壁面を形成する請求項3に記載の装置。
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MY (3) MY139036A (ja)
SG (1) SG137682A1 (ja)
TW (1) TWI291271B (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007248460A (ja) * 2006-02-24 2007-09-27 Johnstech Internatl Corp 電子装置のテストセット及びそれに用いられる端子
WO2008044467A1 (fr) * 2006-10-05 2008-04-17 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Appareil de connexion electrique
WO2008044509A1 (en) * 2006-10-12 2008-04-17 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connection device
US7914295B2 (en) 2008-11-12 2011-03-29 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electrical connecting device
WO2017122680A1 (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 オーキンス エレクトロニクス カンパニー,リミテッド コンタクトピンおよび異方導電性部材
JP2019035660A (ja) * 2017-08-15 2019-03-07 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7625219B2 (en) * 2005-04-21 2009-12-01 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connecting apparatus
US7445465B2 (en) * 2005-07-08 2008-11-04 Johnstech International Corporation Test socket
JP2009043591A (ja) 2007-08-09 2009-02-26 Yamaichi Electronics Co Ltd Icソケット
US8278955B2 (en) 2008-03-24 2012-10-02 Interconnect Devices, Inc. Test interconnect
US20090289647A1 (en) 2008-05-01 2009-11-26 Interconnect Devices, Inc. Interconnect system
TW201027849A (en) * 2009-01-13 2010-07-16 Yi-Zhi Yang Connector
USD668625S1 (en) 2010-07-22 2012-10-09 Titan Semiconductor Tool, LLC Integrated circuit socket connector
US7918669B1 (en) * 2010-07-22 2011-04-05 Titan Semiconductor Tool, LLC Integrated circuit socket with a two-piece connector with a rocker arm
SG193040A1 (en) * 2012-02-21 2013-09-30 Test Max Mfg Pte Ltd Test socket with hook-like pin contact edge
US9274141B1 (en) 2013-01-22 2016-03-01 Johnstech International Corporation Low resistance low wear test pin for test contactor
TWI500222B (zh) * 2013-07-12 2015-09-11 Ccp Contact Probes Co Ltd 連接器組合
US9425529B2 (en) * 2014-06-20 2016-08-23 Xcerra Corporation Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link
US10114039B1 (en) * 2015-04-24 2018-10-30 Johnstech International Corporation Selectively geometric shaped contact pin for electronic component testing and method of fabrication
US9343830B1 (en) * 2015-06-08 2016-05-17 Xcerra Corporation Integrated circuit chip tester with embedded micro link
US9958499B1 (en) * 2015-07-07 2018-05-01 Johnstech International Corporation Constant stress pin tip for testing integrated circuit chips
US10436819B1 (en) * 2015-07-07 2019-10-08 Johnstech International Corporation Constant pressure pin tip for testing integrated circuit chips
US10761112B1 (en) 2017-09-11 2020-09-01 Johnstech International Corporation Self flattening test socket with anti-bowing and elastomer retention
MX2020007325A (es) * 2017-09-25 2021-01-29 Johnstech Int Corporation Contactor de alto grado de aislamiento con clavija de prueba y carcasa para probar circuitos integrados.
MY189415A (en) * 2018-02-27 2022-02-10 Jf Microtechnology Sdn Bhd Horizontal clamp electrical contact assembly
CN110320390B (zh) * 2019-08-08 2021-12-10 深圳市研测科技有限公司 一种引脚保护型二极管测试用夹持工装
CN111129825A (zh) * 2019-11-20 2020-05-08 苏州韬盛电子科技有限公司 一种用于测试集成电路的连接装置
CN111060802A (zh) * 2019-11-28 2020-04-24 苏州韬盛电子科技有限公司 用于大电流测试以及高频测试的金属接触器
US11906576B1 (en) 2021-05-04 2024-02-20 Johnstech International Corporation Contact assembly array and testing system having contact assembly array
US11867752B1 (en) 2021-05-13 2024-01-09 Johnstech International Corporation Contact assembly and kelvin testing system having contact assembly

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05174880A (ja) * 1991-01-09 1993-07-13 David A Johnson 電気的相互接続コンタクト装置
US5594355A (en) * 1994-07-19 1997-01-14 Delta Design, Inc. Electrical contactor apparatus for testing integrated circuit devices

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5388996A (en) * 1991-01-09 1995-02-14 Johnson; David A. Electrical interconnect contact system
US5749738A (en) * 1991-01-09 1998-05-12 Johnstech International Corporation Electrical interconnect contact system
US5634801A (en) * 1991-01-09 1997-06-03 Johnstech International Corporation Electrical interconnect contact system
US5069629A (en) * 1991-01-09 1991-12-03 Johnson David A Electrical interconnect contact system
FR2703839B1 (fr) * 1993-04-09 1995-07-07 Framatome Connectors France Connecteur intermédiaire entre carte de circuit imprimé et substrat à circuits électroniques.
EP0701925B1 (en) * 1994-09-14 1999-03-03 Sumitomo Wiring Systems, Ltd. A branch connection device for an automotive vehicle
US6019612A (en) * 1997-02-10 2000-02-01 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connecting apparatus for electrically connecting a device to be tested
US5938451A (en) * 1997-05-06 1999-08-17 Gryphics, Inc. Electrical connector with multiple modes of compliance
MY128129A (en) * 1997-09-16 2007-01-31 Tan Yin Leong Electrical contactor for testing integrated circuit devices
JP2001319749A (ja) 2000-05-02 2001-11-16 Sony Corp Icソケット
JP2002043004A (ja) 2000-07-19 2002-02-08 Nec Yamagata Ltd Icソケット
KR100351676B1 (ko) * 2000-10-12 2002-09-05 주식회사 우영 콘택핀 및 이것을 구비한 집적회로 패키지 테스트용 소켓

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05174880A (ja) * 1991-01-09 1993-07-13 David A Johnson 電気的相互接続コンタクト装置
US5594355A (en) * 1994-07-19 1997-01-14 Delta Design, Inc. Electrical contactor apparatus for testing integrated circuit devices

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007248460A (ja) * 2006-02-24 2007-09-27 Johnstech Internatl Corp 電子装置のテストセット及びそれに用いられる端子
WO2008044467A1 (fr) * 2006-10-05 2008-04-17 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Appareil de connexion electrique
JP2008089555A (ja) * 2006-10-05 2008-04-17 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
WO2008044509A1 (en) * 2006-10-12 2008-04-17 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connection device
JP2008096270A (ja) * 2006-10-12 2008-04-24 Micronics Japan Co Ltd 電気的接続装置
US7819672B2 (en) 2006-10-12 2010-10-26 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electrical connecting apparatus with inclined probe recess surfaces
US7914295B2 (en) 2008-11-12 2011-03-29 Yamaichi Electronics Co., Ltd. Electrical connecting device
WO2017122680A1 (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 オーキンス エレクトロニクス カンパニー,リミテッド コンタクトピンおよび異方導電性部材
JP2019035660A (ja) * 2017-08-15 2019-03-07 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置
JP7046527B2 (ja) 2017-08-15 2022-04-04 株式会社日本マイクロニクス 電気的接続装置

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