JP2004163413A - 顕微鏡システムおよび顕微鏡検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】顕微鏡システムは、可視光と蛍光との両方で同時に組織を観察することを可能にするフィルタを含む。一連の先に記録された蛍光像を可視光像と重ねて観察することができる。一連の像の終了は自動的に決定され得る。熱保護フィルタが、このような一連の像の自動的に決定された終了時に照射システムのビーム路に挿入し得る。さらに、蛍光像は、そのコヒーレント蛍光部を同定するために分析され得る。コヒーレント部分の外周線の表示を生成し得、深さプロファイルデータは、コヒーレント部分からのみ得られ得る。蛍光を励起させるための照射光ビームは、蛍光像のコントラストを向上させるために変調させ得る。
【選択図】図1
Description
Claims (38)
- 被検物体中のインドシアニングリーンの蛍光を可視化するための顕微鏡システムであって、
以下のものを含む顕微鏡光学系と、
すなわち、物体領域を、前記物体領域の像を表している第1の像データを生成するための第1のカメラの光検出構成要素上に、インドシアニングリーンの蛍光発光波長を含む第1の波長範囲の波長を含む光で光学的に結像するための第1のビーム路と、
前記物体領域の拡大された第1の表示を提供するための第2のビーム路であって、前記第1の表示が、前記物体領域の像を、少なくとも可視光を含む第2の波長範囲の波長を含む光で表す第2のビーム路とを含む顕微鏡光学系と、
使用者による観察のために、前記第1の像データを基準として生成された第2の表示を前記第1の表示と重ねて表示するための表示システムと、
前記物体領域上に向かう少なくとも1つの照射光ビームを提供するための照射システムであって、前記少なくとも1つの照射光ビームは、前記第2の波長範囲の波長およびインドシアニングリーンの励起波長の光を含む照射システムとを含むことを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記少なくとも1つの照射光ビームの光が、1つの光源から発せられることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。
- 前記光源が、キセノンランプおよびハロゲンランプのうちの1つを含むことを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡システム。
- 前記照射システムが、前記照射システムのビーム路に配置される第1のフィルタを含み、前記第1のフィルタが、前記照射光ビームからインドシアニングリーンの蛍光発光波長の光を実質的に排除することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。
- 前記照射システムが、照射システムのビーム路に配置され得る第2のフィルタを含み、前記第2のフィルタは、前記照射光ビームから710nmより高い波長、特に690nmより高い波長を有する光を実質的に排除することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記第1および第2のフィルタのうちの少なくとも1つが、透過フィルタまたは反射フィルタを含むことを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡システム。
- 被検物体中の蛍光物質の蛍光を可視化するための顕微鏡システムであって、
以下のものを含む顕微鏡光学系と、
すなわち、物体領域を、前記物体領域の像を表している第1の像データを生成するための第1のカメラの光検出構成要素上に、蛍光物質の蛍光発光波長を含む第1の波長範囲の波長を含む光で光学的に結像するための第1のビーム路と、
前記物体領域の拡大された第1の表示を提供するための第2のビーム路であって、前記第1の表示が、前記物体領域の像を、少なくとも可視光を含む第2の波長範囲の波長を含む光で表す第2のビーム路とを含む顕微鏡光学系と、
少なくとも一定期間、前記第1のカメラによって検出された1組の第1の像データを保存するための像メモリと、
前記1組の第1の像データの少なくとも1つのサブセットから生成された第2の表示のシーケンスを表示するための表示システムであって、使用者による観察のために、前記第2の表示のシーケンスが、前記第1の表示と重ねて表示される表示システムとを含むことを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記表示システムが、前記一連の第2の表示を繰り返し表示するように構成されていることを特徴とする請求項7に記載の顕微鏡システム。
- 前記1組の第1の像データからのサブセットを第1の組の第1の像データによって表された像の強度に基づいて選択するように構成されたコントローラをさらに含むことを特徴とする請求項7または8に記載の顕微鏡システム。
- 前記1組の第1の像データからのサブセットを第1の組の第1の像データによって表された像の強度の差に基づいて選択するように構成されたコントローラをさらに含むことを特徴とする請求項7から9に記載の顕微鏡システム。
- 被検物体中の蛍光物質の蛍光を可視化するための顕微鏡システムであって、
以下のものを含む顕微鏡光学系と、
すなわち、物体領域を、前記物体領域の像を表している第1の像データを生成するための第1のカメラの光検出構成要素上に、蛍光物質の蛍光発光波長を含む第1の波長範囲の波長を含む光で光学的に結像するための第1のビーム路と、
前記物体領域の拡大された第1の表示を提供するための第2のビーム路であって、前記第1の表示が、前記物体領域の像を、少なくとも可視光を含む第2の波長範囲の波長を含む光で表す第2のビーム路とを含む顕微鏡光学系と、
前記物体領域上に向かう少なくとも1つの照射光ビームを提供するための照射システムであって、前記少なくとも1つの照射光ビームは、前記蛍光物質の励起波長の光を含み、前記照射システムが、前記蛍光物質の励起波長の光の強度を変調するための光変調器を含む照射システムと、
使用者による観察のために、前記第1の像データを基準として生成された第2の表示を前記第1の表示と重ねて表示するための表示システムとを含むことを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記強度変調器が、フィルタチョッパを含むことを特徴とする請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記フィルタチョッパが、反射フィルタおよび透過フィルタのうちの1つを含むことを特徴とする請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記照射システムが、前記蛍光物質の励起波長の光および可視光を発する光源を含むことを特徴とする請求項11から13のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記強度変調器が、変調された強度で前記蛍光物質の励起波長の光を発する第1の光源を含むことを特徴とする請求項11に記載の顕微鏡システム。
- 前記照射システムが、前記蛍光物質の励起波長の光を含まない可視光を発する第2の光源を含むことを特徴とする請求項15に記載の顕微鏡システム。
- 物体を検査するための顕微鏡システムであって、
物体領域を、前記物体領域の像を表している第1の像データを生成するための第1のカメラの光検出構成要素上に光学的に結像するための第1のビーム路を有する顕微鏡光学系と、
前記物体領域に向かう少なくとも1つの照射光ビームを提供する照射システムであって、前記照射システムは、第1の位置に位置付け可能な第1のフィルタを含み、その位置において前記第1のフィルタは、照射システムのビーム路内に配置されており、前記第1のフィルタは、所定の波長より高い波長の光を前記照射光ビームから排除し、前記照射システムが、前記第1のフィルタがビーム路内に位置していない第2の位置から前記第1の位置へ前記第1のフィルタを移動させるためのアクチュエータを含む照射システムと、
前記第1のフィルタをその第2の位置からその第1の位置まで、前記第1の像データによって表された像の強度の分析に基づいて移動させるための前記アクチュエータを制御するように構成されたコントローラとを含むことを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記所定の波長が、690nm〜720nm、720nm〜750nm、750nm〜780nm、および780nm〜800nmのうちの1つの範囲内であることを特徴とする請求項17に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1の像データが、物体に蓄積された蛍光物質の蛍光発光波長を含む第1の波長範囲の波長を含む光での物体領域の像を表すことを特徴とする請求項17または18に記載の顕微鏡システム。
- 前記蛍光物質の前記蛍光発光波長が、前記所定の波長より高いことを特徴とする請求項19に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡光学系が、前記物体領域の拡大された第1の表示を提供するための第2のビーム路をさらに含み、前記第1の表示が、前記物体領域の像を、少なくとも可視光を含む第2の波長範囲の波長を含む光で表すことを特徴とする請求項17から20のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 使用者による観察のために、前記第1の像データを基準として生成された第2の表示を前記第1の表示と重ねて表示するための表示システムをさらに含むことを特徴とする請求項21に記載の顕微鏡システム。
- 被検物体中の蛍光物質の蛍光を可視化するための顕微鏡システムであって、
以下のものを含む顕微鏡光学系と、
すなわち、物体領域を、前記物体領域の像を表している第1の像データを生成するための第1のカメラの光検出構成要素上に、蛍光物質の蛍光発光波長を含む第1の波長範囲の波長を含む光で光学的に結像するための第1のビーム路と、
前記物体領域の拡大された第1の表示を提供するための第2のビーム路であって、前記第1の表示が、前記物体領域の像を、少なくとも可視光の波長を含む第1の波長範囲の光で表す第2のビーム路とを含む顕微鏡光学系と、
前記物体領域の像のコヒーレント部分の少なくとも外周線を表している第2の像データを生成するように構成されたコントローラであって、前記コヒーレント部分内の像の光強度が閾値を超えるようなコントローラと、
使用者による観察のために、前記第2の像データを基準として生成された第2の表示を前記第1の表示と重ねて表示するための表示システムとを含むことを特徴とする顕微鏡システム。 - 物体領域を、前記物体領域の像を表している第1の像データを生成するための第1のカメラの光検出構成要素上に、蛍光物質の蛍光発光波長を含む第1の波長範囲を含む光で光学的に結像するための第1のビーム路を有する顕微鏡光学系と、
前記第1の像データによって表された前記物体領域の像の少なくとも1つのコヒーレント部分を表している位置データを生成するように構成されたコントローラであって、前記少なくとも1つのコヒーレント部分内の像の光強度が閾値を超えるコントローラと、
前記生成された位置データに基づいて分析ビームで前記物体領域を走査するためのビームスキャナと前記物体から戻ってきた分析ビームの放射線の強度を表す深さプロファイルデータを得るための放射線検出器とを有する干渉計装置とを含むことを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記コントローラが、前記干渉計装置を、干渉計装置が前記少なくとも1つのコヒーレント部分においてのみ前記深さプロファイルデータを得るように制御することを特徴とする請求項24に記載の顕微鏡システム。
- 前記干渉計装置が、光干渉断層撮影装置を含むことを特徴とする請求項24または25に記載の顕微鏡システム。
- 前記顕微鏡光学系が、前記物体領域の拡大された第1の表示を提供する第2のビーム路をさらに含み、前記第1の表示が少なくとも可視光を含む第1の波長範囲を含む光で前記物体領域の像を表すことを特徴とする請求項24から26のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 使用者による観察のために、前記深さプロファイルデータを基準として生成された第2の表示を前記第1の表示と重ねて表示するための表示システムをさらに含むことを特徴とする請求項27に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1のビーム路が、前記像を表すための少なくとも1つの接眼レンズを含むことを特徴とする請求項1から28のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記表示システムが、前記第2の表示を前記接眼レンズに向けられた前記第1のビーム路に重ねるように構成されていることを特徴とする請求項28または29に記載の顕微鏡システム。
- 前記第1のビーム路が、可視光で前記物体領域の像を表している第2の像データを生成するための第2のカメラの光検出構成要素を少なくとも1つ含み、前記第2の表示が、前記表示システムによって表示されることを特徴とする請求項1から30のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 被検物体中のインドシアニングリーンの蛍光を可視化する顕微鏡検査方法であって、
使用者による観察のために第1の可視光像の表示を行うステップと、
インドシアニングリーンの蛍光発光波長を含む光で前記物体の第2の像を記録するステップと、
使用者による観察のために前記第2の像を前記第1の像と重ねて表示するステップと、
前記可視光およびインドシアニングリーンの励起波長の光を含む少なくとも1つの照射光ビームで前記物体を照射するステップとを含む顕微鏡検査方法。 - 前記少なくとも1つの照射光ビームが、前記可視光および前記インドシアニングリーンの励起波長の光を発する1つの光源によって生成されることを特徴とする請求項32に記載の顕微鏡検査方法。
- 被検物体の蛍光を可視化する顕微鏡検査方法であって、
使用者による観察のために前記物体の拡大された第1の表示を行うステップであって、前記物体の蛍光が、前記第1の表示に実質的に可視でないステップと、
一定期間、前記物体の一連の蛍光像を記録するステップと、
前記期間が経過後、前記一連の蛍光像が使用者に可視であるように、かつ前記物体の拡大された第1の表示と重ねて、前記物体の記録された一連の蛍光像を表示するステップとを含む顕微鏡検査方法。 - 被検物体を可視化する顕微鏡検査方法であって、
所定の波長より高い波長を含む光で前記物体を照射し、前記所定の波長より高い波長の光で物体を照射している間、前記物体の一連の像を記録するステップと、
前記所定の波長より高い波長の光での物体の照射を、前記記録された像の分析に基づいて終了し、前記所定の波長より小さな波長のみを含む光で前記物体を照射するステップと、
使用者による観察のために、限定の波長より小さな波長のみを含む光で照射された物体の表示を行い、使用者による観察のために、前記記録された一連の像の分析に応じて生成された表示を行うステップとを含む顕微鏡検査方法。 - 前記物体が、前記所定の波長より高い波長の光で照射されるときに、蛍光物質を前記物体に適用することを特徴とする請求項35に記載の顕微鏡検査方法。
- 被検物体を可視化する顕微鏡検査方法であって、
被検物体を可視光を含む第1の波長範囲の光で照射するステップと、
前記第1の波長範囲の光で前記物体の像を生成するステップと、
前記第1の波長範囲と部分的にしか重ならないか、または前記第1の波長範囲と全く重ならない第2の波長範囲の光で前記物体の像を記録するステップと、
前記記録された像を分析し、前記記録された像の少なくとも1つのコヒーレント部分を同定するステップであって、前記少なくとも1つのコヒーレント部分内の前記像の強度の値が閾値を超えるステップと、
前記少なくとも1つのコヒーレント部分の外周の表示を生成し、この表示を前記第1の波長範囲の前記物体の像と重ねて表示するステップとを含む顕微鏡検査方法。 - 蛍光物質の励起波長を含む光で物体フィールドの像を記録するステップと、
前記記録された像を分析し、前記記録された像の少なくとも1つのコヒーレント部分を同定するステップであって、前記少なくとも1つのコヒーレント部分内の前記記録された像の強度の値が閾値を超えるステップと、
前記少なくとも1つの同定されたコヒーレント部分に応じて決定された分析領域のみの深さプロファイルデータを得るステップであって、前記分析領域が、物体フィールドより小さいステップとを含む顕微鏡検査方法。
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